RU2557010C2 - Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers - Google Patents
Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers Download PDFInfo
- Publication number
- RU2557010C2 RU2557010C2 RU2013139893/07A RU2013139893A RU2557010C2 RU 2557010 C2 RU2557010 C2 RU 2557010C2 RU 2013139893/07 A RU2013139893/07 A RU 2013139893/07A RU 2013139893 A RU2013139893 A RU 2013139893A RU 2557010 C2 RU2557010 C2 RU 2557010C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ions
- specific charge
- charged particles
- axis
- point
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
Способ анализа заряженных частиц (ионов) в гиперболоидных масс-спектрометрах предназначен для масс-спектрометрии и может быть использован при создании гиперболоидных масс-спектрометров с высокой чувствительностью и разрешающей способностью.The method of analysis of charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers is intended for mass spectrometry and can be used to create hyperboloid mass spectrometers with high sensitivity and resolution.
Известен способ анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах [I]. По известному способу анализируемые заряженные частицы вводят в рабочий объем анализатора масс-спектрометра, сортируют по удельным зарядам, удерживая ионы с избранным удельным зарядом в рабочем объеме анализатора, и выводят их в измерительное устройство. По известному способу рабочие точки заряженных частиц с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности располагаются внутри зон стабильности вблизи их границ. Это обуславливает наличие основных недостатков известного способа: низкая чувствительность из-за больших амплитуд колебаний ионов в анализаторе и ограниченная разрешающая способность, обусловленная тем, что рабочие точки ионов на диаграмме стабильности находятся в области низкой эффективности сортировки.A known method of analysis of charged particles in hyperboloid mass spectrometers [I]. According to the known method, the analyzed charged particles are introduced into the working volume of the analyzer of the mass spectrometer, sorted by specific charges, holding ions with a selected specific charge in the working volume of the analyzer, and output them to the measuring device. According to the known method, the operating points of charged particles with a selected specific charge in the overall stability diagram are located inside the stability zones near their boundaries. This leads to the presence of the main disadvantages of the known method: low sensitivity due to large amplitudes of ion vibrations in the analyzer and limited resolution due to the fact that the operating points of the ions in the stability diagram are in the region of low sorting efficiency.
Известен способ анализа заряженных частиц по удельным зарядам в гиперболоидных масс-спектрометрах, по которому отмеченные недостатки частично устраняются [II]. В прототипе частицы с избранным удельным зарядом во время удержания в рабочем объеме анализатора заставляют совершать движение по ″базовым траекториям″ путем подбора фазы ввода частиц в электрическое поле и параметров поля. ″Базовые траектории″ в высокочастотных квадрупольных электрических полях могут существовать только тогда, когда рабочая точка частицы находится в нестабильной области диаграммы стабильности. При этом резко возрастает эффективность сортировки и, соответственно, разрешающая способность прибора.A known method of analysis of charged particles by specific charges in hyperboloid mass spectrometers, in which the noted disadvantages are partially eliminated [II]. In the prototype, particles with a selected specific charge while being held in the analyzer’s working volume are forced to move along ″ basic trajectories ″ by selecting the phase for introducing particles into the electric field and field parameters. ″ Basic trajectories ″ in high-frequency quadrupole electric fields can exist only when the working point of the particle is in the unstable region of the stability diagram. At the same time, the sorting efficiency and, accordingly, the resolution of the device sharply increase.
Однако чувствительность прототипа оказалась пониженной из-за сильной зависимости амплитуды колебания заряженных частиц в этом режиме от фазы ввода ионов в ВЧ поле. В прототипе, из-за сильной фазовой зависимости, только тысячные доли от введенных в течение ВЧ периода в анализатор ионов могут удерживаться полем.However, the sensitivity of the prototype was reduced due to the strong dependence of the amplitude of the oscillations of charged particles in this mode on the phase of the introduction of ions in the RF field. In the prototype, due to the strong phase dependence, only thousandths of the ions introduced into the analyzer during the RF period can be held by the field.
