RU2422854C1 - Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end - Google Patents
Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end Download PDFInfo
- Publication number
- RU2422854C1 RU2422854C1 RU2010115524/28A RU2010115524A RU2422854C1 RU 2422854 C1 RU2422854 C1 RU 2422854C1 RU 2010115524/28 A RU2010115524/28 A RU 2010115524/28A RU 2010115524 A RU2010115524 A RU 2010115524A RU 2422854 C1 RU2422854 C1 RU 2422854C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radiation
- attenuator
- detector
- soft
- angle
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Предложенное техническое решение относится к области управляемого термоядерного синтеза (УТС), в частности когда для инициирования УТС важно знать как спектральное распределение излучения, так и его полную мощность, превосходящую 1014 Вт, в мягком рентгеновском диапазоне при характерной длительности импульса рентгеновского излучения несколько наносекунд.The proposed technical solution relates to the field of controlled thermonuclear fusion (CTF), in particular when it is important to initiate a TCF to know both the spectral distribution of radiation and its total power exceeding 10 14 W in the soft X-ray range with a characteristic X-ray pulse duration of several nanoseconds.
Уровень техникиState of the art
Тепловое излучение горячей плазмы в исследованиях по инерциальному управляемому термоядерному синтезу (УТС) является последним и непосредственным источником энергии для зажигания термоядерной мишени. Для исследований важно знать как спектральное распределение излучения, так и его полную мощность, превосходящую 1014 Вт, в мягком рентгеновском диапазоне. Характерная длительность импульса рентгеновского излучения составляет несколько наносекунд. Традиционные болометры, основанные на изменении их электрического сопротивления под действием нагрева излучением, для полного поглощения излучения должны быть достаточно толстыми, что приводит к увеличению временного разрешения до непозволительных десятков наносекунд. Быстрые вакуумные фотоэмиссионные диоды имеют изрезанную спектральную характеристику и не могут обеспечить необходимую точность измерений в широком спектральном интервале. Полупроводниковые детекторы; алмазные PCD (Photoconductive detectors) и кремниевые AXUV, - наряду с хорошим временным разрешением (~10-10 с) имеют гладкую и слабо меняющуюся в широком интервале энергий квантов спектральную характеристику. Но без какого-либо ослабления излучения детектор необходимо было бы расположить на значительном удалении от плазмы, например на импульсном генераторе тока Z (Сандия, США) на ~300 м, что влечет за собой ряд серьезных технических проблем. В настоящее время измерение мощности чаще всего производится с помощью вакуумных фотоэмиссионных диодов или быстрых полупроводниковых детекторов в нескольких узких спектральных интервалах, определяемых селективными фильтрами и зеркалами (H.N.Kornblum, R.L.Kauffman, J.A.Smith, Rev. Sci. Instrum. 57, 2179, (1986)). Однако такое измерение создает проблему домысливания спектра в промежутках между ними.Thermal radiation from a hot plasma in studies of inertial controlled thermonuclear fusion (CTF) is the last and direct source of energy for igniting a thermonuclear target. For research it is important to know both the spectral distribution of radiation and its total power exceeding 10 14 W in the soft x-ray range. The characteristic duration of an X-ray pulse is several nanoseconds. Traditional bolometers, based on a change in their electrical resistance under the influence of heating by radiation, must be thick enough to completely absorb radiation, which leads to an increase in the time resolution to impermissible tens of nanoseconds. Fast vacuum photoemissive diodes have a rugged spectral characteristic and cannot provide the necessary measurement accuracy in a wide spectral range. Semiconductor detectors; Diamond PCDs (Photoconductive detectors) and silicon AXUVs, along with good temporal resolution (~ 10 -10 s) have a spectral characteristic that is smooth and varies slightly over a wide range of quantum energies. But without any attenuation of the radiation, the detector would have to be located at a considerable distance from the plasma, for example, on a pulsed current generator Z (Sandia, USA) ~ 300 m, which entails a number of serious technical problems. Currently, power measurements are most often performed using vacuum photoemissive diodes or fast semiconductor detectors in several narrow spectral ranges determined by selective filters and mirrors (HNKornblum, RLKauffman, JASmith, Rev. Sci. Instrum. 57, 2179, (1986)). However, such a measurement poses a problem of speculating the spectrum in between.
