RU2358314C1 - Method of simulating nuclear reactor reactivity - Google Patents

Method of simulating nuclear reactor reactivity Download PDF

Info

Publication number
RU2358314C1
RU2358314C1 RU2007137258/09A RU2007137258A RU2358314C1 RU 2358314 C1 RU2358314 C1 RU 2358314C1 RU 2007137258/09 A RU2007137258/09 A RU 2007137258/09A RU 2007137258 A RU2007137258 A RU 2007137258A RU 2358314 C1 RU2358314 C1 RU 2358314C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
array
memory device
time
reactivity
stored
Prior art date
Application number
RU2007137258/09A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Сергей Павлович Дашук (RU)
Сергей Павлович Дашук
Валерий Федорович Борисов (RU)
Валерий Федорович Борисов
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова" filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова"
Priority to RU2007137258/09A priority Critical patent/RU2358314C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2358314C1 publication Critical patent/RU2358314C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Abstract

FIELD: physics; computer engineering.
SUBSTANCE: present invention relates to hybrid computer technology and can be used for calibrating devices for measuring reactivity of nuclear reactors. In the process of step accessing memory on the first step, the first element of the second array is stored for time Δt, equal to the access cycle, in an auxiliary memory device. On each step, starting with the second, the stored element is replaced in the auxiliary memory device by the previous element of the second array and is stored for a time Δt. On each step, the first analogue signal is generated, the value of which is given by the current element of the second array, and the second analogue signal, the value of which is given by the stored array element of the auxiliary memory device. The difference between the second and first analogue signals is integrated on the time interval Δt under the condition for equality of constant integration time to the access cycle and the output signal is generated from the obtained integral signal.
EFFECT: reduction of memory, simplification of the design of the simulator, improvement of its size and weight characteristics, cutting on time for preparing data when programming the control unit of the simulator and reducing expenditure on components during manufacture.
3 dwg

Description

Изобретение относится к области аналого-цифровой вычислительной техники и может быть использовано для поверки приборов измерения реактивности ядерных реакторов (реактиметров).The invention relates to the field of analog-digital computer technology and can be used for calibration of reactivity measuring instruments for nuclear reactors (reactimeters).

Известен способ имитации сигнала реактивности, реализованный в [патент РФ №2211485, бюл. №24, 2003 г.], при котором формируют аналоговый сигнал, соответствующий изменению во времени мощностного параметра реактора для заданной реактивности, и по нему формируют выходные сигналы имитатора.A known method of simulating a reactivity signal, implemented in [RF patent No. 2211485, bull. No. 24, 2003], in which an analog signal is generated corresponding to a change in time of the reactor power parameter for a given reactivity, and the simulator output signals are generated from it.

Недостатком такого способа является то, что при его реализации, во-первых, имеет место весьма значительное время готовности имитатора к работе (до десяти минут) при переходе от одного режима к другому. Во-вторых, в процессе формирования выходного сигнала, соответствующего отрицательной реактивности, резко нарастает погрешность задания реактивности после третьей-четвертой декады изменения выходного сигнала («погрешность в дальнем поле»).The disadvantage of this method is that when it is implemented, firstly, there is a very significant time the simulator is ready to work (up to ten minutes) when switching from one mode to another. Secondly, in the process of generating the output signal corresponding to negative reactivity, the error in the task of reactivity sharply increases after the third or fourth decade of the change in the output signal (“error in the far field”).

Известен способ имитации сигнала реактивности, реализованный в [патент РФ №2287853, бюл. №32, 2006 г.], включающий формирование первого массива данных, соответствующих изменению во времени мощностного параметра ядерного реактора для заданной реактивности, нормировку первого массива на заданное число, сохранение второго массива, полученного в результате нормировки, в устройстве памяти и формирование по значениям второго массива управляющего воздействия. В этом способе устранены недостатки, присущие аналогу, но его недостатком является то, что при его реализации требуется большой объем устройства памяти в блоке программного управления имитатора и большое время подготовки данных при программировании блока управления имитатора.A known method of simulating a reactivity signal, implemented in [RF patent No. 2287853, bull. No. 32, 2006], including the formation of the first data array corresponding to the time variation of the power parameter of the nuclear reactor for a given reactivity, normalizing the first array by a given number, storing the second array obtained as a result of normalization in the memory device, and generating from the values of the second array of control action. This method has eliminated the inherent disadvantages of the analogue, but its disadvantage is that when it is implemented, a large amount of memory device in the simulator program control unit and a large data preparation time when programming the simulator control unit are required.

