RU2140110C1 - Silicon production method - Google Patents

Silicon production method Download PDF

Info

Publication number
RU2140110C1
RU2140110C1 RU97103790A RU97103790A RU2140110C1 RU 2140110 C1 RU2140110 C1 RU 2140110C1 RU 97103790 A RU97103790 A RU 97103790A RU 97103790 A RU97103790 A RU 97103790A RU 2140110 C1 RU2140110 C1 RU 2140110C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
silicon
phosphorus
aluminum
silicon production
production method
Prior art date
Application number
RU97103790A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU97103790A (en
Inventor
В.И. Казбанов
А.Г. Оладо
В.И. Трофимов
Г.М. Рыбаченко
Т.К. Казбанова
Original Assignee
Институт химии и химико-металлургических процессов СО РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт химии и химико-металлургических процессов СО РАН filed Critical Институт химии и химико-металлургических процессов СО РАН
Priority to RU97103790A priority Critical patent/RU2140110C1/en
Publication of RU97103790A publication Critical patent/RU97103790A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2140110C1 publication Critical patent/RU2140110C1/en

Links

Landscapes

  • Silicon Compounds (AREA)

Abstract

FIELD: silicon production. SUBSTANCE: invention relates to silicon production method distinguishing from known carbothermic ones in that cubic-structure dense silicon is prepared from materials containing other elements, aluminum, and phosphorus by affecting mixture of crystalline substances containing mainly oxygen, aluminum, and phosphorus by electromagnetic field with density at least 1011 A/sq.m. Invention can be used in creating new materials. Emission spectral analysis and mass-spectrum data support formation of silicon. EFFECT: expanded technical possibilities in high-pressure silicon production.

Description

Изобретение относится к способам получения элементов, в частности элементарного кремния, который может быть использован для получения новых материалов. The invention relates to methods for producing elements, in particular elemental silicon, which can be used to obtain new materials.

Известные способы получения элементарного кремния [1] основаны на восстановлении оксида кремния углеродсодержащими веществами по реакции
SiO2 + 2C ---> Si + 2 CO.
Known methods for producing elemental silicon [1] are based on the reduction of silicon oxide by carbon-containing substances by reaction
SiO 2 + 2C ---> Si + 2 CO.

Порошкообразную смесь исходных веществ восстанавливают в электрической дуге и выплавляют технический элементарный кремний. Наиболее близким способом для достижения технического результата является способ получения плотного кремния, другой кристаллической модификации, обработкой обычного кремния при высоком давлении более 20 МПа [2]. Все технологически используемые способы получения элементарного кремния основаны на выделении из кремнийсодержащих оксидных материалов в процессе восстановления, карботермии. A powdery mixture of starting materials is reduced in an electric arc and technical elemental silicon is melted. The closest way to achieve a technical result is a method for producing dense silicon, another crystalline modification, by treating ordinary silicon at a high pressure of more than 20 MPa [2]. All technologically used methods for the production of elemental silicon are based on the isolation of silicon-containing oxide materials in the recovery process, carbothermy.

Предлагаемый способ основан на превращении (трансмутации) других химических элементов алюминия и фосфора в элементарный кремний. В этом его отличие от способа прототипа. Превращение достигается пропусканием электрического тока через смесь кристаллических веществ, содержащих основные элементы O, Al, P, при плотности тока не менее 1011 А/м2.The proposed method is based on the conversion (transmutation) of other chemical elements of aluminum and phosphorus into elemental silicon. This is its difference from the prototype method. The conversion is achieved by passing an electric current through a mixture of crystalline substances containing the basic elements O, Al, P, at a current density of at least 10 11 A / m 2 .

Техническим результатом изобретения является расширение арсенала технических средств, а именно получение впервые кремния высокого давления из других химических элементов. Техническим результатом также можно считать получение кремния кристаллической модификации высокого давления при атмосферном давлении. The technical result of the invention is the expansion of the arsenal of technical means, namely, obtaining for the first time high pressure silicon from other chemical elements. The technical result can also be considered obtaining silicon crystalline modification of high pressure at atmospheric pressure.

Пример. На смесь кристаллических веществ, содержащих основные элементы O, Al, P, в пространстве между электродами действовали импульсным электрическим током плотностью более 1011 А/м2. Образец анализировали на содержание кремния в сопоставлении с исходной смесью. Гравиметрический анализ в форме оксида кремния, полученного после выщелачивания образца водным слабощелочным раствором NaOH, последующего осаждения и отделения кремниевой кислоты и высушивания до постоянной массы [3], показал 10 мас.% кремния в продукте.Example. A mixture of crystalline substances containing the basic elements O, Al, P in the space between the electrodes was acted upon by a pulsed electric current with a density of more than 10 11 A / m 2 . The sample was analyzed for silicon content in comparison with the initial mixture. Gravimetric analysis in the form of silicon oxide obtained after the sample was leached with an aqueous slightly alkaline NaOH solution, followed by precipitation and separation of silicic acid and drying to constant weight [3], showed 10 wt.% Silicon in the product.

