Claims (1)
Способ измерения свойств цвета поверхности, при котором измеряемую поверхность освещают заданными и спектрально различимыми видами излучения света, измеряют спектральные плотности светового потока, рассеянного измеряемой поверхностью, вычисляют компоненты матрицы цвета, по которым судят о свойствах цвета измеряемой поверхности и при вычислении которых используют спектральную плотность светового потока от эталонного источника, отличающийся тем, что, с целью идентификации свойств цвета измеряемой поверхности по характеристикам природной цветопередачи, дополнительно измеряют величину освещенности Е измеряемой поверхности дневным светом или светом, близким по своему спектральному составу к дневному, который считают эталонным видом излучения света, компоненты матрицы цвета Nn(λ) вычисляют из ниже приведенной системы уравнений, используя измеренные спектральные плотности светового потока Nn,изм(λ), рассеянного от измеряемой поверхности, с их нормировкой к спектральной плотности светового потока от эталонного вида излучения света N0(λ), а также к нормируемой величине измеренной освещенности измеряемой поверхности от эталонного вида излучения света и к нормируемому измеренному телесному углу видимости поверхности:A method of measuring surface color properties, in which the measured surface is illuminated with predetermined and spectrally distinguishable types of light emission, the spectral densities of the light flux scattered by the measured surface are measured, the color matrix components are calculated, which are used to judge the color properties of the measured surface, and which are used to calculate the spectral density of light flow from a reference source, characterized in that, in order to identify the color properties of the measured surface according to the characteristics at one color, further measured value illuminance E measured surface daylight or light close in its spectral composition to day, which is considered the reference view matrix light component emission color N n (λ) is calculated from below the reduced system of equations using measured spectral density of the light flow n n, edited (λ), scattered from the surface to be measured, with their normalization to the spectral density of the light flux from the reference light-emission type n 0 (λ), as well as normalized to the greatness e measured illuminance measured surface from the reference light-emission type and normability measured solid angle of sight of the surface:
Nn(λ)=Nn,изм(λ)·К1(λ)·К2·К3,N n (λ) = N n, ism (λ) · K 1 (λ) · K 2 · K 3 ,
где n - виды излучения света, падающие на измеряемую поверхность (n=l,2,...N);where n are the types of light emission incident on the measured surface (n = l, 2, ... N);
λ - длина волны света;λ is the wavelength of light;
λ0 - нормируемая длина волны света;λ 0 is the normalized wavelength of light;
Nn,изм(λ) - измеренная спектральная плотность светового потока, рассеянного от измеряемой поверхности, для n-видов излучения света;N n, ism (λ) is the measured spectral density of the light flux scattered from the measured surface for n-types of light emission;
K1(λ)=N0(λ0)/N0(λ) - относительный коэффициент нормирования для измеряемой спектральной плотности эталонного светового потока;K 1 (λ) = N 0 (λ 0 ) / N 0 (λ) is the relative normalization coefficient for the measured spectral density of the reference light flux;
N0(λ) и N0(λ0) - спектральная плотность светового потока эталонного излучения света, освещающего измеряемую поверхность, и ее значение при нормируемой длине волны света λ0;N 0 (λ) and N 0 (λ 0 ) - the spectral density of the light flux of the reference radiation of light illuminating the measured surface, and its value at a normalized wavelength of light λ 0 ;
К2=(E0/E) - коэффициент нормирования для освещенности измеряемой поверхности эталонным видом излучения света;K 2 = (E 0 / E) is the normalization coefficient for the illuminance of the measured surface with the reference type of light emission;
Е - величина освещенности и нормируемая величина освещенности Е0;E - the amount of illumination and the normalized value of the illumination E 0 ;
К3=(Ω0/Ω) - коэффициент нормирования телесного угла видимости измеряемой поверхности, где Ω - телесный угол видимости самой поверхности при измерении рассеянного от нее светового потока и Ω0 - нормируемый телесный угол.K 3 = (Ω 0 / Ω) is the coefficient of normalization of the solid angle of visibility of the measured surface, where Ω is the solid angle of visibility of the surface itself when measuring the light flux scattered from it and Ω 0 is the normalized solid angle.
