RU2140110C1 - Silicon production method - Google Patents
Silicon production method Download PDFInfo
- Publication number
- RU2140110C1 RU2140110C1 RU97103790A RU97103790A RU2140110C1 RU 2140110 C1 RU2140110 C1 RU 2140110C1 RU 97103790 A RU97103790 A RU 97103790A RU 97103790 A RU97103790 A RU 97103790A RU 2140110 C1 RU2140110 C1 RU 2140110C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- silicon
- phosphorus
- aluminum
- silicon production
- production method
- Prior art date
Links
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к способам получения элементов, в частности элементарного кремния, который может быть использован для получения новых материалов. The invention relates to methods for producing elements, in particular elemental silicon, which can be used to obtain new materials.
Известные способы получения элементарного кремния [1] основаны на восстановлении оксида кремния углеродсодержащими веществами по реакции
SiO2 + 2C ---> Si + 2 CO.Known methods for producing elemental silicon [1] are based on the reduction of silicon oxide by carbon-containing substances by reaction
SiO 2 + 2C ---> Si + 2 CO.
Порошкообразную смесь исходных веществ восстанавливают в электрической дуге и выплавляют технический элементарный кремний. Наиболее близким способом для достижения технического результата является способ получения плотного кремния, другой кристаллической модификации, обработкой обычного кремния при высоком давлении более 20 МПа [2]. Все технологически используемые способы получения элементарного кремния основаны на выделении из кремнийсодержащих оксидных материалов в процессе восстановления, карботермии. A powdery mixture of starting materials is reduced in an electric arc and technical elemental silicon is melted. The closest way to achieve a technical result is a method for producing dense silicon, another crystalline modification, by treating ordinary silicon at a high pressure of more than 20 MPa [2]. All technologically used methods for the production of elemental silicon are based on the isolation of silicon-containing oxide materials in the recovery process, carbothermy.
Предлагаемый способ основан на превращении (трансмутации) других химических элементов алюминия и фосфора в элементарный кремний. В этом его отличие от способа прототипа. Превращение достигается пропусканием электрического тока через смесь кристаллических веществ, содержащих основные элементы O, Al, P, при плотности тока не менее 1011 А/м2.The proposed method is based on the conversion (transmutation) of other chemical elements of aluminum and phosphorus into elemental silicon. This is its difference from the prototype method. The conversion is achieved by passing an electric current through a mixture of crystalline substances containing the basic elements O, Al, P, at a current density of at least 10 11 A / m 2 .
Техническим результатом изобретения является расширение арсенала технических средств, а именно получение впервые кремния высокого давления из других химических элементов. Техническим результатом также можно считать получение кремния кристаллической модификации высокого давления при атмосферном давлении. The technical result of the invention is the expansion of the arsenal of technical means, namely, obtaining for the first time high pressure silicon from other chemical elements. The technical result can also be considered obtaining silicon crystalline modification of high pressure at atmospheric pressure.
Пример. На смесь кристаллических веществ, содержащих основные элементы O, Al, P, в пространстве между электродами действовали импульсным электрическим током плотностью более 1011 А/м2. Образец анализировали на содержание кремния в сопоставлении с исходной смесью. Гравиметрический анализ в форме оксида кремния, полученного после выщелачивания образца водным слабощелочным раствором NaOH, последующего осаждения и отделения кремниевой кислоты и высушивания до постоянной массы [3], показал 10 мас.% кремния в продукте.Example. A mixture of crystalline substances containing the basic elements O, Al, P in the space between the electrodes was acted upon by a pulsed electric current with a density of more than 10 11 A / m 2 . The sample was analyzed for silicon content in comparison with the initial mixture. Gravimetric analysis in the form of silicon oxide obtained after the sample was leached with an aqueous slightly alkaline NaOH solution, followed by precipitation and separation of silicic acid and drying to constant weight [3], showed 10 wt.% Silicon in the product.
Применяли эмиссионный спектроскопический анализ, спектрометр ИСП-28 с источником, плазмотроном дугового типа килогерцевого диапазона частот [4]. We used emission spectroscopic analysis, an ISP-28 spectrometer with a source, an arc-type plasmatron of the kilohertz frequency range [4].
