RU2477457C1 - Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения - Google Patents

Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения Download PDF

Info

Publication number
RU2477457C1
RU2477457C1 RU2011136434/28A RU2011136434A RU2477457C1 RU 2477457 C1 RU2477457 C1 RU 2477457C1 RU 2011136434/28 A RU2011136434/28 A RU 2011136434/28A RU 2011136434 A RU2011136434 A RU 2011136434A RU 2477457 C1 RU2477457 C1 RU 2477457C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
film
radiation
plane
polarization
angle
Prior art date
Application number
RU2011136434/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Геннадий Михайлович Михеев
Василий Михайлович Стяпшин
Original Assignee
Учреждение Российской академии наук Институт прикладной механики Уральского отделения РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Учреждение Российской академии наук Институт прикладной механики Уральского отделения РАН filed Critical Учреждение Российской академии наук Институт прикладной механики Уральского отделения РАН
Priority to RU2011136434/28A priority Critical patent/RU2477457C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2477457C1 publication Critical patent/RU2477457C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения поляризации света. Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения содержит оптоэлектрический преобразователь, выполненный в виде нанесенной на диэлектрическую подложку проводящей пленки, обладающей свойством генерации поверхностных токов под действием света, и двух параллельных измерительных электродов, размещенных на поверхности пленки, цилиндрической втулки, несущего стержня, средства индикации углового положения оптоэлектрического преобразователя и устройства обработки электрических сигналов. Пленка размещена наклонно на цилиндрической втулке, обладающей возможностью вращения относительно несущего стержня. Электроды закреплены на противоположных краях пленки параллельно осевому сечению цилиндрической втулки, ориентированному перпендикулярно плоскости наклона пленки. Изобретение позволяет упростить конструкцию измерителя поляризации лазерного излучения, расширить спектральный диапазон его работы, увеличить допустимую апертуру анализируемого излучения. 3 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения поляризации света. Устройство по данному изобретению может быть использовано для определения состояния поляризации оптического излучения.
В различных процессах с применением оптических и лазерных источников часто приходится контролировать поляризацию излучения. Обычно для этих целей используются хорошо известные анализаторы поляризации, состоящие из поляризатора со средством индикации его углового положения. Поляризация излучения определяется поворотом поляризатора до положения, в котором достигается минимум интенсивности проходящего через поляризатор излучения, наблюдаемого визуально напрямую или на экране [Ахманов С.А., Никитин С.Ю. Физическая оптика: Учебник. М.: Изд-во Моск. ун-та, 1998]. Найденное положение соответствует плоскости, перпендикулярной плоскости поляризации излучения. Недостатками данного метода являются ограниченный спектральный диапазон применения, обусловленный ограниченным спектром восприятия глаза человека, и неточность измерения, обусловленная субъективностью визуального определения минимума интенсивности проходящего через поляризатор излучения и возможностью посторонней засветки.
Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для определения поляризации лазерного излучения [Жевандров Н.Д. Применение поляризованного света. М.: Наука, 1978], содержащее поляризатор со средством индикации его углового положения, фотоприемник и устройство обработки электрических сигналов.
Пучок линейно поляризованного излучения от источника света проходит через поляризатор и затем попадает на фотоприемник, сигнал с которого регистрируется устройством обработки электрических сигналов. Поворотом поляризатора добиваются положения, в котором достигается минимум сигнала, регистрируемого с фотоприемника устройством обработки.
При этом используемые поляризаторы могут быть разной конструкции. Широкое применение нашли поляризаторы, состоящие из двулучепреломляющих призм на основе оптически прозрачных двулучепреломляющих кристаллов. Принцип работы таких поляризаторов основан на пространственном разделении обыкновенного и необыкновенного лучей за счет эффекта двулучепреломления.
Однако такие поляризаторы имеют ряд недостатков. Одним из таких недостатков является ограниченность спектрального диапазона работы двулучепреломляющих призм. Обычно область оптического пропускания применяемых в них двулучепреломляющих кристаллов ограничена диапазоном от ультрафиолета до ближней инфракрасной области. Так, у кальцита область оптического пропускания находится в пределах от 220 до 2300 нм. Такие поляризаторы, следовательно, и анализаторы в принципе не могут работать в средней инфракрасной области. В реальности указанный спектральный диапазон дополнительно сужается из-за невозможности обеспечения условия пространственного разделения обыкновенного и необыкновенного лучей на всей его протяженности.
