RU2284028C2 - Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
RU2284028C2
RU2284028C2 RU2004130343/28A RU2004130343A RU2284028C2 RU 2284028 C2 RU2284028 C2 RU 2284028C2 RU 2004130343/28 A RU2004130343/28 A RU 2004130343/28A RU 2004130343 A RU2004130343 A RU 2004130343A RU 2284028 C2 RU2284028 C2 RU 2284028C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ray
gamma
detector
elements
scattered
Prior art date
Application number
RU2004130343/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2004130343A (ru
Inventor
Валерий Евгеньевич Радько (RU)
Валерий Евгеньевич Радько
Original Assignee
Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова" filed Critical Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова"
Priority to RU2004130343/28A priority Critical patent/RU2284028C2/ru
Publication of RU2004130343A publication Critical patent/RU2004130343A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2284028C2 publication Critical patent/RU2284028C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Использование: для качественного и количественного элементного анализа исследуемого объекта. Сущность: заключается в том, что облучают объект зондирующими гамма-квантами с энергией Е0 и измеряют энергетическое распределение гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта на связанном электроне в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, при этом сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния Δφ1, Δφ2, ...Δφn зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий, при этом селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, позволяет идентифицировать атомные номера элементов, а по результатам одновременного суммирования определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте. Технический результат: неразрушающий многоэлементный анализ в условиях повышенного радиационного фона. 2 н.п. ф-лы, 1 табл., 4 ил.

