RU2630251C1 - Electronic microwave instrument - Google Patents

Electronic microwave instrument Download PDF

Info

Publication number
RU2630251C1
RU2630251C1 RU2016113110A RU2016113110A RU2630251C1 RU 2630251 C1 RU2630251 C1 RU 2630251C1 RU 2016113110 A RU2016113110 A RU 2016113110A RU 2016113110 A RU2016113110 A RU 2016113110A RU 2630251 C1 RU2630251 C1 RU 2630251C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
collector
electron beam
vacuum housing
current
microwave
Prior art date
Application number
RU2016113110A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Александр Шлемович Фикс
Владимир Евгеньевич Запевалов
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН)
Priority to RU2016113110A priority Critical patent/RU2630251C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2630251C1 publication Critical patent/RU2630251C1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J23/00Details of transit-time tubes of the types covered by group H01J25/00
    • H01J23/02Electrodes; Magnetic control means; Screens
    • H01J23/027Collectors

Abstract

FIELD: electricity.
SUBSTANCE: electronic high-power microwave instrument of flight type includes a vacuum housing made of a material with low electrical conductivity, a magnetic system for the formation and transportation of an electron beam, a collector of an exhausted electron beam made separately from the vacuum housing in the form of a body of revolution with a radius varying radially along the symmetry axis, the surface of which is current-receiving, as well as a collector scanning coil and a collector correction coil arranged coaxially to the collector outside the vacuum housing. Said geometry of the microwave device with a spatially homogeneous variable component of the magnetic field of the collector scanning coil significantly reduces the shielding of the variable component of the magnetic field in the area near the collector where the exhausted electron beam passes.
EFFECT: decreasing the maximum operating temperature of the current-receiving surface of the microwave instrument collector and increasing the durability of the microwave instrument at a given microwave power or increasing the maximum possible dissipated power of the exhausted electron beam and the microwave power at a given maximum operating temperature of the current-receiving surface of the collector or the durability of the microwave instrument.
2 cl, 3 dwg

Description

Изобретение относится к области электронных сверхвысокочастотных (СВЧ) приборов больших мощностей пролетного типа, использующих магнитную систему для формирования и транспортировки электронного пучка. Такой прибор может быть использован в мощной СВЧ-электронике, например, в качестве источника мощного СВЧ-излучения для дополнительного нагрева плазмы в установках управляемого термоядерного синтеза.The invention relates to the field of electronic microwave devices of high power span type, using a magnetic system to form and transport an electron beam. Such a device can be used in high-power microwave electronics, for example, as a source of high-power microwave radiation for additional plasma heating in controlled thermonuclear fusion plants.

В мощной СВЧ-электронике существует проблема утилизации энергии отработавшего (отдавшего часть своей энергии для генерации СВЧ-излучения) электронного пучка. Например, в типичном мощном гиротроне непрерывного режима с энергией электронного пучка 3 МВт после генерации 1 МВт СВЧ-излучения (что соответствует 33% к.п.д.) в отработавшем электронном пучке будет сосредоточена мощность 2 МВт, которая и должна быть рассеяна на коллекторе. Длина зоны оседания пучка на типичном цилиндрическом коллекторе диаметром 20 см составляет примерно 5 см, и для идеально однородного отработанного электронного пучка плотность теплового потока (то есть, мощность тепла, выделяемого на единице площади токовоспринимающей поверхности коллектора) составит более 6 кВт/см2. На практике электронный пучок неоднороден, и плотность теплового потока неодинакова в различных точках поверхности. В результате максимальное значение плотности теплового потока оказывается в два-три раза больше, то есть 12-18 кВт/см2. Такие величины плотности теплового потока явно неприемлемы как для проектирования рациональной системы охлаждения, так и с точки зрения долговечности СВЧ прибора.In high-power microwave electronics, there is the problem of utilizing the energy of the spent (giving up part of its energy to generate microwave radiation) electron beam. For example, in a typical high-power continuous gyrotron with an electron beam energy of 3 MW after generating 1 MW of microwave radiation (which corresponds to 33% efficiency), a 2 MW power will be concentrated in the spent electron beam, which should be dissipated by the collector . The length of the beam settling zone on a typical cylindrical collector with a diameter of 20 cm is approximately 5 cm, and for a perfectly homogeneous spent electron beam, the heat flux density (i.e., the heat generated per unit area of the collector’s current-collecting surface) will be more than 6 kW / cm 2 . In practice, the electron beam is not uniform, and the heat flux density is not the same at different points on the surface. As a result, the maximum value of the heat flux density is two to three times greater, that is, 12-18 kW / cm 2 . Such values of the heat flux density are clearly unacceptable both for designing a rational cooling system and in terms of the durability of the microwave device.