Линии кремния 2881, 2528, 2516, 2506 обнаружены в исходных смесях (менее 1 мас.%). В продукте увеличение их интенсивности в 6 раз подтверждает образование кремния. Линии дублетов алюминия 3082 - 3092; 2652 - 2669; 2568 - 2575; 2367 - 2373 обнаружены во всех образцах, но интенсивность их в исходной смеси в 5 раз выше. Линии фосфора 2554, 2553, 2534 и др. высокой интенсивности найдены в исходных смесях, в продуктах они отсутствуют за исключением очень слабой линии 2535
Применяли энергомасс-анализатор ЭМАЛ-2 для масс-спектрометрического анализа исходных смесей и продуктов превращения по разработанной методике определения кремния в режиме безфракционного испарения образца с помощью лазера и регистрации на фотопленке после разделения потока ионов. В масс-спектрах продукта наблюдали пики ионов изотопов кремния (m/e): однозарядных 28, 29, 30 и двухзарядных 14, 14,5, 15 с относительной интенсивностью, согласующейся с эталонным образцом кремния. В масс-спектрах исходной смеси обнаруживаются следовые количества кремния. В обоих образцах наблюдали пики 13,5; 27 ионов алюминия и 15,5; 31 ионов фосфора, соответственно двух- и однозарядных.Silicon lines 2881, 2528, 2516, 2506 were found in the initial mixtures (less than 1 wt.%). A 6-fold increase in their intensity in the product confirms the formation of silicon. Aluminum doublet lines 3082-3092; 2652-2669; 2568 - 2575; 2367–2373 were found in all samples, but their intensity in the initial mixture was 5 times higher. Phosphorus lines 2554, 2553, 2534, and others of high intensity were found in the initial mixtures; they are absent in the products with the exception of a very weak line 2535
An EMAL-2 energy mass analyzer was used for mass spectrometric analysis of the initial mixtures and conversion products according to the developed method for determining silicon in the mode of fractionless sample evaporation using a laser and recording on photographic film after separation of the ion flux. In the mass spectra of the product, peaks of silicon isotope ions (m / e) were observed: singly charged 28, 29, 30 and doubly charged 14, 14.5, 15 with a relative intensity consistent with the reference silicon sample. Trace amounts of silicon are detected in the mass spectra of the initial mixture. In both samples, peaks of 13.5 were observed; 27 aluminum ions and 15.5; 31 phosphorus ions, respectively, doubly and singly charged.
Рентгенограммы записывали на дифрактометре ДРОН-4 в CuKα монохроматическом излучении. Сравнивали рентгенограммы исходной смеси, продукта и остатка продукта после кислотного выщелачивания. В рентгенограммах продукта, в том числе после выщелачивания, найдены уширенные рефлексы d, 2,689, 2,334, 1,558, 1,106, отвечающие кубической фазе плотного кремния высокого давления (более 20 МПа) [2, 5] , не перекрывающиеся с рефлексами других присутствующих фаз. В продукте после выщелачивания преобладают фазы α- и γ- Al2O3. По уширению рефлекса d = 2,689 (I/I0 = 100%), оценен размер - менее 320 микрокристаллитов фазы плотного кремния.X-ray diffraction patterns were recorded on a DRON-4 diffractometer in CuK α monochromatic radiation. Radiographs of the initial mixture, product, and product residue after acid leaching were compared. In radiographs of the product, including after leaching, broadened reflexes d, 2,689, 2,334, 1,558, 1,106, corresponding to the cubic phase of dense high-pressure silicon (more than 20 MPa) [2, 5], not overlapping with reflexes of other phases present. After leaching, the phases dominate in the product are α- and γ-Al 2 O 3 . By broadening of the reflex d = 2,689 (I / I 0 = 100%), estimated size - less than 320 microcrystallite phase of dense silicon.
Полученные результаты для продукта в сравнении с исходной смесью подтверждают образование кремния в результате превращения (трансмутации) алюминия и фосфора. The obtained results for the product in comparison with the initial mixture confirm the formation of silicon as a result of the conversion (transmutation) of aluminum and phosphorus.
При плотности тока менее 1011 А/м2 кремний не образуется из других химических элементов исходной смеси и не обнаруживается описанными методами анализа.When the current density is less than 10 11 A / m 2, silicon is not formed from other chemical elements of the initial mixture and is not detected by the analysis methods described.