Более того, фотоприемники, работающие на внутреннем и внешнем фотоэффекте, входящие в состав распространенных устройств определения поляризации, также имеют ограниченный спектральный диапазон применения. Например, обычный фотоприемник, работающий на внешнем фотоэффекте, не может работать в области длин волн более 1200 нанометров.
Ограниченность спектральных диапазонов пропускания поляризатора и чувствительности фотоприемника требует применения нескольких различных поляризаторов и фотоприемников для охвата широкой части спектра.
Кроме этого, анализаторы поляризации на основе двулучепреломляющих призм не могут применяться для световых пучков с широкой апертурой ввиду ограничений, накладываемых принципом действия таких поляризаторов (обычно поляризаторы на основе двулучепреломляющих призм изготавливаются апертурой от 5×5 до 10×10 мм2).
Задача изобретения - упрощение конструкции измерителя поляризации оптического излучения, расширение спектрального диапазона его работы, увеличение допустимой апертуры анализируемого излучения.
Поставленная задача решается тем, что поляризатор и фотоприемник выполнены в виде оптоэлектрического преобразователя, состоящего из нанесенной на диэлектрическую подложку проводящей пленки, обладающей свойством генерации поверхностных токов под действием света по закону j=k(α)Psin2Ф,
где j - плотность поверхностных токов,
k(α) - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала пленки и угла падения α излучения на пленку,
P - мощность падающего оптического излучения,
Ф - угол между плоскостью падения и плоскостью поляризации падающего излучения, размещенной наклонно на цилиндрической втулке, обладающей возможностью вращения вокруг своей оси относительно несущего стержня и двух параллельных измерительных электродов, размещенных на поверхности проводящей пленки на ее противоположных краях параллельно осевому сечению цилиндрической втулки, ориентированному перпендикулярно плоскости наклона пленки.
Техническим результатом является упрощение конструкции измерителя поляризации оптического излучения, расширение спектрального диапазона его работы, увеличение допустимой апертуры анализируемого излучения.
Фиг.1 показывает продольную геометрию наблюдения (плоскость падения параллельна измерительным электродам) оптоэлектрического отклика в проводящих пленках в зависимости от поляризации оптического излучения: 1 - нанесенная на диэлектрическую подложку проводящая пленка; 3 - измерительные электроды; 7 - устройство обработки электрических сигналов; «+» и «-» - положительный и отрицательный входы устройства обработки электрических сигналов соответственно; σ - плоскость падения; k, E - соответственно волновой и электрический векторы падающего излучения (k⊥E, k⊥ξ, ось ξ лежит в плоскости σ); n - нормаль к поверхности пленки; α - угол падения; Ф - угол между σ и плоскостью поляризации, определяемой k и E.
Фиг.2 показывает нормированную на максимальное значение зависимость оптоэлектрического сигнала Unorm в нанографитной пленке от угла между плоскостью падения и плоскостью поляризации падающего излучения Ф для продольной геометрии наблюдения, полученную на длине волны 532 нм при α=50° и указанной на Фиг.1 схеме подключения измерительных электродов ко входам устройства обработки электрических сигналов (точки - эксперимент, сплошная кривая - аппроксимирующая функция Unorm=sin2Ф).
Фиг.3 показывает оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения согласно данному изобретению: 1 - нанесенная на диэлектрическую подложку проводящая пленка; 2 - цилиндрическая втулка; 3 - измерительные электроды; 4 - несущий стержень; 5 - угловые отметки средства индикации углового положения, пронумерованные по часовой стрелке, если смотреть со стороны проводящей пленки; 6 - риска начала отсчета средства индикации углового положения; 7 - устройство обработки электрических сигналов; «+» и «-» - положительный и отрицательный входы устройства обработки электрических сигналов соответственно; σ0 - осевое сечение несущего стержня (здесь оно совпадает с вертикальной плоскостью); σ1 - осевое сечение цилиндрической втулки; σ2 - плоскость наклона нанесенной на диэлектрическую подложку проводящей пленки (σ1⊥σ2, измерительные электроды 3 расположены параллельно плоскости σ1).
Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения работает следующим образом. Представим, что нанесенная на диэлектрическую подложку проводящая пленка 1 (Фиг.1) с двумя параллельными измерительными электродами 3 расположена наклонно под ненулевым углом α по отношению к падающему пучку линейно поляризованного оптического излучения с вектором электрического поля E и волновым вектором k. Пусть плоскость падения излучения σ параллельна измерительным электродам, а угол между плоскостью поляризации (вектором E) и плоскостью падения составляет Ф (угол поляризации). В этом случае в проводящей пленке за счет поверхностного фотогальванического эффекта (ПФГЭ) и эффекта передачи квазиимпульса света электронам (ЭПКИ) при межзонных квантовых переходах возможна генерация поверхностных токов по закону:
Figure 00000001
где j - плотность поверхностных токов,
k(α) - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала пленки и угла падения α излучения на пленку,
P - мощность падающего оптического излучения,
Ф - угол между плоскостью падения и плоскостью поляризации падающего излучения.
При этом k(α) - нечетная функция от α. То есть генерация поверхностного тока отсутствует при нулевом угле падения α. В результате между измерительными электродами возникает электрическое напряжение, амплитуда которого зависит от поляризации падающего оптического излучения по закону:
Figure 00000002
где f(α) - коэффициент пропорциональности, имеющий размерность В/Вт, зависящий от материала пленки, являющийся нечетной функцией от угла падения α, принимающий нулевые значения при α=0, а максимальные по модулю значения при углах α=±(45÷70)°.
На Фиг.2 показаны типичная экспериментальная (точки) и теоретическая (линия) зависимости нормированной на максимальное значение амплитуды электрического напряжения Unorm от поляризации падающего оптического излучения, полученные при продольной геометрии наблюдения (Фиг.1) для нанографитной пленки, в которой наблюдаются ПФГЭ и ЭПКИ, при α=50° и указанной на Фиг.1 схеме подключения измерительных электродов к входам устройства обработки электрических сигналов.
Зависимость вида U∝sin2Ф позволяет сконструировать оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения. Для этого разместим нанесенную на диэлектрическую подложку проводящую пленку 1 (см. Фиг.3) наклонно на цилиндрической втулке 2, например, под углом 50° между нормалью к проводящей пленке n и осью OO' втулки таким образом, чтобы измерительные электроды 3, размещенные на поверхности проводящей пленки на ее противоположных краях, были расположены параллельно осевому сечению σ1 втулки, ориентированному перпендикулярно плоскости наклона σ2 проводящей пленки. Допустим, что цилиндрическая втулка имеет возможность вращаться вокруг своей оси ОО' относительно жестко закрепленного несущего стержня 4, имеющего отметку в виде риски 6 на пересечении внешней поверхности с его осевым сечением σ0, совпадающим с вертикальной плоскостью. Пусть на втулке нанесены пронумерованные по часовой стрелке, если смотреть со стороны проводящей пленки, угловые отметки 5, выполняющие совместно с риской на стержне роль средства индикации углового положения. Представим, что осевое сечение σ1 втулки проходит через отметку «0». В этом случае угловое положение втулки относительно несущего стержня можно определять углом φ между плоскостями σ1 и σ0, пользуясь имеющимися на втулке угловыми отметками.
Направим луч света на проводящую пленку вдоль оси ОО' цилиндрической втулки, тогда плоскость его падения σ будет всегда совпадать с осевым сечением σ1 втулки, а угол его падения α будет равен углу наклона пленки относительно втулки. Если представить, что вектор E лежит в вертикальной плоскости, а плоскости σ1 и σ0 совпадают, т.е. φ=0, то плоскость падения σ совпадет также с плоскостью σ0, а угол поляризации Ф будет равен нулю. Теперь, если повернуть втулку против часовой стрелки по ходу луча относительно стержня на угол Δφ, то плоскость падения изменит свое положение и повернется против часовой стрелки на угол Δφ относительно вертикальной плоскости σ0. В результате угол поляризации, т.е. угол между плоскостью падения и плоскостью поляризации изменится на величину ΔФ, при этом справедливо следующее соотношение:
Figure 00000003
Таким образом, вращая втулку, на которой проводящая пленка расположена наклонно, можно менять угол поляризации Ф. При этом сигнал на измерительных электродах, регистрируемый устройством обработки электрических сигналов 7, нормированный на максимальное значение, согласно (2) и (3) будет меняться в соответствии со следующей зависимостью:
Figure 00000004
где C=±1 - полярность регистрируемого сигнала, зависящая от типа проводимости материала проводящей пленки. При α>0 и указанной на Фиг.3 схеме подключения измерительных электродов к входам устройства обработки электрических сигналов полярность сигнала принимает положительное значение в случае электронного типа проводимости материала проводящей пленки и отрицательное - при дырочной проводимости.
