RU2189017C1 - Method of spectrometry and interferometer for realization of this method - Google Patents

Method of spectrometry and interferometer for realization of this method Download PDF

Info

Publication number
RU2189017C1
RU2189017C1 RU2001122764/28A RU2001122764A RU2189017C1 RU 2189017 C1 RU2189017 C1 RU 2189017C1 RU 2001122764/28 A RU2001122764/28 A RU 2001122764/28A RU 2001122764 A RU2001122764 A RU 2001122764A RU 2189017 C1 RU2189017 C1 RU 2189017C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
photocells
light wave
reflecting mirror
light
partially transmitting
Prior art date
Application number
RU2001122764/28A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
А.В. Атнашев
В.Б. Атнашев
П.В. Атнашев
рченков А.С. Бо
А.С. Боярченков
Original Assignee
Атнашев Виталий Борисович
Закрытое акционерное общество "Урал ЭКОС"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Атнашев Виталий Борисович, Закрытое акционерное общество "Урал ЭКОС" filed Critical Атнашев Виталий Борисович
Priority to RU2001122764/28A priority Critical patent/RU2189017C1/en
Priority to CNA028157877A priority patent/CN1541330A/en
Priority to PCT/RU2002/000294 priority patent/WO2003016840A1/en
Priority to JP2003521301A priority patent/JP2005500526A/en
Priority to EP02744009A priority patent/EP1426745A1/en
Priority to KR10-2004-7002153A priority patent/KR20040030066A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2189017C1 publication Critical patent/RU2189017C1/en

Links

Images

Abstract

FIELD: spectral analysis. SUBSTANCE: system of interference bands of standing light wave is recorded in form of signal of spatial frequency through imaging the said system on periodic system containing photocells whose signals are recorded in form of dependence of position of these photocells in said periodic system and are subjected to analysis. Proposed method is realized with the aid of interferometer containing the following optically engageable components: light radiation source, reflecting mirror, spectroanalyzer and thin partiallytransmitting light- sensitive layer located in inclined position between light radiation source and reflecting mirror partially transmitting light radiation. Interferrometer is also provided with optically engageable periodic system containing photocells; this system is located behind reflecting mirror. EFFECT: enhanced accuracy of measurement of light waves by 2 to 5 times at measurement of light radiation of wide spectral band. 5 cl, 2 dwg

Description

Изобретения относятся к области спектрального анализа и могут быть использованы при спектральном анализе светового излучения. The invention relates to the field of spectral analysis and can be used in the spectral analysis of light radiation.

Классический способ спектрального анализа излучения заключается в разложении пучка света с помощью призмы или дифракционной решетки с выделением спектральных составляющих и их последовательным сканированием. Одним из классических устройств, используемых для спектрального анализа, является монохроматор с дифракционной решеткой (Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М.: Наука, 1979, с. 185-201; 257-274). The classical method of spectral analysis of radiation consists in the decomposition of a light beam using a prism or diffraction grating with the selection of spectral components and their sequential scanning. One of the classical devices used for spectral analysis is a monochromator with a diffraction grating (V. Malyshev, Introduction to experimental spectroscopy. M: Nauka, 1979, p. 185-201; 257-274).

Известный способ обладает меньшей светосилой по сравнению со способами, основанными на интерференции пучков света, что является его недостатком. The known method has a lower aperture compared to methods based on the interference of light beams, which is its disadvantage.

Известный монохроматор обладает меньшей светосилой по сравнению с интерферометрами, что является его недостатком. Known monochromator has a lower aperture compared to interferometers, which is its disadvantage.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому изобретению является способ спектрометрии, основанный на регистрации системы интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя, включающего микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, расположенного между источником светового излучения и отражающим зеркалом и установленного наклонно к плоскости упомянутого зеркала (А.В. Атнашев, В.Б. Атнашев, П.В. Атнашев. Метод интерференции на дифракционной решетке. Метод Атнашева, Екатеринбург: УГТУ-УПИ, 2000, с. 13 (прототип). The closest in technical essence and the achieved effect to the proposed invention is a spectrometric method based on recording a system of interference fringes of a standing light wave by means of a thin partially transmitting layer including microparticles that scatter or absorb the energy of the electric field of a standing light wave located between the light radiation source and reflective a mirror and mounted obliquely to the plane of the aforementioned mirror (A.V. Atnashev, VB Atnashev, P.V. Atnashev. Me method of interference on a diffraction grating. Atnashev method, Yekaterinburg: USTU-UPI, 2000, p. 13 (prototype).