Задачей изобретения является создание способа имитации реактивности, позволяющего при его реализации в устройстве многократно сократить объем устройства памяти в блоке программного управления имитатора, что в свою очередь дает возможность упростить конструкцию имитатора, улучшить его массогабаритные характеристики, сократить время подготовки данных при программировании блока управления имитатора и снизить затраты на комплектующие при его изготовлении.The objective of the invention is to provide a method for simulating reactivity, which, when implemented in a device, can significantly reduce the amount of memory device in the simulator program control unit, which in turn makes it possible to simplify the simulator design, improve its weight and size characteristics, and reduce the data preparation time when programming the simulator control unit and reduce the cost of components in its manufacture.

Указанный результат достигается тем, что в известном способе имитации реактивности ядерного реактора, включающем формирование первого массива данных, соответствующих изменению во времени мощностного параметра реактора для заданной реактивности, нормировку первого массива на заданное число, сохранение второго массива, полученного в результате нормировки, в основном устройстве памяти и формирование управляющего воздействия с учетом пошаговой выборки значений второго массива из основного устройства памяти, в процессе пошаговой выборки значений второго массива из основного устройства памяти на первом шаге сохраняют первый элемент второго массива на время ∆t, равное периоду выборки, в дополнительном устройстве памяти, на каждом шаге, начиная со второго, заменяют сохраненный элемент в дополнительном устройстве памяти на предыдущий элемент второго массива и сохраняют его на время ∆t, на каждом шаге формируют первый аналоговый сигнал, величина которого задается текущим элементом массива основного устройства памяти, формируют второй аналоговый сигнал, величина которого задается сохраненным элементом массива дополнительного устройства памяти, интегрируют разность второго и первого аналоговых сигналов на интервале ∆t при условии равенства постоянной времени интегрирования периоду выборки и формируют выходной сигнал по полученному интегральному сигналу.The specified result is achieved by the fact that in the known method of simulating the reactivity of a nuclear reactor, which includes generating a first data array corresponding to a change in time of the reactor power parameter for a given reactivity, normalizing the first array by a given number, storing the second array obtained as a result of normalization in the main device memory and the formation of the control action, taking into account the step-by-step selection of the values of the second array from the main memory device, in the process of step-by-step selection the values of the second array from the main memory device at the first step store the first element of the second array for a time Δt equal to the sampling period in the additional memory device, at each step, starting from the second, replace the stored element in the additional memory device with the previous element of the second array and store it for a time ∆t, at each step they form the first analog signal, the value of which is set by the current element of the array of the main memory device, form the second analog signal, the value of which o is specified by the stored element of the array of the additional memory device, integrate the difference of the second and first analog signals on the interval Δt provided that the integration time constant is equal to the sampling period and an output signal is generated from the received integral signal.

При создании изобретения авторами было доказано, что для сокращения объема устройства памяти в блоке программного управления имитатора при имитации реактивности достаточно скомпенсировать погрешность, возникающую при уменьшении количества данных и связанному с этим снижению частоты их выборки, за счет линеаризации выходного дискретно изменяющегося аналогового сигнала имитатора.When creating the invention, the authors proved that in order to reduce the volume of the memory device in the simulator program control unit when reactivity is simulated, it is sufficient to compensate for the error that occurs when the amount of data decreases and the associated decrease in the sampling frequency due to the linearization of the output discretely varying analog signal of the simulator.