Целью настоящего изобретения является создание способа анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах, который был бы свободен от недостатков, свойственных прототипу, а именно позволял бы существенно улучшать аналитические характеристики гиперболоидного масс-спектрометра: разрешающую способность (до сотен тысяч) и чувствительность (до 40% от введенного в анализатор количества ионов, с избранным удельным зарядом).The aim of the present invention is to provide a method for the analysis of charged particles in hyperboloid mass spectrometers, which would be free from the disadvantages inherent in the prototype, namely, would significantly improve the analytical characteristics of the hyperboloid mass spectrometer: resolution (up to hundreds of thousands) and sensitivity (up to 40 % of the amount of ions introduced into the analyzer, with a selected specific charge).
По предлагаемому способу анализируемые заряженные частицы вводят в анализатор масс-спектрометра, сортируют ионы по удельным зарядам путем воздействия на них импульсным высокочастотным с постоянной составляющей электрическим полем, заставляя ионы с избранным удельным зарядом совершать движение по ″базовым траекториям″, а ионы с отличным от избранного значения удельным зарядом выводят из рабочего объема на полезадающие электроды анализатора, после чего оставшиеся в объеме анализатора ионы с избранным значением удельного заряда направляют в измерительное устройство. Для реализации заявляемого способа анализа рабочую точку ионов с избранным удельным зарядом на общей диаграмме стабильности путем подбора параметров электрического поля размещают на прямой, перпендикулярной оси общей диаграммы стабильности, проходящей через точку пересечения этой оси с границей зоны стабильности, соответствующей значению параметра стабильности β0=-1, при этом по другой координатной оси рабочую точку располагают в одной из стабильных областей общей диаграммы стабильности.According to the proposed method, the analyzed charged particles are introduced into the mass spectrometer analyzer, the ions are sorted by specific charges by exposure to them by a pulsed high-frequency constant-field electric field, forcing ions with a selected specific charge to move along ″ base trajectories ″, and ions with a different from selected the values of the specific charge are removed from the working volume to the analyzing electrodes of the analyzer, after which the remaining ions in the analyzer volume with the selected specific charge value of ulation in the measuring device. To implement the proposed method of analysis, the operating point of ions with a selected specific charge on the general stability diagram by selecting the parameters of the electric field is placed on a straight line perpendicular to the axis of the general stability diagram passing through the intersection point of this axis with the boundary of the stability zone corresponding to the value of the stability parameter β 0 = - 1, while on the other coordinate axis, the operating point is located in one of the stable areas of the overall stability diagram.
В общем случае проекции траектории движения заряженной частицы на координатные оси в гиперболоидных масс-спектрометрах описываются уравнением Хилла. Среди всевозможных общих решений этого уравнения следует в нашем случае выделить так называемые ″базовые решения″. ″Базовым решениям″ соответствует условие:In the general case, projections of the trajectory of a charged particle on coordinate axes in hyperboloid mass spectrometers are described by the Hill equation. Among all possible general solutions to this equation, in our case, the so-called ″ basic solutions ″ should be distinguished. ″ Basic solutions ″ meets the condition:
где Ρ - постоянная;where Ρ is a constant;
π - период переменной функции в уравнении Хилла;π is the period of the variable function in the Hill equation;
y(t) - его общее решение.y (t) is his general solution.
Учитывая рекуррентное соотношение для общих решений уравнения Хилла:Given the recurrence relation for general solutions of the Hill equation:
где β0 - известный параметр стабильности уравнения Хилла.where β 0 is the known stability parameter of the Hill equation.
Из (1) и (2) получаем:From (1) and (2) we obtain:
Из (3) следует, что Ρ действительно, если β0 действительно и по модулю больше 1, что соответствует нестабильной области решений уравнения Хилла. Характерное решение (5) для ″базового решения″ записывается в виде:It follows from (3) that Ρ is valid if β 0 is valid and modulo more than 1, which corresponds to an unstable domain of solutions of the Hill equation. The characteristic solution (5) for the ″ base solution ″ is written as:
где 
y0 - начальная координата иона.y 0 is the initial coordinate of the ion.