Известны СВЧ приборы, устройство которых позволяет снизить плотность теплового потока на токовоспринимающую поверхность коллектора за счет расширения поперечного сечения электронного пучка и тем самым увеличения площади зоны оседания электронного пучка на токовоспринимающей поверхности коллектора под воздействием статического неадиабатического (значительно изменяющегося в пространстве на шаге траектории электрона (спирали переменного радиуса и шага)) магнитного поля. Примером служит СВЧ-прибор со статическим неадиабатическим магнитным полем в области коллектора, формируемым с помощью нескольких катушек [G.G. Denisov and V.N. Manuilov. The collector of a megawatt gyrotron with a static nonadiabatic magnetic field. Radiophysics and Quantum Electronics, Vol. 56, No. 6, 2013]. Минусом (изъяном) такого прибора является недостаточное (для мощных приборов) снижение плотности теплового потока (как максимум, примерно в 3 раза) и, соответственно, рабочей температуры токовоспринимающей поверхности коллектора.Microwave devices are known whose device allows to reduce the heat flux density to the collector current-sensing surface by expanding the cross section of the electron beam and thereby increase the area of the electron beam settling zone on the collector current-sensing surface under the influence of a static non-adiabatic (which varies significantly in space at the step of the electron path (spiral) variable radius and pitch)) of the magnetic field. An example is a microwave device with a static non-adiabatic magnetic field in the collector region, formed using several coils [G.G. Denisov and V.N. Manuilov. The collector of a megawatt gyrotron with a static nonadiabatic magnetic field. Radiophysics and Quantum Electronics, Vol. 56, No. 6, 2013]. The disadvantage (flaw) of such a device is an insufficient (for high-power devices) decrease in the heat flux density (by a maximum of about 3 times) and, accordingly, the working temperature of the collector's current-sensing surface.

Аналогом предлагаемого изобретения является электронный СВЧ-прибор [Faillon et al. Electron collector for electron tubes. United State Patent Number 4,933,594. Date June 12, 1990], содержащий вакуумный корпус, магнитную систему транспортировки пучка и коллектор отработавшего электронного пучка с токовоспринимающей поверхностью в виде поверхности цилиндра (коллектор является частью вакуумного корпуса), снаружи которого коаксиально расположена коллекторная сканирующая катушка, создающая переменное периодическое магнитное поле. При изменении магнитного поля коллекторной сканирующей катушки во времени отработанный электронный пучок перемещается по поверхности коллектора. В результате площадь поверхности, по которой сканирует (перемещается возвратно-поступательным образом) электронный пучок, может быть значительно больше, чем площадь зоны оседания пучка при отсутствии коллекторной сканирующей катушки, и максимальная рабочая температура токовоспринимающей поверхности коллектора, соответственно, снижается. Однако данный СВЧ-прибор имеет недостаток: максимальная рабочая температура токовоспринимающей поверхности оказывается существенно выше, чем получается при равномерном статическом распределении теплового потока на всю зону сканирования, из-за значительных колебаний рабочей температуры токовоспринимающей поверхности во времени. В результате реальный выигрыш от применения данного варианта СВЧ-прибора не столь велик, как можно было бы ожидать. Действительно, сам принцип сканирования подразумевает периодическое воздействие электронного пучка на произвольную точку токовоспринимающей поверхности коллектора и, следовательно, наличие колебаний температуры этой точки во времени с частотой сканирования. Размах этих колебаний, очевидно, уменьшается с увеличением частоты сканирования. В принципе, неограниченно увеличивая частоту сканирования, можно уменьшить размах колебаний до несущественной величины. Но в данном СВЧ-приборе частота сканирования ограничена сверху по причине экранирования переменного магнитного поля проводящим коллектором. На практике из-за указанного ограничения частота сканирования составляет не более чем несколько герц, чего явно недостаточно для устранения колебаний температуры.An analogue of the invention is an electronic microwave device [Faillon et al. Electron collector for electron tubes. United State Patent Number 4,933,594. Date June 12, 1990], comprising a vacuum housing, a magnetic beam transport system, and a spent electron beam collector with a current-sensing surface in the form of a cylinder surface (the collector is part of a vacuum housing), on the outside of which a collector scanning coil is created, which creates an alternating periodic magnetic field. When the magnetic field of the collector scanning coil changes in time, the spent electron beam moves along the surface of the collector. As a result, the surface area over which the electron beam scans (moves in a reciprocating manner) can be significantly larger than the area of the beam settling zone in the absence of a collector scanning coil, and the maximum working temperature of the collector current-sensing surface, respectively, decreases. However, this microwave device has a drawback: the maximum operating temperature of the current-sensing surface is much higher than that obtained with a uniform static distribution of the heat flux over the entire scanning zone, due to significant fluctuations in the operating temperature of the current-sensing surface in time. As a result, the real gain from the use of this version of the microwave device is not as large as one might expect. Indeed, the scanning principle itself implies the periodic action of an electron beam on an arbitrary point on the collector's current-receiving surface and, therefore, the presence of temperature fluctuations of this point in time with the scanning frequency. The magnitude of these oscillations obviously decreases with increasing scanning frequency. In principle, by unlimitedly increasing the scanning frequency, one can reduce the oscillation range to an insignificant value. But in this microwave device, the scanning frequency is limited from above due to the shielding of the alternating magnetic field by the conductive collector. In practice, due to this limitation, the scanning frequency is not more than a few hertz, which is clearly not enough to eliminate temperature fluctuations.