Description

Изобретение относится к области измерения искусственных и естественных вариаций элементного состава в условиях повышенного радиационного фона и (или) повышенной температуры в объектах техногенного и геологического происхождения и может быть использовано для работы в аварийных условиях повышенной радиации, в горячей камере или на заводах для переработки отработанного ядерного горючего, в аппаратах дистанционного управления, например в буровых скважинах или в зондирующих космических модулях.
В качестве аналога рассмотрен способ рентген-флюоресцентного анализа [1], включающий облучение объекта энергичными фотонами с образованием атомных К-вакансий и последующее измерение характеристических К-серий анализируемых элементов. Этот способ основан на высоком разрешении детектора рентгеновских фотонов и не позволяет анализировать элементный состав радиоактивного объекта или выполнить элементный анализ в условиях повышенного радиационного фона, поскольку он не предусматривает наличие механизма приоритетной регистрации полезного сигнала в условиях фона, и регистрация фона происходит в отношении "один к одному".
В качестве прототипа рассмотрен способ селективного измерения комптоновского профиля К-электронов [2], когда объект сначала облучают энергичными фотонами (и порождают К-вакансии в электронной оболочке изучаемого атома), а затем, в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, измеряют энергетическое распределение фотонов, рассеянных по механизму комптон-эффекта. Этот способ следует рассматривать как неразрушающий одноэлементный анализ в условиях повышенного радиоактивного фона (который генерируется за счет возбуждения атомных К-вакансий по механизму фотоэффекта). Однако он не пригоден для выполнения многоэлементного анализа, поскольку в нем не предусмотрено разделение вкладов от различных элементов, а энергетическая ширина регистрируемого комптоновского распределения фотонов больше расстояния между смещениями рентгеновских К-линий соседних элементов.
Целью изобретения является неразрушающий многоэлементный анализ в условиях повышенного радиационного фона.
Поставленная цель достигается тем, что в известном способе элементного анализа, включающем облучение объекта зондирующими гамма-квантами с энергией Е0 и измерение энергетического распределения гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния Δφ1, Δφ2, ...Δφn зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий.
Поставленная цель достигается также тем, что в устройстве для элементного анализа, содержащем излучатель зондирующих гамма-квантов с коллиматором, держатель объекта и детектор гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта, выход которого подан на контрольный вход схемы линейных ворот, а также детектор фотонов рентгеновской К-серии, выход которого подан на управляющий вход линейных ворот, выход которых согласован с амплитудным анализатором и накопителем импульсов, использовано несколько детекторов рассеянных гамма-квантов, расположенных в расчетных диапазонах угла рассеяния, причем выход каждого детектора через независимый нормализатор амплитуды поступает на первый вход линейного сумматора, на ответный второй вход линейного сумматора подан выход от детектора фотонов рентгеновской К-серии, а выход линейного сумматора согласован с накопителем импульсов.
На Фиг.1 приведена схема комптон-флюоресцентного элементного анализатора.
Рассмотрим работу устройства Фиг.1 согласно списку анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера
Figure 00000002
и соответствующего ему списка энергий связи К-электронов
Figure 00000003
в этих атомах.
В исходном состоянии устройства Фиг.1 выключен блок детекторов 3, выключен детектор 4, отсутствует или перекрыт защитой излучатель гамма-квантов в коллиматоре 1.
При работе устройства гамма-кванты излучателя 1 проходят коллиматор и, после рассеяния в объекте - 2 на К-оболочках атома с порядковым номером Z1, попадают в детектор 3g. Рассеяние на малые углы сопровождается малой передачей энергии электрону, так что гамма-кванты, рассеянные в сектор g, ионизуют только атомы с наименьшим порядковым номером Z1. В следующий сектор f рассеиваются фотоны, способные ионизовать уже два вида атомов: Z1 и Z1+1 и т.д. по спискам (1) и (2), где с увеличением угла рассеяния в каждый последующий сектор рассеиваются гамма-кванты после ионизации всех предыдущих анализируемых атомов списка и одного дополнительного атома с порядковым номером, большим на единицу, чем в предыдущем секторе.
Атом с ионизованной К-оболочкой испускает рентгеновские фотоны К-серии, которые регистрируются в детекторе 4. Устройство Фиг.1 регистрирует и накапливает акты одновременных событий появления рассеянного фотона в каждом из секторов рассеяния а, b, ...g и рентгеновского фотона в детекторе 4. Разделение информации, поступающей из различных секторов рассеяния, достигают с помощью набора различных коэффициентов усиления амплитуд стандартного сигнала в различных усилителях-формирователях 5 (а, b, ...g), принадлежащих различным секторам рассеяния. Это различие коэффициэнтов усиления выбирают из условия такого разделения суммарных амлитуд на выходе линейного сумматора 6, чтобы их можно было накапливать в различных каналах накопителя. В результате набора статистики в различных секторах регистрируют некоторые числа импульсов, удовлетворяющие уравнениям:
Figure 00000004
где Ng, Nf, Ne...Na - количество отсчетов, зарегистрированных в каждом из секторов рассеяния.
