RU2554302C2 - Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts - Google Patents
Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts Download PDFInfo
- Publication number
- RU2554302C2 RU2554302C2 RU2013149775/28A RU2013149775A RU2554302C2 RU 2554302 C2 RU2554302 C2 RU 2554302C2 RU 2013149775/28 A RU2013149775/28 A RU 2013149775/28A RU 2013149775 A RU2013149775 A RU 2013149775A RU 2554302 C2 RU2554302 C2 RU 2554302C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- metal
- layers
- laser
- bragg reflector
- active region
- Prior art date
Links
Images
Abstract
Description
Предлагаемое изобретение относится к вертикально-излучающим лазерам на основе гетероструктур, работающим в видимом, инфракрасном и ультрафиолетовом диапазоне.The present invention relates to vertical-emitting lasers based on heterostructures operating in the visible, infrared and ultraviolet range.
Вертикально-излучающий лазер (ВИЛ, VCSEL (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser)) - это полупроводниковый лазер поверхностного излучения с вертикальным объемным резонатором.A vertical-emitting laser (VIL, VCSEL (Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser)) is a surface-emitting semiconductor laser with a vertical cavity resonator.
Конструкция ВИЛ была впервые предложена в конце 70-х годов прошлого века [1], однако, развитие полупроводниковых технологий позволило создать пригодные для практического использования ВИЛ лишь к концу 1990-х годов [2].The design of VILs was first proposed in the late 70s of the last century [1], however, the development of semiconductor technologies made it possible to create VILs suitable for practical use only by the end of the 1990s [2].
Современные варианты конструкции ВИЛ основаны на использовании вертикальных оптических микрорезонаторов с зеркалами в виде распределенных брэгговских отражателей (БО) на основе чередующихся четвертьволновых слоев полупроводниковых материалов различного состава. При этом в качестве активной (светоизлучающей) области, как правило, используются одна или несколько квантовых ям или массив квантовых точек [3], помещенных вблизи максимума распределения оптического поля.Modern VIL design options are based on the use of vertical optical microresonators with mirrors in the form of distributed Bragg reflectors (BO) based on alternating quarter-wave layers of semiconductor materials of various compositions. In this case, as an active (light-emitting) region, as a rule, one or several quantum wells or an array of quantum dots [3], located near the maximum distribution of the optical field, are used.
ВИЛ - наиболее перспективные источники излучения для локальных высокоскоростных волоконно-оптических систем связи. С их помощью были продемонстрированы рекордные скорости передачи данных (более 40 Гбит/с на канал [3]) в волоконных линиях небольших дистанций [4]. Также в последние годы ВИЛ все более широкое применение в датчиках и сенсорах различного типа [5], высокопроизводительных компьютерных системах.VILs are the most promising radiation sources for local high-speed fiber-optic communication systems. With their help, record data transfer rates (more than 40 Gbit / s per channel [3]) in fiber lines of short distances [4] were demonstrated. Also in recent years, VIL has been increasingly used in sensors and sensors of various types [5], high-performance computer systems.
К числу основных преимуществ ВИЛ по сравнению с традиционными инжекционными лазерами полосковой конструкции относятся малая угловая расходимость и симметричная диаграмма направленности выходного оптического излучения, возможность обеспечения субмиллиамперных пороговых токов, повышенная температурная и радиационная стабильность, групповая технология изготовления и возможность тестирования приборов непосредственно на пластине. Планарная технология ВИЛ позволяет формировать интегрированные линейные массивы и двумерные матрицы с большим числом индивидуально адресуемых излучателей.The main advantages of VILs compared to traditional strip-type injection lasers include low angular divergence and a symmetrical radiation pattern of the output optical radiation, the ability to provide submilliampere threshold currents, increased temperature and radiation stability, group manufacturing technology, and the ability to test devices directly on the wafer. The planar VIL technology allows the formation of integrated linear arrays and two-dimensional matrices with a large number of individually addressable emitters.
Как правило, ВИЛ выращиваются на кристаллических полупроводниковых или диэлектрических подложках, возможно также выращивание ВИЛ на металлических положках [6]. Некоторые конструкции предусматривают расположение металлических слоев между брэгговскими отражателями и подложкой для увеличения коэффециента отражения брэгговских зеркал [7].As a rule, VILs are grown on crystalline semiconductor or dielectric substrates; it is also possible to grow VILs on metal substrates [6]. Some designs provide for the location of metal layers between the Bragg reflectors and the substrate to increase the reflection coefficient of the Bragg mirrors [7].