Из формулы (4) следует, что сигнал исчезает при углах φ=0 и 180°, а также при φ=90° и 270°. Углы φ=0 и 180° показывают направление плоскости σs, в которой лежит вектор E, а углы φ=90° и 270° показывают направление другой плоскости σs, которая перпендикулярна первой. В соответствии с зависимостью (4), которая для материалов с электронной проводимостью имеет вид, аналогичный кривой на Фиг.3, в окрестности точек φ=0, 180° увеличение угла φ сопровождается изменением полярности сигнала с отрицательной на положительную, а в окрестности точек φ=90°, 270° увеличение φ приводит к смене полярности с положительной на отрицательную. Соответственно, для материалов с дырочной проводимостью будет иметь место обратная взаимосвязь.
Условимся, что C всегда равно единице. Для проводящих пленок с дырочным типом проводимости добиться этого можно изменением схемы подключения измерительных электродов к входам устройства обработки электрических сигналов на противоположную, указанную на Фиг.3.
Таким образом, если изначально поляризация оптического излучения неизвестна, то ее можно определить следующим путем. Луч анализируемого излучения направляется на проводящую пленку вдоль оси цилиндрической втулки ОО'. Вращением цилиндрической втулки с проводящей пленкой определяется угол φ=φ1, при котором сигнал, регистрируемый устройством обработки электрических сигналов, обращается в нуль. Если в окрестности точки φ=φ1 увеличение угла φ сопровождается изменением полярности электрического сигнала с отрицательной на положительную, то этот угол показывает положение плоскости поляризации σp оптического излучения. Если же в окрестности точки φ=φ1 увеличение угла φ сопровождается изменением полярности электрического сигнала с положительной на отрицательную, то плоскость поляризации определяется углами φ21±90°.
В случае эллиптически поляризованного излучения при продольной геометрии наблюдения формула (2) приобретает следующий вид:
Figure 00000005
где a и b - большая и малая оси эллипса поляризации, а Фma - азимутальный угол большой оси эллипса поляризации. Следовательно, вышеизложенную методику определения плоскости поляризации линейно поляризованного излучения можно непосредственно использовать для определения направления большой оси эллипса поляризации эллиптически поляризованного оптического излучения.
Очевидно, что данное устройство может быть использовано для полного анализа поляризованного света с применением четвертьволновой пластинки, размещенной перед оптоэлектронным анализатором поляризации по данному изобретению, по методике, описанной в [Жевандров Н.Д. Применение поляризованного света. М.: Наука, 1978, С.67-69].
Пример осуществления изобретения
Данный оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения использовался для измерения поляризации излучения импульсного YAG:Nd3+-лазера с длительностью импульсов 20 наносекунд. В качестве нанесенной на диэлектрическую подложку проводящей пленки использовалась нанографитная пленка (пленка из углеродного материала, осажденная на полированную подложку из высокоомного кремния). Основными структурными элементами такой пленки являются кристаллиты графита, состоящие из нескольких (примерно от 5 до 50) параллельных хорошо упорядоченных атомных слоев углерода. Толщина кристаллитов находится в пределах от 2 до 20 нанометров при размерах в других измерениях около 1÷3 микрометров. Все кристаллиты имеют преимущественную ориентацию атомных слоев в направлении нормали к поверхности подложки с максимальным отклонением не более ±20 градусов. Расстояние между отдельными кристаллитами составляет около 0.5÷1 микрометров. Средняя толщина такой нанографитной пленки колеблется от 3 до 4 микрометров. Эксперименты показали, что такие пленки при облучении лазерным излучением генерируют поверхностные токи по закону (1) за счет эффектов ПФГЭ и ЭПКИ.
В качестве электродов использовались медные пластины, механически прижатые к поверхности пленки. Сопротивление постоянному току между электродами, замкнутыми через такую пленку, составляло около 50 Ом, а емкость между электродами составляла менее 1 пФ.
Нанографитная пленка размером 25×25 мм2 размещалась на цилиндрической втулке под углом 50°, определяемым нормалью n и осью ОО' (Фиг.3). Указанные размеры пленки позволяли определять поляризацию пучков лазерного излучения апертурой до 16×20 мм2, что превосходит аналогичный параметр анализаторов поляризации на основе двулучепреломляющих призм. Апертура анализатора поляризации по данному изобретению может быть дополнительно увеличена за счет применения проводящей пленки больших размеров.
В качестве устройства обработки электрических сигналов использовался цифровой осциллограф Tektronix TDS-7704B с входным сопротивлением 50 Ом и полосой пропускания 7 ГГц, подключенный к измерительным электродам с помощью коаксиального кабеля.
Исследования показали, что оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения с нанографитной пленкой может работать в спектральном диапазоне от 266 до 4000 нанометров.

