RU2536329C1 - Устройство для измерения динамических деформаций - Google Patents

Устройство для измерения динамических деформаций Download PDF

Info

Publication number
RU2536329C1
RU2536329C1 RU2013126325/28A RU2013126325A RU2536329C1 RU 2536329 C1 RU2536329 C1 RU 2536329C1 RU 2013126325/28 A RU2013126325/28 A RU 2013126325/28A RU 2013126325 A RU2013126325 A RU 2013126325A RU 2536329 C1 RU2536329 C1 RU 2536329C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
output
apmp
amplifier
input
board
Prior art date
Application number
RU2013126325/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2013126325A (ru
Inventor
Виктор Владимирович Байрак
Владимир Андреевич Белямов
Александр Владимирович Сафронов
Алина Николаевна Федоркина
Original Assignee
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"
Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр-Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики"-ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом", Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр-Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики"-ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ" filed Critical Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"
Priority to RU2013126325/28A priority Critical patent/RU2536329C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2013126325A publication Critical patent/RU2013126325A/ru
Publication of RU2536329C1 publication Critical patent/RU2536329C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Information Transfer Systems (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике. Устройство для измерения динамических деформаций содержит измерительные тензорезисторы, опорные резисторы, усилитель, электронно-вычислительную машину с программным обеспечением, источник постоянного напряжения, эталонный резистор, коммутатор, блок управления, аналоговую программируемую многофункциональную плату с программным обеспечением, подключенную к ЭВМ. Программируемая плата может быть подключена к ЭВМ интерфейсом USB или путем установки в слот расширения PCI или PCIExpress, а устройство может быть снабжено устройством сопряжения, при этом подключение источника питания к первому аналоговому входу платы, второго вывода усилителя к аналоговому выходу платы, входа блока управления к цифровому выходу платы, выхода усилителя к аналоговому входу платы производится через соответствующие входы и выходы устройства сопряжения, связанного интерфейсом с совместимым разъемом указанной платы. Технический результат - расширение диапазона измеряемых величин и линейности выходной характеристики, повышение надежности функционирования устройства. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения динамических деформаций в системах автоматического контроля, в цифровых приборах специального и универсального назначения.
Известно «Устройство для измерения динамических деформаций на вращающемся объекте» (Патент RU №2404410, МПК10 G01D 5/12, опубл. 20.11.2010, Бюлл. №32), которое содержит закрепленные на различных элементах конструкции ротора первичные преобразователи, усилитель, фильтр нижних частот, селектор, микроконтроллер с блоком питания, аналого-цифровой преобразователь (АЦП), цифроаналоговый преобразователь (ЦАП), подвижный и неподвижный инфракрасные приемопередатчики, персональный компьютер, связанный при помощи преобразователя интерфейса с неподвижным приемопередатчиком. Селектор непосредственно подсоединен к первичным преобразователям с возможностью выбора измерительного канала и к управляемому усилителю, подключенному к источнику тока для усиления с него напряжения, усилитель через фильтр нижних частот подключен к АЦП. Устройство для измерения динамических деформаций на вращающемся объекте дополнительно снабжено ЦАП, подключенным к микроконтроллеру и усилителю.
Недостатком данного устройства является невысокий частотный диапазон измеряемых величин, ограничиваемый приемопередатчиками, невысокая частота дискретизации, сложность архитектуры, включающей большое количество дискретных элементов и узлов, выполняющих основные функции преобразования.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому техническому результату является измерительный комплекс для измерения напряженно-деформированного состояния состава и пути (БВК-6) (Ж. «Датчики и системы», 2011 г., №5, стр.20-24, «Измерительный преобразователь «одиночного» тензодатчика с компенсационным тензорезистором»), содержащий измерительные тензодатчики (тензорезисторы), закрепленные на различных элементах конструкции объекта, компенсационный тензорезистор, опорный резистор с заземленным выводом, дифференциальный усилитель, стабилизированный источник тока, измерительные усилители, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) с программным обеспечением, линии питания и информационные линии. Данное устройство выбрано в качестве прототипа.
Недостатками данного устройства являются: невозможность функционирования комплекса при размыкании цепи питания одного из датчиков; высокие требования к стабильности источника питания; параллельный опрос датчиков, который приводит к увеличению числа усилителей и каналов регистратора и увеличивает стоимость данного устройства.
Заявляемое изобретение направлено на решение технической задачи создания многоканального устройства измерения динамических деформаций.