Известно также решение - прототип [R.Е.Turner, О.L.Landen, P.Bell, R.Costa, D.Hargrove. Review of Scientific Instruments V.70, No.1, p.656-658, (1999)], в котором для измерения мощности мягкое рентгеновское излучение от источника направляют через ослабитель на детектор, имеющий постоянную чувствительность в широком спектральном интервале.A solution is also known - the prototype [R.E. Turner, O. L. Landen, P. Bell, R. Costa, D. Hargrove. Review of Scientific Instruments V.70, No.1, p.656-658, (1999)], in which, for measuring power, soft X-rays from a source are directed through an attenuator to a detector having constant sensitivity over a wide spectral range.
В предложенной системе ТЕР (Total Energy and Power) используют гладкую и слабо меняющуюся в широком интервале энергий квантов спектральную характеристику полупроводниковых детекторов: алмазных PCD и кремниевых AXUV, - для измерения полной мощности мягкого рентгеновского излучения.The proposed TEP system (Total Energy and Power) uses a smooth and slightly varying spectral characteristic of semiconductor detectors: diamond PCD and silicon AXUV, which varies slightly over a wide range of quantum energies, to measure the total power of soft x-ray radiation.
В качестве ослабителя в системе установлен ахроматический ослабитель для всего интересного спектрального интервала; он позволяет согласовать чрезмерную чувствительность полупроводниковых детекторов с тераваттной мощностью излучателя.As an attenuator, an achromatic attenuator is installed in the system for the entire interesting spectral range; it allows you to match the excessive sensitivity of semiconductor detectors with terawatt emitter power.
В прототипе и работе Н.C.Ives, W.A.Stygar, D.L.Fehl, Phys. Rev. Special Topics - Accelerators and Beams 9, 110401 (2006) в качестве ослабителя излучения используется диафрагма с маленькими отверстиями, на которых происходит дифракция излучения и существенное уменьшение его интенсивности на удаленном от диафрагмы детекторе. При этом геометрия диафрагмы позволяет равномерно уменьшить интенсивность в широком спектральном диапазоне излучения.In the prototype and the work of H.C. Ives, W. A. Stygar, D. L. Fehl, Phys. Rev. Special Topics - Accelerators and Beams 9, 110401 (2006) as a radiation attenuator, a diaphragm with small holes is used to diffract the radiation and significantly reduce its intensity at a detector remote from the diaphragm. Moreover, the geometry of the diaphragm allows you to uniformly reduce the intensity in a wide spectral range of radiation.
Техническим результатом является: 1 - альтернатива ахроматического ослабления и измерения полной мощности мягкого рентгеновского излучения в широком спектральном интервале; 2 - возможность в рамках одной конструкции устройства оперативного изменения измеряемого спектрального интервала, изменяя только угол скольжения и материал рассеивателя; 3 - возможность в рамках одной конструкции оперативно менять коэффициент ослабления устройства, изменяя только радиус кривизны сферической рассеивающей поверхности.The technical result is: 1 - an alternative to achromatic attenuation and measurement of the total power of soft x-rays in a wide spectral range; 2 - the possibility, within the framework of one design of the device, of an operational change in the measured spectral interval, changing only the slip angle and the diffuser material; 3 - the ability within one design to quickly change the attenuation coefficient of the device, changing only the radius of curvature of a spherical scattering surface.
Раскрытие изобретенияDisclosure of invention
Для достижения указанного результата предложен способ измерения мощности мягкого рентгеновского излучения, заключающийся в том, что излучение от источника направляют через ослабитель и детектор, имеющий постоянную чувствительность в широком спектральном интервале, отличающийся тем, что направляют излучение на ослабитель, выполненный в виде участка поверхности сферической формы, под углом скольжения α, обеспечивающим полное внешнее отражение и ограничение измеряемого спектрального интервала с высокоэнергичной границы, и регистрируют мощность излучения детектором, расположенным на расстоянии L от ослабителя, при этом величина ослабления излучения N~(L/r)2, где r - радиус кривизны сферической поверхности. При этом угол скольжения равен 0,2÷6 градусов.To achieve this result, a method is proposed for measuring the power of soft x-ray radiation, which consists in sending radiation from a source through an attenuator and a detector having constant sensitivity in a wide spectral range, characterized in that the radiation is directed to an attenuator made in the form of a spherical surface area , at a slip angle α, providing complete external reflection and limitation of the measured spectral interval from the high-energy boundary, and register they emit radiation power with a detector located at a distance L from the attenuator, and the radiation attenuation is N ~ (L / r) 2 , where r is the radius of curvature of the spherical surface. In this case, the slip angle is 0.2 ÷ 6 degrees.