К недостаткам данного способа следует отнести низкую точность регистрации системы интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя, включающего микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, и, следовательно, низкую точность анализа. The disadvantages of this method include the low accuracy of registration of the system of interference fringes of a standing light wave by means of a thin partially transmitting layer including microparticles that scatter or absorb the energy of the electric field of a standing light wave, and, therefore, low accuracy of analysis.

Задачей изобретения является повышение точности спектрального анализа за счет повышения точности регистрации системы интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя, включающего микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны. The objective of the invention is to increase the accuracy of spectral analysis by increasing the accuracy of registration of the system of interference fringes of a standing light wave by means of a thin partially transmitting layer including microparticles that scatter or absorb the energy of the electric field of a standing light wave.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе спектрометрии, основанном на регистрации системы интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя, включающего микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, упомянутый слой располагают между источником светового излучения и отражающим зеркалом под углом θ, определяемым из соотношения sinθ = λ/2d, где θ - угол между тонким частично пропускающим слоем и волновым фронтом световой волны, λ - длина световой волны, d - период интерференционных полос, система которых образуется в тонком частично пропускающем слое при прохождении стоячей световой волны, регистрацию системы интерференционных полос стоячей световой волны осуществляют в виде сигнала пространственной частоты путем проецирования изображения упомянутой системы на периодическую систему, содержащую дискретные фотоэлементы, полученные с упомянутых фотоэлементов электрические сигналы записывают в виде зависимости интенсивности светового излучения от местоположения этих фотоэлементов в упомянутой периодической системе и анализируют на спектроанализаторе. The problem is solved due to the fact that in the method of spectrometry based on the registration of the system of interference fringes of a standing light wave by means of a thin partially transmitting layer including microparticles scattering or absorbing the energy of the electric field of a standing light wave, said layer is placed between the light source and the reflecting mirror at an angle θ determined from the relation sinθ = λ / 2d, where θ is the angle between a thin partially transmitting layer and the wave front of the light wave, λ - the length of the light wave, d is the period of interference fringes, the system of which is formed in a thin partially transmissive layer during the passage of a standing light wave, the system of interference fringes of a standing light wave is recorded as a spatial frequency signal by projecting an image of the said system onto a periodic system containing discrete photocells, electrical signals obtained from the aforementioned photocells are recorded as the dependence of the intensity of light radiation on the location I mentioned these solar cells in the periodic system, and analyzed on a spectrum analyzer.

Поставленная задача может быть решена за счет того, что в интерферометре, содержащем оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало, спектроанализатор и тонкий частично пропускающий слой, включающий микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, упомянутый слой располагают между источником светового излучения и отражающим зеркалом под углом θ, определяемым из соотношения sinθ = λ/2d где θ - угол между тонким частично пропускающим слоем и волновым фронтом световой волны, λ - длина световой волны, d - период интерференционных полос, система которых образуется в тонком частично пропускающем слое при прохождении стоячей световой волны, отражающее зеркало выполнено частично пропускающим световое излучение, при этом интерферометр дополнительно снабжен оптически сопряженной периодической системой, содержащей дискретные фотоэлементы, которая расположена позади отражающего зеркала. The problem can be solved due to the fact that in the interferometer containing an optically conjugated light source, a reflecting mirror, a spectrum analyzer and a thin partially transmitting layer including microparticles scattering or absorbing the energy of the electric field of a standing light wave, said layer is placed between the light radiation source and a reflecting mirror at an angle θ, determined from the relation sinθ = λ / 2d where θ is the angle between the thin partially transmitting layer and the wave front of the light wave waves, λ is the light wavelength, d is the period of interference fringes, the system of which is formed in a thin partially transmitting layer when a standing light wave passes, the reflecting mirror is partially transmitted by light radiation, and the interferometer is additionally equipped with an optically conjugated periodic system containing discrete photocells, which is located behind the reflective mirror.

