RU2087014C1 - Способ получения интерференционного слоя - Google Patents

Способ получения интерференционного слоя Download PDF

Info

Publication number
RU2087014C1
RU2087014C1 RU93025237A RU93025237A RU2087014C1 RU 2087014 C1 RU2087014 C1 RU 2087014C1 RU 93025237 A RU93025237 A RU 93025237A RU 93025237 A RU93025237 A RU 93025237A RU 2087014 C1 RU2087014 C1 RU 2087014C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layers
absorption
evaporation
coatings
germanium
Prior art date
Application number
RU93025237A
Other languages
English (en)
Other versions
RU93025237A (ru
Inventor
В.Н. Глебов
А.М. Малютин
А.Ф. Голота
Н.В. Кривошеев
Original Assignee
Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам РАН filed Critical Научно-исследовательский центр по технологическим лазерам РАН
Priority to RU93025237A priority Critical patent/RU2087014C1/ru
Publication of RU93025237A publication Critical patent/RU93025237A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2087014C1 publication Critical patent/RU2087014C1/ru

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Использование: для создания ИК интерференционных покрытий различного функционального назначения. Сущность изобретения: при испарении из одного тигля испаряемый материал содержит теллура в количестве 55-58 ат.%, остальное - германий, причем испарение осуществляют электронным лучом при скорости конденсации не менее 7 нм/с.