Также предложено устройство для измерения мощности мягкого рентгеновского излучения, включающее установленные по ходу излучения ослабитель и детектор, имеющий постоянную чувствительность в широком спектральном интервале, при этом ослабитель выполнен в виде участка поверхности сферической формы с радиусом кривизны r, детектор установлен на расстоянии L от ослабителя, в секторе, ограниченном углом скольжения α, обеспечивающим полное внешнее отражение и ограничение измеряемого спектрального интервала с высокоэнергичной границы, а величина ослабления излучения N связана с радиусом кривизны сферы r и расстоянием L между ослабителем и детектором квадратичной зависимостью: N~(L/r)2.Also proposed is a device for measuring the power of soft x-ray radiation, including a attenuator installed along the radiation and a detector having constant sensitivity in a wide spectral range, while the attenuator is made in the form of a portion of a spherical surface with a radius of curvature r, the detector is installed at a distance L from the attenuator, in a sector bounded by the slip angle α, providing full external reflection and limiting the measured spectral interval from the high-energy boundary, the cause of attenuation of radiation N is related to the radius of curvature of the sphere r and the distance L between the attenuator and the detector by a quadratic dependence: N ~ (L / r) 2 .
При этом угол скольжения α составляет 0,2÷6 градусов.The slip angle α is 0.2 ÷ 6 degrees.
Кроме того, перед ослабителем может быть установлена ограничивающая диафрагма.In addition, a restriction diaphragm can be installed in front of the attenuator.
Для инициирования УГС важно знать как спектральное распределение излучения, так и его полную мощность, превосходящую 1014 Вт, в мягком рентгеновском диапазоне. Характерная длительность импульса рентгеновского излучения составляет несколько наносекунд.To initiate a GHS, it is important to know both the spectral distribution of the radiation and its total power exceeding 10 14 W in the soft x-ray range. The characteristic duration of an X-ray pulse is several nanoseconds.
Предлагается способ и устройство для измерения коротких мощных импульсов мягкого рентгеновского излучения на основе полупроводникового детектора, имеющего практически постоянную (обычное отклонение ±10%) спектральную характеристику и высокое (лучше 1 нс) временное разрешение, и равномерного ослабления излучения в широком спектральном интервале.A method and apparatus is proposed for measuring short high-power pulses of soft x-ray radiation based on a semiconductor detector having an almost constant (standard deviation of ± 10%) spectral characteristic and high (better than 1 ns) time resolution, and uniform attenuation of radiation in a wide spectral range.
Известно свойство внешнего отражения рентгеновского излучения от гладкой поверхности при малых углах скольжения. При этом коэффициент отражения на высокоэнергичной границе излучения имеет резкий обрыв, оставаясь для широкого спектрального интервала более мягкого излучения почти постоянным и близким к единице для широкого набора материалов (http://henke.lbl.gov/optical_constants/mirror2.html). Если рентгеновское излучение будет направлено под малым углом скольжения на участок сферической (двояковыпуклой) поверхности, то широкий спектральный интервал, ограниченный с высокоэнергичной стороны величиной этого угла, отразится практически без искажения; а форма поверхности позволит многократно уменьшить интенсивность излучения на небольшом удалении детектора за счет квадратичного рассеяния.The property of the external reflection of x-rays from a smooth surface at small slip angles is known. In this case, the reflection coefficient at the high-energy radiation boundary has a sharp break, remaining almost constant and close to unity for a wide range of materials for the wide spectral range of softer radiation (http://henke.lbl.gov/optical_constants/mirror2.html). If the x-ray radiation is directed at a small angle of slip to a portion of a spherical (biconvex) surface, then a wide spectral range, limited on the high-energy side by the magnitude of this angle, will be reflected practically without distortion; and the shape of the surface will significantly reduce the radiation intensity at a small distance from the detector due to quadratic scattering.
