RU2341772C2 - Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек - Google Patents

Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек Download PDF

Info

Publication number
RU2341772C2
RU2341772C2 RU2006129027/28A RU2006129027A RU2341772C2 RU 2341772 C2 RU2341772 C2 RU 2341772C2 RU 2006129027/28 A RU2006129027/28 A RU 2006129027/28A RU 2006129027 A RU2006129027 A RU 2006129027A RU 2341772 C2 RU2341772 C2 RU 2341772C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
carriage
microscopes
guide
calibration
gaging
Prior art date
Application number
RU2006129027/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2006129027A (ru
Inventor
Харьес Каюмович Ямбаев (RU)
Харьес Каюмович Ямбаев
Николай Христофорович Голыгин (RU)
Николай Христофорович Голыгин
Сергей Владимирович Травкин (RU)
Сергей Владимирович Травкин
Александр Алексеевич Степочкин (RU)
Александр Алексеевич Степочкин
Original Assignee
Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК) filed Critical Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК)
Priority to RU2006129027/28A priority Critical patent/RU2341772C2/ru
Publication of RU2006129027A publication Critical patent/RU2006129027A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2341772C2 publication Critical patent/RU2341772C2/ru

Links

Abstract

Изобретение относится к области геодезии и в частности к устройствам для метрологической поверки и калибровки геодезических приборов, например, нивелиров и реек. Сущность: стенд содержит столбы, установленные на изолированном от пола фундаменте, на которых укреплены направляющие рельсы с установленной на них перемещающейся кареткой с эталонным жезлом, и микроскопы с микрометрами, расположенные над инварным жезлом. Кроме того, в него дополнительно введены большие фундаменты с укрепленной на них направляющей с поворотным зеркалом на конце, бетонная основа с установленным на нем испытуемым прибором, например, нивелиром. При этом и микроскопы установлены с возможностью перемещения по направляющей, а каретка выполнена с винтом микроперемещения. Дополнительно на стенде могут быть установлены интерферометр и блок опорного канала, а на каретке - уголковый отражатель. Технический результат: повышение точности измерений и возможность одновременной поверки и калибровки нивелиров и реек. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относится к области геодезии и в частности к стендам для метрологической поверки и калибровки геодезических приборов, например, нивелиров и реек.
Известно устройство для поверки системы "цифровой нивелир - штрихкодовая рейка", содержащее горизонтальные направляющие с установленной на ней кареткой, на которой уложена нивелирная рейка, нивелир, установленный на П-образной подставке, и интерферометр, при этом горизонтальный визирный луч нивелира на подставке меняет направление на 90° с помощью зеркала [1]. Недостатком данного устройства является недостаточная точность, кроме того, имеется возможность исследования только нивелира.
Наиболее близким по технической сущности к достигаемому результату является стационарный оптико-механический компаратор МИИГАиК, содержащий столбы, установленные на изолированных от пола фундаментах. На столбах укреплены микроскопы, под которыми по рельсам на каретке помещена мера, сами микроскопы снабжены микрометрами, а для высокоточных измерений применяются интерферометры [2].
Недостатком данного устройства является невозможность производить поверку и калибровку одновременно нивелира и рейки.
Целью изобретения является повышение точности измерений и возможность одновременной поверки и калибровки нивелиров и реек.
Указанная цель достигается тем, что на изолированных от пола фундаментах укреплены направляющие рельсы с установленной на них перемещающейся кареткой с инварным жезлом, над жезлом установлены микроскопы с микрометрами, дополнительно введены большие фундаменты и направляющая с жестко укрепленным поворотным зеркалом и перемещающимися микроскопами. Также в стенд введена бетонная основа с установленным на ней испытуемым прибором, например, нивелиром, и кареткой, установленной на рельсах, при этом каретка выполнена с винтом микроперемещений и с возможностью одновременного размещения на ней и эталонного инварного жезла, и поверяемой рейки, а для повышения точности измерений в стенд дополнительно введен лазерный интерферометр, отражатель измерительного канала которого установлен на подвижной каретке.
Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором приведена принципиальная схема стенда.
Устройство содержит: каретку 1, инварный жезл 2, направляющие рельсы 3, рейку 4, микроскопы 5, зеркало 6, направляющую 7, нивелир 8, уголковый отражатель 9, блок опорного канала интерферометра 10, интерферометр 11, фундамент 12, большие фундаменты 13, бетонную основу 14 и винт микроперемещения 15.
Устройство работает следующим образом:
На изолированных фундаментах 12 с интервалом в 1 м закреплены рельсы 3, выставленные в горизонт и по азимуту. На рельсах установлена подвижная каретка 1. На больших фундаментах 13 закреплена направляющая 7, на которой располагаются микроскопы 5, имеющие возможность перемещения по этой направляющей 7. На расстоянии 25 м по направлению рельсов 3 на бетонной основе 14 устанавливается нивелир 8. С другой стороны установлен лазерный интерферометр 11 и блок опорного канала 10 для измерения лазерным интерферометром 11, уголковый отражатель 9 которого закреплен на каретке 1. Также для разворота изображения рейки на направляющей закреплено наклонное зеркало 6, выполненное с возможностью юстировки. Для проведения измерений на каретку 1 одновременно или по очереди кладутся инварный эталонный жезл 2 и поверяемая рейка 4.
На подвижную каретку 1 устанавливается эталонный инварный жезл 2 и по нему выставляется расстояние между микроскопами 5. Затем на место жезла 2 устанавливается поверяемая рейка 4 и с помощью отсчетных систем микроскопов 5 измеряется отклонение интервалов рейки 4.
Для совместного исследования нивелира 8 и рейки 4 применяется другая методика: зная расстояние между микроскопами 5, мы имеем возможность переместить подвижную каретку 1 на это расстояние, вводим штрих рейки 4 в биссектор одного из микроскопов 5 и снимаем отсчеты по нивелиру 8 и интерферометру 11, после чего перемещаем каретку 1 с рейкой 4 так, чтобы тот же штрих рейки 4 попал в биссектор другого микроскопа 5, для чего на каретке предусмотрен винт микроперемещения 15, в этот момент снимаем отсчеты по нивелиру 8 и интерферометру 11. Разность двух соответствующих отсчетов дает нам искомое перемещение. Одновременно снимаются три отсчета: одно эталонное по инварному жезлу 2, второе контрольное по интерферометру 11 и третье по нивелиру 8. Возможно использование стенда без лазерного интерферометра.
Источники информации
1. Карсунская М.М. Геодезические приборы. - М.: 2002. - с.142-144.
2. Спиридонов А.И. Основы геодезической метрологии. - М.:
Картгеоцентр-Геодезиздат, 2003. - с.92-95 (прототип).