Применяли эмиссионный спектроскопический анализ, спектрометр ИСП-28 с источником, плазмотроном дугового типа килогерцевого диапазона частот [4]. We used emission spectroscopic analysis, an ISP-28 spectrometer with a source, an arc-type plasmatron of the kilohertz frequency range [4].

Линии кремния

Figure 00000001
2881, 2528, 2516, 2506 обнаружены в исходных смесях (менее 1 мас.%). В продукте увеличение их интенсивности в 6 раз подтверждает образование кремния. Линии дублетов алюминия
Figure 00000002
3082 - 3092; 2652 - 2669; 2568 - 2575; 2367 - 2373 обнаружены во всех образцах, но интенсивность их в исходной смеси в 5 раз выше. Линии фосфора
Figure 00000003
2554, 2553, 2534 и др. высокой интенсивности найдены в исходных смесях, в продуктах они отсутствуют за исключением очень слабой линии 2535
Figure 00000004

Применяли энергомасс-анализатор ЭМАЛ-2 для масс-спектрометрического анализа исходных смесей и продуктов превращения по разработанной методике определения кремния в режиме безфракционного испарения образца с помощью лазера и регистрации на фотопленке после разделения потока ионов. В масс-спектрах продукта наблюдали пики ионов изотопов кремния (m/e): однозарядных 28, 29, 30 и двухзарядных 14, 14,5, 15 с относительной интенсивностью, согласующейся с эталонным образцом кремния. В масс-спектрах исходной смеси обнаруживаются следовые количества кремния. В обоих образцах наблюдали пики 13,5; 27 ионов алюминия и 15,5; 31 ионов фосфора, соответственно двух- и однозарядных.Silicon lines
Figure 00000001
2881, 2528, 2516, 2506 were found in the initial mixtures (less than 1 wt.%). A 6-fold increase in their intensity in the product confirms the formation of silicon. Aluminum doublet lines
Figure 00000002
3082-3092; 2652-2669; 2568 - 2575; 2367–2373 were found in all samples, but their intensity in the initial mixture was 5 times higher. Phosphorus lines
Figure 00000003
2554, 2553, 2534, and others of high intensity were found in the initial mixtures; they are absent in the products with the exception of a very weak line 2535
Figure 00000004

An EMAL-2 energy mass analyzer was used for mass spectrometric analysis of the initial mixtures and conversion products according to the developed method for determining silicon in the mode of fractionless sample evaporation using a laser and recording on photographic film after separation of the ion flux. In the mass spectra of the product, peaks of silicon isotope ions (m / e) were observed: singly charged 28, 29, 30 and doubly charged 14, 14.5, 15 with a relative intensity consistent with the reference silicon sample. Trace amounts of silicon are detected in the mass spectra of the initial mixture. In both samples, peaks of 13.5 were observed; 27 aluminum ions and 15.5; 31 phosphorus ions, respectively, doubly and singly charged.

Рентгенограммы записывали на дифрактометре ДРОН-4 в CuKα монохроматическом излучении. Сравнивали рентгенограммы исходной смеси, продукта и остатка продукта после кислотного выщелачивания. В рентгенограммах продукта, в том числе после выщелачивания, найдены уширенные рефлексы d,

Figure 00000005
2,689, 2,334, 1,558, 1,106, отвечающие кубической фазе плотного кремния высокого давления (более 20 МПа) [2, 5] , не перекрывающиеся с рефлексами других присутствующих фаз. В продукте после выщелачивания преобладают фазы α- и γ- Al2O3. По уширению рефлекса d = 2,689
Figure 00000006
(I/I0 = 100%), оценен размер - менее 320
Figure 00000007
микрокристаллитов фазы плотного кремния.X-ray diffraction patterns were recorded on a DRON-4 diffractometer in CuK α monochromatic radiation. Radiographs of the initial mixture, product, and product residue after acid leaching were compared. In radiographs of the product, including after leaching, broadened reflexes d,
Figure 00000005
2,689, 2,334, 1,558, 1,106, corresponding to the cubic phase of dense high-pressure silicon (more than 20 MPa) [2, 5], not overlapping with reflexes of other phases present. After leaching, the phases dominate in the product are α- and γ-Al 2 O 3 . By broadening of the reflex d = 2,689
Figure 00000006
(I / I 0 = 100%), estimated size - less than 320
Figure 00000007
microcrystallite phase of dense silicon.

Полученные результаты для продукта в сравнении с исходной смесью подтверждают образование кремния в результате превращения (трансмутации) алюминия и фосфора. The obtained results for the product in comparison with the initial mixture confirm the formation of silicon as a result of the conversion (transmutation) of aluminum and phosphorus.

При плотности тока менее 1011 А/м2 кремний не образуется из других химических элементов исходной смеси и не обнаруживается описанными методами анализа.When the current density is less than 10 11 A / m 2, silicon is not formed from other chemical elements of the initial mixture and is not detected by the analysis methods described.