В отличие от прототипа, где равномерным ослабителем излучения является диафрагма с большим количеством маленьких регулярно расположенных отверстий, на которых происходит дифракция излучения и существенное уменьшение его интенсивности на удаленном от диафрагмы детекторе, в предлагаемом способе равномерное ослабление излучения производится за счет квадратичного в зависимости от удаления детектора рассеяния на сферической поверхности и практически постоянного при скользящем падении коэффициента отражения в широком спектральном интервале, резко ограниченном (ширина границы меньше граничного значения энергии квантов) с высокоэнергичной стороны величиной угла скольжения.In contrast to the prototype, where the uniform radiation attenuator is a diaphragm with a large number of small regularly located holes on which radiation diffraction and a significant decrease in its intensity are detected at a detector remote from the diaphragm, in the proposed method, the radiation is uniformly attenuated due to a quadratic depending on the detector removal scattering on a spherical surface and almost constant with a sliding fall of the reflection coefficient in a wide spectral ervale sharply limited (less than the width of the boundary limit value quanta energy) from the high-energy side slip angle value.
Сферический рассеиватель не является новым объектом, он известен, например, как сфера Ламберта, равномерно отражающая свет по всем направлениям (http://lib.aanet.ru/pdf/kafedra22/e5.pdf, стр.11). Но сферическая поверхность не использовалась для равномерного ослабления мягкого рентгеновского излучения при малых углах скольжения и вырезания требуемого спектрального интервала. Предлагаемый способ и устройство являются не только альтернативой измерения полной мощности мягкого рентгеновского излучения в широком спектральном интервале, но и позволяют оперативно менять в рамках одной конструкции измеряемый спектральный интервал, изменяя угол скольжения и материал рассеивателя, и коэффициент ослабления, изменяя радиус кривизны сферической рассеивающей поверхности.The spherical diffuser is not a new object, it is known, for example, as the Lambert sphere, uniformly reflecting light in all directions (http://lib.aanet.ru/pdf/kafedra22/e5.pdf, p. 11). But the spherical surface was not used to uniformly attenuate soft X-rays at small glide angles and cut out the required spectral range. The proposed method and device is not only an alternative to measuring the total power of soft x-ray radiation in a wide spectral range, but also allows you to quickly change the measured spectral range within one design by changing the sliding angle and the material of the diffuser, and the attenuation coefficient, changing the radius of curvature of the spherical scattering surface.
Необходимым и общим с прототипом элементом способа и устройства измерения является детектор, например полупроводниковый PCD, имеющий практически постоянную спектральную характеристику (не более 10% от средней чувствительности) и высокое временное разрешение (~10-10 с).A necessary and common element of the measurement method and device with the prototype is a detector, for example, a semiconductor PCD having a practically constant spectral characteristic (not more than 10% of the average sensitivity) and high temporal resolution (~ 10 -10 s).
Предложенное решение поясняется чертежами.The proposed solution is illustrated by drawings.
На фиг.1 показана схема устройства.Figure 1 shows a diagram of a device.
На фиг.2 показано графически в осях: «коэффициент отражения» и «энергия квантов в электроновольтах» - коэффициент отражения мягкого рентгеновского излучения от поверхности ослабителя.Figure 2 shows graphically in the axes: "reflection coefficient" and "quantum energy in electron volts" is the reflection coefficient of soft x-ray radiation from the surface of the attenuator.
На фиг.1 обозначены:Figure 1 marked:
1 - сферическая поверхность радиуса r (или ее часть),1 - spherical surface of radius r (or part thereof),
2 - детектор, удаленный от сферы на расстояние L,2 - a detector remote from the sphere at a distance L,
3 - диафрагма с отверстием,3 - diaphragm with a hole,
4 - источник мягкого рентгеновского излучения,4 - source of soft x-ray radiation,
h□ - границы пучка мягкого рентгеновского излучения,h □ - the boundaries of the beam of soft x-ray radiation,
α - угол скольжения при падении излучения на сферу и отражении от нее.α is the slip angle when radiation is incident on the sphere and reflected from it.