На Фиг.1 приведены графики, иллюстрирующие ступенчатую аппроксимацию мощностного сигнала ядерного реактора при различных частотах дискретизации, отличающихся в 5 раз. График на Фиг.1а соответствует пониженной частоте дискретизации, график на Фиг.1б соответствует повышенной частоте дискретизации. По осям абсцисс отложено время t в относительных единицах, по осям ординат отложены напряжения Uд, моделирующие мощностной сигнал в относительных единицах. Горизонтальными стрелками на графиках отмечен период обработки мощностного сигнала реактиметром. Вертикальными стрелками на графиках помечены интервалы δ1, δ2, δ3 измерения реактиметром мощностного сигнала, соответствующие периоду Тр для различных моментов времени. Буквами а и b, с и d, е и f, g и h обозначены точки на графиках с одинаковым временным интервалом Тр между ними.Figure 1 shows graphs illustrating the stepwise approximation of the power signal of a nuclear reactor at various sampling frequencies, differing 5 times. The graph in FIG. 1a corresponds to a reduced sampling frequency, the graph in FIG. 1b corresponds to an increased sampling frequency. The time t in relative units is plotted along the abscissa, the voltage U d , modeling the power signal in relative units, is plotted along the ordinate. The horizontal arrows in the graphs indicate the period of processing the power signal with a reactimeter. The vertical arrows in the graphs indicate the intervals δ 1 , δ 2 , δ 3 measured by a power signal with a reactimeter, corresponding to the period T p for various time instants. The letters a and b, c and d, e and f, g and h indicate the points on the graphs with the same time interval T p between them.

На Фиг.2 приведены графики изменения во времени относительной погрешности моделированиия реактивности заданной величины, равной - 0,1β, где β - эффективная доля запаздывающих нейтронов для шестигрупповой модели ядерного реактора. Графики Фиг.2а и 2б соответствуют моделированию реактивности по способу-прототипу при частотах дискретизации 10 Гц и 1 Гц соответственно. График Фиг.2в соответствует моделированию реактивности по предлагаемому способу при частоте дискретизации 1 Гц.Figure 2 shows graphs of the time variation of the relative error in modeling the reactivity of a given value equal to - 0.1β, where β is the effective fraction of delayed neutrons for the six-group model of a nuclear reactor. The graphs of Figures 2a and 2b correspond to reactivity modeling by the prototype method at sampling frequencies of 10 Hz and 1 Hz, respectively. The graph of Fig.2c corresponds to the simulation of reactivity by the proposed method at a sampling frequency of 1 Hz.

На Фиг.3 приведены графики, иллюстрирующие работу предлагаемого способа. На Фиг.3а приведен график изменения во времени мощностного сигнала ядерного реактора, соответствующего отрицательной реактивности, нормированного на число А. На Фиг.3б приведен график изменения во времени первого аналогового сигнала, сформированного при пошаговой выборке элементов из основного устройства памяти. На Фиг.3в приведены: обозначенный Uд график дискретного изменения во времени второго аналогового сигнала, сформированного по элементам дополнительного устройства памяти; обозначенный Uл линеаризованный график изменения мощностного сигнала, соответствующий предлагаемому способу. На Фиг.3г приведен график изменения во времени разности второго и первого аналоговых сигналов. Линеаризованный график Uл представляет собой результат интегрирования во времени разности второго и первого аналоговых сигналов. Горизонтальными стрелками на графике Фиг.3г помечены интервалы ∆t выборки из запоминающих устройств, которым соответствуют интервалы интегрирования разности второго и первого аналоговых сигналов. U1, U2, …, Ui, Ui+1 - дискретные уровни аналоговых сигналов. Uосн, Uдоп - аналоговые сигналы, сформированные по основному и дополнительному устройствам памяти соответственно. ∆U - разность второго и первого аналоговых сигналов.Figure 3 shows graphs illustrating the operation of the proposed method. Figure 3a shows a graph of the time variation of the power signal of a nuclear reactor corresponding to negative reactivity, normalized to the number A. Figure 3b shows a graph of the time variation of the first analog signal generated during step-by-step sampling of elements from the main memory device. Figure 3c shows: the Ud graph of the discrete time variation of the second analog signal generated by the elements of the additional memory device; designated Ul linearized graph of the change in power signal corresponding to the proposed method. On Figg shows a graph of the time variation of the difference of the second and first analog signals. The linearized graph of Ul is the result of integration over time of the difference between the second and first analog signals. The horizontal arrows in the graph of Fig. 3d indicate the intervals Δt of the sample from the storage devices, which correspond to the integration intervals of the difference of the second and first analog signals. U 1 , U 2 , ..., U i , U i + 1 - discrete levels of analog signals. U main , U add - analog signals generated by the primary and secondary memory devices, respectively. ∆U is the difference of the second and first analog signals.

