RU2100868C1 - Tunnel current and clearance control device (variants) - Google Patents

Tunnel current and clearance control device (variants) Download PDF

Info

Publication number
RU2100868C1
RU2100868C1 RU96108564/07A RU96108564A RU2100868C1 RU 2100868 C1 RU2100868 C1 RU 2100868C1 RU 96108564/07 A RU96108564/07 A RU 96108564/07A RU 96108564 A RU96108564 A RU 96108564A RU 2100868 C1 RU2100868 C1 RU 2100868C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
probe
piezoelectric element
voltage
gap
voltage source
Prior art date
Application number
RU96108564/07A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU96108564A (en
Inventor
В.К. Неволин
Р.В. Данилов
Original Assignee
Московский институт электронной техники (технический университет)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский институт электронной техники (технический университет) filed Critical Московский институт электронной техники (технический университет)
Priority to RU96108564/07A priority Critical patent/RU2100868C1/en
Publication of RU96108564A publication Critical patent/RU96108564A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2100868C1 publication Critical patent/RU2100868C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

FIELD: electrical engineering. SUBSTANCE: device has voltage source, piezoelectric element with probe fixed to it, and terminal for connection of specimen which forms tunnel clearance together with probe. In addition, device has fixed resistor connected in parallel to piezoelectric element inserted between probe and voltage source connected to terminal. Piezoelectric element connection polarity is such that voltage rise across piezoelectric element provides for probe displacement away from specimen. EFFECT: more reliable control. 2 cl, 4 dwg

Description

Устройство может применятся как в растровой туннельной микроскопии, так и в приборах нанотехнологии, где необходимо автоматическое поддержание туннельного тока и зазора. Особую важность имеет применение данного устройства для многозондовых систем, где необходимо независимое автоматическое управление большим количеством зондов одновременно. The device can be used both in scanning tunneling microscopy and in nanotechnology devices where automatic maintenance of tunneling current and gap is necessary. Of particular importance is the use of this device for multi-probe systems, where independent automatic control of a large number of probes is required simultaneously.

Известна схема управления туннельным током и зазором в микроскопе [1] Она состоит из входного блока преобразователь ток напряжение, вход которого подключен к зонду и образцу, и блока цепи обратной связи, вход которого подключен к выходу входного блока, а выход подключен к пьезопреобразователю. Блок цепи обратной связи состоит из источника опорного напряжения, регулятора для ручной установки напряжения на зазоре, инвертора входного напряжения, подблока сравнения туннельного тока и усиления сигнала рассогласования, аналогового запоминающего устройства, интегратора, фильтра высоких частот Баттерворта, инвертора, высоковольтного усилителя. A known scheme for controlling the tunneling current and the gap in the microscope [1] It consists of an input unit, a current-voltage converter, the input of which is connected to the probe and the sample, and a feedback circuit unit, the input of which is connected to the output of the input unit, and the output is connected to the piezoelectric transducer. The feedback circuit block consists of a reference voltage source, a regulator for manually setting the voltage at the gap, an input voltage inverter, a tunnel current comparison subunit and an error signal amplification, an analog storage device, an integrator, a Butterworth high-pass filter, an inverter, and a high-voltage amplifier.