За прототип взят электронный СВЧ прибор [Ларичев Ю.Д., Фикс А.Ш. СВЧ-прибор. Авторское свидетельство СССР SU 1238617 А]. Как и предлагаемый электронный СВЧ-прибор, прототип содержит вакуумный корпус, магнитную систему транспортировки электронного пучка, коллектор с токовоспринимающей поверхностью в виде тела вращения (коллектор является частью вакуумного корпуса), коаксиально коллектору снаружи вакуумного корпуса расположена коллекторная сканирующая катушка, создающая переменное периодическое магнитное поле в области коллектора. Равномерность тепловой нагрузки достигается небольшим профилированием - медленным изменением радиуса коллектора вдоль оси симметрии прибора. Недостаток прототипа идентичен недостатку приведенного выше аналога изобретения: значительные неустранимые колебания рабочей температуры токовоспринимающей поверхности коллектора во времени. Причина неустранимости этих значительных колебаний также обусловлена ограничением сверху частоты сканирования электронного пучка вследствие экранирования переменного магнитного поля проводящим телом коллектора.The prototype is an electronic microwave device [Larichev Yu.D., Fix A.Sh. Microwave device. USSR copyright certificate SU 1238617 A]. Like the proposed electronic microwave device, the prototype contains a vacuum housing, a magnetic system for transporting the electron beam, a collector with a current-sensing surface in the form of a body of revolution (the collector is part of the vacuum housing), a collector scanning coil, creating an alternating periodic magnetic field, is coaxial to the collector outside the vacuum housing in the collector area. The uniformity of the heat load is achieved by small profiling - a slow change in the radius of the collector along the axis of symmetry of the device. The disadvantage of the prototype is identical to the disadvantage of the above analogue of the invention: significant unrecoverable fluctuations in the operating temperature of the current-sensing surface of the collector in time. The cause of the inevitability of these significant oscillations is also due to the upper limit of the scanning frequency of the electron beam due to the shielding of an alternating magnetic field by the collector's conducting body.

Задачей, на которую направлено предлагаемое изобретение, является снижение максимальной рабочей температуры токовоспринимающей поверхности коллектора электронного СВЧ-прибора при заданной рассеиваемой мощности отработавшего электронного пучка.The task to which the invention is directed is to reduce the maximum operating temperature of the current-sensing surface of the collector of an electronic microwave device at a given dissipated power of the spent electron beam.

Технический эффект достигается тем, что предлагаемый СВЧ-прибор включает вакуумный корпус, магнитную систему формирования и транспортировки электронного пучка, коллектор отработанного электронного пучка в виде длинного тела вращения с медленно изменяющимся вдоль оси симметрии радиусом, одна из поверхностей которого является токовоспринимающей, а также расположенную коаксиально коллектору снаружи вакуумного корпуса коллекторную сканирующую катушку.The technical effect is achieved by the fact that the proposed microwave device includes a vacuum housing, a magnetic system for the formation and transportation of an electron beam, a spent electron beam collector in the form of a long body of revolution with a radius slowly varying along the axis of symmetry, one of the surfaces of which is current-sensing, and also located coaxially collector outside the vacuum housing collector scanning coil.

Новым по сравнению с прототипом является то, что коллектор выполнен отдельно от вакуумного корпуса, вакуумный корпус выполнен из материала с низкой электропроводностью, коаксиально коллектору снаружи вакуумного корпуса дополнительно размещена коллекторная корректирующая катушка, создающая статическое магнитное поле, токовоспринимающей поверхностью коллектора является внешняя поверхность тела вращения.New in comparison with the prototype is that the collector is made separately from the vacuum housing, the vacuum housing is made of material with low electrical conductivity, the collector correcting coil is additionally placed coaxially to the collector outside the vacuum housing, creating a static magnetic field, the current surface of the collector is the outer surface of the rotation body.

В частном случае реализации устройства по п. 2 новым является то, что к электрически изолированному от корпуса коллектору дополнительно подключен источник высокого напряжения.In the particular case of the implementation of the device according to claim 2, the new one is that a high voltage source is additionally connected to the collector electrically isolated from the housing.

Изобретение поясняется следующими чертежами:The invention is illustrated by the following drawings:

На Фиг. 1 изображен предлагаемый электронный СВЧ-прибор.In FIG. 1 shows the proposed electronic microwave device.

На Фиг. 2 изображен электронный СВЧ-прибор-прототип.In FIG. 2 shows an electronic microwave prototype device.

На Фиг. 3 изображена зависимость температуры произвольной точки токовоспринимающей поверхности коллектора от времени.In FIG. Figure 3 shows the time dependence of the temperature of an arbitrary point on the collector's surface of the collector.