При работе предлагаемого способа имитации реактивности используется линеаризация ступенчатого изменения мощностного сигнала, определяемого пошаговой выборкой значений второго массива из основного устройства памяти при формировании управляющего воздействия, позволяющая минимизировать скачки реактивности, вызванные сокращением объема массива данных. Поясним это с помощью графиков фиг.1 и 2.During the work of the proposed method for simulating reactivity, a linearization of the stepwise change in the power signal is used, which is determined by step-by-step sampling of the values of the second array from the main memory device during the formation of the control action, which minimizes the jumps in reactivity caused by the reduction in the volume of the data array. Let us explain this using the graphs of figures 1 and 2.

На графиках а) и б) Фиг.1 сопоставлены два дискретно изменяющихся сигнала, моделирующих непрерывный мощностной сигнал. Для наглядности частота дискретизации этих сигналов различается в 5 раз, соответственно впятеро отличается и объем устройства памяти для хранения информации об этом мощностном сигнале. Обработка мощностного сигнала реактиметром производится с неким периодом Тр и не синхронизирована с мощностным сигналом. В связи с этим для случая, представленного на Фиг.1а, вычисление реактивности будет производиться либо по точкам а и b, различающимся на величину δ1, либо по точкам с и d, различающимся на величину δ2, в зависимости от интервала захвата реактиметром мощностных сигналов. В случае, представленном на Фиг.1б, характеризующемся впятеро большей частотой, аналогичные пары точек е, f и g, h дают значения δ1 и δ3. Отсюда видно, что In graphs a) and b) of Fig. 1, two discretely varying signals are compared that simulate a continuous power signal. For clarity, the sampling frequency of these signals differs by a factor of 5; accordingly, the volume of the memory device for storing information about this power signal is also five times different. Processing the power signal with a reagent meter is performed with a certain period T p and is not synchronized with the power signal. In this regard, for the case shown in Fig. 1a, the reactivity will be calculated either at points a and b, differing by δ 1 , or at points c and d, differing by δ 2 , depending on the capture interval of the power meter signals. In the case shown in Fig. 1b, characterized by a five times higher frequency, similar pairs of points e, f and g, h give the values of δ 1 and δ 3 . This shows that

δ21>>δ31 и, следовательно, можно ожидать увеличения погрешности вычисления реактивности при снижении частоты выборки, эквивалентной сокращению объема устройства памяти. Это подтверждается вычислениями реактивности, проведенными нами с помощью виртуального реактиметра, выполненного в соответствии с [Р.Ш.Вахитов, Новый численный метод расчета реактивности по измерению плотности нейтронов, Атомная энергия, том 70, выпуск 2, 1991 год, стр.78-81].δ 2 / δ 1 >> δ 3 / δ 1 and, therefore, we can expect an increase in the error in the calculation of reactivity with a decrease in the sampling frequency, equivalent to a reduction in the size of the memory device. This is confirmed by the reactivity calculations we performed using a virtual reactimeter, made in accordance with [R.Sh. Vakhitov, A New Numerical Method for Calculating Reactivity by Measuring Neutron Density, Atomic Energy, Volume 70, Issue 2, 1991, pp. 78-81 ].

Результаты этих вычислений представлены на Фиг.2. На вход реактиметра подавался ступенчатый мощностной сигнал, соответствующий реактивности -0,1β. В первом случае (Фиг.2а) частота дискретизации составляла 10 Гц, а во втором случае (Фиг.2б) - 1 Гц. Соответственно, отклонения вычисленных значений реактивности от заданной величины (определяемые погрешностями моделирования мощностного сигнала за счет его дискретизации) существенно возрастают при снижении частоты выборки, что не позволяет уменьшать объем устройства памяти в способе-прототипе.The results of these calculations are presented in figure 2. A stepwise power signal corresponding to a reactivity of -0.1β was applied to the input of the reactimeter. In the first case (Fig.2A), the sampling frequency was 10 Hz, and in the second case (Fig.2b) - 1 Hz. Accordingly, the deviations of the calculated values of reactivity from a given value (determined by the errors in modeling the power signal due to its sampling) increase significantly with a decrease in the sampling frequency, which does not allow to reduce the amount of memory device in the prototype method.