В качестве прототипа выбрана схема управления туннельным током и зазором в туннельном микроскопе [2] Блок-схема устройства управления состоит из трех основных составляющих: туннельного промежутка (зонд, образец), электронного блока управления, исполняющего устройства пьезоэлемента. Ввиду сложной амплитудно-частотной характеристики пьезоэлемента (наличие резонансов) к электронному блоку предъявляются достаточно жесткие требования для предотвращения самовозбуждения по петле обратной связи. Электронный блок состоит из активного выпрямителя, логарифмического усилителя, интегратора, инвертирующего усилителя, суммирующего усилителя с высоким возможным выходным напряжением. Данная схема обратной связи является достаточно типичной для аналоговых устройств управления в туннельных микроскопах и обладает рядом недостатков: электронный блок, настроенный для работы с определенным типом пьезоэлементов, должен быть перестроен в случае применения другого типа пьезоэлементов. Конструкция достаточно сложная, содержит большое количество элементов, что снижает ее надежность из-за более высокой вероятности дрейфа параметров или выхода из строя одного из элементов. Применение такой конструкции для многозондовых устройств, где необходимо независимое управление большим количеством зондов, приведет к высокой стоимости, к значительному снижению надежности, увеличению размеров конструкции. As a prototype, a tunnel current and gap control scheme in a tunneling microscope was selected [2]. A control device block diagram consists of three main components: a tunnel gap (probe, sample), an electronic control unit, and a piezoelectric element executing device. Due to the complex amplitude-frequency characteristics of the piezoelectric element (the presence of resonances), rather strict requirements are imposed on the electronic unit to prevent self-excitation along the feedback loop. The electronic unit consists of an active rectifier, a logarithmic amplifier, an integrator, an inverting amplifier, a summing amplifier with the highest possible output voltage. This feedback scheme is quite typical for analog control devices in tunneling microscopes and has several disadvantages: an electronic unit configured to work with a certain type of piezoelectric elements must be rebuilt if another type of piezoelectric elements is used. The design is quite complex, contains a large number of elements, which reduces its reliability due to the higher probability of parameter drift or failure of one of the elements. The use of this design for multi-probe devices, where independent control of a large number of probes is required, will lead to high cost, to a significant decrease in reliability, and an increase in the size of the structure.

Технической задачей является повышение надежности и устойчивости к самовозбуждению, повышение быстродействия за счет устранения задержек, связанных с переходными процессами во внешнем электронном блоке, а также возможность миниатюризации предлагаемого устройства. The technical task is to increase the reliability and resistance to self-excitation, increase speed by eliminating delays associated with transients in the external electronic unit, as well as the possibility of miniaturization of the proposed device.

Предлагаются два варианта устройства для управления туннельным током и туннельным зазором, содержащее пьезоэлемент, туннельный зонд, резистор, источник напряжения и клемму для подключения образца. Two versions of the device for controlling the tunneling current and the tunneling gap are proposed, comprising a piezoelectric element, a tunneling probe, a resistor, a voltage source, and a sample connection terminal.

По варианту 1 эти элементы соединены между собой следующим образом: туннельный зонд жестко закреплен на пьезоэлементе, постоянный резистор подключен параллельно пьезоэлементу, который соединен последовательно с источником напряжения и зондом, при этом взаимное включение пьезоэлемента и источника напряжения осуществлено с учетом полярности обоих элементов, а именно разнополярно, а источник напряжения соединен с клеммой для измеряемого образца. In option 1, these elements are interconnected as follows: the tunnel probe is rigidly fixed to the piezoelectric element, the constant resistor is connected in parallel with the piezoelectric element, which is connected in series with the voltage source and the probe, while the piezoelectric element and the voltage source are mutually connected taking into account the polarity of both elements, namely bipolar, and the voltage source is connected to the terminal for the measured sample.

По варианту 2 туннельный зонд также жестко прикреплен к пьезоэлементу, постоянный резистор, источник напряжения и пьезоэлемент соединены последовательно, образуя замкнутый контур, а зонд и клемма для измеряемого образца, где образуется туннельный зазор, подключены параллельно пьезоэлементу. Взаимное включение пьезоэлемента и источника напряжения осуществлено с учетом полярности этих элементов (однополярно). In option 2, the tunnel probe is also rigidly attached to the piezoelectric element, a constant resistor, voltage source, and piezoelectric element are connected in series, forming a closed loop, and the probe and terminal for the measured sample, where the tunnel gap is formed, are connected in parallel with the piezoelectric element. The mutual inclusion of the piezoelectric element and the voltage source is carried out taking into account the polarity of these elements (unipolar).

По варианту 1 полярность включения источника напряжения и пьезоэлемента разнополярная и такая, что увеличение напряженности на пьезоэлементе приводит к перемещению зонда в направлении от образца, а уменьшение напряжения приводит к перемещению зонда в направлении к образцу. According to option 1, the polarity of switching on the voltage source and the piezoelectric element is bipolar and such that an increase in tension on the piezoelectric element leads to the probe moving in the direction from the sample, and a decrease in voltage leads to the probe moving in the direction toward the sample.