Основной технологической проблемой реализации ВИЛ является сложность эпитаксиального синтеза и пост-ростовой обработки высоколегированных низкоомных РБО. Также высокое легирование проводящих зеркал ведет к существенному возрастанию оптических потерь из-за поглощения на свободных носителях и высокому значению паразитной емкости, что может ограничивать частотный диапазон приборов. При этом электрическое сопротивление брэгговских зеркал приводит к снижению эффективности лазера, а их нагрев вследствие омических потерь ухудшает характеристики лазера и может приводить к его деградации.The main technological problem of the implementation of VIL is the complexity of epitaxial synthesis and post-growth processing of high-alloy low-resistance RBOs. Also, high doping of conductive mirrors leads to a significant increase in optical losses due to absorption on free carriers and a high parasitic capacitance, which may limit the frequency range of devices. In this case, the electrical resistance of the Bragg mirrors leads to a decrease in the laser efficiency, and their heating due to ohmic losses degrades the characteristics of the laser and can lead to its degradation.
Для создания ВИЛ с улучшенными характеристиками интересна возможность отслоения активных слоев с исходной подложки и осаждения их на новую с помощью технологии lift-off, которая была впервые продемонстрирована для создания приборов на основе гетероструктур GaAs/AlAs [8]. В частности, такая технология позволяет создавать ВИЛ путем эпитаксиального выращивания активной области на подложке, удаления подложки и выращивания диэлектрических брэгговских зеркал методом магнетронного распыления на активной области, обладающей высоким кристаллическим совершенством [9]. Технология lift-off позволяет удалить эпитаксиальный слой с подложки в процессе пост-ростовой обработки. После этого удаленный слой может быть присоединен к новой подложке [10]. Существует несколько методов удаления подложки: селективное травление, влажное продольное оксидирование и лазерное удаление. Методом селективного травления удаляется жертвенный слой толщиной 10-50 нм, дополнительно выращенный между активными слоями и подложкой. Этим методом могут быть удалены слои с подложек диаметром до 6 дюймов без деградации материала или ухудшения характеристик [11]. Лазерное удаление используется для удаления светодиодных структур на основе III-N материалов с сапфировой подложки [12]. Излучение эксимерного Kr-F-лазера с длиной волны 248 нм направляется на гетероструктуру через сапфировую подложку. Нитрид галлия начинает разлагаться, и происходит резкое выделение газообразного азота. Гетероструктура испытывает сильный механический удар и сапфировая подложка отделяется. Технология lift-off уже была успешно реализована в ряде полупроводниковых устройств, таких как лазерные диоды [13] и ВИЛ [14]To create VILs with improved characteristics, it is interesting to peel active layers from the initial substrate and deposit them onto a new one using lift-off technology, which was first demonstrated to create devices based on GaAs / AlAs heterostructures [8]. In particular, this technology makes it possible to create VILs by epitaxial growing of the active region on a substrate, removing the substrate, and growing dielectric Bragg mirrors by magnetron sputtering on an active region with high crystalline perfection [9]. The lift-off technology allows you to remove the epitaxial layer from the substrate during post-growth processing. After that, the removed layer can be attached to a new substrate [10]. There are several methods for removing the substrate: selective etching, wet longitudinal oxidation, and laser removal. The selective etching method removes the sacrificial layer with a thickness of 10-50 nm, additionally grown between the active layers and the substrate. Using this method, layers from substrates with a diameter of up to 6 inches can be removed without material degradation or performance degradation [11]. Laser removal is used to remove LED structures based on III-N materials from a sapphire substrate [12]. The radiation of an excimer Kr-F laser with a wavelength of 248 nm is directed to the heterostructure through a sapphire substrate. Gallium nitride begins to decompose, and a sharp release of gaseous nitrogen occurs. The heterostructure undergoes a strong mechanical shock and the sapphire substrate is separated. The lift-off technology has already been successfully implemented in a number of semiconductor devices, such as laser diodes [13] and VIL [14]
Важным направлением развития оптоэлектроники является миниатюризация лазеров. Одним из способов уменьшения размеров приборов является применение металлических резонаторов разных типов [15]. В таких структурах достигнут характеристический объем лазерной моды, существенно меньший, чем куб длины волны излучения. Лазеры с металлическими резонаторами определенной конструкции в ряде случаев выделяют в отдельный класс структур, так называемые ″спазеры″ (SPASER, Surface plasmon amplification by stimulated emission of radiation) [16, 17]. В таких структурах светоизлучающая активная область взаимодействует с локализованнными поверхностными плазмонами.An important direction in the development of optoelectronics is the miniaturization of lasers. One way to reduce the size of devices is to use metal cavities of various types [15]. In such structures, the characteristic volume of the laser mode is achieved, which is substantially smaller than the cube of the radiation wavelength. In some cases, lasers with metal cavities of a certain design are distinguished into a separate class of structures, the so-called “spasers" (SPASER, Surface plasmon amplification by stimulated emission of radiation) [16, 17]. In such structures, the light-emitting active region interacts with localized surface plasmons.
