RU2438120C1 - Method of estimating depth of defect - Google Patents

Method of estimating depth of defect Download PDF

Info

Publication number
RU2438120C1
RU2438120C1 RU2010122996/28A RU2010122996A RU2438120C1 RU 2438120 C1 RU2438120 C1 RU 2438120C1 RU 2010122996/28 A RU2010122996/28 A RU 2010122996/28A RU 2010122996 A RU2010122996 A RU 2010122996A RU 2438120 C1 RU2438120 C1 RU 2438120C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
defect
depth
images
radiation source
transmission
Prior art date
Application number
RU2010122996/28A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вячеслав Михайлович Зуев (RU)
Вячеслав Михайлович Зуев
Рудольф Леонидович Табакман (RU)
Рудольф Леонидович Табакман
Виктор Иванович Капустин (RU)
Виктор Иванович Капустин
Александр Валентинович Шипилов (RU)
Александр Валентинович Шипилов
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Ижорские заводы"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" filed Critical Открытое акционерное общество "Ижорские заводы"
Priority to RU2010122996/28A priority Critical patent/RU2438120C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2438120C1 publication Critical patent/RU2438120C1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

FIELD: physics. ^ SUBSTANCE: first and second images are taken without changing the direction of illumination at different distances from the radiation source to the inspected article, after which dimensions of the images of the defect on both images are measured and the depth of the defect is calculated using a certain mathematical expression based on the measurements and known geometry of illumination. ^ EFFECT: high accuracy of estimating depth of a defect. ^ 1 dwg

Description

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений.The invention relates to the field of flaw detection and can be used for radiographic inspection of welded joints.

Известен способ оценки глубины залегания дефекта путем двойного просвечивания со смещением источника излучения при втором просвечивании на определенный угол по отношению к первому просвечиванию. Замеряя смещение изображения дефекта на пленке относительно изображения свинцовой метки, установленной на изделии со стороны кассеты с пленкой, и основываясь на известной геометрии просвечивания, рассчитывают глубину залегания дефекта в металле изделия (см. Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия, М., Атомиздат, 1974, стр.258-260).A known method for assessing the depth of a defect by double transmission with a shift of the radiation source during the second transmission by a certain angle with respect to the first transmission. Measuring the shift of the image of the defect on the film relative to the image of the lead mark mounted on the product from the side of the film cassette, and based on the known transmission geometry, calculate the depth of the defect in the metal of the product (see Rumyantsev S.V. Radiation defectoscopy, M., Atomizdat, 1974, pp. 258-260).

Наиболее близким по своей технической сути заявляемому способу является способ оценки глубины залегания дефекта путем двойного просвечивания с изменением направления излучения и установкой двух свинцовых меток: со стороны источника излучения и со стороны пленки (см. ОСТ 108.004.110-87), который принят в качестве прототипа заявляемого способа. Оценка глубины залегания дефекта в этом способе проводится на основе замеренных значений смещения изображений подвижной метки (со стороны источника излучения) и дефекта относительно изображения неподвижной метки (со стороны кассеты с пленкой).The claimed method closest in its technical essence is a method for estimating the depth of a defect by double exposure with a change in the direction of radiation and the installation of two lead marks: from the side of the radiation source and from the side of the film (see OST 108.004.110-87), which is accepted as the prototype of the proposed method. The depth of the defect in this method is estimated based on the measured values of the displacement of the images of the moving mark (from the side of the radiation source) and the defect relative to the image of the fixed mark (from the side of the film cassette).

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является увеличение возможностей способа и повышение точности оценки глубины залегания дефекта.The problem to which the invention is directed is to increase the capabilities of the method and improve the accuracy of estimating the depth of the defect.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе оценки глубины залегания дефекта, заключающемся в сравнении изображений дефекта на двух отличающихся различной геометрией просвечивания снимках, выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глубины залегания дефекта.The problem is solved due to the fact that in the method of assessing the depth of the defect, which consists in comparing the images of the defect in two pictures with different different geometry of transmission, the first and second pictures are performed without changing the direction of transmission at a different distance from the radiation source to the controlled product, and then measure the sizes of the defect images in both images and on the basis of the measurements taken and the known transmission geometry conduct a calculated estimate of the depth of the defect .

