RU2362149C1 - Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition - Google Patents
Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition Download PDFInfo
- Publication number
- RU2362149C1 RU2362149C1 RU2008100895/28A RU2008100895A RU2362149C1 RU 2362149 C1 RU2362149 C1 RU 2362149C1 RU 2008100895/28 A RU2008100895/28 A RU 2008100895/28A RU 2008100895 A RU2008100895 A RU 2008100895A RU 2362149 C1 RU2362149 C1 RU 2362149C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radiation
- phase
- intensity
- concentration
- sample
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к физическим методам анализа химического и фазового состава вещества, объединяет два метода - рентгенофлуоресцентный и рентгенофазовый, и может быть использовано в различных отраслях промышленности, при исследовании минерального сырья, горных пород и почв, при определении концентраций минералов, промпродуктов и т.п. Особенно интересен данный метод при моделировании процессов минералообразования, позволяющих оценивать перспективность отложений для накопления и сохранения нефти и газа.The invention relates to physical methods for analyzing the chemical and phase composition of a substance, combines two methods - X-ray fluorescence and X-ray phase, and can be used in various industries, in the study of minerals, rocks and soils, in determining the concentrations of minerals, industrial products, etc. This method is especially interesting when modeling mineral formation processes, which make it possible to evaluate the prospects of deposits for the accumulation and preservation of oil and gas.
Известен способ определения тяжелых металлов в породах и рудах по характеристическому рентгеновскому излучению этих элементов, возбуждаемых под воздействием гамма-излучения источника, при экспресс-анализах продуктов обогащения и переработки руд в процессе эксплуатации месторождений. Для сокращения количества измерений и упрощения методики их проведения в условиях естественного залегания пород и руд производят одновременное измерение интенсивностей вторичного излучения в двух участках спектра, расположенных по разные стороны от К-края поглощения искомого элемента (SU 171482, МПК H05d, опубликовано 26.05.1965). Содержание искомого элемента находят по величине отношения интенсивностей в двух указанных участках спектра вторичного излучения. С целью одновременного определения нескольких элементов производят одновременное измерение интенсивностей вторичного излучения в участках спектра, расположенных по разные стороны от К-краев поглощения каждого элемента. Недостатком указанного способа является неполная информация об анализируемом веществе, что снижает точность анализа.A known method for the determination of heavy metals in rocks and ores by the characteristic x-ray radiation of these elements, excited under the influence of gamma radiation of the source, during rapid analysis of products of concentration and processing of ores in the process of exploitation of deposits. To reduce the number of measurements and simplify the methodology for conducting them under conditions of natural occurrence of rocks and ores, the secondary radiation intensities are simultaneously measured in two parts of the spectrum located on opposite sides of the K-edge of absorption of the desired element (SU 171482, IPC H05d, published May 26, 1965) . The content of the desired element is found by the magnitude of the intensity ratio in the two indicated sections of the secondary radiation spectrum. In order to simultaneously determine several elements, the secondary radiation intensities are simultaneously measured in spectral regions located on different sides of the K-edges of absorption of each element. The disadvantage of this method is the incomplete information about the analyte, which reduces the accuracy of the analysis.
Известен способ определения концентрации фазы в веществе сложного химического состава, включающий облучение пробы анализируемого вещества монохроматическим гамма- или рентгеновским излучением, регистрацию интенсивностей когерентно рассеянного определяемой фазой первичного излучения. Способ предусматривает, что одновременно или последовательно с регистрацией указанной интенсивности регистрируют интенсивность некогерентно рассеянного этой же пробой первичного излучения, а затем по отношению указанных интенсивностей устанавливают концентрацию определяемой фазы (RU 2255328, МПК G01N 23/20, опубликовано 27.06.2005). Способ прост в реализации и позволяет снизить влияние химического состава пробы на ошибку измерения, что повышает точность. Однако способ не позволяет получить полную информацию об анализируемом веществе, а именно о концентрации элемента, входящего в определяемую фазу, и не обеспечивает точность получаемых результатов, соответствующих современным требованиям исследований.A known method for determining the phase concentration in a substance of complex chemical composition, including irradiating a sample of the analyte with monochromatic gamma or X-ray radiation, recording the intensities of the primary radiation coherently scattered by the determined phase. The method provides that, simultaneously or sequentially with the registration of the indicated intensity, the intensity of the primary radiation incoherently scattered by the same sample is recorded, and then the concentration of the detected phase is established with respect to the indicated intensities (RU 2255328, IPC G01N 23/20, published June 27, 2005). The method is simple to implement and allows to reduce the influence of the chemical composition of the sample on the measurement error, which increases the accuracy. However, the method does not allow to obtain complete information about the analyte, namely, about the concentration of the element included in the determined phase, and does not provide the accuracy of the results obtained that meet modern research requirements.