По определению характерное решение уравнения Хилла совпадает с общим решением в моменты времени, отстоящие друг от друга на период переменной функции в уравнении Хилла (в нашем случае π). Из (1) следует: если в (1) вместо координат поставить скорости (производные от y(t)), то для характерного решения для скорости получим соотношение подобное (4). Это означает, что если заряженную частицу заставить совершать движение по ″базовой траектории″ (при Ρ по модулю меньше единицы), то она со временем потеряет скорость и координату и окажется в начале координат фазовой плоскости. По существу, это идеальные условия для ловушки заряженных частиц. Переменные функции в уравнении Хилла могут быть разнообразными. В гиперболоидной масс-спектрометрии чаще всего используются гармоническая и импульсная функции (при гармонической функции уравнение Хилла преобразуется в уравнение Матье). Использование импульсной функции в гиперболоидной масс-спектрометрии имеет свои преимущества. В этом случае на электроды анализатора подают импульсное напряжение (прямоугольные импульсы разной полярности, длительности и амплитуды). Одним из преимуществ импульсного питания является простота требуемого математического аппарата, т.к. уменьшается объем вычислений, необходимых для анализа траекторий ионов в анализаторах. В теории импульсного питания водят параметр:By definition, the characteristic solution of the Hill equation coincides with the general solution at times that are apart from each other by the period of the variable function in the Hill equation (in our case, π). From (1) it follows: if in (1) instead of coordinates we put the velocities (derivatives of y (t)), then for a characteristic solution for the velocity we obtain a relation similar to (4). This means that if a charged particle is forced to move along a ″ base trajectory ″ (with Ρ less than one in absolute value), then it will lose speed and coordinate over time and will be at the origin of the phase plane. Essentially, these are ideal conditions for trapping charged particles. Variable functions in the Hill equation can be varied. In hyperboloid mass spectrometry, harmonic and impulse functions are most often used (with a harmonic function, the Hill equation is converted to the Mathieu equation). The use of impulse function in hyperboloid mass spectrometry has its advantages. In this case, a pulse voltage (rectangular pulses of different polarity, duration and amplitude) is applied to the analyzer electrodes. One of the advantages of switching power supply is the simplicity of the required mathematical apparatus, because the amount of computation needed to analyze the ion trajectories in the analyzers decreases. In the theory of switching power supply, they drive the parameter:
и имеем:and we have:
где υ0 - начальная скорость иона;where υ 0 is the initial velocity of the ion;
ai - координаты рабочей точки иона на импульсной диаграмме стабильности;a i - coordinates of the working point of the ion on the pulse diagram of stability;
shi и Ψ - функции этих координат.sh i and Ψ are functions of these coordinates.