Сущность изобретения поясняется чертежом.The invention is illustrated in the drawing.

На чертеже представлена схема оценки глубины залегания дефекта заявляемым способом.The drawing shows a diagram for assessing the depth of the defect of the claimed method.

Расчетную оценку глубины h залегания дефекта можно провести на основе геометрических соотношений при двух положениях источника излучения - A1 и А2, соответствующих фокусным расстояниям f1 f2.A calculated estimate of the depth h of the occurrence of the defect can be carried out on the basis of geometric relationships for two positions of the radiation source — A 1 and A 2 , corresponding to focal lengths f 1 f 2 .

Обозначения на чертеже: l - полуширина дефекта; L1, L2 - полуширина изображения дефекта для двух положений источника излучения.Designations in the drawing: l - half-width of the defect; L 1 , L 2 - the half-width of the image of the defect for two positions of the radiation source.

Из подобных треугольников ΔA1BC и ΔA1DE1 имеем соотношение:Of these triangles ΔA 1 BC and ΔA 1 DE 1 we have the ratio:

Figure 00000001
Figure 00000001

Учитывая, что ВС=l, A1D=f1, A1B=f1-h, DE1=L1, и подставив эти соотношения в (1), получимGiven that BC = l, A 1 D = f 1 , A 1 B = f 1 -h, DE 1 = L 1 , and substituting these relations in (1), we obtain

Figure 00000002
Figure 00000002

Аналогично из треугольников ΔА2ВС и ΔA2DE2:Similarly, from the triangles ΔA 2 BC and ΔA 2 DE 2 :

Figure 00000003
Figure 00000003

Из выражения (2) следуетFrom the expression (2) follows

Figure 00000004
Figure 00000004

Из выражения (3) следуетFrom the expression (3) follows

Figure 00000005
Figure 00000005

Приравнивания выражения для l, имеем:Equating the expression for l, we have:

Figure 00000006
,
Figure 00000006
,

(f1-h)×L1×f2=(f2-h)×L2×f1,(f 1 -h) × L 1 × f 2 = (f 2 -h) × L 2 × f 1 ,

f1×L1×f2-h×L1×f2=f2×L2×f1-h×L2×f1,f 1 × L 1 × f 2 -h × L 1 × f 2 = f 2 × L 2 × f 1 -h × L 2 × f 1 ,

h×L2×f1-h×L1×f2=f2×L2×f1-f1×L1×f2,h × L 2 × f 1 -h × L 1 × f 2 = f 2 × L 2 × f 1 -f 1 × L 1 × f 2 ,

h×(L2×f1-L1×f2)=f2×f1×(L2-L1),h × (L 2 × f 1 -L 1 × f 2 ) = f 2 × f 1 × (L 2 -L 1 ),

отсюдаfrom here

Figure 00000007
Figure 00000007

Заявляемым способом проводилась оценка глубины залегания дефектов типа имитированных несплошностей (цилиндрические отверстия, прямоугольные канавки), расположенных на различном расстоянии от поверхности образца.The inventive method was used to assess the depth of defects such as simulated discontinuities (cylindrical holes, rectangular grooves) located at different distances from the surface of the sample.

Толщина образца 70 мм. Фактическая глубина залегания имитированных дефектов h=10; 60; 70 мм. Просвечивание проводилось рентгеновским аппаратом МГ-420 при напряжении на рентгеновской трубке Up.т=400 кB на радиографическую пленку типа D5. Фокусное расстояние: f1=670 мм, f2=270 мм.Sample thickness 70 mm. Actual depth of imitated defects h = 10; 60; 70 mm. Radiation was performed by an MG-420 x-ray apparatus at a voltage on the x-ray tube of U p.t = 400 kB on a radiographic film of type D5. Focal length: f 1 = 670 mm, f 2 = 270 mm.

