RU2225022C1 - Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием - Google Patents

Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием Download PDF

Info

Publication number
RU2225022C1
RU2225022C1 RU2002123889/28A RU2002123889A RU2225022C1 RU 2225022 C1 RU2225022 C1 RU 2225022C1 RU 2002123889/28 A RU2002123889/28 A RU 2002123889/28A RU 2002123889 A RU2002123889 A RU 2002123889A RU 2225022 C1 RU2225022 C1 RU 2225022C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
lenses
positive
lens
negative
working distance
Prior art date
Application number
RU2002123889/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2002123889A (ru
Inventor
Д.Н. Фролов
Original Assignee
Фролов Дмитрий Николаевич
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Фролов Дмитрий Николаевич filed Critical Фролов Дмитрий Николаевич
Priority to RU2002123889/28A priority Critical patent/RU2225022C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2225022C1 publication Critical patent/RU2225022C1/ru
Publication of RU2002123889A publication Critical patent/RU2002123889A/ru

Links

Images

Landscapes

  • Lenses (AREA)
  • Eyeglasses (AREA)

Abstract

Микрообъектив содержит три компонента, первый из которых содержит n фронтальных одиночных положительных линз, второй - две двусклеенные линзы, первая из которых состоит из отрицательной и положительной линз, а вторая склеена положительной и отрицательной линз, третий состоит из двусклеенной из положительной и отрицательной линз из двух отрицательных линз и заключенной между ними положительной линзы. Количество n фронтальных одиночных положительных линз может принимать значения от 0 до 3-х. Обеспечивается достижение планапохроматической аберрационной коррекции в микрообъективе с увеличенным рабочим расстоянием. 1 з.п. ф-лы, 1 ил., 2 табл.