По варианту 2 полярность включения, а именно однополярное включение, должна быть такой, что увеличение напряжения на пьезоэлементе вызывает перемещение зонда в направлении к образцу, а уменьшение в направлении противоположном. Необходимо подчеркнуть, что и в варианте 1, и в варианте 2 важно именно взаимное включение пьезоэлемента и источника напряжения, т.е. если включение правильное то, при замене полярности включения источника напряжения и пьезоэлемента на противоположное, схема сохраняет работоспособность, а туннельный ток изменит направление. In option 2, the polarity of the inclusion, namely, unipolar inclusion, should be such that an increase in the voltage on the piezoelectric element causes the probe to move toward the sample, and the decrease in the opposite direction. It must be emphasized that both in option 1 and in option 2, it is precisely the mutual inclusion of the piezoelectric element and the voltage source, i.e. if the inclusion is correct then, when replacing the polarity of the voltage source and the piezoelectric element on the opposite, the circuit remains operational, and the tunneling current will change direction.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема включения, вариант 1; на фиг. 2 принципиальная схема включения, вариант 2; на фиг. 3 эквивалентная электрическая схема, вариант 1; на фиг.4 эквивалентная электрическая схема, вариант 2. In FIG. 1 shows a circuit diagram of the inclusion, option 1; in FIG. 2 circuit diagram of inclusion, option 2; in FIG. 3 equivalent electrical circuit, option 1; figure 4 equivalent circuit diagram, option 2.

На фиг. 1 и 2 приняты следующие обозначения: 1 резистор, 2 - пьезоэлемент, 3 зонд, 4 образец, 5 источник напряжения. In FIG. 1 and 2 the following designations are accepted: 1 resistor, 2 - piezoelectric element, 3 probe, 4 sample, 5 voltage source.

На фиг. 3 и 4 приняты обозначения: 6 индуктивность L, 7 эквивалентное сопротивление потерь, 8 электрическая емкость Cк, 9 паразитная емкость пьезоэлемента.In FIG. 3 and 4, the designations are accepted: 6 inductance L, 7 equivalent loss resistance, 8 electric capacitance C k , 9 parasitic capacitance of the piezoelectric element.

Уравнение, описывающее стационарное состояние системы управления, выглядит так:

Figure 00000002

где Rо•exp[D-(Uз -Uо)•R]
Figure 00000003
есть сопротивление зазора, а D-(Uз Uо)•R d величина зазора между острием зонда и поверхностью образца;
Uз напряжение на зазоре;
Uп напряжение питания;
Rк величина сопротивления;
R чувствительность пьезоэлемента;
U0 напряжение на зазоре, когда его величина равна нулю;
Ф работа выхода электрона;
Rо сопротивление зазора, когда величина зазора равна нулю;
D величина для отсчета зазора.The equation describing the stationary state of the control system looks like this:
Figure 00000002

where R o • exp [D- (U s -U o ) • R]
Figure 00000003
is the resistance of the gap, and D- (U З U о ) • R d is the gap between the tip of the probe and the surface of the sample;
U s the voltage at the gap;
U p supply voltage;
R to the value of resistance;
R sensitivity of the piezoelectric element;
U 0 the voltage at the gap, when its value is zero;
F electron work function;
R about the resistance of the gap, when the gap is zero;
D value for counting the gap.

Рассмотрим принцип действия устройства, вариант 1. Consider the principle of the device, option 1.

Резистор 1 и зазор между острием зонда и поверхностью образца образуют делитель напряжения питания. Когда зазор велик, ток отсутствует, напряжение на зазоре равно напряжению питания, а напряжение на пьезоэлементе 2 и резисторе 1 равно 0. При уменьшении зазора напряженность поля возрастает, появляется ток и напряжение на пьезоэлементе 2 и резисторе 1. При этом пьезоэлемент 2 деформируется, отводя зонд на расстояние лишь немногим меньшее, чем то, что проходит образец, и так почти во всей части динамического диапазона, причем напряжение на зазоре Uз практически пропорционально величине зазора d, что следует из теории и хорошо согласуется с экспериментом. После определенного переходного участка зонд 3 начинает мало реагировать на приближение образца 4 и происходит касание.The resistor 1 and the gap between the tip of the probe and the surface of the sample form a voltage divider. When the gap is large, there is no current, the voltage at the gap is equal to the supply voltage, and the voltage at the piezoelectric element 2 and resistor 1 is 0. When the gap is reduced, the field strength increases, the current and voltage at the piezoelectric element 2 and resistor 1 appear. At the same time, the piezoelectric element 2 is deformed, taking probe at a distance only slightly less than that the sample passes, and because almost entire portion of the dynamic range, the voltage U across the gap of substantially proportional to the gap d, that follows from the theory is in good agreement with exp ments. After a certain transitional section, probe 3 begins to respond little to the approach of sample 4 and there is a touch.