Например, для имитированной раковины диаметром ⌀=10 мм (размер в направлении просвечивания 2 мм) при фокусном расстоянии f1=670 мм замеренный по снимку диаметр изображения ⌀изам. составил при фактической глубине залегания:For example, for a simulated shell with a diameter of ⌀ = 10 mm (size in the transillumination direction of 2 mm) with a focal length f 1 = 670 mm, the image diameter ⌀ measured in the image and zam. at the actual depth:

hф1=70 мм - ⌀изaм.1=11,2 мм (L1=⌀изaм.1/2=5,6 мм);h f1 = 70 mm - ⌀ and replacement 1 = 11.2 mm (L 1 = ⌀ and replacement 1/2 / = 5.6 mm);

hф2=60 мм - ⌀изaм.2=10,8 мм (L1=⌀изaм.2/2=5,4 мм);h f2 = 60 mm - ⌀ and replacement 2 = 10.8 mm (L 1 = ⌀ and replacement 2/2 = 5.4 mm);

hф3=10 мм - ⌀изaм.3≅10,0 мм (L1=⌀изaм.3/2=5,0 мм);h f3 = 10 mm - ⌀ and replacement 3 10.0 mm (L 1 = ⌀ and replacement 3/2 = 5.0 mm);

При f2=270 мм:When f 2 = 270 mm:

hф1=70 мм - ⌀изaм.1=14,0 мм (L2=7,0 мм);h f1 = 70 mm - ⌀ and replacement 1 = 14.0 mm (L 2 = 7.0 mm);

hф2=60 мм - ⌀изaм.2=13,0 мм (L2=6,5 мм);h f2 = 60 mm - ⌀ and replacement 2 = 13.0 mm (L 2 = 6.5 mm);

hф3=10 мм - ⌀изaм.3=10,2 мм (L2=5,1 мм);h f3 = 10 mm - ⌀ and replacement 3 = 10.2 mm (L 2 = 5.1 mm);

В соответствии с (4) расчетные значения глубины залегания hрасч будут составлять:In accordance with (4), the calculated values of the depth h calculation will be:

Figure 00000008
Figure 00000008

поскольку толщина образца составляет 70 мм, принимаем hрасч.1=70 мм;since the thickness of the sample is 70 mm, take h calc. 1 = 70 mm;

Figure 00000009
Figure 00000009

Figure 00000010
Figure 00000010

Приведенный пример показывает, что при расположении дефекта на относительно большом удалении от радиографической пленки расчетная глубина залегания получается в определенной мере больше фактической. Это объясняется неучтенным при расчетах увеличении замеряемого размера изображения дефекта вследствие наличия геометрической нерезкости. Однако для целей определения направления (стороны) выборки дефектного места изделия, что собственно обычно и является задачей оценки глубины залегания дефекта, указанная погрешность вполне приемлема.The above example shows that when the defect is located at a relatively large distance from the radiographic film, the calculated depth is obtained to a certain extent greater than the actual one. This is due to the unaccounted for in the calculations increase in the measured image size of the defect due to the presence of geometric blur. However, for the purpose of determining the direction (side) of sampling of a defective product location, which is usually the task of assessing the depth of a defect, the indicated error is quite acceptable.

Можно рекомендовать для повышения точности оценки глубины залегания дефекта применять источники излучения с возможно малым размером фокусного пятна и обеспечивать непревышение максимальной величины геометрической нерезкости величины разницы между замеряемыми размерами изображения дефекта при выбранных первом и втором фокусных расстояниях.To increase the accuracy of estimating the depth of the defect, it is recommended to use radiation sources with the smallest possible focal spot size and to ensure that the maximum value of geometric blur is not exceeded by the difference between the measured dimensions of the defect image at the selected first and second focal lengths.

Заявляемый способ позволяет проводить оценку глубины залегания дефектов в тех случаях, когда способ двойного просвечивания с угловым смещением источника излучения неприменим, например при контроле просвечиванием труднодоступных, затрудненных для указанного смещения источника, конструкций, не полностью заваренных швов с узкой разделкой кромок и т.п.The inventive method allows an assessment of the depth of defects in cases where the double translucence method with an angular displacement of the radiation source is not applicable, for example, when controlling translucency of hard-to-reach, difficult for the specified displacement of the source structures, incompletely welded seams with narrow edges, etc.