В 2007 году был теоретически предсказан [18], и впоследствии обнаружен [19] новый тип состояний электромагнитного поля, локализованных на границе металла и брэгговского отражателя (таммовский плазмон). В наноструктуре, сформированной брэгговским отражателем на основе GaAs/AlAs со встроенными квантовыми ямами и слоем серебра, при температуре жидкого азота была продемонстрирована лазерная генерация при оптической накачке [20].In 2007, it was theoretically predicted [18], and subsequently discovered [19] a new type of state of the electromagnetic field localized at the boundary of the metal and the Bragg reflector (Tamm plasmon). In a nanostructure formed by a Bragg reflector based on GaAs / AlAs with built-in quantum wells and a layer of silver, laser pumping was demonstrated at the temperature of liquid nitrogen [20].
В лазерах с металлическими резонаторами поглощение света в металле существенно понижает добротность резонаторов. Как следствие, повышается пороговый уровень накачки. Лазер на основе металлического резонатора, работающий при комнатной температуре и электрической накачке, продемонстрирован в 2013 году группой из США [21]. Для существенного повышения характеристик полупроводниковых лазеров с металлическими резонаторами необходимо снизить поглощение света в металлических элементах лазера.In lasers with metal resonators, the absorption of light in a metal significantly reduces the quality factor of the resonators. As a result, the threshold pump level rises. A laser based on a metal cavity operating at room temperature and electrically pumped was demonstrated in 2013 by a group from the USA [21]. To significantly increase the characteristics of semiconductor lasers with metal resonators, it is necessary to reduce the absorption of light in the metal elements of the laser.
Наиболее близким к предлагаемому изобретению и принятым в качестве прототипа является вертикально-излучающий лазер. Недостатками таких лазеров являются оптические потери на свободных носителях из-за высокого легирования проводящих зеркал и достаточно высокое электрическое сопротивление брэгговских зеркал, что приводит к снижению эффективности лазера и ухудшению его характеристик. В связи с этим возникает необходимость увеличения коэффициента полезного действия и улучшения параметров лазерного излучения лазера.Closest to the proposed invention and adopted as a prototype is a vertical-emitting laser. The disadvantages of such lasers are optical losses on free carriers due to the high doping of the conductive mirrors and a sufficiently high electrical resistance of the Bragg mirrors, which leads to a decrease in the laser efficiency and degradation of its characteristics. In this regard, there is a need to increase the efficiency and improve the parameters of laser radiation of the laser.
Задачей, решаемой настоящим изобретением, является создание вертикально излучающих лазеров с однородными слоистыми металлическими контактами, находящимися внутри резонатора, с повышенным коэффициентом полезного действия и улучшенными параметрами лазерного излучения.The problem solved by the present invention is the creation of vertically emitting lasers with homogeneous layered metal contacts located inside the resonator, with an increased efficiency and improved parameters of laser radiation.
Техническим результатом, позволяющим выполнить поставленную задачу, является снижение электрического сопротивления структуры, обеспечение однородности электрического тока накачки, а также подавление поглощения света металлическими слоями.The technical result that allows us to complete the task is to reduce the electrical resistance of the structure, ensuring uniformity of the pump electric current, and also suppressing the absorption of light by metal layers.