Функции shi и Ψ зависят от начальной фазы ввода заряженной частицы в поле анализатора, но если в (6) положить а2 мнимым и его модуль равным (имея ввиду анализатор типа осесимметричной ионной ловушки)Function sh i and Ψ depend on the initial input phase of the charged particles in the field of the analyzer, but if in (6) To a 2 and imaginary modulus equal (meaning analyzer type axially symmetric ion trap)
то для Δ получаем:then for Δ we get:
что соответствует вводу ионов в ловушку вдоль оси с энергией, равной высоте потенциального барьера в центре анализатора, независимо от фазы ввода во время действия тормозящего импульса. В (7) Τ - относительная длительность импульса ввода, а К - любое целое положительное число. Обычно на электроды ионных ловушек при импульсном питании подают напряжения порядка 300-400 Вольт, и энергия вводимых ионов составляет единицы эВольт. При патентуемом способе из соотношения (7) следует, что вводить ионы в анализатор можно с энергией 200-260 эВольт, что позволяет радикально улучшать качество вводимых в анализатор ионных пучков со всеми вытекающими отсюда последствиями (увеличение разрешения и чувствительности масс-спектрометров). По осям импульсной диаграммы стабильности откладываются значения параметров ai. Для параметра стабильности β0 имеем соотношение:which corresponds to the entry of ions into the trap along the axis with an energy equal to the height of the potential barrier in the center of the analyzer, regardless of the phase of entry during the action of the inhibitory pulse. In (7), Τ is the relative duration of the input pulse, and K is any positive integer. Typically, voltage pulses of the order of 300-400 volts are applied to the electrodes of ion traps during pulse power supply, and the energy of the introduced ions is eVolts. With the patented method, it follows from relation (7) that it is possible to introduce ions into the analyzer with an energy of 200-260 eVolt, which can radically improve the quality of ion beams introduced into the analyzer with all the ensuing consequences (increasing the resolution and sensitivity of mass spectrometers). The axes of the impulse stability diagram show the values of the parameters a i . For stability parameter β 0 we have the ratio:
Соотношение (9) для случая ловушки соответствует координате r. Для координаты z в (9) перед ai следует ставить 
здесь: е - заряд иона;here: e is the charge of the ion;
m - его масса;m is its mass;
Ui - амплитуда соответствующего импульса в Вольтах;U i is the amplitude of the corresponding pulse in Volts;
Τi - относительная длительность импульсов;Τ i is the relative pulse duration;
ra и dz - геометрические параметры анализатора.r a and d z are the geometric parameters of the analyzer.
Если sh2 в (6) и а1 равны нулю и Δ в (8) равно 1, то из (9)) следует, что β0=-1. Это означает, что рабочие точки ионов, соответствующие заявляемому способу анализа, расположены на прямой, перпендикулярной оси ″а2″ и проходящей через точку пересечения с этой осью границы зоны стабильности, на которой β0=-1.If sh 2 in (6) and a 1 are equal to zero and Δ in (8) is 1, then it follows from (9)) that β 0 = -1. This means that the working points of the ions corresponding to the claimed method of analysis are located on a straight line, perpendicular to the axis ″ a 2 ″ and passing through the point of intersection with this axis of the boundary of the stability zone, on which β 0 = -1.
На фиг. 1 приведена общая диаграмма стабильности для осесимметричной ионной ловушки при импульсном питании. Питающий сигнал - меандр. Там же приведены схемы, иллюстрирующие два способа ввода заряженных частиц в анализатор ловушки: радиальный и осевой ввод. На диаграмме по вертикальной оси откладываются значения параметра a1, а по горизонтальной - параметра а2. Заштрихованные области - зоны стабильности. Зоны, расположенные вдоль вертикальной оси, - зоны стабильности для проекций траектории движения ионов на ось z, а зоны, расположенные вдоль горизонтальной оси, - для проекций траектории движения ионов на ось r. Области, где зоны стабильности накладываются друг на друга, называются общими зонами стабильности. А и В - рабочие точки заряженных частиц с избранными зарядами при радиальном вводе (точка А), а В - при осевом вводе. Из фиг. 1 видно, что при осевом вводе рабочая точка ионов