Устройство состоит (см. фиг.1) из 1 - сферической поверхности радиуса r (или ее части), 2 - детектора, удаленного от сферы на расстояние L, и 3 - диафрагмы с отверстием.The device consists (see Fig. 1) of 1 - a spherical surface of radius r (or part thereof), 2 - a detector remote from the sphere at a distance L, and 3 - a diaphragm with a hole.
Сплошными тонкими линиями с надписью h□ обозначены границы пучка мягкого рентгеновского излучения, α - угол скольжения при падении излучения на сферу и отражении от нее. Мягкое рентгеновское излучение от источника 4 пропускают через диафрагму с отверстием 3, ограничивающую световой поток во избежание паразитной засветки детектора, и направляют под углом скольжения α на сферу 1 так, чтобы отраженное под углом α излучение попало на детектор 2. В зависимости от угла α и материала, из которого сфера изготовлена, из всего спектра излучения источника за счет эффекта внешнего отражения вырезается ограниченный только со стороны высокоэнергичных квантов спектральный интервал. Равномерность отражения внутри этого интервала задают углом α, материалом и чистотой обработки поверхности сферы в зависимости от требований, предъявляемых к точности измерений. Например, по данным http://henke.lbl.gov/optical_constants/mirror2.html для кварцевой сферы с шероховатостью поверхности 1 нм при угле скольжения α=0,4 градуса неравномерность отражения не превышает 10% в интервале hνmax<4 кэВ (фиг.2, сплошная линия). Предлагаемый способ и устройство позволяют оперативно менять измеряемый спектральный интервал, изменяя угол скольжения и материал рассеивателя. Так, если поставить сферу из LiF с шероховатостью поверхности 1 нм, то при угле скольжения α=3 градуса неравномерность отражения не превышает 7% в интервале hνmax<0,4 кэВ (фиг.2, штриховая линия). Наиболее актуальные для решаемой задачи интервалы энергий квантов ограничиваются сверху величиной hνmax<6÷0,2 кэВ при углах скольжения, составляющих α=0,2÷6 градусов соответственно. Вследствие того что детектор имеет конечные размеры, на него попадает излучение, отраженное от сферы под разными углами. Под углом α понимается максимальный угол, отражаясь под которым от сферы, излучение попадает на детектор.Solid thin lines with the inscription h □ denote the boundaries of the soft x-ray beam, α is the slip angle when radiation falls on the sphere and reflects from it. Soft X-ray radiation from source 4 is passed through a diaphragm with a hole 3, restricting the light flux to avoid spurious illumination of the detector, and is directed at a sliding angle α to sphere 1 so that the radiation reflected at an angle α reaches the detector 2. Depending on the angle α and of the material from which the sphere is made, from the entire radiation spectrum of the source, due to the effect of external reflection, a spectral interval limited only by high-energy quanta is cut out. The uniformity of reflection within this interval is determined by the angle α, material, and surface finish of the sphere, depending on the requirements for the accuracy of measurements. For example, according to http://henke.lbl.gov/optical_constants/mirror2.html for a quartz sphere with a surface roughness of 1 nm at a glancing angle α = 0.4 degrees, the non-uniformity of reflection does not exceed 10% in the interval hν max <4 keV ( 2, solid line). The proposed method and device allows you to quickly change the measured spectral interval, changing the slip angle and the material of the diffuser. So, if we put a sphere of LiF with a surface roughness of 1 nm, then at a glancing angle α = 3 degrees, the non-uniformity of reflection does not exceed 7% in the interval hν max <0.4 keV (Fig. 2, dashed line). Quantum energy intervals most relevant for the problem to be solved are limited from above to hν max <6 ÷ 0.2 keV for slip angles of α = 0.2 ÷ 6 degrees, respectively. Due to the fact that the detector has finite dimensions, it receives radiation reflected from the sphere at different angles. The angle α is understood as the maximum angle, reflected under which from the sphere, the radiation enters the detector.
Освещенность детектора уменьшается по сравнению с освещенностью участка сферы пропорционально квадрату величины (L/r), например, на удалении L=1 м и r=1 см в 104 раз.The illumination of the detector decreases in comparison with the illumination of a portion of the sphere in proportion to the square of the value (L / r), for example, at a distance of L = 1 m and r = 1 cm by 10 4 times.