Результат достигается за счет того, что внутрь резонатора вертикально излучающего лазера с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами, между брэгговским отражателем и активной областью вводятся металлические слои, которые одновременно являются контактами и элементами резонатора, формирующими собственную моду электромагнитного поля, причем толщина слоев брэгговского отражателя, примыкающего к металлическому слою, отличается от остальных слоев брэгговского отражателя, что обеспечивает такую пространственную структуру собственной моды электромагнитного поля, используемой для лазерной генерации, что узлы электрического поля совпадают по положению с металлическими слоями, что значительно уменьшает поглощение света металлическими слоями, при этом обеспечивается максимальное перекрытие электрического поля собственной моды лазера и активной области.The result is achieved due to the fact that inside the resonator of a vertically emitting laser with Bragg mirrors and intracavity metal contacts, metal layers are introduced between the Bragg reflector and the active region, which are both contacts and resonator elements forming the eigenmode of the electromagnetic field, the layer thickness of the Bragg reflector being adjacent to the metal layer, differs from the other layers of the Bragg reflector, which provides such spaces nnuyu structure eigenmode of the electromagnetic field used for lasing, the electric field components that are the same in position with the metal layers, which significantly reduces the absorption of light by the metal layers, while ensuring the maximum overlap of the electric field eigenmode of the laser and the active region.
Конструкция вертикально-излучающего лазера с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами включает в себя:The design of a vertical-emitting laser with Bragg mirrors and intracavity metal contacts includes:
- нижнее брэгговское зеркало (1, фиг.1);- lower Bragg mirror (1, figure 1);
- фазосогласующий слой брэгговского отражателя измененной толщины (2, фиг.1);- phase-matching layer of the Bragg reflector of a modified thickness (2, figure 1);
- металлический слой (3, фиг.1);- metal layer (3, figure 1);
- светоизлучающая активная область (4, фиг.1);- light emitting active region (4, Fig. 1);
- металлический слой (5, фиг.1);- metal layer (5, figure 1);
- фазосогласующий слой брэгговского отражателя измененной толщины (6, фиг.1);- phase matching layer of the Bragg reflector of a modified thickness (6, Fig. 1);
- брэгговский отражатель (7, фиг.1).- Bragg reflector (7, figure 1).
На фиг.1 представлена базовая схема поперечного сечения наногетероструктуры, выбранной в качестве прототипа заявляемого изобретения. Указаны следующие друг за другом слои и их состав. Брэгговские отражатели представляют собой многослойные периодические структуры.Figure 1 presents the basic diagram of the cross section of a nanoheterostructure selected as a prototype of the claimed invention. The following successive layers and their composition are indicated. Bragg reflectors are multilayer periodic structures.
На фиг.2 представлена детализированная схема поперечного сечения наногетероструктуры специальной оригинальной конструкции, демонстрирующая суть заявляемого изобретения. Указаны следующие друг за другом слои и их состав. Показан профиль электрического поля собственной моды.Figure 2 presents a detailed cross-sectional diagram of a nanoheterostructure of a special original design, demonstrating the essence of the claimed invention. The following successive layers and their composition are indicated. The profile of the electric field of the eigenmode is shown.
Структура ВИЛ с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами с полупроводниковой активной областью изготавливается следующим образом:The structure of the VIL with Bragg mirrors and intracavity metal contacts with the semiconductor active region is made as follows:
1) на кристаллической подложке методом эпитаксии выращивается светоизлучающая активная области с квантовыми ямами или квантовыми точками (4, фиг.1), причем вблизи краев активной области уровень легирования выбирается достаточным для создания омических контактов, а между активной областью и подложкой располагается «жертвенный» слой,1) a light-emitting active region with quantum wells or quantum dots is grown on a crystalline substrate by the epitaxy method (4, Fig. 1), and near the edges of the active region, the doping level is chosen sufficient to create ohmic contacts, and a “sacrificial” layer is located between the active region and the substrate ,
2) на активную область напыляется металлический контактный слой (3, фиг.1),2) a metal contact layer is sprayed onto the active region (3, Fig. 1),
3) на металлическом слое выращивается фазосогласующий слой брэгговского отражателя (2, фиг.1),3) a phase matching layer of the Bragg reflector is grown on a metal layer (2, Fig. 1),
4) на фазосогласующем слое методом магнетронного распыления выращивается брэгговский отражатель (1, фиг.1),4) a Bragg reflector is grown on a phase-matching layer by the method of magnetron sputtering (1, Fig. 1),
5) выращенная структура отделяется от подложки, «жертвенный» слой удаляется,5) the grown structure is separated from the substrate, the “sacrificial” layer is removed,
6) на открывшейся стороне активной области напыляется металлический слой (5, фиг.1),6) on the opened side of the active region a metal layer is sprayed (5, Fig. 1),
7) на металлическом слое выращивается фазосогласующий слой брэгговского отражателя (6, фиг.1),7) a phase matching layer of the Bragg reflector is grown on a metal layer (6, Fig. 1),
8) на фазосогласующем слое методом магнетронного распыления выращивается брэгговский отражатель (7, фиг.1).8) a Bragg reflector is grown on a phase-matching layer by the method of magnetron sputtering (7, Fig. 1).