с избранным зарядом по оси z расположена в нестабильной зоне, а по оси r - в стабильной. По предлагаемому способу в этом случае точка В может располагаться вдоль прямой, перпендикулярной горизонтальной оси диаграммы стабильности и проходящей через точку пересечения границы зоны стабильности, соответствующей β0=-1, с этой осью диаграммы. Эта прямая показана на фиг. 1 (прерывистая прямая). Заметим, что по предлагаемому способу рабочая точка избранных ионов может находится в любой области этой прямой, например в точке В1 (см. фиг. 1), находящейся во второй зоне стабильности по r координате. Назовем эту прямую ″несущей прямой″. В рассматриваемом случае точки В и В1 находятся на ″несущей прямой″ для z координаты. Для радиального ввода ″несущая прямая″ показана на фиг. 1 штрихпунктиром.In FIG. Figure 1 shows a general stability diagram for an axisymmetric ion trap during pulsed feeding. The power signal is a meander. Diagrams are also given illustrating two methods for introducing charged particles into the trap analyzer: radial and axial input. In the diagram the vertical axis represents the values of a parameter 1, and the horizontal - and parameter 2. Shaded areas are stability zones. Zones located along the vertical axis are stability zones for projections of the ion path on the z axis, and zones along the horizontal axis are for projections of the ion path on the r axis. Areas where stability zones overlap are called common stability zones. A and B are the operating points of charged particles with selected charges during radial input (point A), and B is for axial input. From FIG. Figure 1 shows that during axial entry, the working point of ions with a chosen charge along the z axis is located in the unstable zone, and along the r axis it is in the stable zone. According to the proposed method, in this case, point B can be located along a straight line perpendicular to the horizontal axis of the stability diagram and passing through the point of intersection of the boundary of the stability zone corresponding to β 0 = -1 with this axis of the diagram. This straight line is shown in FIG. 1 (broken line). Note that according to the proposed method, the working point of the selected ions can be in any region of this straight line, for example, at point B1 (see Fig. 1), located in the second stability zone in the r coordinate. Call this line ″ carrier line ″. In this case, points B and B1 are located on the ″ carrier line ″ for the z coordinate. For radial insertion, the ″ carrier line ″ is shown in FIG. 1 dash-dotted line.
На фиг. 2 приведены массовые пики, построенные для рабочей точки А (режим радиального ввода), соответствующие различным временам сортировки ионов в рабочем объеме анализатора. По вертикальной оси на фиг. 2 отложена доля оставшихся в анализаторе ионов к моменту окончания времени сортировки в (%). Эта величина пропорциональна чувствительности масс-спектрометра. На фиг. 2 для каждого пика приведены таблицы, в которых указаны: N - время сортировки в периодах ВЧ поля, I - чувствительность, Ri - значение разрешающей способности с уровнем ее определения.In FIG. Figure 2 shows the mass peaks plotted for operating point A (radial input mode) corresponding to different times of sorting the ions in the working volume of the analyzer. The vertical axis in FIG. Figure 2 shows the fraction of ions remaining in the analyzer by the end of the sorting time in (%). This value is proportional to the sensitivity of the mass spectrometer. In FIG. 2, for each peak, tables are given in which: N is the sorting time in the periods of the HF field, I is the sensitivity, R i is the resolution value with the level of its determination.
На фиг. 3 приведены массовые пики, построенные для точки В (осевой ввод).In FIG. Figure 3 shows the mass peaks plotted for point B (axial input).
На фиг. 4 приведена форма массового пика для точки А (см. фиг. 1), построенного в логарифмическом масштабе. Для расчета этого пика в анализатор было ″введено″ 108 ионов для определения глубины сортировки заряженных частиц по удельным зарядам.In FIG. 4 shows the shape of the mass peak for point A (see Fig. 1), plotted on a logarithmic scale. To calculate this peak, 10 8 ions were introduced into the analyzer to determine the depth of sorting of charged particles by specific charges.