Изобретение позволяет получать элементарный кремний из других элементов, алюминия и фосфора. Кроме того, плотный кремний с кубической кристаллической структурой получается без использования техники высоких давлений более 20 МПа. The invention allows to obtain elemental silicon from other elements, aluminum and phosphorus. In addition, dense silicon with a cubic crystalline structure is obtained without the use of high pressure techniques of more than 20 MPa.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU97103790A RU2140110C1 (en) | 1997-03-12 | 1997-03-12 | Silicon production method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU97103790A RU2140110C1 (en) | 1997-03-12 | 1997-03-12 | Silicon production method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU97103790A RU97103790A (en) | 1999-04-10 |
RU2140110C1 true RU2140110C1 (en) | 1999-10-20 |
Family
ID=20190735
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU97103790A RU2140110C1 (en) | 1997-03-12 | 1997-03-12 | Silicon production method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2140110C1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004023494A1 (en) * | 2001-02-20 | 2004-03-18 | Gritskevich Oleg Vyacheslavovi | Method for synthesising novel materials and reactor for carrying out said method |
RU2456591C1 (en) * | 2011-05-10 | 2012-07-20 | Открытое акционерное общество "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" | Method of determining silicon content in uranium materials |
-
1997
- 1997-03-12 RU RU97103790A patent/RU2140110C1/en active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004023494A1 (en) * | 2001-02-20 | 2004-03-18 | Gritskevich Oleg Vyacheslavovi | Method for synthesising novel materials and reactor for carrying out said method |
RU2456591C1 (en) * | 2011-05-10 | 2012-07-20 | Открытое акционерное общество "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" | Method of determining silicon content in uranium materials |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Fuke et al. | Near threshold photoionization of silicon clusters in the 248–146 nm region: Ionization potentials for Si n | |
Leroi et al. | Infrared Spectra of Gaseous Transition‐Metal Dihalides | |
Ptasińska et al. | Bond selective dissociative electron attachment to thymine | |
Stockdale et al. | Production of negative ions from CH3X molecules (CH3NO2, CH3CN, CH3I, CH3Br) by electron impact and by collisions with atoms in excited Rydberg states | |
Burgers et al. | The gas phase ion chemistry of the acetyl cation and isomeric [C2H3O]+ ions. On the structure of the [C2H3O]+ daughter ions generated from the enol of acetone radical cation | |
Foner et al. | Ionization potential of the free HO2 radical and the H–O2 bond dissociation energy | |
Soderholm et al. | An EXAFS study of the metallofullerene YC82: is the yttrium inside the cage? | |
Thonnard et al. | Resonance ionization spectroscopy and the detection of 81Kr | |
Gao et al. | Quantum state-to-state vacuum ultraviolet photodissociation dynamics of small molecules | |
RU2140110C1 (en) | Silicon production method | |
US4000051A (en) | Laser isotope separation process | |
Hoffmann et al. | Analysis of gaseous reaction products of wet chemical silicon etching by conventional direct current glow discharge optical emission spectrometry (DC-GD-OES) | |
Mitsuke et al. | 4d→ 4f dipole resonance of the metal atom encapsulated in a fullerene cage: Ce@ C82 | |
Moll et al. | Synthesis and characterization of uranyl orthosilicate (UO2) 2SiO4· 2H2O | |
Shibata et al. | Precise isotope determination of trace amounts of Nd in magnesium-rich samples | |
JPH0748371B2 (en) | Ionization method and apparatus for high pressure mass spectrometry | |
Hesse et al. | Mass spectrométrie trace element analysis of calcium oxalate uroliths | |
Vasil'Ev et al. | Resonant free electron capture spectra of C60F48 | |
Locht et al. | A mass spectrometric photoionization study of CH3F. The CH+ 2, CH+ 3 and CH2F+ ion formation | |
Dance et al. | Molecular manganese sulfide clusters formed by laser ablation | |
Herce et al. | Ionization of CH4 and CD4 on Impact of 2 3S and 2 1S Helium Atoms | |
Curtis et al. | A study of the electron capture induced decompositions and charge separation reactions of the doubly charged isomeric ions of the methylpyridines and aniline | |
Boltalina et al. | A mass spectrometric study of C 60 F 48 | |
Bannykh et al. | New approach to surface ionization and drift-tube spectroscopy of organic molecules | |
Sulzer et al. | Probing royal demolition explosive (1, 3, 5-trinitro-1, 3, 5-triazocyclohexane) by low-energy electrons: Strong dissociative electron attachment near 0 eV |