Структура ВИЛ с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами с активной областью из органического материала изготавливается следующим образом:The structure of the VIL with Bragg mirrors and intracavity metal contacts with the active region of organic material is made as follows:
1) на аморфной или кристаллической подложке выращивается брэгговский отражатель (1, фиг.1), на котором выращивается фазосогласующий (2, фиг.1) и металлический слой (3, фиг.1),1) a Bragg reflector (1, Fig. 1) is grown on an amorphous or crystalline substrate, on which a phase matching (2, Fig. 1) and a metal layer (3, Fig. 1) are grown,
2) на металлический слой методом центрифугирования (spin- coating) или химического осаждения наносится органическая активная область(4, фиг.1),2) an organic active region is applied to the metal layer by spin-coating or chemical deposition (4, Fig. 1),
3) на активную область наносится металлический слой (5, фиг.1), на котором выращивается фазосогласующий слой (фиг.1, 6). и брэгговский отражатель (7, фиг.1).3) a metal layer is applied to the active region (5, FIG. 1), on which a phase matching layer is grown (FIGS. 1, 6). and a Bragg reflector (7, FIG. 1).
Характерные толщины слоев ВИЛ с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами:The characteristic thicknesses of the VIL layers with Bragg mirrors and intracavity metal contacts:
- светоизлучающая активная области с квантовыми ямами или квантовыми точками 100-400 нм (2, фиг.2)- light-emitting active region with quantum wells or quantum dots 100-400 nm (2, figure 2)
- внутрирезонаторные металлические контактные слои 20-50 нм (3, фиг.2)- intracavity metal contact layers 20-50 nm (3, figure 2)
- фазосогласующие слои - 40-100 нм (4, фиг.2)- phase matching layers - 40-100 nm (4, figure 2)
- слои брэгговского отражателя 50-150 нм (5, фиг.2).- layers of the Bragg reflector 50-150 nm (5, figure 2).
Толщины слоев выбираются таким образом, чтобы обеспечить расположение узлов электрического поля собственной моды резонатора, совпадающее с металлическими слоями и максимальное перекрытие собственной моды электрического поля с активной областью (фиг.2).The thicknesses of the layers are selected in such a way as to ensure the location of the nodes of the electric field of the eigenmodes of the resonator, which coincides with the metal layers and the maximum overlap of the eigenmodes of the electric field with the active region (figure 2).
Создание, в соответствии с заявленными признаками и конструкцией, ВИЛ с брэгговскими зеркалами и внутрирезонатрными металлическими контактами обеспечивает возможность изготовления лазеров вертикальной эмиссией излучения, обладающих улучшенными характеристиками, обеспечиваемыми равномерностью плотности тока накачки в активной области и повышенной эффективностью, обусловленной подачей тока накачки непосредственно от металлических контактов к активной области.The creation, in accordance with the declared features and design, of an IDF with Bragg mirrors and intracavity metal contacts makes it possible to manufacture lasers by vertical emission of radiation having improved characteristics provided by a uniform pump current density in the active region and increased efficiency due to the supply of the pump current directly from the metal contacts to the active area.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫBIBLIOGRAPHY
[1] Soda H., Iga K., Katahara С., Y. Suematsu. GaInAsP/InP Surface-emitting injection lasers. - Japanese Journal of Applied Physics, №18 (1979)[1] Soda H., Iga K., Katahara S., Y. Suematsu. GaInAsP / InP Surface-emitting injection lasers. - Japanese Journal of Applied Physics, No. 18 (1979)
[2] Wilmsen C., Temkin H., Coldren L. Vertical-cavity surface-emitting lasers. - Cambridge University Press, Cambridge, (1999)[2] Wilmsen C., Temkin H., Coldren L. Vertical-cavity surface-emitting lasers. - Cambridge University Press, Cambridge, (1999)
[3] M. Eichfelder, W.-M. Schuiz, M. Reischle, M. Wiesner, R. RoBbach, M. Jetter, P. Michler, Journal of Crystal Growth, 315, 131-133 (2011)[3] M. Eichfelder, W.-M. Schuiz, M. Reischle, M. Wiesner, R. RoBbach, M. Jetter, P. Michler, Journal of Crystal Growth, 315, 131-133 (2011)
[4] S.A. Blokhin, J.A. Lott, A. Mutig, G. Fiol, N.N. Ledentsov, M.V. Maximov, A.M. Nadtochiy, V.A. Shchukin, D. Bimberg, Electron. Lett., 45 (10), 501-503 (2009).[4] S.A. Blokhin, J.A. Lott, A. Mutig, G. Fiol, N.N. Ledentsov, M.V. Maximov, A.M. Nadtochiy, V.A. Shchukin, D. Bimberg, Electron. Lett., 45 (10), 501-503 (2009).