При этом в качестве периодической системы, содержащей дискретные фотоэлементы, может быть использована система фоточувствительных приборов с зарядовой связью. Moreover, as a periodic system containing discrete photocells, a system of charge-sensitive photosensitive devices can be used.

Периодическая система, содержащая фотоэлементы, может быть также выполнена в виде линейки или матрицы из фоточувствительных приборов с зарядовой связью. The periodic system containing photocells can also be made in the form of a ruler or matrix of photosensitive charge-coupled devices.

Сущность изобретения поясняется чертежами, на которых представлена схема интерферометра (фиг. 1) и диаграммы входных и выходных сигналов (фиг.2а-в). На фиг.2а изображена зависимость интенсивности системы интерференционных полос стоячей световой волны на тонком частично пропускающем слое, включающем микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, от его длины h. На фиг.2б показано изменение интенсивности измеренного светового излучения по длине h' линейки из дискретных фотоэлементов. На фиг. 2в показан электрический сигнал на выходе спектроанализатора. The invention is illustrated by drawings, which shows a diagram of an interferometer (Fig. 1) and diagrams of input and output signals (Fig.2A-C). On figa shows the dependence of the intensity of the system of interference fringes of a standing light wave on a thin partially transmitting layer, including microparticles, scattering or absorbing the energy of the electric field of a standing light wave, on its length h. On figb shows the change in the intensity of the measured light radiation along the length h 'of a line of discrete photocells. In FIG. 2c shows an electrical signal at the output of a spectrum analyzer.

Интерферометр содержит оптически сопряженные источник 1 светового излучения, отражающее зеркало 2, спектроанализатор 3, тонкий частично пропускающий слой 4, включающий микрочастицы, рассеивающие и поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, расположенный между источником 1 светового излучения и отражающим зеркалом 2. При этом отражающее зеркало 2 выполнено частично пропускающим световое излучение. Интерферометр дополнительно снабжен оптически сопряженной периодической системой 5, содержащей дискретные фотоэлементы 6, которая расположена позади отражающего зеркала 2. В качестве периодической системы 5, содержащей дискретные фотоэлементы 6, может быть использована система фоточувствительных приборов с зарядовой связью. Периодическая система 5, содержащая дискретные фотоэлементы 6, может быть также выполнена в виде линейки или матрицы из фоточувствительных приборов с зарядовой связью. При выполнении упомянутой системы 5 в виде линейки из фоточувствительных приборов с зарядовой связью упомянутую линейку располагают поперек спроецированного изображения системы интерференционных полос стоячей световой волны (на фиг.1 это положение дискретных фотоэлементов 6 соответствует их расположению в вертикальном ряду). Тонкий частично пропускающий слой 4 нанесен на одну из поверхностей оптического клина 7. Отражающее зеркало 2 при этом может быть выполнено на другой поверхности упомянутого клина 7 в виде отражающего покрытия с коэффициентом 0,5-0,9 и коэффициентом пропускания 0,1-0,5. The interferometer contains an optically coupled light source 1, a reflecting mirror 2, a spectrum analyzer 3, a thin partially transmitting layer 4, including microparticles that scatter and absorb the energy of the electric field of a standing light wave, located between the light source 1 and a reflecting mirror 2. At the same time, the reflecting mirror 2 is made partially transmitting light radiation. The interferometer is additionally equipped with an optically conjugated periodic system 5 containing discrete photocells 6, which is located behind the reflecting mirror 2. As a periodic system 5, containing discrete photocells 6, a system of charge-sensitive photosensitive devices can be used. The periodic system 5, containing discrete photocells 6, can also be made in the form of a ruler or matrix of photosensitive charge-coupled devices. When the said system 5 is executed in the form of a line of charge-sensitive photosensitive devices, the said line is placed across the projected image of the system of interference fringes of the standing light wave (in Fig. 1, this position of the discrete photocells 6 corresponds to their arrangement in a vertical row). A thin partially transmitting layer 4 is deposited on one of the surfaces of the optical wedge 7. In this case, the reflecting mirror 2 can be made on the other surface of the said wedge 7 in the form of a reflective coating with a coefficient of 0.5-0.9 and a transmittance of 0.1-0, 5.