Description

Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано в микроскопах отраженного света для измерения, исследования и фотографирования особо тонких топографических структур в светлом и темном поле при оценке качества изготовления и аттестации в условиях промышленного производства изделий микроэлектроники. В некоторых из таких микрообъективов требуется получение планапохроматической аберрационной коррекции и увеличенного рабочего расстояния от плоскости предмета до первой поверхности объектива, например, для возможности использования контактных приспособлений ретуширования и измерения.
Известны отечественные микрообъективы [1], выпускаемые на ЛОМО, которые используются в микроскопах отраженного света типа "МКД" для исследования топологических структур. Объективы имеют удовлетворительное качество изображения только для осевой точки предмета. Они имеют нестандартную высоту (h=94 мм вместо общепринятой 45 мм), значительные аберрации в изображении внеосевых точек объекта (например, остаточная хру составляет 1.3-1.7%), не соответствуют современному ряду стандартных фокусных расстояний.
Известны также микрообъективы отраженного света, например [2]. Они не обеспечивают требуемого качества изображения, т.к. остаточная хру составляет 1.5-2%, а сферохроматические аберрации превышают 2-3λ. Известны также объективы [3], где устранены эти недостатки, однако их конструкции не обеспечивают требуемых значений рабочих расстояний при заданном масштабе увеличения. Этому требованию соответствуют объективы [4], однако их оптические схемы содержат оптические материалы, не освоенные в отечественном производстве.
Наиболее близким к заявляемому объективу является объектив [5], который выпускается на ЛОМО. Его оптическая схема включает три компонента, первый из которых содержит "n" фронтальных одиночных положительных линз, второй две двусклеенные линзы, первая из которых состоит из отрицательной и положительной линз, третий состоит из двусклеенной из положительной и отрицательной линз и трехсклеенной из положительной, заключенной между двумя отрицательными линз. Этот микрообъектив выбран в качестве прототипа.
Он имеет удовлетворительное качество изображения для осевой точки предмета. Однако аберрации в изображении внеосевых точек объекта остаются значительными (например, остаточная хру составляет 1.7%). В этом объективе невозможно достижение планапохроматической коррекции. Кроме того, нестандартная высота и несоответствие ряду стандартных фокусных расстояний делают невозможным его применение во вновь разрабатываемых моделях микроскопов, что снижает его потребительские свойства.
Вместе с тем, в современных микроскопах отраженного света при решении задач анализа и измерения топологических структур микрообъективы должны иметь планапохроматическую аберрационную коррекцию; окрашенность в промежуточном изображении не допускается.
Задачей предлагаемого изобретения является получение целого ряда планапохроматических микрообъективов с увеличенными рабочими расстояниями различных увеличений, отвечающих современным требованиям.
Оптическая конструкция заявляемого микрообъектива универсальна и позволяет решить поставленную задачу.
Сущность предлагаемого изобретения заключается в том, что использование в качестве первого компонента фронтальных одиночных положительных линз позволяет оптимальным образом исправить аберрации внеосевых пучков, а выбор разного их количества позволяет проводить коррекцию в объективах с различными линейными увеличениями. Выполнение второй двусклеенной линзы второго компонента указанным образом позволяет оптимальным образом исправить вторичный спектр и сферохроматизм при увеличении рабочего отрезка объектива, что в сочетании со всеми остальными признаками позволяет получить оптимальную аберрационную балансировку и достигнуть планапохроматической коррекции в микрообъективе с увеличенным рабочим расстоянием.
Таким образом, использование в совокупности всех указанных признаков позволяет достигнуть технического результата, заключающегося в возможности достижения планапохроматической аберрационной коррекции в микрообъективе с увеличенным рабочим расстоянием. При этом рабочее расстояние увеличено на 30-50%.
Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена принципиальная схема микрообъектива, а также таблицей 1 и таблицей 2, в которых даны конструктивные параметры примеров конкретного исполнения. Объектив содержит три компонента, первый из которых содержит "n" фронтальных одиночных положительных линз поз.1, второй поз.2 - две двусклеенные линзы, первая из которых состоит из отрицательной и положительной линз, а вторая склеена из положительной и отрицательной линз; третий компонент поз.3 состоит из двусклеенной из положительной и отрицательной линз и трехсклеенной из положительной, заключенной между двумя отрицательными линз. При этом количество фронтальных одиночных положительных линз в различных вариантах исполнения меняется и может принимать значения от 0 до 3-х.
Работает предлагаемый планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием следующим образом: линзы поз.1 строят увеличенное мнимое изображение объекта, внося при этом минимальные монохроматические аберрации осевой точки. Вносятся аберрации изображения внеосевых точек предмета - отрицательная меридиональная и сагиттальная кривизна, хроматические аберрации увеличения и положения. Затем линзы поз.2 оборачивают изображение, выравнивая монохроматические и хроматические аберрации практически по третьим порядкам, строя его за эквивалентной фокальной плоскостью третьего компонента. Короткофокусный третий компонент работает к качестве сильного отрицательного реверсивного телеобъектива, давая коррекционный запас для исправления аберраций внеосевых пучков и строя изображение в "бесконечности". Рассчитанные в соответствии с современной концепцией объективы работают совместно с дополнительной системой F'=160 мм.
В качестве примеров конкретного исполнения рассчитан комплект планапохроматических микрообъективов с увеличенными рабочими расстояниями, отличающихся значениями фокусов (линейных увеличении). При этом количество "n" фронтальных одиночных положительных линз различно для объективов различных увеличении. Так, при n=0 получен объектив с линейным увеличением 10 крат, числовой апертурой 0.20 и рабочим расстоянием ~20 мм. При n=1 получен объектив с линейным увеличением 20 крат, числовой апертурой 0.35 и рабочим расстоянием ~ 16 мм. При n=2 получен объектив с линейным увеличением 50 крат, числовой апертурой 0.50 и рабочим расстоянием ~10 мм. При n=3 получен объектив с линейным увеличением 100 крат, числовой апертурой 0.65 и рабочим расстоянием ~ 5 мм. Использование n>3 нецелесообразно вследствие увеличения продольных габаритов объективов и невозможности выполнения требований стандартизации.
Из материалов, представленных в таблице 1 и таблице 2, видно, что в планапохроматических микрообъективов с увеличенными рабочими расстояниями достигнута высокая степень аберрационной коррекции по всему полю зрения. Так для поля зрения 2у'=20 мм число Штреля составляет ≥0.80, для 2у'=25 мм число Штреля составляет ≥0.60, для осевой точки число Штреля составляет ≥0.85, что не достигнуто в известных аналогах и прототипе. Хроматическая разность увеличения в предлагаемых объективах близка к нулю, тогда как в прототипе она составляет 1.7%.
В результате реализации предложенного технического решения получены планапохроматические микрообъективы с увеличенными рабочими расстояниями, имеющие достаточно простую конструкцию, пригодную для реализации в условиях серийного производства. Информационная емкость в сравнении с аналогами повышена в 1.5-2 раза, следовательно, эффективность и производительность работ в условиях производственного цикла - исследования, измерения и аттестации, например, изделий микроэлектроники, может быть значительно повышена.
В объективах реализованы все стандартные требования, определяющие в соответствии с современными требованиями положения зрачков, применяемость оптических материалов, предпосылки реализации специализированных методов исследований. Применение унифицированной длины тубуса "бесконечность" дает дополнительные преимущества и удобство использования объектива с другими, имеющими иной тип оптической коррекции.
Источники информации
1. Авторское свидетельство СССР 666507, М. кл. G 02 В 21/02.
2. Патент США 4384765.
3. Патент США 4540248.
4. Патент Японии 62-30605.
5. Авторское свидетельство СССР 679913, М. кл. G 02 В 21/02, 1978.