На фиг. 5 приведены массовые пики, при реализации предлагаемого способа в гиперболоидных масс-спектрометрах пролетного типа (квадрупольный фильтр масс, триполь и т.д.) Здесь ионный поток следует вводить через гиперболические электроды перпендикулярно (либо под некоторым углом) к оси системы. При этом можно существенно увеличить энергию вводимых в анализатор ионов (до нескольких сот электрон-вольт), уменьшить длину электродной системы и избежать влияния переходной области на траектории вводимых в анализатор заряженных частиц. В этом случае время сортировки ионов по удельным зарядам будет определяться не отношением длины электродной системы к скорости их ввода в анализатор, а отношением расстояния между точкой ввода ионов в анализатор и плоскостью вывода к продольной скорости вводимых ионов, определяемой углом ввода ионного потока. Как показано на фиг. 2, 3 и 4, для достижения весьма высоких разрешений по предлагаемому способу необходимо время сортировки не больше 5-10 периодов. Тогда как в современных квадрупольных масс-спектрометрах для достижения разрешений сотни тысяч необходимо время сортировки несколько тысяч периодов. Радикальное уменьшение времени сортировки (почти на три порядка) позволяет на порядки увеличить рабочее давление в анализаторе, а это - уменьшение мощности откачных систем, увеличение реальной чувствительности масс-спектрометра, значительное удешевление прибора, возможности миниатюризации устройств и выхода на новые рынки с большим объемом реализаций.In FIG. Figure 5 shows the mass peaks when implementing the proposed method in span-type hyperboloid mass spectrometers (quadrupole mass filter, tripole, etc.) Here, the ion flux should be introduced through the hyperbolic electrodes perpendicular (or at some angle) to the axis of the system. In this case, one can significantly increase the energy of ions introduced into the analyzer (up to several hundred electron-volts), reduce the length of the electrode system and avoid the influence of the transition region on the trajectories of charged particles introduced into the analyzer. In this case, the time of sorting ions by specific charges will be determined not by the ratio of the length of the electrode system to the speed of their introduction into the analyzer, but by the ratio of the distance between the point of introduction of ions into the analyzer and the output plane to the longitudinal velocity of the introduced ions, determined by the angle of introduction of the ion flux. As shown in FIG. 2, 3 and 4, to achieve very high resolutions by the proposed method, the sorting time is necessary no more than 5-10 periods. Whereas in modern quadrupole mass spectrometers, to achieve resolutions of hundreds of thousands, sorting time of several thousand periods is required. A radical decrease in sorting time (by almost three orders of magnitude) makes it possible to increase the working pressure in the analyzer by orders of magnitude, which means a decrease in the power of pumping systems, an increase in the real sensitivity of the mass spectrometer, a significant reduction in the cost of the device, the possibility of miniaturizing devices and entering new markets with a large volume of sales .
Таким образом, численным моделированием показано, что предлагаемый способ анализа заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах позволяет:Thus, numerical simulation shows that the proposed method for the analysis of charged particles in hyperboloid mass spectrometers allows you to:
- в сотни раз повысить эффективность сортировки заряженных частиц в гиперболоидных масс-спектрометрах, что позволяет радикально повысить их разрешающую способность;- a hundredfold increase the efficiency of sorting of charged particles in hyperboloid mass spectrometers, which allows to radically increase their resolution;
- при разрешающей способности сотни тысяч повысить чувствительность приборов до нескольких десятков процентов;- with a resolution of hundreds of thousands, increase the sensitivity of devices to several tens of percent;
- в сотни раз уменьшить необходимое время сортировки заряженных частиц, что позволяет:- hundreds of times to reduce the necessary time for sorting charged particles, which allows you to:
а) для приборов с ионной ловушкой повысить реальную чувствительность масс-спектрометра,a) for devices with an ion trap to increase the real sensitivity of the mass spectrometer,
б) для квадрупольного фильтра масс (триполя) уменьшить в несколько раз длину электродной системы анализатора,b) for a quadrupole mass filter (tripole), reduce the length of the analyzer electrode system several times,
в) в десятки раз повысить допустимое рабочее давление в анализаторе и, соответственно, уменьшить мощность откачных систем,c) increase the permissible working pressure in the analyzer tenfold and, accordingly, reduce the power of the pumping systems,