Заявленный способ спектрометрии осуществляется на настоящем интерферометре следующим образом. The claimed method of spectrometry is carried out on this interferometer as follows.

Световой поток от источника 1 светового излучения поступает на отражающее зеркало 2, отражается от него и в виде стоячей световой волны поступает на тонкий частично пропускающий слой 4. За счет того, что тонкий частично пропускающий слой 4 состоит из микрочастиц, рассеивающих или поглощающих энергию электрического поля стоячей световой волны, и расположен наклонно, при этом угол θ между плоскостью тонкого частично пропускающего слоя и волновым фронтом световой волны задан из соотношения sinθ = λ/2d, где λ - длина световой волны, d - период интерференционных полос, в нем образуется система интерференционных полос (фиг.1, 2а), регистрацию которой можно осуществить в виде сигнала пространственной частоты с периодом следования d. Для этого изображение системы интерференционных полос проецируется через частично пропускающее световое излучение отражающее зеркало 2 на периодическую систему 5, содержащую дискретные фотоэлементы 6. Далее, спроецированное изображение системы интерференционных полос на систему 5, содержащую дискретные фотоэлементы 6, записывается на периодической системе 5 в виде зависимости интенсивности светового излучения от местоположения дискретных фотоэлементов 6 (фиг. 2б). Затем записанные электрические сигналы анализируются на спектроанализаторе 3, на выходе которого получают их частотное преобразование в виде зависимости от длины световой волны (фиг.2в). В варианте проецирования изображения системы интерференционных полос на матричную систему, содержащую дискретные фотоэлементы 6, записанные на каждой линейке упомянутой матричной системы, электрические сигналы анализируют на спектроанализаторе 3 последовательно с каждой линейки упомянутой матричной системы. При этом достигается лучшее разрешение определенных длин световых волн. The luminous flux from the light radiation source 1 enters the reflecting mirror 2, is reflected from it, and in the form of a standing light wave enters the thin partially transmitting layer 4. Due to the fact that the thin partially transmitting layer 4 consists of microparticles that scatter or absorb electric field energy a standing light wave, and is located obliquely, while the angle θ between the plane of the thin partially transmitting layer and the wave front of the light wave is given from the relation sinθ = λ / 2d, where λ is the light wavelength, d is the inter of interference bands, a system of interference bands is formed in it (Figs. 1, 2a), the registration of which can be carried out in the form of a spatial frequency signal with a repetition period d. For this, an image of the interference fringe system is projected through a partially transmitting light radiation reflecting mirror 2 onto a periodic system 5 containing discrete photocells 6. Next, a projected image of the interference fringe system onto a system 5 containing discrete photocells 6 is recorded on a periodic system 5 as a function of intensity light radiation from the location of the discrete photocells 6 (Fig. 2b). Then, the recorded electrical signals are analyzed on a spectrum analyzer 3, the output of which receives their frequency conversion in the form of a dependence on the light wavelength (Fig.2c). In an embodiment of projecting an image of a system of interference fringes onto a matrix system containing discrete photocells 6 recorded on each line of said matrix system, electrical signals are analyzed on a spectrum analyzer 3 sequentially from each line of said matrix system. This achieves a better resolution of certain wavelengths of light.

Кроме того, заявленный способ спектрометрии позволяет производить измерение светового излучения различных длин волн, в том числе при их совместном воздействии на тонкий частично пропускающий слой 4 без изменения угла наклона θ, что достигается использованием существующих математических методов обработки электрических сигналов. In addition, the claimed method of spectrometry allows the measurement of light radiation of various wavelengths, including when they are combined on a thin partially transmitting layer 4 without changing the angle of inclination θ, which is achieved using existing mathematical methods for processing electrical signals.