Предлагаемый электронный СВЧ-прибор изображен на Фиг. 1. Как и прототип (см. Фиг. 2), предлагаемый электронный СВЧ-прибор содержит вакуумный корпус 1, магнитную систему 2 формирования и транспортировки электронного пучка 3, коллектор 4 в виде длинного тела вращения с медленно изменяющимся вдоль оси симметрии радиусом с токовоспринимающей поверхностью 5 и коллекторную сканирующую катушку 6, расположенную коаксиально коллектору 4 снаружи вакуумного корпуса 1 и создающую переменное периодическое магнитное поле, необходимое для сканирования (перемещения возвратно-поступательным образом) отработавшего электронного пучка 3 по токовоспринимающей поверхности 5 коллектора 4. Электронный пучок 3 в области коллектора 4 движется по траектории 7, при минимальном поле коллекторной сканирующей катушки 6 - по траектории 8, а при максимальном значении поля - по траектории 9. Как и в аналогах, зона сканирования электронного пучка 3 может значительно превышать зону оседания пучка в отсутствие переменного периодического магнитного поля коллекторной сканирующей катушки 6. В отличие от прототипа в предлагаемом СВЧ-приборе дополнительно присутствует коллекторная корректирующая катушка 10, необходимая для коррекции постоянного магнитного поля магнитной системы 2 формирования и транспортировки электронного пучка 3 с тем, чтобы в совокупности с последней обеспечить прохождение отработавшего электронного пучка 3 снаружи коллектора 4, который в предлагаемом СВЧ-приборе выполнен отдельно от вакуумного корпуса 1, и падение его на токовоспринимающую поверхность 5 коллектора 4, поскольку токовоспринимающей поверхностью 5 коллектора 4 является внешняя поверхность тела вращения. Коллекторная корректирующая катушка 10 создает в области прохождения электронного пучка 3 статическое неоднородное магнитное поле.The proposed electronic microwave device is shown in FIG. 1. Like the prototype (see Fig. 2), the proposed microwave device contains a vacuum housing 1, a magnetic system 2 for forming and transporting an electron beam 3, a collector 4 in the form of a long body of revolution with a radius slowly varying along the axis of symmetry with a current-sensing surface 5 and a collector scanning coil 6 located coaxially to the collector 4 outside the vacuum housing 1 and creating an alternating periodic magnetic field necessary for scanning (moving in a reciprocating manner) having worked of the electron beam 3 along the current-sensing surface 5 of the collector 4. The electron beam 3 in the region of the collector 4 moves along the path 7, with the minimum field of the collector scanning coil 6 along the path 8, and at the maximum value of the field along the path 9. As in the analogs, the scanning zone of the electron beam 3 can significantly exceed the zone of settling of the beam in the absence of an alternating periodic magnetic field of the collector scanning coil 6. In contrast to the prototype, the proposed microwave device is additionally present a correcting coil 10, which is necessary for correcting the constant magnetic field of the magnetic system 2 of forming and transporting the electron beam 3 so that, together with the latter, the spent electron beam 3 passes outside the collector 4, which in the proposed microwave device is made separately from the vacuum housing 1 , and its fall on the current-sensing surface 5 of the collector 4, since the current-sensing surface 5 of the collector 4 is the outer surface of the body of revolution. The collector correcting coil 10 creates a static inhomogeneous magnetic field in the region of the electron beam 3.

Качественная зависимость температуры Т произвольной точки токовоспринимающей поверхности 5 коллектора 4 в установившемся непрерывном режиме от времени t изображена на Фиг. 3 и может быть установлена из следующих простых соображений. В течение времени прохождения электронным пучком 3 данной точки температура растет, а затем медленно убывает (за счет теплопередачи и охлаждения) до тех пор, пока электронный пучок 3 снова не вернется к этой точке. Таким образом, зависимость температуры произвольной точки токовоспринимающей поверхности 5 коллектора 4 от времени представляет собой колебательный процесс с частотой сканирования от минимальной температуры Tmin до максимальной Tmax (Фиг. 3) вокруг средней по времени температуры Т*. Очевидно, средний нагрев T*-T0 (разница между средней по времени температурой T* и температурой окружающей среды T0) токовоспринимающей поверхности 5 определяется средней по времени плотностью теплового потока и не зависит от частоты сканирования. Размах же Tmax-Tmin колебаний температуры существенно зависит от частоты сканирования и стремится к нулю при повышении частоты сканирования до бесконечности (в отсутствие других ограничивающих факторов). Если частота сканирования относительно низка (Фиг. 3, кривая а), то размах колебаний температуры Tmax-Tmin может быть существенно больше среднего нагрева T*-T0 токовоспринимающей поверхности 5, что может привести к негативным последствиям (к значительному уменьшению долговечности или даже к плавлению коллектора 4). Если же частота сканирования сравнительно высока (Фиг. 3, кривая б), то температура выбранной точки коллектора 4 будет почти постоянной во времени, равной средней по времени T*, испытывая лишь небольшие колебания. Поскольку средний по времени нагрев T*-T0 данной точки один и тот же для любой частоты сканирования, то переход к более высокой частоте можно интерпретировать как уменьшение размаха колебаний приращения температуры вокруг одного и того же значения T* (с одновременным увеличением частоты колебаний).A qualitative dependence of the temperature T of an arbitrary point on the current-sensing surface 5 of the collector 4 in a steady-state continuous mode on time t is depicted in FIG. 3 and can be established from the following simple considerations. During the time the electron beam 3 passes through this point, the temperature rises and then slowly decreases (due to heat transfer and cooling) until the electron beam 3 returns to this point again. Thus, the time dependence of the temperature of an arbitrary point on the current-sensing surface 5 of the collector 4 is an oscillatory process with a scanning frequency from the minimum temperature T min to the maximum T max (Fig. 3) around the time-average temperature T * . Obviously, the heating medium T * -T 0 (the difference between the time-averaged temperature T * and the ambient temperature T 0) tokovosprinimayuschey surface 5 is defined by the time-averaged heat flux density and is independent of the scanning frequency. The magnitude of T max -T min temperature fluctuations substantially depends on the scanning frequency and tends to zero with increasing scanning frequency to infinity (in the absence of other limiting factors). If the scanning frequency is relatively low (Fig. 3, curve a), then the range of temperature fluctuations T max -T min can be significantly greater than the average heating T * -T 0 of the current-sensing surface 5, which can lead to negative consequences (to a significant decrease in durability or even to melting the collector 4). If the scanning frequency is relatively high (Fig. 3, curve b), then the temperature of the selected collector point 4 will be almost constant in time, equal to the time average T * , experiencing only small fluctuations. Since the time-average heating T * -T 0 of a given point is the same for any scanning frequency, the transition to a higher frequency can be interpreted as a decrease in the amplitude of the oscillations of the temperature increment around the same value of T * (with a simultaneous increase in the oscillation frequency) .