г) миниатюризировать приборы с высокими разрешением и чувствительностью и создавать на их основе необходимые мобильные устройства.d) miniaturize devices with high resolution and sensitivity and create the necessary mobile devices on their basis.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (en) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (en) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2013139893A RU2013139893A (en) | 2015-03-10 |
| RU2557010C2 true RU2557010C2 (en) | 2015-07-20 |
Family
ID=53279541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2013139893/07A RU2557010C2 (en) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2557010C2 (en) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2199793C2 (en) * | 1998-10-23 | 2003-02-27 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Technique for analysis of charged particles in hyperboloid mass spectrometer |
| RU2260871C2 (en) * | 2001-07-18 | 2005-09-20 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Method for analyzing charged particles in hyperboloid mass spectrometer of three-dimensional ion trap type |
| US7329864B2 (en) * | 2005-09-12 | 2008-02-12 | Yang Wang | Mass spectrometry with multiple ionization sources and multiple mass analyzers |
| RU2391740C2 (en) * | 2008-06-06 | 2010-06-10 | Институт аналитического приборостроения Российской Академии Наук (ИАнП РАН) | Quadrupole mass spectrometre |
-
2013
- 2013-08-27 RU RU2013139893/07A patent/RU2557010C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2199793C2 (en) * | 1998-10-23 | 2003-02-27 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Technique for analysis of charged particles in hyperboloid mass spectrometer |
| RU2260871C2 (en) * | 2001-07-18 | 2005-09-20 | Шеретов Эрнст Пантелеймонович | Method for analyzing charged particles in hyperboloid mass spectrometer of three-dimensional ion trap type |
| US7329864B2 (en) * | 2005-09-12 | 2008-02-12 | Yang Wang | Mass spectrometry with multiple ionization sources and multiple mass analyzers |
| RU2391740C2 (en) * | 2008-06-06 | 2010-06-10 | Институт аналитического приборостроения Российской Академии Наук (ИАнП РАН) | Quadrupole mass spectrometre |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| RU2013139893A (en) | 2015-03-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Blaum et al. | Properties and performance of a quadrupole mass filter used for resonance ionization mass spectrometry | |
| JP2007280655A (en) | Mass spectrometer | |
| JP6006322B2 (en) | Mass spectrometer and mass separator | |
| CN112673452A (en) | Apparatus and method for trapping ions in an electrostatic linear ion trap | |
| RU2327245C2 (en) | Mass selective device and analysis method for drift time of ions | |
| RU2557010C2 (en) | Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers | |
| CN104701130B (en) | Ion detector and mass analyzer for TOF (time of flight) mass spectrometer and ion detection control method | |
| RU2683018C1 (en) | Method of mass analysis of ions in quadrupolar high-frequency fields with dipole excitation of oscillations on borders of stability | |
| CN204558418U (en) | Be applied to the mass spectrometric ion detector of TOF and mass analyzer | |
| US10580636B2 (en) | Ultrahigh resolution mass spectrometry using an electrostatic ion bottle with coupling to a quadrupole ion trap | |
| RU2551119C1 (en) | Time-of-flight ion spectrometer | |
| US20170263426A1 (en) | Dynamic Baseline Adjuster | |
| RU136237U1 (en) | ANALYZER OF ENERGIES AND MASSES OF CHARGED PARTICLES | |
| RU2293396C1 (en) | Method and device for separating charged particles by their specific charge | |
| Dennis et al. | Constant-momentum acceleration time-of-flight mass spectrometry with energy focusing | |
| JP2023509218A (en) | Variable discriminator threshold for ion detection | |
| KR101549119B1 (en) | APPARATUS AND THE METHOD FOR ANALYZING ION CHARACTERISTICS HAVING ExB FILTER AND RETARDING POTENTIAL ANALYZER | |
| CA2956171A1 (en) | Mass spectrometers having real time ion isolation signal generators | |
| RU2398308C1 (en) | Method for mass-separation of ions based on time of flight and device for realising said method | |
| RU2533383C1 (en) | Method of separating charged particles according to specific charge | |
| RU2749549C1 (en) | Device for mass analysis of ions with quadrupole fields with excitation of oscillations at stability boundary | |
| US10312066B1 (en) | Generation of digital waveforms with high resolution duty cycle | |
| RU2399985C1 (en) | Method of analysing ions from specific charge in quadrupole time-of-flight mass spectormetres (monopole, tripole and mass filter) | |
| RU2549367C1 (en) | Mass spectrometer | |
| Tawfik et al. | Towards miniaturization of time of flight mass spectrometers: A static voltage linear resonator-like set up for ion packages |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20160828 |