Авторами было доказано, что такое уменьшение объема устройства памяти может быть произведено при выполнении ряда условий, обеспечивающих линеаризацию дискретно меняющегося мощностного сигнала. На Фиг.3 представлены графики дискретного и соответствующего ему линеаризованного сигнала. Из этих графиков видно, что с интервалом выборки ∆t на вход интегратора поступает разность напряжений Ui-Ui+1. Проведем анализ изменения выходного напряжения интегратора на интервале ∆t. Текущее значение этого напряжения составляет величинуThe authors proved that such a reduction in the volume of a memory device can be made if a number of conditions are fulfilled that provide linearization of a discretely varying power signal. Figure 3 presents graphs of a discrete and its corresponding linearized signal. From these graphs it can be seen that with the sampling interval Δt, the voltage difference U i -U i + 1 is input to the integrator input. Let us analyze the change in the output voltage of the integrator over the interval ∆t. The current value of this voltage is

Figure 00000001
Figure 00000001

где а - множитель, определяющий постоянную времени интегрирования τ.where a is the factor determining the integration time constant τ.

Условием линеаризации на интервале, соответствующем периоду выборки, является такое требование, чтобы к концу интервала интегрирования текущее значение выходного напряжения разностного интегратора в точности достигло величины, соответствующей очередному дискретному значению второго массива:The linearization condition for the interval corresponding to the sampling period is such a requirement that by the end of the integration interval the current value of the output voltage of the difference integrator will exactly reach the value corresponding to the next discrete value of the second array:

Ui+1=a(Ui-Ui+1)∆t+Ui,U i + 1 = a (U i -U i + 1 ) Δt + U i ,

откуда легко найти множитель а, определяющий постоянную времени интегрирования τ:whence it is easy to find the factor a, which determines the integration time constant τ:

Figure 00000002
.
Figure 00000002
.

Отсюда следует, что для линеаризации дискретно меняющегося процесса с неизменной частотой выборки необходимо подобрать в разностном интеграторе мощностного параметра постоянную времени интегрирования, равную периоду выборки: τ=∆t. В этом случае вместо ступенчатой аппроксимации мощностного сигнала, соответствующей способу-прототипу, будет иметь место линеаризованный сигнал, представляющий собой кусочно-линейную аппроксимацию реального мощностного сигнала.It follows that to linearize a discretely changing process with a constant sampling frequency, it is necessary to select the integration time constant in the difference integrator of the power parameter equal to the sampling period: τ = ∆t. In this case, instead of a stepwise approximation of the power signal corresponding to the prototype method, a linearized signal will take place, which is a piecewise linear approximation of the real power signal.

С учетом сказанного, работа предложенного способа осуществляется следующим образом. Формируют первый массив данных, соответствующих изменению во времени мощностного параметра реактора для заданной реактивности. Нормируют первый массив на заданное число А путем умножения текущих значений на величину А/х0, где х0 - начальное значение мощностного параметра при моделировании отрицательной реактивности или конечное значение мощностного параметра при моделировании положительной реактивности и сохраняют полученный в результате такой нормировки второй массив в основном устройстве памяти. На практике в качестве нормирующего числа А может быть выбрано число, соответствующее максимальной разрядности используемого при реализации способа цифроаналогового имитатора. Производят пошаговую выборку значений второго массива из основного устройства памяти. При этом на первом шаге сохраняют первый элемент второго массива на время ∆t, равное периоду выборки, в дополнительном устройстве памяти. На практике дополнительное устройство памяти может представлять из себя буферный регистр с объемом, равным объему одного элемента массива. Далее, на каждом шаге, начиная со второго, заменяют сохраненный элемент в дополнительном устройстве памяти на предыдущий элемент второго массива и сохраняют его на время ∆t. На каждом шаге формируют первый аналоговый сигнал, величина которого задается текущим элементом второго массива, и второй аналоговый сигнал, величина которого задается сохраненным элементом массива дополнительного устройства памяти. Интегрируют разность второго и первого аналоговых сигналов на интервале ∆t, обеспечивая равенство постоянной времени интегрирования периоду выборки τ, и формируют выходной сигнал по полученному интегральному сигналу.Based on the foregoing, the work of the proposed method is as follows. The first data array is generated corresponding to the time variation of the reactor power parameter for a given reactivity. The first array is normalized by a given number A by multiplying the current values by A / x 0 , where x 0 is the initial value of the power parameter when modeling negative reactivity or the final value of the power parameter when modeling positive reactivity and the second array obtained as a result of such normalization is saved mainly memory device. In practice, a number corresponding to the maximum bit depth of the digital-analogue simulator used in the implementation of the method can be selected as the normalizing number A. Step-by-step sampling of the values of the second array from the main memory device is performed. In this case, at the first step, the first element of the second array is stored for a time ∆t equal to the sampling period in an additional memory device. In practice, the additional memory device may be a buffer register with a volume equal to the volume of one element of the array. Further, at each step, starting from the second, the stored element in the additional memory device is replaced with the previous element of the second array and stored for the time ∆t. At each step, the first analog signal is generated, the value of which is set by the current element of the second array, and the second analog signal, the value of which is set by the stored element of the array of the additional memory device. Integrate the difference of the second and first analog signals on the interval Δt, ensuring the equality of the integration time constant τ to the sampling period τ, and form the output signal from the received integral signal.