Для оценки устойчивости и скорости переходных процессов рассмотрены нестационарные уравнения как с учетом резонансов (в приближении пьезоэлемент - пьезорезонатор), так и без учета резонансов с учетом лишь паразитной емкости пьезоэлемента (фиг.3, фиг.4). Анализ уравнений показал, что резонансные свойства пьезоэлемента при таком включении не оказывают большого влияния на устойчивость работы устройства, а это свидетельствует о возможности применения в нем различных типов пьезоэлементов. To assess the stability and speed of transients, unsteady equations are considered both taking into account resonances (in the approximation of a piezoelectric element - a piezoresonator), and without taking into account resonances, taking into account only the parasitic capacitance of the piezoelectric element (Fig. 3, Fig. 4). An analysis of the equations showed that the resonance properties of the piezoelectric element with this inclusion do not have a big impact on the stability of the device, and this indicates the possibility of using various types of piezoelectric elements in it.

Предлагаемое устройство в отличии от аналогов не содержит внешнего электронного блока, благодаря чему образуется система, находящаяся в устойчивом равновесии. Причем при внешнем воздействии, а именно, случайном приближении образца, изменении высоты рельефа при сканировании система переходит в новое устойчивое состояние, при этом зазор изменяется на величину, которая гораздо меньше величины внешнего воздействия. The proposed device, unlike analogues, does not contain an external electronic unit, so that a system is formed that is in stable equilibrium. Moreover, with external exposure, namely, a random approximation of the sample, a change in the height of the relief during scanning, the system goes into a new stable state, while the gap changes by an amount that is much less than the magnitude of the external impact.

Варианты устройства отличаются тем, что, если аварийно отключается источник питания во время работы, то в первом варианте зонд может "воткнутся" в образец, а во втором отойдет от образца. Иначе говоря, в первом варианте, чтобы выйти из режима слежения зазора, как и в обычных электронных устройствах слежения, нужно отвести подложку от зонда (или зонд от подложки). Во втором варианте предлагаемого устройства достаточно отключить источник напряжения. The device variants differ in that if the power source is switched off accidentally during operation, then in the first version the probe may “stick” into the sample, and in the second it will move away from the sample. In other words, in the first embodiment, in order to exit the gap tracking mode, as in conventional electronic tracking devices, it is necessary to remove the substrate from the probe (or the probe from the substrate). In the second embodiment of the proposed device, it is enough to disconnect the voltage source.

Авторам не известно использование устройств, регулирующих поддержание туннельного зазора и туннельного тока, а именно, обеспечивающих обратную связь в системах управления сканирующим туннельным микроскопом, без использования внешних электронных блоков. Можно сделать вывод, что предлагаемое устройство соответствует критерию изобретательский уровень. The authors do not know the use of devices that regulate the maintenance of the tunnel gap and the tunnel current, namely, providing feedback in the control systems of the scanning tunneling microscope, without the use of external electronic units. We can conclude that the proposed device meets the criterion of inventive step.