В основу изобретения положена техническая задача создания высокоточного и высокоэкспрессного способа определения концентраций элемента и фазы, включающей данный элемент, в веществах сложного химического состава, обеспечивающего возможность существенно расширить информацию об анализируемом веществе.The basis of the invention is the technical task of creating a high-precision and high-express method for determining the concentrations of an element and a phase containing this element in substances of complex chemical composition, which makes it possible to significantly expand information about the analyte.
Указанная задача решается тем, что предложен способ определения концентраций элемента и фазы, включающий данный элемент, в веществе сложного химического состава, характеризующийся тем, что осуществляют облучение пробы анализируемого вещества монохроматическим гамма- или рентгеновским излучением, одновременную регистрацию интенсивностей: когерентно рассеянного определяемой фазой первичного излучения и некогерентно рассеянного этой же пробой первичного излучения и установление концентрации определяемой фазы по отношению указанных интенсивностей, при этом одновременно с регистрацией указанных интенсивностей регистрируют интенсивность характеристического излучения определяемого элемента, а концентрацию определяемого элемента в анализируемой пробе устанавливают по отношению интенсивности характеристического излучения определяемого элемента к интенсивности некогерентно рассеянного этой же пробой излучения.This problem is solved by the fact that the proposed method for determining the concentration of an element and phase, including this element, in a substance of complex chemical composition, characterized in that the samples of the analyte are irradiated with monochromatic gamma or X-ray radiation, while the intensities are recorded: the primary radiation is coherently scattered by the detected phase and incoherently scattered by the same breakdown of the primary radiation and the determination of the concentration of the detected phase in relation to intensities at the same time with registration of said intensities is recorded the intensity of the characteristic radiation of the element and the concentration of the element in the sample set relative intensities of the characteristic radiation of the element to the intensity of incoherent scattered radiation of the same sample.
Предлагаемый способ объединяет два направления: рентгеноспектральный и рентгенофазовый. В рентгеноспектральном анализе определяется концентрация того или иного элемента (например Fe, W или As), в рентгенофазовом анализе определяется концентрация той или иной фазы (например FeO, WO3 или As2SO4). Причем для анализа использовалось совершенно разное оборудование, основанное на разных физических принципах - рентгеновские спектрометры для рентгеноспектрального анализа и рентгеновские дифрактометры для рентгенофазового анализа. Создано новое направление анализа, основанное на интеграции этих разных методов. Отличительной особенностью способа является то, что одновременно дополнительно регистрируют Jj - интенсивность характеристического излучения определяемого элемента, его определяемой фазы и Jp - интенсивность некогерентно рассеянного (по Комптону) излучений, а затем по отношению указанных интенсивностей определяют концентрации элемента и фазы, включающей данный элемент.The proposed method combines two directions: x-ray spectral and x-ray phase. In the X-ray spectral analysis, the concentration of an element (for example Fe, W or As) is determined, in the X-ray phase analysis the concentration of one or another phase (for example FeO, WO 3 or As 2 SO 4 ) is determined. Moreover, for the analysis we used completely different equipment based on different physical principles - X-ray spectrometers for X-ray spectral analysis and X-ray diffractometers for X-ray phase analysis. A new line of analysis has been created based on the integration of these different methods. A distinctive feature of the method is that at the same time J j is additionally recorded - the intensity of the characteristic radiation of the element being determined, its detected phase and J p - is the intensity of incoherently scattered (according to Compton) radiation, and then the concentration of the element and phase including this element is determined by the ratio of the indicated intensities .