Технический результат заявляемого изобретения заключается в обеспечении динамического режима работы устройства в широком диапазоне измеряемых величин и линейности выходной характеристики, в надежном функционировании многоканального устройства вне зависимости от длины линии связи, в возможности использования одного регистрирующего канала аналоговой программируемой многофункциональной платы.
Технический результат достигается тем, что заявляемое устройство для измерения динамических деформаций, содержащее измерительные тензорезисторы, опорный резистор, усилитель, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) с программным обеспечением, в отличие от прототипа снабжено дополнительными опорными резисторами, источником постоянного напряжения, эталонным резистором, коммутатором, блоком управления, источником напряжения, аналоговой программируемой многофункциональной платой (АПМП) с программным обеспечением. Положительный вывод источника напряжения соединен с первыми выводами опорных резисторов и с первым аналоговым входом АПМП. Второй вывод одного опорного резистора подключен к первому выводу эталонного резистора, вторые выводы остальных опорных резисторов подключены к первым выводам измерительных тензорезисторов, отрицательный вывод источника питания. Вторые выводы эталонного резистора и измерительных тензорезисторов заземлены, вторые выводы опорных резисторов соединены с отдельными входами коммутатора. Выход блока управления подключен к одному или нескольким управляющим входам коммутатора, вход блока управления для подачи управляющих сигналов подключен к цифровому выходу АПМП, выход коммутатора соединен с первым входом усилителя, второй вход усилителя подключен к аналоговому выходу АПМП, выход усилителя для регистрации сигнала подключен ко второму аналоговому входу АПМП.
В заявляемом устройстве АПМП может быть подключена к ЭВМ как интерфейсом USB, так и путем установки АПМП в слот расширения PCI или PCIExpress. При установке АПМП в слот расширения положительный вывод источника питания подключен к первому аналоговому входу АПМП, второй вход усилителя подключен к аналоговому выходу АПМП, вход блока управления подключен к цифровому выходу АПМП, выход усилителя подключен ко второму аналоговому входу АПМП через соответствующие входы и выходы устройства сопряжения, подключенного интерфейсом к совместимому разъему указанной АПМП.
Использование АПМП позволяет существенно упростить схему устройства за счет использования измерительных и управляющих каналов, погрешность которых определяется погрешностью АПМП.
За счет подключения первого выхода источника питания к первому аналоговому входу АПМП обеспечивается контроль платой величины напряжения внешнего источника питания, что позволяет повысить точность измерений и не накладывает ограничений по стабильности на внешний источник питания.
Снабжение устройства аналоговой программируемой многофункциональной платой с программным обеспечением обеспечивает широкий диапазон измеряемых величин на высоких частотах, а также использование ЭВМ с программным обеспечением позволяет вести измерение не только в динамическом, но и в квазистатическом режимах.
Синхронизация всех элементов измерительной схемы за счет использования АПМП позволяет производить регистрацию сигналов с тензодатчиков с высокой точностью по временным параметрам.
Соединение положительного вывода источника напряжения с первыми выводами опорных резисторов и с первым аналоговым входом АПМП, подключение второго вывода одного опорного резистора к первому выводу эталонного резистора, вторых выводов остальных опорных резисторов к первым выводам измерительных тензорезисторов, вторых выводов опорных резисторов к отдельному входу коммутатора, выхода блока управления к одному или нескольким управляющим входам коммутатора, входа блока управления к цифровому выходу АПМП, выхода коммутатора к первому входу усилителя, второго входа усилителя к аналоговому выходу АПМП, выхода усилителя ко второму аналоговому входу АПМП, подключенной к ЭВМ, позволяет осуществлять последовательный опрос измерительных тензорезисторов, упростить схему и снизить стоимость устройства.
Подключение остальных опорных резисторов последовательно с измерительными тензорезисторами (вторые выводы остальных опорных резисторов соединены с первыми выводами измерительных тензорезисторов) обеспечивает линейность выходной характеристики.
Снабжение заявляемого устройства эталонным резистором обеспечивает устройство меткой для определения нумерации каналов и используется для учета потерь, обусловленных сопротивлением линии, что повышает точность измерений.
Использование источника постоянного напряжения обеспечивает надежность функционирования заявляемого устройства, т.к. обрыв любого из датчиков не влияет на работу измерительной цепи.
Кроме того, в состав заявляемого устройства, снабженного программным обеспечением, входит усилитель, который повышает чувствительность, смещение усилителя регулируется за счет АПМП, что также повышает точность измерений.
Сущность данного изобретения поясняется чертежами.
На фиг.1 изображена схема устройства для измерения динамических деформаций с АПМП, подключенной к ЭВМ интерфейсом USB; на фиг.2 изображена схема заявляемого устройства с устройством сопряжения, с АПМП, установленной в слот расширения PCI или PCIExpress в системном блоке ЭВМ.