Claims (2)

1. Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек, содержащий столбы, установленные на изолированном от пола фундаменте, на которых укреплены направляющие рельсы с установленной на них перемещающейся кареткой с эталонным жезлом, и микроскопы с микрометрами, расположенные над инварным жезлом, отличающийся тем, что в него дополнительно введены большие фундаменты с укрепленной на них направляющей с поворотным зеркалом на конце, бетонная основа с установленным на нем испытуемым прибором, например нивелиром, при этом и микроскопы установлены с возможностью перемещения по направляющей, а каретка выполнена с винтом микроперемещения.
2. Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек по п.1, отличающийся тем, что в него дополнительно введены интерферометр и блок опорного канала, а на каретке установлен уголковый отражатель.
RU2006129027/28A 2006-08-10 2006-08-10 Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек RU2341772C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006129027/28A RU2341772C2 (ru) 2006-08-10 2006-08-10 Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006129027/28A RU2341772C2 (ru) 2006-08-10 2006-08-10 Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2006129027A RU2006129027A (ru) 2008-02-20
RU2341772C2 true RU2341772C2 (ru) 2008-12-20

Family

ID=39266815

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006129027/28A RU2341772C2 (ru) 2006-08-10 2006-08-10 Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2341772C2 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2500987C1 (ru) * 2012-04-24 2013-12-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии" (МИИГАиК) Стенд для поверки и калибровки штрих-кодовых реек

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
СПИРИДОНОВ А.И. Основы геодезической метрологии. - М.: Картгеоцентр-Геодезиздат, 2003, с.92-95. КАРСУНСКАЯ М.М. Геодезические приборы. - М., 2002, с. 142-144. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2500987C1 (ru) * 2012-04-24 2013-12-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии" (МИИГАиК) Стенд для поверки и калибровки штрих-кодовых реек

Also Published As

Publication number Publication date
RU2006129027A (ru) 2008-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN200986436Y (zh) 检测可见激光束位置偏差的装置
RU2419766C1 (ru) Стенд для поверки и калибровки цифровых нивелиров и штрихкодовых реек
US5894344A (en) Elevation Measurement apparatus
Ingensand et al. Performances and experiences in terrestrial laserscanning
CN101261119B (zh) 一种光束平行度和瞄准误差的检测方法
Schneider Calibration of a Riegl LMS-Z420i based on a multi-station adjustment and a geometric model with additional parameters
Šiaudinytė et al. Uncertainty evaluation of trigonometric method for vertical angle calibration of the total station instrument
RU2419070C2 (ru) Стенд для поверки и калибровки цифровых нивелиров и штрихкодовых реек
RU2494346C1 (ru) Поверочный комплекс координатных приборов и измерительных систем
RU2341772C2 (ru) Стенд для поверки и калибровки нивелиров и реек
JP6431995B2 (ja) 改良型ポータブルプリズム受信装置及び改良型ポータブルgps受信装置、並びに、これを用いた測量方法
RU2401985C1 (ru) Широкодиапазонный компаратор для поверки и калибровки координатных средств измерений
RU2349877C2 (ru) Устройство для поверки и калибровки вертикальных угловых измерительных систем геодезических приборов
RU2362978C2 (ru) Универсальный метрологический геодезический стенд
RU2739141C1 (ru) Стенд по поверке буйковых уровнемеров и сигнализаторов уровня
Ma et al. A large-scale laser plane calibration system
RU2690701C2 (ru) Метрологический стенд по поверке, калибровке уровнемеров и сигнализаторов уровня
Siaudinyte Modelling of linear test bench for short distance measurements
Kamugasa et al. PACMAN study of FSI and micro-triangulation for the pre-alignment of CLIC
RU2550317C1 (ru) Способ измерения отклонений от плоскостности
CN216770526U (zh) 一种多用途室内基线标准装置
CN102878949B (zh) 立式大量程高精度光学平面测试装置
Sidki New Test Method for Surveying Optical Level Instruments Using CMM as a Distance Comparator Technique
Hermann Autocollimator calibration
Šiaudinytė et al. INTERFEROMETRIC BENCH FOR CALIBRATION OF DISTANCE MEASURING INSTRUMENTS

Legal Events

Date Code Title Description
RH4A Copy of patent granted that was duplicated for the russian federation

Effective date: 20111121

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150811