Claims (1)

Способ оценки глубины залегания дефекта, заключающийся в сравнении изображений дефекта на двух отличающихся различной геометрией просвечивания снимках, отличающийся тем, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего замеряют размеры изображений дефекта на обоих снимках и на основе проведенных замеров и известной геометрии просвечивания проводят расчетную оценку глубины залегания дефекта по формуле
Figure 00000011

где h - расчетная глубина залегания дефекта,
f1 и f2 - фокусные расстояния при двух положениях источника излучения,
L1 и L2 - полуширина изображения дефекта для двух положений источника излучения.
A method for assessing the depth of a defect, which consists in comparing images of a defect in two images with different different geometry of transmission, characterized in that the first and second images are taken without changing the direction of transmission at a different distance from the radiation source to the controlled product, after which the dimensions of the images of the defect are measured on both images and on the basis of the measurements and the known geometry of the translucent conduct a calculated assessment of the depth of the defect according to the formula
Figure 00000011

where h is the estimated depth of the defect,
f 1 and f 2 - focal lengths at two positions of the radiation source,
L 1 and L 2 - the half-width of the image of the defect for two positions of the radiation source.
RU2010122996/28A 2010-06-04 2010-06-04 Method of estimating depth of defect RU2438120C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010122996/28A RU2438120C1 (en) 2010-06-04 2010-06-04 Method of estimating depth of defect

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2010122996/28A RU2438120C1 (en) 2010-06-04 2010-06-04 Method of estimating depth of defect

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2438120C1 true RU2438120C1 (en) 2011-12-27

Family

ID=45782943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010122996/28A RU2438120C1 (en) 2010-06-04 2010-06-04 Method of estimating depth of defect

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2438120C1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104655658A (en) * 2015-02-10 2015-05-27 西安交通大学 Large-sized high-temperature blade internal defect three-dimensional nondestructive detection method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104655658A (en) * 2015-02-10 2015-05-27 西安交通大学 Large-sized high-temperature blade internal defect three-dimensional nondestructive detection method
CN104655658B (en) * 2015-02-10 2017-04-05 西安交通大学 A kind of large high-temperature blade interior defect three dimensional lossless detection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2523092C2 (en) Method and apparatus for measuring profile of spherical incurved, particularly, cylindrical bodies
US8345094B2 (en) System and method for inspecting the interior surface of a pipeline
WO2014080762A1 (en) Fluoroscopic image density correction method, non-destructive inspection method, and image processing device
JP5288297B2 (en) Method for measuring the end shape of a threaded tube
Brierley et al. Mapping the spatial performance variability of an X-ray computed tomography inspection
US10697908B2 (en) Metrology inspection apparatus
RU2438120C1 (en) Method of estimating depth of defect
JP5400704B2 (en) Piping inspection device and piping inspection method
RU2437081C1 (en) Method of determining depth of defect
JP5145979B2 (en) Radiation transmission test method for welds
JP3219565B2 (en) Defect depth position detection apparatus and method
KR102131615B1 (en) Apparatus for generating radiographic image and method for the same
KR100489711B1 (en) Parallax Radiographic Testing for the Measurement of Flaw Depth
JP6888595B2 (en) Rail inspection equipment and inspection trolley
RU2392609C1 (en) Method for estimate of defect size in transmission direction
RU2240538C2 (en) Method for estimation of size of flaws in direction of x-raying
JP4814918B2 (en) Estimation method of remaining thickness of metal pipe
WO2019003329A1 (en) X-ray in-line inspection method and device
JP3792322B2 (en) Method for estimating pipe thinning depth
RU146022U1 (en) COMBINED TEST SAMPLE OF SENSITIVITY OF RADIOGRAPHIC CONTROL
RU2315979C1 (en) Radiography inspection method
JP4185841B2 (en) Method for determining the resolution of a radiographic test image
RU2313080C1 (en) Mode of evaluation of defect sizes in the direction of radioscopy
KR200472274Y1 (en) Cable measure of length remote handling equipment
Corcoran et al. Observations on the Performance of X-ray Computed Tomography for Dimensional Metrology

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20130605