Заявляемое устройство для измерения динамических деформаций содержит измерительные тензорезисторы 11-1n с заземленными вторыми выводами, идентичные опорные резисторы 20-2n, усилитель 3, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) 4 с программным обеспечением, эталонный резистор 5, коммутатор 6, блок управления 7, аналоговую программируемую многофункциональную плату (АПМП) 8 с программным обеспечением, источник напряжения (не показан).
Первые выводы опорных резисторов 20-2n подключены к положительному выводу источника напряжения, их вторые выводы и группа выходов блока управления подключены к отдельным входам коммутатора 6. Второй вывод одного опорного резистора 20 подключен к первому выводу эталонного резистора, вторые выводы остальных опорных резисторов подключены к первым выводам измерительных тензорезисторов 11-1n. Положительный вывод источника напряжения соединен с первым аналоговым входом АН АПМП 8.
Группа выходов блока управления 7 подключена к отдельному входу коммутатора 6, вход блока управления 7 для подачи управляющих сигналов подключен к цифровому выходу DO АПМП 8, выход коммутатора 6 соединен с первым входом усилителя 3, второй вход усилителя 3 подключен к аналоговому выходу АО АПМП 8. Выход усилителя 3 для регистрации сигнала подключен ко второму аналоговому входу AI2 АПМП 8, подключенной к ЭВМ 4, в частности, интерфейсом USB 9.
При подключении АПМП 8 к ЭВМ 4 путем установки в слот расширения PCI или PCIExpress в системном блоке ЭВМ 4, заявляемое устройство снабжено устройством сопряжения 10, источник питания подключен к первому аналоговому входу АПМП, второй вход усилителя 3 подключен к аналоговому выходу АПМП, вход блока управления 7 подключен к цифровому выходу АПМП, выход усилителя подключен ко второму аналоговому входу АПМП через соответствующие входы и выходы устройства сопряжения 10, связанного интерфейсом 9 с совместимым разъемом АПМП 8.
Аналоговая программируемая многофункциональная плата 8, например, PCI-6255 фирмы National Instruments, работает с частотой не ниже 1 МГц в диапазоне ±10 В.
Заявляемое устройство для измерения динамических деформаций работает следующим образом.
Измерительные тензорезисторы 11-1n закрепляют на различных элементах конструкции объекта (не показано).
В процессе работы заявляемого устройства программное обеспечение ЭВМ 4 и АПМП 8 обеспечивает начальный контроль состояния измерительных тензорезисторов 11-1n с учетом сопротивления линии, осуществляет определение очередности каналов и первичный перевод зарегистрированных сигналов в величину деформации.
Коммутатор 6, управляемый АПМП 8 и ЭВМ 4 при помощи установленного программного обеспечения, последовательно переключает каналы, на которых находятся измерительные тензорезисторы 11-1n, с эталонным резистором 5 и опорные резисторы 20-2n, при этом напряжение снимается с выхода коммутатора 6, усиливается и подается через АПМП 8 на ЭВМ 4. Напряжение смещения усилителя 6 регулируется АПМП 8 за счет программного обеспечения, что повышает точность измерений. Полученное напряжение на втором аналоговом входе AI2 АПМП 8 пропорционально изменению сопротивления измерительного тензорезистора 1n, подключенного в данный момент. Нумерацию каналов и учет потерь, обусловленных сопротивлением проводов, осуществляют при помощи эталонного резистора 5, используемого в качестве метки, что повышает точность измерений.
Расчет деформации ΔEn в месте установки тензорезистора 1n осуществляется ЭВМ 4 по следующей формуле:
Δ E n = ( Δ R n R 0 n ) 1 k n
Figure 00000001
,
где R0n - начальное сопротивление измерительного тензорезистора 1n;
kn - чувствительность измерительного тензорезистора 1n;
ΔRn - изменение сопротивления измерительного тензорезистора 1n.
Изменение сопротивления определяется по формуле:
ΔRn=Rdn-R0n, где
Rdn - вычисленное по нижеприведенной формуле значение сопротивления измерительного тензорезистора 1n:
R d n = U d n U n U d n R 0 R p
Figure 00000002
,
R p = U d э U n U d э R 0 R э
Figure 00000003
,
U э = U 0 d э k u + U s m
Figure 00000004
,
U d n = U 0 d n k u + U s m
Figure 00000005
, где
Rdn - вычисленное значение сопротивления измерительного тензорезистора 1n;
Udn - вычисленное значение напряжения на выходе коммутатора при опросе измерительного тензорезистора 1n;
R0 - номинальное сопротивление опорных резисторов 20-2n;
Rp - сопротивление потерь, обусловленных сопротивлением линии;
U - вычисленное значение напряжения на выходе коммутатора при опросе эталонного резистора;
Un - напряжение питания, измеренное на первом аналоговом входе AI1 АПМП;
Rэ - номинальное значение сопротивления эталонного резистора;
U0dn - напряжение, измеренное на втором аналоговом входе AI2 АПМП при опросе измерительного тензорезистора 1n;
U0dэ - напряжение, измеренное на втором аналоговом входе AI2 АПМП при опросе эталонного резистора;
ku - коэффициент усиления усилителя;
Usm - напряжение смещения, подаваемое АПМП на второй вход усилителя, заданное программным обеспечением.
Таким образом, обеспечивается достижение технического результата: динамический режим работы устройства в широком диапазоне измеряемых величин и линейность его выходной характеристики, надежность функционирования (выход из строя одного из датчиков не будет влиять на работу всего устройства).