Пример выполнения. Для экспериментальных исследований был собран макет на механической базе туннельного микроскопа с трубчатым пьезоэлементом 2 из заполяризованной керамики ЦТС-19 с чувствительностью 5 нм/В. Игольчатый зонд 3 был изготовлен из вольфрама с применением процесса электрохимического травления. Для оптимальной зависимости параметров работы устройства от Rк использовался постоянный резистор 1 с номиналом 1 МОм. В качестве источника напряжения 5 применялись как стабилизированные блоки питания, так и батареи. Напряжение на зазоре измерялось при помощи как высокого вольтметра, так и при помощи осциллографа. После монтажа конструкции вход в рабочий режим осуществляется следующим образом. Зонд с помощью оптического устройства устанавливается на расстоянии 10 15 мкм от поверхности образца. После этого включается питание как в варианте 1, так и в варианте 2 и начинается плавное сближение зонда и образца с помощью электромеханического привода микроскопа до появления заданного тока, т.е. появления напряжения на пьезоэлементе 2 и резисторе 1 в варианте 1, и напряжения на резисторе 1 в варианте 2. После проведения исследований для выхода из режима в варианте 1 необходимо обязательно отвести подложку перед выключением питания, как в обычных микроскопах, а в варианте 2 можно отключить питание сразу.Execution example. For experimental studies, a prototype was assembled on the mechanical base of a tunneling microscope with a tubular piezoelectric element 2 made of polarized ZTS-19 ceramics with a sensitivity of 5 nm / V. The needle probe 3 was made of tungsten using an electrochemical etching process. For the optimal dependence of the operation parameters of the device from R to , a constant resistor 1 with a nominal value of 1 MΩ was used. As a voltage source 5, both stabilized power supplies and batteries were used. The gap voltage was measured using both a high voltmeter and an oscilloscope. After mounting the structure, the entrance to the operating mode is as follows. The probe using an optical device is installed at a distance of 10 15 microns from the surface of the sample. After that, the power is turned on both in option 1 and in option 2 and a smooth approximation of the probe and the sample begins using the electromechanical drive of the microscope until the specified current appears, i.e. voltage on piezoelectric element 2 and resistor 1 in option 1, and voltage on resistor 1 in option 2. food immediately.

Предложенное изобретение имеет широкий спектр применений: а) туннельная микроскопия; б) датчики на туннельном эффекте; в) многозондовые системы для нанотехнологических целей; г) многозондовые системы для устройств сверхплотной записи информации. The proposed invention has a wide range of applications: a) tunneling microscopy; b) tunnel effect sensors; c) multi-probe systems for nanotechnological purposes; d) multi-probe systems for superdense information recording devices.

Все эти возможные области применения относятся к самым современным и перспективным разделам науки и техники. При этом предлагаемое устройство обладает таким важным преимуществом, как практически максимальной компактностью экономичностью, высокой надежностью, помехозащищенностью из-за отсутствия активных элементов, а также отсутствием задержки на переходных процессах во внешнем электронном блоке. Устройство гораздо дешевле, что опять же очень важно для создания многозондовых устройств. All these possible applications are among the most modern and promising branches of science and technology. At the same time, the proposed device has such an important advantage as practically maximum compactness, economy, high reliability, noise immunity due to the absence of active elements, as well as the absence of delay in transients in the external electronic unit. The device is much cheaper, which again is very important for creating multi-probe devices.

Литература
1. Трояновский А. М. Цепь обратной связи и управление сканирующим туннельным микроскопом. Приборы и техника эксперимента, 1989, N1, с.165 170.
Literature
1. Troyanovsky A. M. Feedback circuit and control of a scanning tunneling microscope. Instruments and experimental technique, 1989, N1, p. 165 170.

2. ДиЛелла Д. Уондесс Дж. Коултон Р. Система управления электронным микроскопом с трубчатым пьезопреобразователем. Приборы для научных исследований, 1989, N6, с.15 21. (Rev. Sci. Instrum. 60, N 6, 997 1002). 2. DiLella D. Wandess J. Coulton R. An electron microscope control system with a tubular piezoelectric transducer. Instruments for scientific research, 1989, N6, p. 15 21. (Rev. Sci. Instrum. 60, N 6, 997 1002).

Claims (2)