Предлагаемый способ спектрометрии и интерферометр для его осуществления позволяют повысить точность измерения световых волн в 2-5 раз при измерении светового излучения в широком спектральном диапазоне. The proposed method of spectrometry and an interferometer for its implementation can improve the accuracy of measuring light waves by 2-5 times when measuring light radiation in a wide spectral range.

Claims (5)

1. Способ спектрометрии, основанный на регистрации системы интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя, включающего микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, отличающийся тем, что упомянутый слой располагают между источником светового излучения и отражающим зеркалом и под углом Θ, определяемом из соотношения sinΘ = λ/2d, где Θ - угол между тонким частично пропускающим слоем и волновым фронтом световой волны, λ - длина световой волны, d - период интерференционных полос, система которых образуется в тонком частично пропускающем слое при прохождении стоячей световой волны, при этом регистрацию упомянутой системы интерференционных полос стоячей световой волны с периодом d осуществляют в виде сигнала пространственной частоты путем проецирования изображения упомянутой системы на периодическую систему, содержащую фотоэлементы, полученные с упомянутых фотоэлементов электрические сигналы записывают в зависимости от местоположения этих фотоэлементов в упомянутой периодической системе и анализируют. 1. A spectrometric method based on recording a system of interference fringes of a standing light wave by means of a thin partially transmitting layer including microparticles scattering or absorbing the energy of an electric field of a standing light wave, characterized in that said layer is arranged between the light radiation source and the reflecting mirror and at an angle Θ, determined from the relation sinΘ = λ / 2d, where Θ is the angle between the thin partially transmitting layer and the wavefront of the light wave, λ is the light wavelength, d is The period of interference fringes, the system of which is formed in a thin partially transmissive layer during the passage of a standing light wave, and the above-mentioned system of interference fringes of a standing light wave with period d is recorded as a spatial frequency signal by projecting an image of the above-mentioned system onto a periodic system containing photocells obtained electrical signals are recorded from said photocells depending on the location of these photocells in said periodic tion system and analyzed. 2. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и тонкий частично пропускающий слой, включающий микрочастицы, рассеивающие или поглощающие энергию электрического поля стоячей световой волны, отличающийся тем, что интерферометр дополнительно снабжен оптически сопряженной периодической системой, содержащей фотоэлементы, которая расположена позади отражающего зеркала, а упомянутый слой располагают между источником светового излучения и отражающим зеркалом и под углом Θ, определяемым из соотношения sinΘ = λ/2d, где Θ - угол между тонким частично пропускающим слоем и волновым фронтом световой волны, λ - длина световой волны, d - период интерференционных полос, система которых образуется в тонком частично пропускающем слое при прохождении стоячей световой волны, а отражающее зеркало выполнено частично пропускающим световое излучение. 2. An interferometer containing an optically conjugated light source, a reflecting mirror and a thin partially transmitting layer including microparticles that scatter or absorb the energy of the electric field of a standing light wave, characterized in that the interferometer is additionally equipped with an optically conjugated periodic system containing photocells, which is located behind reflecting mirror, and said layer is placed between the light source and the reflecting mirror and at an angle Θ, are determined m from the relation sinΘ = λ / 2d, where Θ is the angle between the thin partially transmitting layer and the wavefront of the light wave, λ is the length of the light wave, d is the period of interference fringes, the system of which is formed in the thin partially transmitting layer during the passage of the standing light wave, and the reflecting mirror is made partially transmitting light radiation. 3. Интерферометр по п. 2, отличающийся тем, что в качестве периодической системы, содержащей фотоэлементы, использована система фоточувствительных приборов в виде линейки элементов. 3. The interferometer according to claim 2, characterized in that as a periodic system containing photocells, a system of photosensitive devices in the form of a line of elements is used. 4. Интерферометр по пп. 2 и 3, отличающийся тем, что в качестве периодической системы, содержащей фотоэлементы, могут быть использованы приборы с зарядовой связью. 4. Interferometer according to paragraphs. 2 and 3, characterized in that as a periodic system containing photocells, charge-coupled devices can be used. 5. Интерферометр по п. 2, отличающийся тем, что периодическая система, содержащая фотоэлементы, выполнена в виде матрицы элементов. 5. The interferometer according to claim 2, characterized in that the periodic system containing the photocells is made in the form of a matrix of elements.
RU2001122764/28A 2001-08-13 2001-08-13 Method of spectrometry and interferometer for realization of this method RU2189017C1 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001122764/28A RU2189017C1 (en) 2001-08-13 2001-08-13 Method of spectrometry and interferometer for realization of this method
CNA028157877A CN1541330A (en) 2001-08-13 2002-06-17 Spectrometric method and device for carrying out said method (variants)
PCT/RU2002/000294 WO2003016840A1 (en) 2001-08-13 2002-06-17 Spectrometric method and device for carrying out said method (variants)
JP2003521301A JP2005500526A (en) 2001-08-13 2002-06-17 Spectroscopic measurement method and apparatus for carrying out the method (deformation)
EP02744009A EP1426745A1 (en) 2001-08-13 2002-06-17 Spectrometric method and device for carrying out said method (variants)
KR10-2004-7002153A KR20040030066A (en) 2001-08-13 2002-06-17 Spectrometric method and device for carrying out said method (variants)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2001122764/28A RU2189017C1 (en) 2001-08-13 2001-08-13 Method of spectrometry and interferometer for realization of this method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2189017C1 true RU2189017C1 (en) 2002-09-10