Claims (3)

1. Устройство для измерения динамических деформаций, содержащее измерительные тензорезисторы, опорный резистор, усилитель, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) с программным обеспечением, отличающееся тем, что снабжено дополнительными опорными резисторами, источником постоянного напряжения, эталонным резистором, коммутатором, блоком управления, аналоговой программируемой многофункциональной платой (АПМП) с программным обеспечением, подключенной к ЭВМ, при этом положительный вывод источника напряжения соединен с первыми выводами опорных резисторов и с первым аналоговым входом АПМП, второй вывод одного опорного резистора подключен к первому выводу эталонного резистора, вторые выводы остальных опорных резисторов подключены к первым выводам измерительных тензорезисторов, отрицательный вывод источника питания, вторые выводы эталонного резистора и измерительных тензорезисторов заземлены, при этом вторые выводы опорных резисторов соединены с отдельными входами коммутатора, выход блока управления подключен к одному или нескольким управляющим входам коммутатора, вход блока управления для подачи управляющих сигналов подключен к цифровому выходу АПМП, выход коммутатора соединен с первым входом усилителя, второй вход усилителя подключен к аналоговому выходу АПМП, выход усилителя для регистрации сигнала подключен ко второму аналоговому входу АПМП.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что АПМП подключена к ЭВМ интерфейсом USB.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что снабжено устройством сопряжения, АПМП подключена к ЭВМ путем установки в слот расширения PCI или PCIExpress, при этом положительный вывод источника питания подключен к первому аналоговому входу АПМП, второй вход усилителя подключен к аналоговому выходу АПМП, вход блока управления подключен к цифровому выходу АПМП, выход усилителя подключен ко второму аналоговому входу АПМП через соответствующие входы и выходы устройства сопряжения, подключенного интерфейсом к совместимому разъему указанной АПМП.
RU2013126325/28A 2013-06-07 2013-06-07 Устройство для измерения динамических деформаций RU2536329C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013126325/28A RU2536329C1 (ru) 2013-06-07 2013-06-07 Устройство для измерения динамических деформаций

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013126325/28A RU2536329C1 (ru) 2013-06-07 2013-06-07 Устройство для измерения динамических деформаций

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013126325A RU2013126325A (ru) 2014-12-20
RU2536329C1 true RU2536329C1 (ru) 2014-12-20

Family

ID=53278097

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013126325/28A RU2536329C1 (ru) 2013-06-07 2013-06-07 Устройство для измерения динамических деформаций

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2536329C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2782824C1 (ru) * 2022-02-25 2022-11-03 Федеральное автономное учреждение "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФАУ "ЦАГИ") Способ измерения деформаций и тензорезисторная розетка для его осуществления

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2475214A1 (fr) * 1980-02-01 1981-08-07 Sedeme Dispositif d'etalonnage pour chaine de mesure d'extensometrie, procede d'etalonnage, et appareil de mesure mettant en oeuvre un tel dispositif
RU2082129C1 (ru) * 1995-06-27 1997-06-20 Предприятие по транспортировке и поставке газа "УРАЛТРАНСГАЗ" Преобразователь давления в электрический сигнал
US6148675A (en) * 1997-12-11 2000-11-21 Tokyo Sokki Kenkyujo Co., Ltd. Method of measuring strain
JP2005069727A (ja) * 2003-08-28 2005-03-17 Kyowa Electron Instr Co Ltd 多チャンネルひずみ測定回路
UA11599U (en) * 2004-12-16 2006-01-16 Kharkiv Aviation Institute Strain gage device
RU2292051C2 (ru) * 2005-01-11 2007-01-20 ФГУП "Сибирский научно-исследовательский институт авиации им. С.А. Чаплыгина" (ФГУП "СибНИА им. С.А. Чаплыгина") Преобразователь изменения сопротивления резистивных датчиков в электрический сигнал
RU2345377C1 (ru) * 2007-07-31 2009-01-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ") Автоматический калибратор мер измерительно-вычислительного комплекса
RU2379695C2 (ru) * 2007-01-23 2010-01-20 Закрытое Акционерное Общество "Весоизмерительная Компания "Тензо-М" Преобразователь сигналов одиночных тензорезисторов (варианты)
RU2417349C1 (ru) * 2010-03-10 2011-04-27 Российская Федерация в лице Министерства промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) Способ измерения относительных деформаций конструкций многоточечной тензометрической измерительной системой