Таким образом, концентрацию элемента определяют по отношению интенсивностиThus, the concentration of an element is determined by the ratio of intensity
Jj характеристического излучения к интенсивности Jp некогерентно рассеянному (по Комптону) излучению, а концентрацию фазы по отношению интенсивности Ji когерентно рассеянного определяемой фазой первичного излучения (дифракционного максимума (рефлекса) определяемой фазы) к интенсивности Jp некогерентно рассеянного этой же пробой (по Комптону) первичного излучения.J j of characteristic radiation to the intensity J p of incoherently scattered (according to Compton) radiation, and the phase concentration relative to the intensity J i of the primary radiation (diffraction maximum (reflection) of the detected phase) coherently scattered by the phase determined) to the intensity J p of incoherently scattered by the same breakdown (by Compton) primary radiation.
Теория метода спектральных отношений подробно изложена в различных работах (например, Мамиконян С.В. Аппаратура и методы флуоресцентного рентгене- радиометрического анализа. - М.: Атомиздат, 1976, с.29) и метод получил широкое распространение. Сущность метода состоит в определении концентрации искомого элемента хi, по отношению интенсивностей аналитических линий характеристического излучения этого элемента и некогерентно рассеянного (по Комптону) этой же пробой первичного излучения, что позволяет учитывать влияние вещественного состава на результаты анализа (матричный эффект). Предлагаемый способ основывается на методе спектральных отношений при рентгенофлуоресцентном анализе и разработанном автором способе определения концентрации фазы при рентгенофазовом анализе.The theory of the method of spectral relations is described in detail in various works (for example, Mamikonyan S.V. Apparatus and methods of fluorescence X-ray radiometric analysis. - M .: Atomizdat, 1976, p.29) and the method has been widely used. The essence of the method is to determine the concentration of the desired element x i, according to the ratio of the intensities of the analytical lines of the characteristic radiation of this element and the primary radiation incoherently scattered (according to Compton), which allows taking into account the influence of the material composition on the analysis results (matrix effect). The proposed method is based on the method of spectral relations in x-ray fluorescence analysis and a method developed by the author for determining the phase concentration in x-ray phase analysis.
Теоретические основы метода.The theoretical basis of the method.
Убыль энергии первичного пучка из-за поглощения в пробе дается выражениемThe decrease in the energy of the primary beam due to absorption in the sample is given by the expression
где Jo - интенсивность первичного пучка; J - интенсивность первичного пучка после прохождения слоя вещества толщиной d; µ - линейный коэффициент поглощения, см-1.where J o is the intensity of the primary beam; J is the intensity of the primary beam after passing through a layer of matter of thickness d; µ is the linear absorption coefficient, cm -1 .
Выражение (1) справедливо для строго монохроматического излучения [так как µ=f(λ), где λ - длина волны излучения] и однородного вещества пробы.Expression (1) is valid for strictly monochromatic radiation [since μ = f (λ), where λ is the radiation wavelength] and a homogeneous sample substance.
В основе всех методов количественного фазового анализа лежит следующее фундаментальное уравнение (Герасимов В.Н. и др. Руководство по рентгеновскому исследованию минералов. Л.: Недра, 1975, с.100):The basis of all the methods of quantitative phase analysis is the following fundamental equation (Gerasimov V.N. et al. Manual for X-ray study of minerals. L .: Nedra, 1975, p. 100):
где Ji - интенсивность некоторого выбранного рефлекса фазы i;where J i is the intensity of some selected reflex of phase i;
KI - экспериментальная постоянная, зависящая от энергии первичного пучка, от структуры анализируемой фазы, индексов (hkl) и условий съемки; µi * - массовый коэффициент поглощения фазы i;K I is the experimental constant, depending on the energy of the primary beam, on the structure of the analyzed phase, indices (hkl), and shooting conditions; µ i * is the mass absorption coefficient of phase i;
хi - содержание фазы i в пробе, %; ρi - плотность фазы i.x i is the content of phase i in the sample,%; ρ i is the density of phase i.
Массовый коэффициент поглощения не зависит от агрегатного состояния вещества.The mass absorption coefficient does not depend on the state of aggregation of the substance.
При выводе формулы (2) предполагалось, что дифракция происходит от поверхности плоского образца (съемка на отражение), составленного однородной смесью n компонентов, причем толщина образца бесконечна.When deriving formula (2), it was assumed that diffraction occurs from the surface of a planar sample (reflection recording) composed of a homogeneous mixture of n components, and the sample thickness is infinite.