Изобретение позволяет получать элементарный кремний из других элементов, алюминия и фосфора. Кроме того, плотный кремний с кубической кристаллической структурой получается без использования техники высоких давлений более 20 МПа. The invention allows to obtain elemental silicon from other elements, aluminum and phosphorus. In addition, dense silicon with a cubic crystalline structure is obtained without the use of high pressure techniques of more than 20 MPa.

Claims (1)

Способ получения кремния, включающий получение элементарного кремния высокого давления, отличающийся тем, что кремний получают из химических элементов алюминия и фосфора действием электрического тока плотностью более 1011 А/м2 на смесь кристаллических веществ, содержащих кислород, алюминий, фосфор.A method of producing silicon, including the production of high-pressure elemental silicon, characterized in that silicon is obtained from the chemical elements of aluminum and phosphorus by the action of an electric current with a density of more than 10 11 A / m 2 on a mixture of crystalline substances containing oxygen, aluminum, phosphorus.
RU97103790A 1997-03-12 1997-03-12 Silicon production method RU2140110C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97103790A RU2140110C1 (en) 1997-03-12 1997-03-12 Silicon production method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97103790A RU2140110C1 (en) 1997-03-12 1997-03-12 Silicon production method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU97103790A RU97103790A (en) 1999-04-10
RU2140110C1 true RU2140110C1 (en) 1999-10-20

Family

ID=20190735

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU97103790A RU2140110C1 (en) 1997-03-12 1997-03-12 Silicon production method

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2140110C1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004023494A1 (en) * 2001-02-20 2004-03-18 Gritskevich Oleg Vyacheslavovi Method for synthesising novel materials and reactor for carrying out said method
RU2456591C1 (en) * 2011-05-10 2012-07-20 Открытое акционерное общество "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" Method of determining silicon content in uranium materials

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004023494A1 (en) * 2001-02-20 2004-03-18 Gritskevich Oleg Vyacheslavovi Method for synthesising novel materials and reactor for carrying out said method
RU2456591C1 (en) * 2011-05-10 2012-07-20 Открытое акционерное общество "УРАЛЬСКИЙ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ" Method of determining silicon content in uranium materials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Fuke et al. Near threshold photoionization of silicon clusters in the 248–146 nm region: Ionization potentials for Si n
Leroi et al. Infrared Spectra of Gaseous Transition‐Metal Dihalides
Ptasińska et al. Bond selective dissociative electron attachment to thymine
Stockdale et al. Production of negative ions from CH3X molecules (CH3NO2, CH3CN, CH3I, CH3Br) by electron impact and by collisions with atoms in excited Rydberg states
Burgers et al. The gas phase ion chemistry of the acetyl cation and isomeric [C2H3O]+ ions. On the structure of the [C2H3O]+ daughter ions generated from the enol of acetone radical cation
Foner et al. Ionization potential of the free HO2 radical and the H–O2 bond dissociation energy
Soderholm et al. An EXAFS study of the metallofullerene YC82: is the yttrium inside the cage?
Thonnard et al. Resonance ionization spectroscopy and the detection of 81Kr
Gao et al. Quantum state-to-state vacuum ultraviolet photodissociation dynamics of small molecules
RU2140110C1 (en) Silicon production method
US4000051A (en) Laser isotope separation process
Hoffmann et al. Analysis of gaseous reaction products of wet chemical silicon etching by conventional direct current glow discharge optical emission spectrometry (DC-GD-OES)
Mitsuke et al. 4d→ 4f dipole resonance of the metal atom encapsulated in a fullerene cage: Ce@ C82
Moll et al. Synthesis and characterization of uranyl orthosilicate (UO2) 2SiO4· 2H2O
Shibata et al. Precise isotope determination of trace amounts of Nd in magnesium-rich samples
JPH0748371B2 (en) Ionization method and apparatus for high pressure mass spectrometry
Hesse et al. Mass spectrométrie trace element analysis of calcium oxalate uroliths
Vasil'Ev et al. Resonant free electron capture spectra of C60F48
Locht et al. A mass spectrometric photoionization study of CH3F. The CH+ 2, CH+ 3 and CH2F+ ion formation
Dance et al. Molecular manganese sulfide clusters formed by laser ablation
Herce et al. Ionization of CH4 and CD4 on Impact of 2 3S and 2 1S Helium Atoms
Curtis et al. A study of the electron capture induced decompositions and charge separation reactions of the doubly charged isomeric ions of the methylpyridines and aniline
Boltalina et al. A mass spectrometric study of C 60 F 48
Bannykh et al. New approach to surface ionization and drift-tube spectroscopy of organic molecules
Sulzer et al. Probing royal demolition explosive (1, 3, 5-trinitro-1, 3, 5-triazocyclohexane) by low-energy electrons: Strong dissociative electron attachment near 0 eV