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2475214A1 (fr) * 1980-02-01 1981-08-07 Sedeme Dispositif d'etalonnage pour chaine de mesure d'extensometrie, procede d'etalonnage, et appareil de mesure mettant en oeuvre un tel dispositif
RU2082129C1 (ru) * 1995-06-27 1997-06-20 Предприятие по транспортировке и поставке газа "УРАЛТРАНСГАЗ" Преобразователь давления в электрический сигнал
US6148675A (en) * 1997-12-11 2000-11-21 Tokyo Sokki Kenkyujo Co., Ltd. Method of measuring strain
JP2005069727A (ja) * 2003-08-28 2005-03-17 Kyowa Electron Instr Co Ltd 多チャンネルひずみ測定回路
UA11599U (en) * 2004-12-16 2006-01-16 Kharkiv Aviation Institute Strain gage device
RU2292051C2 (ru) * 2005-01-11 2007-01-20 ФГУП "Сибирский научно-исследовательский институт авиации им. С.А. Чаплыгина" (ФГУП "СибНИА им. С.А. Чаплыгина") Преобразователь изменения сопротивления резистивных датчиков в электрический сигнал
RU2379695C2 (ru) * 2007-01-23 2010-01-20 Закрытое Акционерное Общество "Весоизмерительная Компания "Тензо-М" Преобразователь сигналов одиночных тензорезисторов (варианты)
RU2345377C1 (ru) * 2007-07-31 2009-01-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный аэродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФГУП "ЦАГИ") Автоматический калибратор мер измерительно-вычислительного комплекса
RU2417349C1 (ru) * 2010-03-10 2011-04-27 Российская Федерация в лице Министерства промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) Способ измерения относительных деформаций конструкций многоточечной тензометрической измерительной системой

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2782824C1 (ru) * 2022-02-25 2022-11-03 Федеральное автономное учреждение "Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н.Е. Жуковского" (ФАУ "ЦАГИ") Способ измерения деформаций и тензорезисторная розетка для его осуществления

Also Published As

Publication number Publication date
RU2013126325A (ru) 2014-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8845870B2 (en) Digital potentiostat circuit and system
EP2269330B1 (en) Transmitter power monitor
CN105259528B (zh) 一种微波功率探头的内部校准电路及校准方法
EP2913684B1 (en) Dynamic compensation circuit
US7773015B2 (en) Measurement data acquisition apparatus and method of operation thereof
CN113489466B (zh) 一种用于消除电荷放大器信号偏移量的电路
RU2536329C1 (ru) Устройство для измерения динамических деформаций
CN204154886U (zh) 基于卫星导航系统的电压、电流精密计量装置
CN210346590U (zh) 无线静态应变测试仪以及无线静态应变测试系统
CN105811981B (zh) 一种高精度adc测量的自动测试设备
CN111561960A (zh) 传感器装置和用于运行传感器装置的方法
RU2677786C1 (ru) Измеритель температуры и способ ее измерения
US20060201022A1 (en) In-kiln moisture measurement calibration system
CN114509714A (zh) 探头校准系统及其校准方法
CN207882426U (zh) 一种用于对绝对延迟时间进行校准的系统
KR101640775B1 (ko) 무선 네트워크 기반의 실시간 계측 시스템
CN203786111U (zh) 光干涉式甲烷测定器检定装置
CN111166358A (zh) 压力零点校正方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN213231254U (zh) 一种起重机综合测量装置
KR200183588Y1 (ko) 상태 감지 시스템
CN211717487U (zh) 高精度传感器检测仪
RU2402024C1 (ru) Цифровой малогабаритный usb осциллограф
CN219574243U (zh) 一种铁路信号电缆高阻故障环阻精密测量电路
CN215867074U (zh) 一种误差校准系统
RU64384U1 (ru) Устройство для измерения параметров сигнала