В предлагаемом способе показана возможность применения нового, на первый взгляд несколько неожиданного для количественного рентгенофазового анализа способа, сходного со способом стандарта - фона, широко применяемого в рентгенофлуоресцентном анализе (Косьянов П.М. Учет матричного эффекта при количественном рентгеновском анализе неорганического вещества. Монография. Челябинск. Изд. ЮУрГУ. 2005, с.170).The proposed method shows the possibility of using a new, at first glance somewhat unexpected method for quantitative x-ray phase analysis, similar to the standard method — the background that is widely used in x-ray fluorescence analysis (Kosyanov P.M. Accounting for the matrix effect in quantitative x-ray analysis of an inorganic substance. Monograph. Chelyabinsk Publishing House of SUSU. 2005, p. 170).
Дифрактограмма представляет собой пики дифракционных максимумов когерентно рассеянного первичного излучения различными фазами вещества анализируемой пробы, наложенные на сплошную линию фона, представляющего в том числе некогерентно рассеянное веществом анализируемой пробы первичное излучение. Если же использовать энергодисперсионный детектор, например кремний-литиевый, то на данном угле скольжения и рассеивания первичного излучения одновременно можно регистрировать пики когерентно рассеянного излучения определяемой фазы, некогерентно рассеянного по Комптону первичного излучения, и пики характеристического излучения элементов пробы, возбуждаемого первичным излучением.The diffraction pattern represents the peaks of the diffraction maxima of the coherently scattered primary radiation by the various phases of the substance of the analyzed sample, superimposed on a solid line of the background, which also represents the primary radiation incoherently scattered by the substance of the analyzed sample. If we use an energy-dispersive detector, for example, silicon-lithium, then at a given angle of gliding and scattering of the primary radiation, it is possible to simultaneously register peaks of coherently scattered radiation of a detected phase incoherently scattered by Compton primary radiation and peaks of characteristic radiation of sample elements excited by primary radiation.
Сущность данного способа заключается в том, что аналитическим параметром для определения концентрации данной фазы служит отношение Ji - когерентно рассеянного определяемой фазой первичного излучения (интенсивности измеряемого рефлекса фазы i) к интенсивности Jp некогерентно рассеянного анализируемым веществом пробы первичного рентгеновского излучения, а аналитическим параметром для определения концентрации данного элемента служит отношение Jj - интенсивности характеристического излучения определяемого элемента j к интенсивности Jp.The essence of this method is that the analytical parameter for determining the concentration of a given phase is the ratio of J i - the primary radiation coherently scattered by the determined phase (intensity of the measured phase i reflection) to the intensity J p of the primary x-ray sample incoherently scattered by the analyte, and the analytical parameter for determining the concentration of this element is the ratio of J j - the intensity of the characteristic radiation of the element being determined j to the intensity J p .
Легко увидеть аналогичность выражений (2) для определения Ji интенсивности измеряемого рефлекса фазы i и выражения для определения интенсивности j линии спектра флуоресценции анализируемого элемента, для монохроматического первичного излучения и бесконечно толстой пробыIt is easy to see the similarity of expressions (2) for determining the intensity i of the measured phase i reflection i and the expression for determining the intensity j of the fluorescence spectrum line of the analyzed element, for monochromatic primary radiation and an infinitely thick sample
где ki - коэффициент пропорциональности, не зависящий от химического состава пробы;where k i is the coefficient of proportionality, independent of the chemical composition of the sample;
Сa и См - содержание определяемого компонента и элементов наполнителя в пробе (Са+Cм=1);With a and C m - the content of the determined component and filler elements in the sample (C a + C m = 1);
моа и мiа - массовые коэффициенты поглощения первичного и характеристического излучения в определяемом компоненте;m oa and m ia are the mass absorption coefficients of the primary and characteristic radiation in the determined component;
мом и мiм - массовые коэффициенты поглощения первичного и характеристического излучения в наполнителе пробы;m ohm and m im - mass absorption coefficients of the primary and characteristic radiation in the filler of the sample;
φ и ψ - углы падения к поверхности пробы первичного и отбора характеристического излучений.φ and ψ are the angles of incidence to the surface of the primary sample and the selection of characteristic radiation.