[5] Thor Ansbæk, Claus H. Nielsen, Søren Dohn, David Larsson, Il-Sug Chung et al., Appl. Phys. Lett. 101, 143505 (2012)[5] Thor Ansbæk, Claus H. Nielsen, Søren Dohn, David Larsson, Il-Sug Chung et al., Appl. Phys. Lett. 101, 143505 (2012)
[6] Патент США US 5838707 A[6] US Patent US 5,838,707 A
[7] Патент США US 2002008036 A1[7] US Patent US 2002008036 A1
[8] E. Yablonovitch, Т. Gmitter, J.P. Harbison, R. Bhat, Appl. Phys. Lett., 51, pp.2222-2224 (1987)[8] E. Yablonovitch, T. Gmitter, J.P. Harbison, R. Bhat, Appl. Phys. Lett., 51, pp. 2222-2224 (1987)
[9] Takehiko Tawara, Hideki Gotoh, Tetsuya Akasaka, Naoki Kobayashi, and Tadashi Saitoh, Low-threshold lasing of InGaN vertical-cavity surface-emitting lasers with dielectric distributed Bragg reflectors, Appl. Phys. Lett. 83, 830 (2003)[9] Takehiko Tawara, Hideki Gotoh, Tetsuya Akasaka, Naoki Kobayashi, and Tadashi Saitoh, Low-threshold lasing of InGaN vertical-cavity surface-emitting lasers with dielectric distributed Bragg reflectors, Appl. Phys. Lett. 83, 830 (2003)
[10] С. Bradford, A. Currran, A. Balocchi, B.C. Cavenett, K.A. Prior, R.J. Warburton, Journal of Crystal Growth 278 325-328 (2005)[10] C. Bradford, A. Currran, A. Balocchi, B.C. Cavenett, K.A. Prior, R.J. Warburton, Journal of Crystal Growth 278 325-328 (2005)
[11] Rao Tatavarti, A. Wibowo, G. Martin, F. Tuminello, C. Youtsey, G. Hillier, N. Pan, M.W. Wanlass, and M. Romero, InGaP/ GaAs / InGaAs inverted metamorphic solar cells on 4″ epitaxial lifted off wafers. Proceedings of 35th IEEE PVSC conference, Philadelphia, p.2125, (2010)[11] Rao Tatavarti, A. Wibowo, G. Martin, F. Tuminello, C. Youtsey, G. Hillier, N. Pan, M.W. Wanlass, and M. Romero, InGaP / GaAs / InGaAs inverted metamorphic solar cells on 4 ″ epitaxial lifted off wafers. Proceedings of 35th IEEE PVSC conference, Philadelphia, p. 2125, (2010)
[12] И.П. Смирнова, Л.К. Марков, Д.А. Закгейм, Е.М. Аракчеева, М.Р. Рымалис, ФТП, 10, вып.11 (2006)[12] I.P. Smirnova, L.K. Markov, D.A. Zakheim, E.M. Arakcheeva, M.R. Rymalis, FTP, 10, issue 11 (2006)
[13] I. Pollentier, P. Demeester, A. Ackaert, L. Buydens, P.V. Daele, and R. Baets, Electron. Lett. 26, 193 (1990)[13] I. Pollentier, P. Demeester, A. Ackaert, L. Buydens, P.V. Daele, and R. Baets, Electron. Lett. 26, 193 (1990)
[14] Патент США US 6455340 B1[14] US Patent US 6455340 B1