В системе линейных уравнений (3) неизвестные коэффициенты a1, b1, b2, ... определяют посредством калибровочных измерений с эталонным объектом, где известны концентрации всех элементов n(Z), n(Z+1), ... после чего, используя полученные значения а1, b1, b2, ... определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте.
При облучении объекта гамма-квантами наиболее интенсивно проявляются два эффекта: фотопоглощение фотона и комптоновское рассеяние фотона.
При фотопоглощении фотона на К-оболочке атома фотон исчезает, и образуется атомная К-вакансия, заполнение которой сопровождается только излучением характеристической рентгеновской К-серии фотонов. Регистрация характеристических фотонов позволяет идентифицировать атомный номер возбужденного атома, что и является основой рентген-флюоресцентного способа элементного анализа. Ограничение этого способа связано с тем, что для подобной идентификации атомного номера необходимо располагать детектором рентгеновского излучения, способным различать рентгеновские линии соседних элементов. В таблице 1 приведены значения энергий рентгеновских линий (эВ) для легких элементов от бора (Z=5) до кремния (Z=14), причем линии, принадлежащие соседним элементам, а также линии, принадлежащие рентгеновской серии одного элемента, нельзя разрешить, например, с помощью Ge(Li)-детектора.
ТАБЛИЦА 1.
Z Элемент Кα1, эВ Кα2, эВ Кβ1, эВ
5 В 183
6 С 277
7 N 392
8 O 524
9 F 676
10 Ne 848 848.6
11 Na 1040 1040 1071
12 Mg 1253 1253 1302
13 Al I486 1486 1557
14 Si 1739 1739 1835
При комптоновском рассеянии зондирующего фотона с энергией E0 в объекте 2 на угол φ, Фиг.1, рассеянный фотон получает энергию, которую вычисляют по формуле А.
Комптона:
Figure 00000005
где m - масса электрона, с - скорость света, mc2~511 КэВ. При рассеянии часть энергии фотона Ее0, φ) передается электрону:
Figure 00000006
Энергия связи электронов на К-оболочке различных атомов Ek(z) изменяется в широких пределах (~0.01-120 КэВ), определяется законом Мозли и уточняется экспериментально. Она является функцией атомного номера z. Если Ее0, φ)>Ek(z), то К-электрон покидает атом, где в К-оболочке остается вакансия, а рассеянный фотон вылетает под углом φ, который содержится в формуле (4). Если энергия связи электрона на К-оболочке равна Ek, то зондирующие фотоны с энергией E0 начинают ионизовать атом при рассеянии на критический угол φk:
Figure 00000007
Практически одновременно с появлением рассеянного фотона (:10-8 сек) каждый ионизованный атом заполняет эту вакансию, испуская характеристические рентгеновские фотоны К-серии.
Сущность предлагаемого изобретения заключается в том, что селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, определяется временным разрешением детекторов, и это позволяет не только идентифицировать атомный номер таких элементов, которые не удается идентифицировать рентген-флюоресцентным способом за счет энергетического разрешения детектора рентгеновских фотонов (см., например, Таблицу 1), но также и подавлять регистрацию фоновых частиц. Ожидаемый эффект заключается в том, что критический угловой фактор комптоновского рассеяния (6) проявляет достаточно высокую чувствительность к энергии связи К-электрона. При этом регистрацию рассеянного фотона осуществляют в диапазоне углов между соседними критическими углами рассеяния φk(Z) и φk(Z+1), а вклады рассеяния в различные секторы рассеяния разделяют посредством различных нормализованных амплитуд "комптоновского" сигнала и суммирования этих амплитуд (в режиме временных совпадений) с амплитудой сигнала от детектора рентгеновских фотонов.
На Фиг.2 приведены критические углы рассеяния (градусы), рассчитанные по (6) для элементов, приведенных в Таблице 1.
Критические углы рассеяния φkSn рассчитаны для зондирующих фотонов излучателя 119mSn с энергией 23.875 КэВ, и для него диапазоны углов рассеяния изменяются от ~8° до 22°. Критические углы φkEu рассчитаны для зондирующих фотонов излучателя 151Eu с энергией 21.6 КэВ, и диапазоны углов равссеяния изменяются от ~9° до -26°. Такие диапазоны углов рассеяния вполне достаточны для идентификации атомного номера.
Комптоновский элементный анализатор, Фиг.1, регистрирует акты одновременного появления рентгеновских фотонов К-серии (детектор 4) и комптоновски рассеянных фотонов (блок детекторов 3) с помощью схемы линейного сумматора (ЛС) 6, временное разрешение которого обычно не хуже: 10-7 сек.
Кроме одновременного суммирования амплитуд, селективность по элементному составу обеспечивают за счет выполнения еще двух условий:
1. Энергетическая ширина зондирующих фотонов Еγ0 меньше, чем измеряемый энергетический сдвиг ΔEγ0<Ek(Δz)). Это условие выполняется для большого числа ядерных гамма-излучателей.
2. Энергетическая ширина регистрируемого комптоновски рассеянного излучения ΔE(φ) меньше, чем измеряемый энергетический сдвиг Ek(Δz):
Figure 00000008
где Δφ - эффективный угловой разброс, возникающий при коллимации зондирующих и рассеянных фотонов (коллиматор детекторов 3 не показан, пучок ограничен размерами каждого детектора). Это условие обеспечивают согласованием энергетической ширины регистрируемого комптоновского распределения и допустимого диапазона угла рассеяния.
Из (4), (6) и (8) оценивают допустимый, эффективный диапазон угла рассеяния (сектор рассеяния):
Figure 00000009
затем уточняют его из соображений Δφ~δ·Δφk(Z)min, где Δφk(Z)min - минимальный критический угловой диапазон, а δ, 0<δ<1 - это величина допустимой ошибки при элементном анализе.