Так как при снятии дифрактограммы углы падения и отбора равны, а в роли характеристического излучения выступает когерентно рассеянное первичное монохроматическое излучение, то есть моа=мiа и мом=мiм, то выражение (3) можно представить какSince when taking the diffractogram, the incidence and selection angles are equal, and the coherently scattered primary monochromatic radiation acts as the characteristic radiation, i.e., m oa = m ia and m ohm = m im , expression (3) can be represented as
где Ki=кi/sinφ - коэффициент пропорциональности, зависящий от геометрии съемки, но не зависящий от химического состава пробы.where K i = к i / sinφ is the proportionality coefficient, which depends on the geometry of the survey, but does not depend on the chemical composition of the sample.
Полученное выражение полностью коррелирует с выражением (2).The resulting expression fully correlates with expression (2).
Интенсивность некогерентно рассеянного анализируемой пробой излучения описывается следующим выражением:The intensity of radiation incoherently scattered by the analyzed breakdown is described by the following expression:
где кs - коэффициент пропорциональности, не зависящий от химического состава пробы;where k s is the coefficient of proportionality, independent of the chemical composition of the sample;
м2а и м2м - массовые коэффициенты поглощения рассеянного излучения соответственно в определяемой фазе и наполнителе пробы.m 2a and m 2m are the mass absorption coefficients of the scattered radiation, respectively, in the determined phase and filler of the sample.
В рассматриваемом случае выражение (5) можно представить какIn the case under consideration, expression (5) can be represented as
Как следует из выражений (3), (4) и (2), интенсивность определяемой фазы, так же как и интенсивность флуоресценции, убывает с ростом поглощающей способности анализируемой пробы. Аналогичным образом ведет себя зависимость интенсивности некогерентно рассеянного излучения от поглощающей способности пробы, что следует из выражений (5) и (6).As follows from expressions (3), (4) and (2), the intensity of the phase being determined, as well as the fluorescence intensity, decreases with increasing absorption capacity of the analyzed sample. The dependence of the incoherently scattered radiation intensity on the absorption capacity of the sample behaves in a similar way, which follows from expressions (5) and (6).
На основе проведенных исследований сделано заключение, что отношение вышеуказанных интенсивностей практически не зависит от матрицы пробы.Based on the studies, it was concluded that the ratio of the above intensities is practically independent of the sample matrix.
Если в качестве аналитического параметра η взять отношение Ji/Jp, то с учетом того, что массовый коэффициент поглощения первичного излучения не зависит от агрегатного состояния вещества, получим линейную зависимость аналитического параметра от содержания фазы i в пробеIf we take the ratio J i / J p as the analytical parameter η, then taking into account the fact that the mass absorption coefficient of the primary radiation does not depend on the state of aggregation of the substance, we obtain a linear dependence of the analytical parameter on the content of phase i in the sample
Таким образом, можно утверждать, что предположение о том, что отношение Ji/Jp незначительно зависит от матрицы пробы и может использоваться как аналитический параметр, теоретически обоснованно.Thus, it can be argued that the assumption that the ratio J i / J p slightly depends on the sample matrix and can be used as an analytical parameter is theoretically justified.
Техническая реализация предлагаемого способа в силу своей простоты легко осуществима на дифрактометрах с энергодисперсионными детекторами, которыми оснащаются современные дифрактометры.The technical implementation of the proposed method due to its simplicity is easily feasible on diffractometers with energy dispersive detectors, which are equipped with modern diffractometers.