Claims (1)

  1. Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения, включающий поляризатор со средством индикации его углового положения, фотоприемник и устройство обработки электрических сигналов, отличающийся тем, что поляризатор и фотоприемник выполнены в виде оптоэлектрического преобразователя, состоящего из нанесенной на диэлектрическую подложку проводящей пленки, обладающей свойством генерации поверхностных токов под действием света по закону j=k(α)Psin2Ф,
    где j - плотность поверхностных токов;
    k(α) - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала пленки и угла падения α излучения на пленку;
    Р - мощность падающего оптического излучения;
    Ф - угол между плоскостью падения и плоскостью поляризации падающего излучения,
    и размещенной наклонно на цилиндрической втулке, обладающей возможностью вращения вокруг своей оси относительно несущего стержня, и двух параллельных измерительных электродов, размещенных на поверхности проводящей пленки на ее противоположных краях параллельно осевому сечению цилиндрической втулки, ориентированному перпендикулярно плоскости наклона пленки.
RU2011136434/28A 2011-09-01 2011-09-01 Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения RU2477457C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011136434/28A RU2477457C1 (ru) 2011-09-01 2011-09-01 Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011136434/28A RU2477457C1 (ru) 2011-09-01 2011-09-01 Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2477457C1 true RU2477457C1 (ru) 2013-03-10

Family

ID=49124259

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011136434/28A RU2477457C1 (ru) 2011-09-01 2011-09-01 Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2477457C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2662042C1 (ru) * 2017-09-05 2018-07-23 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского" Способ определения знака циркулярной поляризации света и детектор для его осуществления
RU2738013C1 (ru) * 2019-11-29 2020-12-07 Частное учреждение образовательная организация высшего образования "Медицинский университет "Реавиз" Способ неинвазивного облучения крови и устройство для его реализации (варианты)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU640137A1 (ru) * 1975-01-03 1978-12-30 Предприятие П/Я В-8117 Автоматический измеритель пол ризационных параметров излучени оптического диапазона
JPS62231124A (ja) * 1986-03-31 1987-10-09 Shimadzu Corp 偏光測定装置
RU2073834C1 (ru) * 1992-06-26 1997-02-20 Товарищество с ограниченной ответственностью "Лаборатория ИК-оптики" Поляризационное устройство
US20030007151A1 (en) * 2001-06-27 2003-01-09 John Eckert Method and system for determining the degree of polarization of light
JP2007059465A (ja) * 2005-08-22 2007-03-08 Fujifilm Corp 光電変換素子及び撮像素子
RU2351904C1 (ru) * 2007-10-08 2009-04-10 Институт прикладной механики УрО РАН Фотоприемник