Description

Предлагаемое изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к технологии изготовления оптических покрытий, и может быть использовано для создания интерференционных покрытий (ИП) различного функционального назначения, в том числе для оптических элементов (ОЗ) ИК лазерных систем.
ИП нашли широкое применение в оптическом приборостроении, в том числе в лазерной технике. Так в мощных технологических CO2-лазерах применяются выходные окна и резонаторные зеркала с ИП. В условиях воздействия мощных лазерных пучков в силу наличия поглощения в ИП часть оптической энергии превращается в тепло, стимулируя в покрытиях диффузию, рекристаллизацию и механические напряжения, что приводит к нестабильности оптических характеристик и разрушению покрытий.
Как правило, большинство ИП представляют собой систему чередующихся слоев с низким и высоким значением показателя преломления (см. например, Т.Н. Крылова "Интерференционные покрытия", Л. Машиностроение, 1973). Практически известно, что, чем больше число слоев в ИП, тем больше оптические потери и ниже механическая устойчивость покрытия из-за некомпенсированных внутренних механических напряжений в слоях. Последние существенно сокращают ресурс эксплуатации ОЭ с ИР, особенно в условиях воздействия мощных лазерных пучков.
Так, для высокоотражающих интерференционных зеркал число слоев можно уменьшить за счет применения диэлектрических слоев с максимальной разницей величин показателя преломления. Для ИК ИП этот принцип особенно важен, т.к. позволяет существенно повысить термомеханическую устойчивость за счет уменьшения числа слоев.
Известны ИК пленкообразующие материалы (ПОМ) с относительно высоким значением показателя преломления ZnS, ZnSe, As2S3, As2, Se3, Sb2S3, Ge, PbTe среди которых Ge и PbTe имеют максимальные значения показателя преломления в области 8-12 мкм4,0 и 5,2 соответственно, для них характерны механические напряжения растяжения (см. например, "Физика тонких пленок", под ред. Г. Хасса и др. М. Мир, т. 8, 1978, с. 36-46). В случае применения Ge и PbTe в качестве диэлектрических слоев с высоким значением показателя преломления в ИП для ОЭ для технологических CO2-лазеров проявляется их основной недостаток высокое значение поглощения; 70 и 200 см-1 соответственно ((см. например статью В. Н. Глебова и др. "Поглощение в слоях интерференционных покрытий элементов технологических CO2-лазеров", ОЖ, N 4, 1992, с. 56). В технологии оптических покрытий известен такой ПОМ как GATS, представляющий собой соединение Ge-30, As-17, Te-30, S-23 ат. (см. например статью Takeo Mjata, "R&D of optics fo high power ew CO2 lasers in the gapanese National Program", SPIE, 1986, v. 650, p.131-140). Для слоев из GATS даны следующие характеристики: n=3.1 и поглощение α = 2,5 см-1 (для λ 10,6 мкм). Основным недостатком этого ПОМ является недостаточно высокое значение показателя преломления (по сравнению с Ge и PbTe), что существенно снижает его возможности при создании высокоэффективных интерференционных покрытий для CO2-лазерной техники.
В справочнике (см. например Handbook the optical industri and sistems directory, 1979) имеется информация о ПОМ GeTe, для которого указано: массовая плотность равна 6,2 г/см3, температура плавления 725oC, температура испарения в вакууме (создающая давление паров 10-4 торр.) равна 381oC, других характеристик не приводится. В другом источнике (см. "Физика тонких пленок", М. Мир, т. 8, 1978, с. 52) имеется информация о способе получения пленок соединения AIIBVI и AIV BVII, в том числе испарением из одного тигля и конденсацией в вакууме на подложку со скоростью 15 Ангстрем/c (прототип). Упрощенная запись химической формулы соединения типа GeTe обычно означает, что использовалось соединение с составом Ge50Te50 ат.
Проведены исследования оптико-физических характеристик пленок, полученных термическим испарением в вакууме соединения GeTe с содержанием Te 40 80 ат. Определено, что величина показателя преломления слоев при содержании Te в исходном ПОМ 50 60 ат. была равна n=(3.7-3.8) для l10,6 мкм (вместо 6,1 как указано в источнике). Так же была определена зависимость поглощения слоев от состава исходного ПОМ. Для состава Ge50Te50 поглощение было в 5-6 раз меньше, чем для пленок Ge, а термостабильность этих пленок не превышала 80oC. При больших температурах лавинообразно растет поглощение и происходит разрушение пленки. С учетом результатов основными недостатками прототипа следует считать: невысокая термостабильность пленок и недостаточно низкое поглощение, что не позволяет на их основе создавать малопоглощающие и термостабильные интерференционные покрытия для технологических CO2-лазерных систем.
Целью предлагаемого изобретения является уменьшение поглощения и повышение термостабильности интерференционных слоев теллурида германия.
Цель достигается тем, что испаряемый материал содержит теллура в количестве 55-58 ат. остальное германий, а испарение осуществляют электронным лучом при скорости конденсации не менее 7 нм/с.
Проведенные исследования процесса получения слоев из соединения GeTe показали, что для достижения минимального поглощения наиболее эффективно электронно-лучевое испарение при существенно больших скоростях конденсации, что объясняется следующими причинами. Во первых соединение переходит в парообразное состояние, минуя жидкую фазу (сублимируется). Во вторых - температура сублимации небольшая (около 400oC). В результате практически исключается диссоциация и взаимодействие ПОМ с материалом тигля, что при постоянной скорости конденсации приводит с стабилизации состава паровой фазы, обеспечивая воспроизводимые оптико-физические характеристики получаемых слоев. Определено, что при содержании теллура в исходном ПОМ 55-58 ат. поглощение в слоях достигает 3 см-1 (что очень близко к поглощению слоев GATS).
Предлагаемое изобретение имеет следующие существенные признаки новизны. Первый исходный материал содержит теллура в количестве 55-58 ат. остальное германий. Как показали исследования, при таком оптимальном составе исходного материала достигаются минимальное поглощение и максимальная термостабильность получаемых интерференционных слоев. При меньшем и большем содержании теллура в исходном ПОМ происходит существенное увеличение поглощения. Второй испарение производят электронным лучом (методом электронно-лучевого испарения). Сам по себе этот метод известен в технологии покрытий давно, однако именно он в сочетании со свойствами исходного ПОМ позволяет получить воспроизводимые оптико-физические характеристики слоев теллурида германия. Применение резистивного испарения (как в прототипе) не позволило получить слои с хорошими характеристиками. Третий скорость конденсации выбрана не менее 7 нм/с, т. к. при меньшей скорости происходит увеличение поглощения в слоях теллурида германия, что объясняется увеличением пористости за счет замуровывания молекул остаточной атмосферы в камере. После развакуумирования камеры эти поры насыщаются влагой из окружающего воздуха, увеличивая поглощение. Максимальная скорость конденсации принципиально не ограничена, однако при этом увеличивается "капельная" фракция в молекулярном потоке, что ухудшает оптическую чистоту покрытия. Практически реализовывалась скорость конденсации до 14 нм/с.
Перечисленные существенные отличительные признаки образуют новую совокупность признаков, не обнаруженную в технической и патентной литературе.
Предложенный способ реализуется следующим образом. Методом сплавления при соответствующей температуре синтезируют соединение германия с теллуром с содержанием теллура 55 58 ат. остальное германий. Этот материал в виде гранул загружается в тигель вкладыш из стеклоуглерода, который устанавливается в медный водоохлаждаемый тигель электронно-лучевого испарителя типа УЭЛИ-1, входящего в состав вакуумной технологической установки ВУ-1А или ВУ-2М. Далее в камеру загружают рабочие подложки (полированные пластины), например из ZnSe. Камера вакуумируется до давления не более 4•10-4 Па в подложки, при необходимости нагреваются до 100oC. Далее исходный материал обезгаживается под заслонкой, после чего ток эмиссии ЭЛИ увеличивается до рабочего значения, заслонку открывают и наносят слой теллурида германия заданной толщины, например, равной четверти длины волны, со скоростью конденсации не менее 7 нм/с.
На основе предложенного способа были разработаны и изготовлены просветляющие и светоделительные (зеркальные) интерференционные покрытия на оптические элементы из ZnSe для технологических CO2-лазеров. Изготовлены просветляющие покрытия вида ПВН, состоящие из четвертьволновых слоев GeTe и ZnSe соответственно. Покрытия имели следующие характеристики: коэффициент отражения с одной поверхности r ≅0,2% коэффициент пропускания окна с двухсторонними просветляющими покрытиями составил t≅99% поглощение покрытия с одной поверхности b0,01% Просветляющее покрытие сохраняло все свои характеристики до 150oC. Другой пример изготовлены светоделительные покрытия для выходных зеркал из ZnSe вида П ВНВ из GeTe и ZnSe соответственно со следующими характеристиками: коэффициент отражения r 74% поглощение b(0,01-0,02)%
Сравним характеристики выше упомянутых интерференционных покрытий, полученных с использованием слоев теллурида германия, с аналогичными функциональными покрытиями, в которых используется конкурирующий ПОМ GATS. Согласно расчетным данным для просветляющего покрытия вида П GATS/ZnSe остаточное отражение с одной поверхности составляет r3,2% что явно не удовлетворяет требованиям лазерной оптики (должно быть не более 0,5%). Для получения коэффициента отражения светоделительного покрытия r74% из GATS и ZnSe необходима конструкция вида П (ВН)3В, имеющая семь четвертьволновых слоев вместо трех (в нашем случае). Естественно, такое покрытие должно быть дороже, с большими суммарными потерями и меньшей термомеханической устойчивостью.
Таким образом, по сравнению с прототипом предложенный способ позволяет уменьшить поглощение в слоях теллурида германия в 3-4 раза и повысить их термостабильность с 80 до 150oC.
По сравнению с конкурирующим ПОМ GATS предложенный способ позволяет практически приравнять слой теллурида германия с GATS по поглощению, причем слои теллурида германия приобретают существенное преимущество за счет большего значения показателя преломления (3,7 вместо 3,1). Достигнутые характеристики слоев теллурида германия позволяют конструировать на их основе более эффективные интерференционные покрытия для технологических CO2-лазерных систем по сравнению с GATS.