[15] M.T. Hill, Y.-S. Oei, B. Smalbrugge, Y. Zhu, T. de Vries, P.J. van Veldhoven, F.W.M. van Otten, T.J. Eijkemans, J.P. Turkiewicz, H. de Waardt, E.J. Geluk, S.-H. Kwon, Y.-H. Lee, R. NÖtzel, and M.K. Smit, ″Lasing in metallic-coated nanocavities,″ Nat. Photonics 1 (10), 589-594 (2007)[15] M.T. Hill, Y.-S. Oei, B. Smalbrugge, Y. Zhu, T. de Vries, P.J. van Veldhoven, F.W.M. van Otten, T.J. Eijkemans, J.P. Turkiewicz, H. de Waardt, E.J. Geluk, S.-H. Kwon, Y.-H. Lee, R. NÖtzel, and M.K. Smit, ″ Lasing in metallic-coated nanocavities, ″ Nat. Photonics 1 (10), 589-594 (2007)
[16] Bergman, D.J. & Stockman, M.I. Surface plasmon amplification by stimulated emission of radiation: quantum generation of coherent surface plasmons in nanosystems. Phys. Rev. Lett. 90, 027402 (2003)[16] Bergman, D.J. & Stockman, M.I. Surface plasmon amplification by stimulated emission of radiation: quantum generation of coherent surface plasmons in nanosystems. Phys. Rev. Lett. 90, 027402 (2003)
[17] Патент США US 7569188 B2[17] US Patent US 7569188 B2
[18] M. Kaliteevski, I. Iorsh, S. Brand, R.A. Abram, I Shelykh And A.V Kavokin, Tamm plasmon-polaritons: Possible electromagnetic states at the interface of a metal and a dielectric Bragg mirror, Phys. Rev. В 76, 165415 (2007)[18] M. Kaliteevski, I. Iorsh, S. Brand, R.A. Abram, I Shelykh And A.V. Kavokin, Tamm plasmon-polaritons: Possible electromagnetic states at the interface of a metal and a dielectric Bragg mirror, Phys. Rev. B 76, 165415 (2007)
[19] M.E. Sasin, R.P. Seisyan, M. Kaliteevski, S. Brand, R.A. Abram, J.M. Chamberlain, A.Yu. Egorov, A.P. Vasil′ev, V.S. Mikhrin, A.V. Kavokin, Tamm Plasmon-Polaritons: Slow and Spatially Compact Light, Appl. Pys. Lett, 92(25) 251112 (2008)[19] M.E. Sasin, R.P. Seisyan, M. Kaliteevski, S. Brand, R.A. Abram, J.M. Chamberlain, A.Yu. Egorov, A.P. Vasil′ev, V.S. Mikhrin, A.V. Kavokin, Tamm Plasmon-Polaritons: Slow and Spatially Compact Light, Appl. Pys. Lett, 92 (25) 251112 (2008)
[20] C. Symonds, A. Lemaitre, P. Senellart, et al, Lasing in a hybrid GaAs/silver Tamm structure, Appl. Phys. Lett. 100, 121122 (2012)[20] C. Symonds, A. Lemaitre, P. Senellart, et al, Lasing in a hybrid GaAs / silver Tamm structure, Appl. Phys. Lett. 100, 121122 (2012)
[21] К. Ding, M.T. Hill, Z.C. Liu, L.J. Yin, P.J. van Veldhoven, and C.Z. Ning, Record performance of electrical injection subwavelength metallic-cavity semiconductor lasers at room temperature. Optics Express, Vol.21(4), 4728-4733 (2013).[21] C. Ding, M.T. Hill, Z.C. Liu, L.J. Yin, P.J. van Veldhoven, and C.Z. Ning, Record performance of electrical injection subwavelength metallic-cavity semiconductor lasers at room temperature. Optics Express, Vol. 21 (4), 4728-4733 (2013).