Для иллюстрации преимуществ предложенного способа по сравнению с прототипом, сопоставим их с помощью графиков на Фиг.2а и 2в, где представлены погрешности моделирования реактивности -0,1β ступенчатым мощностным сигналом с частотой дискретизации 10 Гц и моделирования этой же реактивности линеаризованным мощностным сигналом с исходной частотой ступенчатой дискретизации 1 Гц соответственно. Видно, что в случае линеаризованного сигнала, начиная с 10-ой секунды от начала моделирования, погрешность моделирования реактивности не превышает 1%, что практически соответствует аналогичной погрешности при моделировании ступенчатым мощностным сигналом с частотой 10 Гц. Это позволяет при использовании линеаризации ступенчатого мощностного сигнала на порядок снизить частоту выборки его дискретных значений (с 10 Гц до 1 Гц) и, соответственно, на порядок уменьшить объем устройства памяти в блоке программного управления имитатора.To illustrate the advantages of the proposed method compared to the prototype, we compare them using the graphs in FIGS. 2a and 2c, which show the errors of reactivity simulation of -0.1β by a step-wise power signal with a sampling frequency of 10 Hz and modeling the same reactivity by a linearized power signal with an initial frequency step sampling 1 Hz respectively. It can be seen that in the case of a linearized signal, starting from the 10th second from the start of the simulation, the error in the simulation of reactivity does not exceed 1%, which practically corresponds to a similar error in modeling with a stepwise power signal with a frequency of 10 Hz. This allows using linearization of a step-wise power signal to reduce the sampling frequency of its discrete values by an order of magnitude (from 10 Hz to 1 Hz) and, accordingly, reduce the memory device volume in the simulator program control unit by an order of magnitude.

Предложенный способ может быть реализован на той же аппаратной основе, что и способ-прототип.The proposed method can be implemented on the same hardware basis as the prototype method.

Таким образом, авторами доказано, что имитация реактивности может быть осуществлена предложенным новым способом и при этом обеспечивается существенное сокращение объема устройства памяти имитатора со всеми вытекающими из этого преимуществами.Thus, the authors proved that reactivity simulation can be carried out by the proposed new method and at the same time, a significant reduction in the volume of the simulator memory device is provided with all the ensuing advantages.

Claims (1)