Как уже было упомянуто ранее, коллектор 4 прототипа одновременно является частью вакуумного корпуса 1 (см. Фиг. 2). В силу самого своего назначения (обеспечить оседание электронного пучка 3 и снятие выделяющегося тепла путем охлаждения) коллектор 4 должен быть изготовлен из материала с хорошей (высокой) электропроводностью и теплопроводностью - обычно из меди. Но такой коллектор 4 у прототипа, будучи выполнен как часть вакуумного корпуса 1, при достаточно высокой частоте сканирования сильно экранирует переменное магнитное поле. В результате на практике из-за ограничения сверху частоты сканирования проводящим коллектором 4 в прототипе реализуется случай, показанный на Фиг. 3 (кривая а), когда размах колебаний рабочей температуры сравним со средним нагревом или даже существенно превосходит его. Особенно велик размах колебаний температуры в точках токовоспринимающей поверхности 5 вблизи границы зоны сканирования, где электронный пучок 3 «застаивается» при повороте.As already mentioned, the prototype manifold 4 is simultaneously part of the vacuum housing 1 (see FIG. 2). Due to its very purpose (to ensure the settling of the electron beam 3 and the removal of heat generated by cooling), the collector 4 must be made of a material with good (high) electrical conductivity and thermal conductivity - usually copper. But such a collector 4 of the prototype, being made as part of the vacuum housing 1, at a sufficiently high scanning frequency strongly shields the alternating magnetic field. As a result, in practice, due to the upper limit of the scanning frequency by the conductive collector 4, the case shown in FIG. 3 (curve a), when the range of fluctuations in the operating temperature is comparable to average heating or even significantly exceeds it. The range of temperature fluctuations is especially large at the points of the current-sensing surface 5 near the boundary of the scanning zone, where the electron beam 3 “stagnates” during rotation.

В предлагаемом СВЧ-приборе, в отличие от прототипа, коллектор 4 отделен от вакуумного корпуса 1, что позволяет использовать для вакуумного корпуса 1 металл с относительно низкой электропроводностью (например, нержавеющую сталь). В результате экранирование переменного периодического магнитного поля коллекторной сканирующей катушки 6 вакуумным корпусом 1 сравнительно невелико. Экранирование же переменного периодического магнитного поля коллектором 4 существенно лишь в пространственной области внутри коллектора 4. Снаружи коллектора 4, где проходит электронный пучок 3, экранирование при определенных условиях существенно меньше.In the proposed microwave device, in contrast to the prototype, the collector 4 is separated from the vacuum housing 1, which allows the use of metal with a relatively low electrical conductivity (for example, stainless steel) for the vacuum housing 1. As a result, the shielding of the alternating periodic magnetic field of the collector scanning coil 6 by the vacuum housing 1 is relatively small. The screening of the alternating periodic magnetic field by the collector 4 is significant only in the spatial region inside the collector 4. Outside of the collector 4, where the electron beam 3 passes, the screening under certain conditions is significantly less.

Действительно, экранирование происходит из-за индукционных токов, наводимых в коллекторе 4 переменным периодическим магнитным полем коллекторной сканирующей катушки 6. Но хорошо известно, что магнитное поле таких круговых, однородных вдоль оси симметрии токов сосредоточено внутри этой области токов, а снаружи отсутствует. Это хорошо видно на примере магнитного поля идеального соленоида (длинной тонкой цилиндрической катушки с постоянной вдоль оси симметрии плотностью тока), которое сосредоточено исключительно внутри соленоида; снаружи соленоида магнитное поле отсутствует. Следовательно, для однородного в области коллектора 4 переменного периодического магнитного поля коллекторной сканирующей катушки 6 и коллектора 4 в виде длинной тонкой цилиндрической оболочки экранирование переменного периодического магнитного поля в пространственной области снаружи коллектора 4 отсутствует. Если же радиус коллектора 4 слабо зависит от продольной координаты, то экранирование в пространственной области снаружи коллектора 4 будет, но оно будет значительно меньше, чем в пространственной области внутри коллектора 4.Indeed, the shielding is due to the induction currents induced in the collector 4 by the alternating periodic magnetic field of the collector scanning coil 6. But it is well known that the magnetic field of such circular currents, uniform along the axis of symmetry, is concentrated inside this current region, and is absent outside. This is clearly seen in the magnetic field of an ideal solenoid (a long thin cylindrical coil with a current density constant along the axis of symmetry), which is concentrated exclusively inside the solenoid; there is no magnetic field outside the solenoid. Therefore, for a uniform in the area of the collector 4 variable periodic magnetic field of the collector scanning coil 6 and collector 4 in the form of a long thin cylindrical shell, there is no shielding of the variable periodic magnetic field in the spatial region outside the collector 4. If the radius of the collector 4 weakly depends on the longitudinal coordinate, then the screening in the spatial region outside the collector 4 will be, but it will be much smaller than in the spatial region inside the collector 4.