Family

ID=20252598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2001122764/28A RU2189017C1 (en) 2001-08-13 2001-08-13 Method of spectrometry and interferometer for realization of this method

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2189017C1 (en)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
АТНАШЕВ А.В., АТНАШЕВ В.Б., АТНАШЕВ П.В. Метод интерференции на дифракционной решетке. Метод Атнашева. - Екатеринбург, УГТУ-УПИ, 2000, с. 13. *
МАЛЫШЕВ В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. - М.: Наука, 1979, с. 185-201, 257-274. КРЕОПАЛОВА Г.В. Оптические измерения. - М.: Машиностроение, 1987, с. 207. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5777736A (en) High etendue imaging fourier transform spectrometer
US6141100A (en) Imaging ATR spectrometer
US5910839A (en) White light velocity interferometer
US7206073B2 (en) Dispersed fourier transform spectrometer
US9207122B2 (en) Fourier-transform interferometer with staircase reflective element
WO2019218807A1 (en) Spectrometer
US9778105B2 (en) Static interferometer with step-style reflective element
Allen et al. Miniature spatial heterodyne spectrometer for remote laser induced breakdown and Raman spectroscopy using Fresnel collection optics
US9638577B2 (en) Spectrometer comprising a plurality of diffraction gratings
CN111208072A (en) Spectrum system for detecting trace gas concentration
US5406377A (en) Spectroscopic imaging system using a pulsed electromagnetic radiation source and an interferometer
US7433044B1 (en) Sagnac fourier transform spectrometer having improved resolution
RU2189017C1 (en) Method of spectrometry and interferometer for realization of this method
US11965779B2 (en) Apparatus for measuring Raman spectrum and method thereof
RU2190197C1 (en) Spectrometry method and device for its realization ( variants )
FR2572200A1 (en) DIFFRACTION APPARATUS USING TWO CONCRETE MIRRORS AND CORRECTED HOLOGRAPHIC PLANE NETWORK, AND NETWORK RECORDING METHOD
RU2207526C1 (en) Spectrometry method and interferometer for performing the same (variants)
KR20040030066A (en) Spectrometric method and device for carrying out said method (variants)
US5608521A (en) Polarization compensated imaging spectrometer
RU2207527C1 (en) Spectrometry method and interferometer for performing the method
Minami Fourier transform spectroscopy using image sensors
CN211877753U (en) Spectrum system for detecting trace gas concentration
Hirai et al. Heterodyne Fourier transform spectroscopy using moving diffraction grating
JPH0432728A (en) Method and device for coherent light selective spectral diffraction
US20230316679A1 (en) Optical spectroscopy apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20040814