Оценка величины геометрической светосилы для узкого пучка зондирования имеет вид:
Figure 00000010
где Ωx - телесный угол регистрации рентгеновских фотонов.
На Фиг.1 изображена принципиальная схема устройства, светосила которого невелика. На Фиг.3 представлена аксиальная геометрия этого же устройства, в которой геометрическая светосила и представительность анализа увеличиваются на фактор К:
Figure 00000011
где а и b - характерные линейные размеры объекта и детектора рентгеновских фотонов в "старой" геометрии, Фиг.1.
На Фиг.4 по табличным значениям энергии связи электронов на К-оболочке Ek(Z) представлен расчет зависимости критических углов φk (градусы) от атомного номера элементов Z для двух излучателей:
Am241, E0=59.54 КэВ, T1/2~458 лет и
Cd109, E0=87.7 КэВ, T1/2~453 дня
Из Фиг.4 следует, что, используя излучатель Am241, можно выполнить элементный анализ на легких элементах от Z=20 (кальций) до Z=32 (германий), тогда как применение излучателя Cd109 удлиняет список анализируемых элементов до Z=42 (молибден). При атомных номерах Z>44 энергии гамма-квантов Am241 и Cd109 недостаточно для ионизации атомов по механизму комптон-эффекта.
Оценки угловых диапазонов, приведенные на Фиг.4, показывают, что при уменьшении атомного номера Z диапазоны углов рассеяния в секторах рассеяния Δφk(Z) для Am241 плавно убывают от ~21° до ~4.4°, а для Cd109 - от ~17.5° до ~2.5°. Оценка скорости счета по (10) с учетом этих значений Δφk(Z) для излучателей активностью 1-10 Кюри указывает на возможность измерения концентрации элементов от Са до Мо с точностью ~0.1-0.01% за время ~10-100 часов (без учета фактора (11), Фиг.2).
При Е0~60-90 КэВ возможность анализа легких элементов Z<20 ограничена двумя факторами:
1. Уменьшение энергии рентгеновских фотонов увеличивает вероятность их поглощения внутри объекта и поэтому уменьшает вероятность временных совпадений.
2. Ионизация легких атомов по механизму комптон-эффекта происходит при малоугловом рассеянии фотонов, где диапазон углов рассеяния уменьшается, и уменьшается светосила регистрации легких элементов.
Излучатели с более низкой энергией гамма-квантов, например 119mSn с энергией 23.875 КэВ или 151Eu с энергией 21.6 КэВ, позволяют уменьшить атомный номер анализируемых элементов, как это показано ранее для элементов в интервале 14>Z>5, Таблица 1.
Можно указать и другие долгоживущие излучатели гамма-квантов, пригодные для использования в предлагаемом устройстве, например:
Figure 00000012
Эти изотопы излучают по два зондирующих фотона с различной энергией, что позволяет расширить диапазон атомных номеров для анализируемых элементов.
Работа устройства Фиг.1 с излучателями Am241 и Cd109 не ограничена только возможностью анализа элементного состава по легким элементам. При наличии в объекте более тяжелых элементов, Z>44, эти элементы ионизуются по механизму фотоэффекта и доступны к (одновременному с легкими элементами) анализу в режиме рентген-флюоресцентного анализа. Поскольку ионизация элементов по механизму фотоэффекта не сопровождается одновременным появлением рассеянного фотона, то энергетический порог этого процесса гораздо выше и определяется неравенством:
Figure 00000013
что для излучателя Am241 удовлетворяется до Z=69 (тулий), а для излучателя Cd109 удовлетворяется до Z=81 (таллий). Если в излучателе существует стартовый сигнал, то и режим рентген-флюоресцентного анализа также можно защитить от регистрации фоновых фотонов. Так, например, распад Am241 сопровождается излучением α-частицы, после чего за время ~10-8 сек дочернее ядро Np237 излучает зондирующий фотон с энергией Eγ0=59.54 КэВ:
Figure 00000014
На Фиг.1 пунктиром показано возможное в подобном случае включение схемы совпадений 7 стартового сигнала, зарегистрированного от α-частицы, и сигнала, зарегистрированного от рентгеновского фотона.
Пусть среднее число посторонних частиц, попадающих в первый канал, равно n1, а среднее число посторонних частиц, попадающих во второй канал, равно n2, и соответствующие длительности сигналов (~10-7) соответственно равны τ1 и τ2. Тогда вероятность случайных двойных совпадений оценивается формулой:
Figure 00000015
Пусть n00 - число истинных двойных совпадений в единицу времени, а n1=k1·n00, n2=k2·n00, где k1, k2 - коэффициенты отношения средней скорости появления фона над средней скоростью появления истинных парных совпадений. Тогда оценка вклада случайных совпадений по (15) при типичном значении n00~103 имп/сек и произведении k1·k2~1 находится в интервале 1-3%, что указывает на достаточно эффективное подавление фоновых сигналов.
Основное отличие и преимущество предлагаемого способа проявляется в нештатной ситуации (например, повышенная радиация и (или) повышенная температура), когда применение Ge(Li) детекторов (требующих постоянного охлаждения до температуры жидкого азота) недопустимо. Способ позволяет использовать для элементного анализа детекторы излучения, не обладающие высоким энергетическим разрешением и не требующие азотных температур, например пластиковые сцинтилляторы, йодистый цезий, теллурид кадмия и др.
ЛИТЕРАТУРА
1. Абрамов А.И., Казанский Ю.А., Матусевич Е.С. // Основы экспериментальных методов ядерной физики. М.: Атомиздат, 1977.
2. Fukamachi Т., Hosoya S. Binding effect due to К-electrons observed on a Compton Profile of Si. Separate measurement of Compton Profile // Phys. Lett. A. 1972. v.41. P.5. ibid. P.416; Phys. Lett. V.38A. N5, p.341.