Таким образом, в предлагаемом СВЧ-приборе значительно снижается экранирование переменного магнитного поля коллекторной сканирующей катушки 6 в области распространения электронного пучка 3 по сравнению с прототипом, что позволяет перейти к существенно более высокой частоте сканирования, значительно снижая максимальную рабочую температуру Tmax. В результате при тех же геометрических размерах коллектора 4 можно значительно снизить максимальную рабочую температуру токовоспринимающей поверхности 5 коллектора 4 и значительно повысить долговечность СВЧ-прибора при той же рассеиваемой мощности отработавшего электронного пучка 3 или, сохранив ту же рабочую температуру и долговечность, значительно повысить рассеиваемую мощность отработавшего пучка 3.Thus, in the proposed microwave device, the shielding of the alternating magnetic field of the collector scanning coil 6 in the propagation region of the electron beam 3 is significantly reduced compared to the prototype, which allows you to go to a significantly higher scanning frequency, significantly reducing the maximum operating temperature T max . As a result, with the same geometric dimensions of the collector 4, it is possible to significantly reduce the maximum operating temperature of the current-sensing surface 5 of the collector 4 and significantly increase the durability of the microwave device with the same dissipated power of the spent electron beam 3 or, while maintaining the same operating temperature and durability, significantly increase the dissipated power spent beam 3.

Оценим выигрыш в максимально допустимой частоте сканирования для коллектора 4 предлагаемого СВЧ-прибора по сравнению с коллектором 4 прототипа. Для тела коллектора 4 прототипа, близкого по форме к длинной тонкой немагнитной цилиндрической оболочке, характерная частота fколл [Гц] начала значительного экранирования составляет [см. В.В. Васильев, Л.Л. Коленский, Ю.А. Медведев, Б.М. Степанов. Проводящие оболочки в импульсном электромагнитном поле. М., Энергоатомиздат, 1982]:We estimate the gain in the maximum allowable scanning frequency for collector 4 of the proposed microwave device compared to collector 4 of the prototype. For the body of the collector 4 of the prototype, close in shape to a long thin non-magnetic cylindrical shell, the characteristic frequency f call [Hz] of the beginning of significant shielding is [see V.V. Vasiliev, L.L. Kolensky, Yu.A. Medvedev, B.M. Stepanov. Conductive shells in a pulsed electromagnetic field. M., Energoatomizdat, 1982]:

Figure 00000001
Figure 00000001

где

Figure 00000002
, σколл - проводимость материала коллектора 4 прототипа [Ом-1м], Rколл - радиус коллектора 4 прототипа [м], hколл - толщина коллектора 4 прототипа [м].Where
Figure 00000002
, σ call - conductivity of the material of the collector 4 of the prototype [Ohm -1 m], R call - radius of the collector 4 of the prototype [m], h call - the thickness of the collector 4 of the prototype [m].

В предлагаемом СВЧ-приборе экранирование осуществляется вакуумным корпусом 1, а для вакуумного корпуса, близкого по форме к длинной тонкой немагнитной цилиндрической оболочке, характерная частота

Figure 00000003
начала значительного экранирования составляет [см. В.В. Васильев, Л.Л. Коленский, Ю.А. Медведев, Б.М. Степанов. Проводящие оболочки в импульсном электромагнитном поле. М., Энергоатомиздат, 1982]:In the proposed microwave device, the shielding is carried out by the vacuum housing 1, and for a vacuum housing similar in shape to a long thin non-magnetic cylindrical shell, the characteristic frequency
Figure 00000003
the onset of significant shielding is [see V.V. Vasiliev, L.L. Kolensky, Yu.A. Medvedev, B.M. Stepanov. Conductive shells in a pulsed electromagnetic field. M., Energoatomizdat, 1982]:

Figure 00000004
Figure 00000004

где σкорп - проводимость материала вакуумного корпуса 1 предлагаемого СВЧ-прибора [Ом-1м], Rкорп - радиус вакуумного корпуса 1 предлагаемого СВЧ-прибора [м], hкорп - толщина вакуумного корпуса 1 предлагаемого СВЧ-прибора [м].where σ cor - conductivity of the material of the vacuum housing 1 of the proposed microwave device [Ohm -1 m], R cor - radius of the vacuum housing 1 of the proposed microwave device [m], h cor - thickness of the vacuum housing 1 of the proposed microwave device [m].

Таким образом, предлагаемое изобретение позволяет увеличить частоту сканирования в

Figure 00000005
раз по сравнению с прототипом (при прочих равных условиях).Thus, the present invention allows to increase the scanning frequency in
Figure 00000005
times compared with the prototype (ceteris paribus).

Пример: Для типичного мощного гиротрона коллектор, выполненный из меди

Figure 00000006
, имеет радиус Rколл=10 см и толщину hколл=5 мм. Пусть предлагаемый СВЧ-прибор имеет такой же коллектор. Радиус вакуумного корпуса предлагаемого СВЧ-прибора будет немного больше радиуса коллектора, скажем, Rкорп=11 см. В качестве материала вакуумного корпуса выберем нержавеющую сталь 12Х18Н10Т
Figure 00000007
. Толщина вакуумного корпуса может быть существенно меньше толщины коллектора в связи с отсутствием охлаждения и увеличением прочности используемого материала, например hкорп=2 мм. В итоге выигрыш в максимально допустимой частоте сканирования для предлагаемого СВЧ-прибора составит почти два порядка.Example: For a typical high-power gyrotron, a collector made of copper
Figure 00000006
has a radius R call = 10 cm and a thickness h call = 5 mm. Let the proposed microwave device has the same collector. The radius of the vacuum housing of the proposed microwave device will be slightly larger than the radius of the collector, say, R corp = 11 cm. As the material of the vacuum housing, we choose stainless steel 12X18H10T
Figure 00000007
. The thickness of the vacuum housing can be significantly less than the thickness of the collector due to the lack of cooling and an increase in the strength of the material used, for example, h corp = 2 mm. As a result, the gain in the maximum allowable scanning frequency for the proposed microwave device will be almost two orders of magnitude.