Предлагаемый способ и устройство позволяют оперативно менять коэффициент ослабления, заменяя только рассеивающую сферу на другую сферу или двояковыпуклую поверхность, отличающуюся кривизной, что является актуальным при проведении экспериментов на установках УТС.The proposed method and device allows you to quickly change the attenuation coefficient, replacing only the scattering sphere with another sphere or a biconvex surface that differs in curvature, which is relevant when conducting experiments on fusion installations.
Claims (5)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2010115524/28A RU2422854C1 (en) | 2010-04-20 | 2010-04-20 | Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2010115524/28A RU2422854C1 (en) | 2010-04-20 | 2010-04-20 | Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2422854C1 true RU2422854C1 (en) | 2011-06-27 |
Family
ID=44739376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2010115524/28A RU2422854C1 (en) | 2010-04-20 | 2010-04-20 | Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2422854C1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114859392A (en) * | 2022-03-24 | 2022-08-05 | 西北核技术研究所 | System and method for measuring soft X-ray energy fluence by utilizing pinhole array |
-
2010
- 2010-04-20 RU RU2010115524/28A patent/RU2422854C1/en not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| R.E.TURNER, O.L.LANDEN, P.BELL, R.COSTA, AND D.HARGROVE. "REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS" V.70, No.1, PP.656-658, 1999. * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114859392A (en) * | 2022-03-24 | 2022-08-05 | 西北核技术研究所 | System and method for measuring soft X-ray energy fluence by utilizing pinhole array |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bilheux et al. | Overview of the conceptual design of the future VENUS neutron imaging beam line at the Spallation Neutron Source | |
| Singh et al. | Characterization of variability in blazar light curves | |
| RU2422854C1 (en) | Method of measuring soft x-ray radiation power and device to this end | |
| Neiser et al. | Optical performance of the Naval Research Laboratory's materials analysis beam line at the NSLS | |
| Cesar et al. | Ultrafast gating of a mid-infrared laser pulse by a sub-pC relativistic electron beam | |
| Drake et al. | Hydrodynamic expansion of exploding‐foil targets irradiated by 0.53 μm laser light | |
| Vukolov et al. | Electron beam diagnostics tool based on Cherenkov radiation in optical fibers | |
| Kovantsev et al. | Capillary‐based x‐ray collector/collimator for diffraction applications | |
| Guckes et al. | Comparison of simulated and experimentally measured detector impulse responses to pulsed x-rays | |
| Kim et al. | Measurement of DT fusion and neutron-induced gamma-rays using gas Cherenkov Detector | |
| Schumacher | Characterization Studies of Silicon Photomultipliers: Noise and Relative Photon Detection Efficiency | |
| Bolotnikov et al. | Use of a pulsed laser to study properties of CdZnTe pixel detectors | |
| Zhang et al. | Study of the performance of a streaked optical pyrometer system for temperature measurement of shocked materials | |
| Burkhalter et al. | Continuum x-ray emission spectra from laser-produced plasmas at 10 16 W/cm 2 | |
| Vanier et al. | Design of a large-area fast neutron directional detector | |
| Zhu et al. | Bolometer measurements of the radiated power and estimates of the effective ion charge Zeff on the Keda Torus eXperiment | |
| Duspayev et al. | Glass-based charged particle detector performance for Horizon-T EAS detector system | |
| Yudan et al. | Study on calibration of chromium CdTe detector using MCNP simulation and experimental methods | |
| Shepherd et al. | Absolute calibration of imaging atmospheric Cherenkov telescopes | |
| Bernabeu et al. | ALIBAVA silicon microstrip readout system for educational purposes | |
| Xie et al. | The accurate measurement of pulse energy by pyroelectric energy sensors for LHAASO-WFCTA calibration | |
| Barykov et al. | Dielectric Detector of Intense X-Ray Radiation Fluxes | |
| Scannavini et al. | A possible role for silicon microstrip detectors in nuclear medicine: Compton imaging of positron emitters | |
| Huq et al. | An energy sensitive Čerenkov detector with improved optical focussing | |
| Kawado et al. | Time‐resolved x‐ray measurement system for studying the lattice deformation of semiconductor crystals under laser irradiation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20190421 |