Claims (2)

1. Способ элементного анализа при наличии фона, включающий облучение объекта зондирующими гамма-квантами с энергией Е0 и измерение энергетического распределения гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта на связанном электроне в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, отличающийся тем, что сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния Δφ1, Δφ2, ...Δφn зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий, при этом селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, позволяет идентифицировать атомные номера элементов, а по результатам одновременного суммирования определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте.
2. Устройство для элементного анализа по по п.1, содержащее излучатель зондирующих гамма-квантов с коллиматором, держатель объекта и детектор гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта, выход которого подан на контрольный вход схемы линейных ворот, а также детектор фотонов рентгеновской К-серии, выход которого подан на управляющий вход линейных ворот, выход которых согласован с амплитудным анализатором и накопителем импульсов, отличающееся тем, что использовано несколько детекторов рассеянных гамма-квантов, которые расположены в расчетных диапазонах угла рассеяния, причем выход каждого детектора через независимый нормализатор амплитуды поступает на первый вход линейного сумматора, на ответный второй вход линейного сумматора подан выход от детектора фотонов рентгеновской К-серии, а выход линейного сумматора согласован с накопителем импульсов.
RU2004130343/28A 2004-10-15 2004-10-15 Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления RU2284028C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2004130343/28A RU2284028C2 (ru) 2004-10-15 2004-10-15 Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2004130343/28A RU2284028C2 (ru) 2004-10-15 2004-10-15 Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2004130343A RU2004130343A (ru) 2006-03-27
RU2284028C2 true RU2284028C2 (ru) 2006-09-20

Family

ID=36388693

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2004130343/28A RU2284028C2 (ru) 2004-10-15 2004-10-15 Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2284028C2 (ru)

Also Published As

Publication number Publication date
RU2004130343A (ru) 2006-03-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8044357B2 (en) Radiation dosimeter and radiation dose computing program
JP4061367B2 (ja) ZnS(Ag)シンチレーション検出器
US9448309B2 (en) Method and apparatus for detection of radioactive isotopes
US11650338B2 (en) Scintillation detector
Hamad et al. Gamma-rays spectroscopy by using a thallium activated sodium iodide NaI (Ti)
Stanford et al. Surface background suppression in liquid argon dark matter detectors using a newly discovered time component of tetraphenyl-butadiene scintillation
Farsoni et al. A system for simultaneous beta and gamma spectroscopy
EP3811066B1 (en) System and method for moisture measurement
RU2284028C2 (ru) Способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления
Chattopadhyay et al. Reduction of the effect of internal activity in LaCl3: Ce scintillator
Dunn et al. Gamma-ray spectroscopy
JP4131538B2 (ja) 食品中に微量に含まれるCdの濃度を即発ガンマ線分析により迅速かつ簡便に測定する方法
Domingo Time-resolved gamma-ray spectroscopy with the GEARS detector: Applications in environmental radionuclide monitoring and neutron activation analysis
Latif et al. Gamma Ray Spectroscopy
Tanaka et al. Beta-spectroscopy of low level samples by a coincidence type scintillation spectrometer
EP3657221A1 (en) Scintillation detector
Onyshchenko et al. The Contributions to Registration Efficiency of The Fast Neutron Reactions on The Nuclei of The Heavy Oxide Scintillators
KELLER Applied radiation measurements
Clark Cryogenic Alkali Halide Scintillators for Rare-Event Searches
Stinnett et al. Basics of Gamma Ray Detection
Horiuchi et al. A high-sensitivity neutron dosimeter using the coherent demodulation technique
Sood et al. Sample analysis using gamma ray induced fluorescent x‐ray emission
Thomas et al. Charge Loss Characterisation and Correction in Compound Semiconductor Detectors for Spectroscopic X-Ray Imaging
Khater Radiation detection methods
Wells Coincidence Photon Activation Analysis Using Y-89

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20081016