1. Устройство для управления туннельным током и зазором, содержащее источник напряжения, пьезоэлемент, жестко закрепленный на нем зонд и клемму для подключения образца, формирующего совместно с зондом туннельный зазор, отличающееся тем, что устройство дополнительно содержит постоянный резистор, подключенный параллельно пьезоэлементу, включенному между зондом и источником напряжения, подключенным к клемме, при этом полярность включения пьезоэлемента такова, что повышение напряжения на нем обеспечивает перемещение зонда по направлению от образца. 1. A device for controlling the tunneling current and the gap, containing a voltage source, a piezoelectric element, a probe rigidly fixed on it and a terminal for connecting a sample forming a tunnel gap together with the probe, characterized in that the device further comprises a constant resistor connected in parallel with the piezoelectric element connected between the probe and the voltage source connected to the terminal, while the polarity of the piezoelectric element is such that increasing the voltage on it ensures that the probe moves in the direction from the sample. 2. Устройство для управления туннельным током и зазором, содержащее источник напряжения, пьезоэлемент, жестко закрепленный на нем зонд и клемму для подключения образца, формирующего совместно с зондом туннельный зазор, отличающееся тем, что устройство дополнительно содержит постоянный резистор, соединенный последовательно с источником напряжения и пьезоэлементом, образуя замкнутый контур, а цепь, элементами которой являютсяя зонд и клемма, подключена параллельно пьезоэлементу, при этом полярность включения пьезоэлемента такова, что повышение напряжения на нем обеспечивает перемещение зонда по направлению к образцу. 2. A device for controlling the tunneling current and the gap, containing a voltage source, a piezoelectric element, a probe and a terminal for connecting a sample forming a tunnel gap together with the probe, characterized in that the device further comprises a constant resistor connected in series with the voltage source and piezoelectric element, forming a closed loop, and the circuit, the elements of which are the probe and terminal, is connected in parallel with the piezoelectric element, while the polarity of the piezoelectric element is such that Vyshen voltage thereon delivers the probe moving toward the sample.
RU96108564/07A 1996-04-26 1996-04-26 Tunnel current and clearance control device (variants) RU2100868C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU96108564/07A RU2100868C1 (en) 1996-04-26 1996-04-26 Tunnel current and clearance control device (variants)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU96108564/07A RU2100868C1 (en) 1996-04-26 1996-04-26 Tunnel current and clearance control device (variants)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU96108564A RU96108564A (en) 1997-10-10
RU2100868C1 true RU2100868C1 (en) 1997-12-27

Family

ID=20180021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU96108564/07A RU2100868C1 (en) 1996-04-26 1996-04-26 Tunnel current and clearance control device (variants)

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2100868C1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Трояновский А.М. Цепь обратной связи и управление сканирующим туннельным микроскопом.- Приборы и техника эксперимента, 1989, N 1, с. 165 - 170. ДиЛелла Д., Уондесс Дж., Коултон Р. Система управления электронным микроскопом с трубчатым пьезопреобразователем.- Приборы для научных исследований, 1989, N 6, с. 15 - 21, (Rev. Sci. Instrum. v. 60, N 6, p. 997 - 1002). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Renner et al. A vertical piezoelectric inertial slider
JP2566653B2 (en) Interval controlled tunneling transducer
JP3125675B2 (en) Capacitive sensor interface circuit
Park et al. Scanning tunneling microscope
US4806755A (en) Micromechanical atomic force sensor head
KR100978699B1 (en) Electrical feedback detection system and multi-point testing apparatus
JPS62130302A (en) Method and device for forming image of surface of sample
DiLella et al. Control systems for scanning tunneling microscopes with tube scanners
JP2005233858A (en) Probe card
US4894537A (en) High stability bimorph scanning tunneling microscope
JP4511544B2 (en) Scanning probe microscope
Xu et al. Microelectromechanical scanning tunneling microscope
RU2100868C1 (en) Tunnel current and clearance control device (variants)
US6091125A (en) Micromechanical electronic device
US6466039B1 (en) Ferroelectric film property measuring device, measuring method therefor and measuring method for semiconductor memory units
US5136162A (en) Measuring device in a scanning probe microscope
JP3270141B2 (en) Force detection device
US7138808B2 (en) Movable apparatus, a measuring apparatus, a capacitive distance sensing apparatus, and a positioning device
US7116115B2 (en) Micromachined probe apparatus and methods for making and using same to characterize liquid in a fluidic channel and map embedded charge in a sample on a substrate
JPH06258072A (en) Piezoelectric element thin film evaluating apparatus, interatomic force microscope
US5122739A (en) STM-like device and method for measuring node voltages on integrated circuits
Erlandsson et al. A three‐axis micropositioner for ultrahigh vacuum use based on the inertial slider principle
SU1531181A1 (en) Scanning tunnel microscope
EP0485202B1 (en) Use of STM-like system to measure node voltage on integrated circuits
Svensson et al. A compact inertial slider STM

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20040427