Claims (2)

1. Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием, содержащий три компонента, первый из которых содержит n фронтальных одиночных положительных линз, второй - две двусклеенные линзы, первая из которых состоит из отрицательной и положительной линз, третий состоит из двусклеенной из положительной и отрицательной линз и трехсклеенной из положительной, заключенной между двумя отрицательными линз, отличающийся тем, что вторая двусклеенная линза второго компонента склеена из положительной и отрицательной линз.
2. Объектив по п.1, отличающийся тем, что количество n фронтальных одиночных положительных линз принимает значения 0-3.
RU2002123889/28A 2002-08-28 2002-08-28 Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием RU2225022C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002123889/28A RU2225022C1 (ru) 2002-08-28 2002-08-28 Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002123889/28A RU2225022C1 (ru) 2002-08-28 2002-08-28 Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2225022C1 true RU2225022C1 (ru) 2004-02-27
RU2002123889A RU2002123889A (ru) 2004-03-20

Family

ID=32173248

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002123889/28A RU2225022C1 (ru) 2002-08-28 2002-08-28 Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2225022C1 (ru)

Also Published As

Publication number Publication date
RU2002123889A (ru) 2004-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102200624B (zh) 光刻投影物镜
JP2019191273A (ja) 対物レンズ
CN114895440B (zh) 光学成像系统
US6882481B2 (en) Optical arrangement for high power microobjective
RU2225022C1 (ru) Планапохроматический микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием
CN106405803A (zh) 一种大轴向色差的线性色散物镜
CN103309017B (zh) 傅里叶变换物镜
US20060285219A1 (en) Tube lens unit with chromatically compensating effect
RU2097810C1 (ru) Микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием
RU2187136C2 (ru) Микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием
RU2176806C2 (ru) Безрефлексный безыммерсионный планапохроматический высокоапертурный микрообъектив большого увеличения
RU2288490C1 (ru) Апланатическая градиентная линза
CN206331176U (zh) 一种大轴向色差的线性色散物镜
RU2075771C1 (ru) Микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием
CN217689587U (zh) 一种线色散镜头和线光谱共焦传感器
RU2012909C1 (ru) Безрефлексный микрообъектив большого увеличения для отраженного света
RU2195008C2 (ru) Планапохроматический высокоапертурный микрообъектив малого увеличения
RU2104575C1 (ru) Микрообъектив с увеличенным рабочим расстоянием
RU2073266C1 (ru) Светосильный микрообъектив большого увеличения
RU2233462C2 (ru) Проекционный светосильный объектив
RU2099756C1 (ru) Планахроматический микрообъектив с уменьшенным вторичным спектром
RU2176805C1 (ru) Планахроматический микрообъектив
RU2099758C1 (ru) Широкоугольная окулярная система
SU1219994A1 (ru) Объектив микроскопа
RU2164701C2 (ru) Окулярная широкоугольная система

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20100829