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU640137A1 (ru) * 1975-01-03 1978-12-30 Предприятие П/Я В-8117 Автоматический измеритель пол ризационных параметров излучени оптического диапазона
JPS62231124A (ja) * 1986-03-31 1987-10-09 Shimadzu Corp 偏光測定装置
RU2073834C1 (ru) * 1992-06-26 1997-02-20 Товарищество с ограниченной ответственностью "Лаборатория ИК-оптики" Поляризационное устройство
US20030007151A1 (en) * 2001-06-27 2003-01-09 John Eckert Method and system for determining the degree of polarization of light
JP2007059465A (ja) * 2005-08-22 2007-03-08 Fujifilm Corp 光電変換素子及び撮像素子
RU2351904C1 (ru) * 2007-10-08 2009-04-10 Институт прикладной механики УрО РАН Фотоприемник

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ЖЕВАНДРОВ Н.Д. Применение поляризованного света. - М.: Наука, 1978, с.71-73. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2662042C1 (ru) * 2017-09-05 2018-07-23 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского" Способ определения знака циркулярной поляризации света и детектор для его осуществления
RU2738013C1 (ru) * 2019-11-29 2020-12-07 Частное учреждение образовательная организация высшего образования "Медицинский университет "Реавиз" Способ неинвазивного облучения крови и устройство для его реализации (варианты)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Van Der Valk et al. Electro-optic detection of subwavelength terahertz spot sizes in the near field of a metal tip
Yasumatsu et al. High-speed terahertz time-domain polarimeter based on an electro-optic modulation technique
Prasath et al. Comparison of phase shifting techniques for measuring in-plane residual stress in thin, flat silicon wafers
JP2021502600A (ja) 電圧調整可能な偏光子
RU2477457C1 (ru) Оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения
Mikheev et al. Nanographite analyzer of laser polarization
JP2005315708A (ja) テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置
JP2014504726A (ja) 交流または直流の送電システムおよび電圧を計測する方法
Kenaz et al. Mapping spectroscopic micro-ellipsometry with sub-5 microns lateral resolution and simultaneous broadband acquisition at multiple angles
RU2452924C1 (ru) Способ определения знака циркулярной поляризации лазерного излучения
Arora et al. A twisted periscope arrangement for transporting elliptically polarized light without change in its polarization state
Sengupta et al. Measurement of complex dielectric constant using optical method
KR100606420B1 (ko) 검출기 삽입형 광 전압검출기
Shimizu Study of the intensity dependent refractive index in liquids
Sendra et al. Multi‐Material Strain Mapping with Scanning Reflectance Anisotropy Microscopy
Gridnev et al. Magnetization-odd nonreciprocal reflection of light from the magnetoelectric—ferromagnet LiFe 5 O 8
RU2775357C1 (ru) Способ определения "быстрой" оптической оси четвертьволновой пластинки
Teboul et al. Collection angle dependence of the depolarization ratio in light-scattering experiments
RU2351904C1 (ru) Фотоприемник
Zhu et al. Two-dimensional optical measurement techniques based on optical birefringence effects
Adams et al. Infrared ellipsometry—measurement of the optical properties of thin silver and gold films at 1.15, 3.39 and 10 μm
RU2491679C1 (ru) Способ измерения локальных электромагнитных полей на поверхности гетероструктур
CN103983579B (zh) 一种检测碲化物半导体探测器内建电场的方法
Dong et al. A broad-angle spectrum reflection pump–probe technique based on the Brewster angle
Bahrim et al. A new optoelectronic switch: The dielectric of a capacitor illuminated with a laser radiation

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140902