Детектор устанавливается на угол дифракционного максимума измеряемой фазы, одновременно регистрируются интенсивность характеристического излучения определяемого элемента, интенсивность измеряемой фазы и интенсивность некогерентно рассеянного по Комптону излучения, после чего концентрация измеряемого элемента определяется по отношению интенсивностей Jj/Jp, концентрация измеряемой фазы определяется по отношению интенсивностей Jj/Jp, по градуировочному графику, построенному по эталонам с гарантированными концентрациями определяемых элемента и фазы. В данном методе наряду со значительным повышением экспрессности существенно повышается точность определения как за счет устранения матричного эффекта, так и за счет устранения динамических погрешностей, а также за счет повышения информативности анализа.The detector is mounted at the angle of diffraction maximum of the measured phase, at the same time the intensity of the characteristic radiation of the element being determined, the intensity of the measured phase and the intensity of radiation incoherently scattered by Compton are recorded, after which the concentration of the measured element is determined by the ratio of intensities J j / J p , the concentration of the measured phase is determined by the ratio of intensities J j / J p , according to the calibration graph, constructed according to standards with guaranteed concentrations, determines element and phase. In this method, along with a significant increase in expressivity, the accuracy of determination is significantly increased both by eliminating the matrix effect and by eliminating dynamic errors, as well as by increasing the information content of the analysis.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2008100895/28A RU2362149C1 (en) | 2008-01-09 | 2008-01-09 | Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2008100895/28A RU2362149C1 (en) | 2008-01-09 | 2008-01-09 | Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2362149C1 true RU2362149C1 (en) | 2009-07-20 |
Family
ID=41047263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2008100895/28A RU2362149C1 (en) | 2008-01-09 | 2008-01-09 | Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2362149C1 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2506570C1 (en) * | 2009-12-17 | 2014-02-10 | Термо Фишер Сайентифик (Экубленс) Сарл | Method and device for performance of x-ray analysis of sample |
| RU2524454C1 (en) * | 2013-04-11 | 2014-07-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный минерально-сырьевой университет "Горный" | Method of determining concentration of element in substance of complex chemical composition |
-
2008
- 2008-01-09 RU RU2008100895/28A patent/RU2362149C1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2506570C1 (en) * | 2009-12-17 | 2014-02-10 | Термо Фишер Сайентифик (Экубленс) Сарл | Method and device for performance of x-ray analysis of sample |
| RU2524454C1 (en) * | 2013-04-11 | 2014-07-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный минерально-сырьевой университет "Горный" | Method of determining concentration of element in substance of complex chemical composition |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4629158B1 (en) | X-ray fluorescence analysis method | |
| Markowicz | An overview of quantification methods in energy-dispersive X-ray fluorescence analysis | |
| García-Florentino et al. | A fast in situ non-invasive approach to classify mortars from a construction of high historical value | |
| Brocchieri et al. | Estimation of Ag coating thickness by different methods using a handheld XRF instrument | |
| Brocchieri et al. | Thickness determination of the gilding on brass materials by XRF technique | |
| Garmay et al. | Total reflection X-ray fluorescence analysis of highly mineralized water samples using relative intensities and scattered radiation | |
| RU2362149C1 (en) | Method of determining element concentration and phase of said element in substance with complex chemical composition | |
| Kempson et al. | Applications of synchrotron radiation in forensic trace evidence analysis | |
| Moya‐Riffo et al. | A procedure for overlapping deconvolution and the determination of its confidence interval for arsenic and lead signals in TXRF spectral analysis | |
| Li et al. | Authentication of vegetable oils by confocal X-ray scattering analysis with coherent/incoherent scattered X-rays | |
| Ene et al. | PIXE analysis of multielemental samples | |
| RU2367933C1 (en) | Method for detection of sulphur concentration in oil and oil products | |
| Xu et al. | Quantitative mineral analysis by FTIR spectroscopy | |
| Cauzid et al. | Standardless quantification of single fluid inclusions using synchrotron radiation induced X-ray fluorescence | |
| Mikhailov et al. | Method for the identification of substances by the ratio of the intensity of coherent to incoherent scattering | |
| Juvonen et al. | Evaluation of a total reflection X-ray fluorescence spectrometer in the determination of arsenic and trace metals in environmental samples | |
| RU2255328C1 (en) | Method of measuring phase concentration in complex chemical composition materials | |
| Alam et al. | Improvement of limit of detection sensitivities in the parts per billion range using conventional geometry synchrotron radiation excited EDXRF measurements | |
| da COSTA et al. | Development and characterization of a portable total reflection X-ray fluorescence system using a waveguide for trace elements analysis | |
| RU2432571C1 (en) | Method for x-ray spectrum determination of effective atomic number of material and apparatus for determining efficient atomic number of material | |
| Li et al. | Quantitative analysis of the elemental composition of ion liquid with confocal X-ray fluorescence based on peak to background ratio | |
| RU2524454C1 (en) | Method of determining concentration of element in substance of complex chemical composition | |
| RU2753164C1 (en) | Method for x-ray fluorescence analysis of concentration of elementary composition of substance | |
| Tiwari et al. | Multilayer mirror as a substrate for total reflection X-ray fluorescence spectrometry | |
| Maltsev et al. | New quantification approaches for total-reflection X-ray fluorescence analysis of micro-sized samples: Apatite case study |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20100110 |