Во многих практически важных ситуациях такое техническое решение позволит значительно снизить максимальную рабочую температуру токовоспринимающей поверхности 5 коллектора 4 при той же рассеиваемой мощности отработавшего электронного пучка 3, то есть значительно увеличить долговечность СВЧ-прибора или, сохранив ту же максимальную рабочую температуру, существенно увеличить значение рассеиваемой мощности отработавшего электронного пучка 3 при той же долговечности прибора.In many practically important situations, this technical solution will significantly reduce the maximum operating temperature of the current-sensing surface 5 of the collector 4 with the same dissipated power of the spent electron beam 3, that is, significantly increase the durability of the microwave device or, while maintaining the same maximum operating temperature, significantly increase the value of the dissipated power of the spent electron beam 3 with the same durability of the device.

В частном случае реализации изобретения по п. 2 к изолированному от вакуумного корпуса 1 коллектору 4 дополнительно подключен источник высокого напряжения, тормозящего электронный пучок 3. Такое подключение дает возможность произвести рекуперацию энергии электронного пучка 3. Типичный КПД гиротрона без рекуперации составляет 30-35%, а с рекуперацией - около 50%. Кроме весьма заметного повышения КПД, рекуперация очень сильно снижает мощность, рассеиваемую на коллекторе 4. Так, при повышении КПД с 33% до 50% в мегаваттном гиротроне мощность на коллекторе 4 снижается вдвое: с 2 МВт до 1 МВт [см. А.Л. Гольденберг, Г.Г. Денисов, В.Е. Запевалов, А.Г. Литвак, В.А. Флягин. Мазеры на циклотронном резонансе: состояние и проблемы. Известия ВУЗов, Радиофизика, 1996, т. 39, №6, сс. 635-670; Денисов Г.Г., Запевалов В.Е., Литвак А.Г., Мясников В.Е. Гиротроны мегаваттного уровня мощности для систем электронно-циклотронного нагрева и генерации тока в установках УТС. Известия ВУЗов, Радиофизика, 2003, т. 46, №10, сс. 845-858; G.G. Denisov, A.G.Litvak, V.E. Myasnikov, E.M. Tai, V.E. Zapevalov. Development in Russia of high-power gyrotrons for fusion. Nuclear Fusion, 48, №5, 2008, 5 pp.]. В итоге при той же мощности излучения СВЧ-прибора значительно снижается рассеиваемая мощность отработавшего электронного пучка 3. В результате значительно снижается плотность теплового потока на токовоспринимающую поверхность 5 коллектора 4 и в итоге снижается максимальная рабочая температура токовоспринимающей поверхности 5 со всеми вытекающими отсюда последствиями (например, возможностью повышения долговечности СВЧ-прибора и т.д.).In the particular case of the invention according to claim 2, a collector 4 is additionally connected to a collector 4 isolated from the vacuum housing 1 and a high voltage source that inhibits the electron beam 3. Such a connection makes it possible to recover the energy of the electron beam 3. A typical gyrotron efficiency without recovery is 30-35%, and with recovery - about 50%. In addition to a very noticeable increase in efficiency, recovery greatly reduces the power dissipated in collector 4. Thus, with an increase in efficiency from 33% to 50% in a megawatt gyrotron, the power on collector 4 halves: from 2 MW to 1 MW [see A.L. Goldenberg, G.G. Denisov, V.E. Zapevalov, A.G. Litvak, V.A. Flagin. Cyclotron resonance masers: state and problems. Proceedings of Universities, Radiophysics, 1996, v. 39, No. 6, ss. 635-670; Denisov G.G., Zapevalov V.E., Litvak A.G., Myasnikov V.E. Gyrotrons of megawatt power level for electron-cyclotron heating and current generation systems in TCB installations. Proceedings of Universities, Radiophysics, 2003, v. 46, No. 10, ss. 845-858; G.G. Denisov, A.G. Litvak, V.E. Myasnikov, E.M. Tai, V.E. Zapevalov. Development in Russia of high-power gyrotrons for fusion. Nuclear Fusion, 48, No. 5, 2008, 5 pp.]. As a result, at the same radiation power of the microwave device, the dissipated power of the spent electron beam 3 is significantly reduced. As a result, the heat flux to the current-sensing surface 5 of the collector 4 is significantly reduced and, as a result, the maximum operating temperature of the current-sensing surface 5 decreases with all the ensuing consequences (for example, the possibility of increasing the durability of the microwave device, etc.).

Таким образом, предлагаемое изобретение позволяет существенно снизить максимальную рабочую температуру поверхности коллектора электронного СВЧ-прибора и дает возможность, например, повысить долговечности СВЧ-прибора при заданной мощности СВЧ-излучения (и заданной рассеиваемой мощности отработавшего электронного пучка) или повысить максимально возможную рассеиваемую мощность отработавшего электронного пучка и мощность СВЧ-излучения (если, конечно, мощность излучения не ограничена другими факторами) при заданной максимальной рабочей температуре токовоспринимающей поверхности коллектора или долговечности СВЧ-прибора.Thus, the present invention can significantly reduce the maximum operating temperature of the collector surface of an electronic microwave device and makes it possible, for example, to increase the durability of a microwave device at a given microwave power (and a given dissipated power of the spent electron beam) or to increase the maximum possible dissipated power of the spent electron beam and microwave power (unless, of course, the radiation power is not limited by other factors) for a given maximum working temperature of the collector surface of the collector or the durability of the microwave device.