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013149775/28A RU2554302C2 (en) | 2013-11-06 | 2013-11-06 | Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013149775/28A RU2554302C2 (en) | 2013-11-06 | 2013-11-06 | Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2013149775A RU2013149775A (en) | 2015-05-20 |
RU2554302C2 true RU2554302C2 (en) | 2015-06-27 |
Family
ID=53283678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013149775/28A RU2554302C2 (en) | 2013-11-06 | 2013-11-06 | Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2554302C2 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2611555C1 (en) * | 2015-12-17 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук | Semiconductor vertically-emitting laser with intracavity contacts |
RU189453U1 (en) * | 2019-03-13 | 2019-05-22 | Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ | Single-photon radiation source based on an LED emitting heterostructure with epitaxial semiconductor QDs in an InAs / AlGaAs system manufactured by the MPE method |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5818861A (en) * | 1996-07-19 | 1998-10-06 | Hewlett-Packard Company | Vertical cavity surface emitting laser with low band gap highly doped contact layer |
US5838707A (en) * | 1996-12-27 | 1998-11-17 | Motorola, Inc. | Ultraviolet/visible light emitting vertical cavity surface emitting laser and method of fabrication |
EP1246328A2 (en) * | 2001-03-15 | 2002-10-02 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Intracavity contacted long wavelength VCSELs with buried antimony layers |
US6782021B2 (en) * | 2001-03-02 | 2004-08-24 | Xiaodong Huang | Quantum dot vertical cavity surface emitting laser |
US20060002444A1 (en) * | 2004-06-30 | 2006-01-05 | Honeywell International Inc. | Long wavelength vertical cavity surface emitting lasers |
US20070153862A1 (en) * | 2004-07-30 | 2007-07-05 | Shchegrov Andrei V | Manufacturable vertical extended cavity surface emitting laser arrays |
-
2013
- 2013-11-06 RU RU2013149775/28A patent/RU2554302C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5818861A (en) * | 1996-07-19 | 1998-10-06 | Hewlett-Packard Company | Vertical cavity surface emitting laser with low band gap highly doped contact layer |
US5838707A (en) * | 1996-12-27 | 1998-11-17 | Motorola, Inc. | Ultraviolet/visible light emitting vertical cavity surface emitting laser and method of fabrication |
US6782021B2 (en) * | 2001-03-02 | 2004-08-24 | Xiaodong Huang | Quantum dot vertical cavity surface emitting laser |
EP1246328A2 (en) * | 2001-03-15 | 2002-10-02 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Intracavity contacted long wavelength VCSELs with buried antimony layers |
US20060002444A1 (en) * | 2004-06-30 | 2006-01-05 | Honeywell International Inc. | Long wavelength vertical cavity surface emitting lasers |
US20070153862A1 (en) * | 2004-07-30 | 2007-07-05 | Shchegrov Andrei V | Manufacturable vertical extended cavity surface emitting laser arrays |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2611555C1 (en) * | 2015-12-17 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук | Semiconductor vertically-emitting laser with intracavity contacts |
RU189453U1 (en) * | 2019-03-13 | 2019-05-22 | Российская Федерация, от имени которой выступает ФОНД ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ | Single-photon radiation source based on an LED emitting heterostructure with epitaxial semiconductor QDs in an InAs / AlGaAs system manufactured by the MPE method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2013149775A (en) | 2015-05-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7229164B2 (en) | Lasers or LEDs based on nanowires grown on graphene-type substrates | |
CN107851967B (en) | Light emitting element | |
US9705288B2 (en) | Electron beam pumped vertical cavity surface emitting laser | |
JP2007036233A (en) | Vcsel system with lateral p-n juunction | |
US10374394B2 (en) | Nanowire laser structure and fabrication method | |
JP2011513954A (en) | Optoelectronic device and method of manufacturing optoelectronic device | |
JP2024045625A (en) | Light emitting element | |
US11670910B2 (en) | Surface-emitting laser device and method for manufacturing surface-emitting laser device | |
JP2008282966A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP7376574B2 (en) | Semiconductor device with structure for light emission or light detection | |
RU2554302C2 (en) | Vertically emitting laser with bragg mirrors and intracavity metal contacts | |
US6835581B2 (en) | Method of coating optical device facets with dielectric layer and device made therefrom | |
EP4167404A1 (en) | Photonic crystal surface light-emitting laser element | |
JP2018163991A (en) | Semiconductor multilayer film reflector and vertical resonator type light emitting element | |
JP2009147347A (en) | Buried aperture nitride light emitting element | |
US11837850B2 (en) | Surface-emitting laser device and method for manufacturing surface-emitting laser device | |
JP2010003918A (en) | Surface light-emitting laser and method of manufacturing the same | |
CN115000808A (en) | VCSEL coherent array chip based on gain guidance | |
CN116207610A (en) | Surface plasmon enhanced GaN-based whispering gallery electric pump laser and preparation method thereof | |
JP2006108187A (en) | Light-emitting diode and manufacturing method therefor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20191107 |