Способ имитации реактивности ядерного реактора, включающий формирование первого массива данных, соответствующих изменению во времени мощностного параметра реактора для заданной реактивности, нормировку первого массива на заданное число, сохранение второго массива, полученного в результате нормировки, в основном устройстве памяти и формирование управляющего воздействия с учетом пошаговой выборки значений второго массива из основного устройства памяти, отличающийся тем, что в процессе пошаговой выборки значений второго массива из основного устройства памяти на первом шаге сохраняют первый элемент второго массива на время Δt, равное периоду выборки, в дополнительном устройстве памяти; на каждом шаге, начиная со второго, заменяют сохраненный элемент в дополнительном устройстве памяти на предыдущий элемент второго массива и сохраняют его на время Δt; на каждом шаге формируют первый аналоговый сигнал, величина которого задается текущим элементом массива основного устройства памяти; формируют второй аналоговый сигнал, величина которого задается сохраненным элементом массива дополнительного устройства памяти; интегрируют разность второго и первого аналоговых сигналов на интервале Δt при условии равенства постоянной времени интегрирования периоду выборки и формируют выходной сигнал по полученному интегральному сигналу. A method for simulating the reactivity of a nuclear reactor, including generating a first data array corresponding to a time change in the reactor power parameter for a given reactivity, normalizing the first array by a given number, storing the second array obtained as a result of normalization in the main memory device, and generating a control action taking into account the step-by-step sampling the values of the second array from the main memory device, characterized in that in the process of step-by-step sampling of the values of the second array from novnogo memory device at the first step storing a first element of the second array at time Δt, equal to the sample period, the additional memory device; at each step, starting from the second, replace the stored element in the additional memory device with the previous element of the second array and save it for the time Δt; at each step, the first analog signal is generated, the value of which is set by the current array element of the main memory device; form a second analog signal, the value of which is set by the stored array element of the additional memory device; integrate the difference of the second and first analog signals in the interval Δt provided that the integration time constant is equal to the sampling period and an output signal is generated from the received integral signal.
RU2007137258/09A 2007-10-08 2007-10-08 Method of simulating nuclear reactor reactivity RU2358314C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007137258/09A RU2358314C1 (en) 2007-10-08 2007-10-08 Method of simulating nuclear reactor reactivity

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007137258/09A RU2358314C1 (en) 2007-10-08 2007-10-08 Method of simulating nuclear reactor reactivity

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2358314C1 true RU2358314C1 (en) 2009-06-10

Family

ID=41024829

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007137258/09A RU2358314C1 (en) 2007-10-08 2007-10-08 Method of simulating nuclear reactor reactivity

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2358314C1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Scott The estimation of standard deviations in powder diffraction Rietveld refinements
Bertolini et al. Non-Gaussian covariance of the matter power spectrum in the effective field theory of large scale structure
Boyle et al. K l 3 Semileptonic Form Factor from (2+ 1)-Flavor Lattice QCD
Bernuzzi et al. Horizon-absorption effects in coalescing black-hole binaries: An effective-one-body study of the non-spinning case
Habib et al. Characterizing inflationary perturbations: The Uniform approximation
d'Alesio et al. Role of the Soffer bound in determination of transversity and the tensor charge
Kastaun et al. Finite tidal effects in GW170817: observational evidence or model assumptions?
Smith et al. A case study in manual and automated Monte Carlo variance reduction with a deep penetration reactor shielding problem
Rochman et al. Exact nuclear data uncertainty propagation for fusion neutronics calculations
Kopeikin et al. Measurement of the Ratio of Cumulative Spectra of Beta Particles from U and Pu Fission Products for Solving Problems of Reactor-Antineutrino Physics
Han et al. Capturing the interactions between ice sheets, sea level and the solid Earth on a range of timescales: a new “time window” algorithm
Dhesi et al. Worldtube excision method for intermediate-mass-ratio inspirals: Scalar-field toy model
Lanchares et al. Real-time evolvable pulse shaper for radiation measurements
RU2358314C1 (en) Method of simulating nuclear reactor reactivity
Pecháček et al. Hot-spot model for accretion disc variability as random process-II. Mathematics of the power-spectrum break frequency
CN103076622B (en) A kind of production method of spectrum stabilization stochastic signal
CN112685900B (en) Power load simulation method for representing impact load power characteristics
WO2016007094A1 (en) Method for measuring reactivity in a light water reactor
Radaideh et al. Sensitivity and uncertainty analysis of the fundamental delayed neutron data in lwrs
RU2287853C1 (en) Method of simulating reactivity of nuclear reactor
Li Acceleration methods for Monte Carlo particle transport simulations
Zhang et al. Development and verification of neutron and photon multi-group cross sections processing code TXMAT2. 0
Bolliet et al. High-accuracy emulators for observables in ΛCDM, N eff, Σ m ν, and w cosmologies
Bartel Analysis and Improvement of the bRAPID Algorithm and its Implementation
Larson et al. A systematic description of the generation of covariance matrices