Claims (2)

1. Электронный СВЧ-прибор, включающий вакуумный корпус, магнитную систему формирования и транспортировки электронного пучка, коллектор отработанного электронного пучка в виде длинного тела вращения с медленно изменяющимся вдоль оси симметрии радиусом, одна из поверхностей которого является токовоспринимающей, а также расположенную коаксиально коллектору снаружи вакуумного корпуса коллекторную сканирующую катушку, отличающийся тем, что коллектор выполнен отдельно от вакуумного корпуса, вакуумный корпус выполнен из материала с низкой электропроводностью, коаксиально коллектору снаружи вакуумного корпуса дополнительно размещена коллекторная корректирующая катушка, создающая статическое магнитное поле, токовоспринимающей поверхностью коллектора является внешняя поверхность тела вращения.1. An electronic microwave device including a vacuum housing, a magnetic system for the formation and transportation of an electron beam, a spent electron beam collector in the form of a long body of revolution with a radius slowly varying along the axis of symmetry, one of the surfaces of which is current-sensing, and also located coaxially to the collector outside the vacuum a collector scanning coil, characterized in that the collector is separate from the vacuum housing, the vacuum housing is made of low conductivity, coaxial to the collector outside the vacuum housing is additionally placed collector correcting coil that creates a static magnetic field, the current-sensing surface of the collector is the outer surface of the body of revolution. 2. Электронный СВЧ-прибор по п. 1, отличающийся тем, что к электрически изолированному от корпуса коллектору дополнительно подключен источник высокого напряжения.2. An electronic microwave device according to claim 1, characterized in that a high voltage source is additionally connected to the collector electrically isolated from the housing.
RU2016113110A 2016-04-05 2016-04-05 Electronic microwave instrument RU2630251C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016113110A RU2630251C1 (en) 2016-04-05 2016-04-05 Electronic microwave instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016113110A RU2630251C1 (en) 2016-04-05 2016-04-05 Electronic microwave instrument

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2630251C1 true RU2630251C1 (en) 2017-09-06

Family

ID=59797673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016113110A RU2630251C1 (en) 2016-04-05 2016-04-05 Electronic microwave instrument

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2630251C1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4933594A (en) * 1988-01-13 1990-06-12 Thomson-Csf Electron collector for electron tubes
US6025678A (en) * 1996-12-10 2000-02-15 Thomson Tubes Electroniques Linear-beam microwave tube with output cavity beyond the collector
SU1238617A1 (en) * 1984-10-02 2000-05-10 Институт прикладной физики АН СССР Microwave device
RU2576391C1 (en) * 2014-11-18 2016-03-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт прикладной физики Российской академии наук (ИПФ РАН) Electronic microwave gadget

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1238617A1 (en) * 1984-10-02 2000-05-10 Институт прикладной физики АН СССР Microwave device
US4933594A (en) * 1988-01-13 1990-06-12 Thomson-Csf Electron collector for electron tubes
US6025678A (en) * 1996-12-10 2000-02-15 Thomson Tubes Electroniques Linear-beam microwave tube with output cavity beyond the collector
RU2576391C1 (en) * 2014-11-18 2016-03-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт прикладной физики Российской академии наук (ИПФ РАН) Electronic microwave gadget

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Thumm Progress on gyrotrons for ITER and future thermonuclear fusion reactors
Yambe et al. Experimental study on generation of electron beam utilizing cold cathode in the weakly relativistic energy region
US9892882B1 (en) Inverted magnetron with amplifying structure and associated systems and methods
RU2630251C1 (en) Electronic microwave instrument
CN112563094B (en) Method for inhibiting electron beam backflow in non-foil diode
Dwivedi et al. Design expressions for the magnetically insulated line oscillator
JP7096779B2 (en) Ion source, and circular accelerator and particle beam therapy system using it
RU2576391C1 (en) Electronic microwave gadget
Tsarev et al. 3-D evaluation of energy extraction in multitube double-gap resonator installed downstream of a multibeam klystron
US8004197B2 (en) Method and apparatus for collector sweeping control of an electron beam
Yuvaraj et al. Design studies of a 3-MW, multifrequency (170/204/236 GHz) DEMO class triangular corrugated coaxial cavity gyrotron
Hoff et al. Three-dimensional simulations of magnetic priming of a relativistic magnetron
KR101679518B1 (en) Magnetron
US20190115133A1 (en) Apparatus and method for magnetic field compression using a toroid coil structure
Xu et al. Design of a high-harmonic gyrotron with a permanent magnet system
Xiao et al. Design and high-power test of 800-kW UHF klystron for CEPC
Singh et al. Development of normal conducting cavity magnet for 42 GHz 200 kW long pulse gyrotron
Zapevalov Problems And Solutions For Collector Systems Of Powerful Gyrotrons
Yakovlev et al. Limitations on area compression of beams from pierce guns
Volkov et al. New RF gun for Novosibirsk ERL FEL
Jory et al. Gyrotron oscillators for fusion heating
Proyavin et al. Highly efficient technological gyrotron system with magnetically shielded solenoid
Eppley Design of a 100 MW X-band klystron
CN109148242A (en) A kind of electromagnetism wave oscillator
Slutz Ion divergence generated by nonuniform current density of intense ion beams