Claims (1)

  1. Способ получения интерференционного слоя, включающий термическое испарение в вакууме из одного тигля теллурида германия и конденсацию на подложке, отличающийся тем, что испаряемый материал содержит теллура в количестве 55 58 ат. остальное германий, а испарение осуществляют электронным лучом при скорости конденсации не менее 7 нм/с.
RU93025237A 1993-04-27 1993-04-27 Способ получения интерференционного слоя RU2087014C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93025237A RU2087014C1 (ru) 1993-04-27 1993-04-27 Способ получения интерференционного слоя

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93025237A RU2087014C1 (ru) 1993-04-27 1993-04-27 Способ получения интерференционного слоя

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU93025237A RU93025237A (ru) 1995-07-09
RU2087014C1 true RU2087014C1 (ru) 1997-08-10

Family

ID=20141067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU93025237A RU2087014C1 (ru) 1993-04-27 1993-04-27 Способ получения интерференционного слоя

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2087014C1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Физика тонких пленок / Под ред Г.Хасса. - М.: Мир, 1978, т. 8, с. 52. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Martin Ion-based methods for optical thin film deposition
US4099840A (en) Multilayer reflector for gas discharge laser
Gilo et al. Properties of TiO2 films prepared by ion-assisted deposition using a gridless end-Hall ion source
US5958155A (en) Process for producing thin film
US5582879A (en) Cluster beam deposition method for manufacturing thin film
Al‐Robaee et al. Influence of substrate temperature on the properties of oxygen‐ion‐assisted deposited CeO2 films
Hass et al. Optical film materials and their applications
RU2087014C1 (ru) Способ получения интерференционного слоя
EP0220061A2 (en) Optical recording coating
WO1985004748A1 (en) Optical information storage
JPH07198935A (ja) 多層膜フィルタの波長シフト温度係数の選定方法及び波長シフト温度係数が略ゼロの多層膜フィルタ
US3744870A (en) Optical filter comprising a substrate of metal fluoride having deposited thereon a film of strontium or barium fluoride
Al-Robaee et al. Influence of substrate temperature on the properties of argon-ion-assisted-deposited CeO2 films
US5474851A (en) Thin film of gallium oxide and method of producing the film
Bradford et al. The effect of the substrate temperature on the optical properties of reactively evaporated silicon oxide films
US4816287A (en) Optical recording media with thermal insulation and method of making the media
US5408489A (en) Optical layer for excimer laser
JP3253065B2 (ja) 光学薄膜
Strauss et al. Mechanical stress in thin SiO2 and Ta2O5 films produced by reactive-low-voltage-ion-plating (RLVIP)
Holm et al. Humidity sensitivity of optical structures prepared by RF-biased RF sputtering
Heaney et al. Spinel (AI 2 O 3: MgO): refractive-index variations and lack of stoichiometry in evaporated films
Pulker Plasma-and ion-assisted PVD technologies for the production of hard optical coatings
Varasi et al. Plasma assisted ion plating deposition of optical thin films for coatings and integrated optical applications
Fulton et al. Ion-Assisted-Deposition using a High-Output End-Hall Ion Source
Atanassov et al. Antireflection coatings on KCl single-crystal windows with low optical loss