RU2085835C1 - Голографический способ определения рельефа поверхности объекта - Google Patents

Голографический способ определения рельефа поверхности объекта Download PDF

Info

Publication number
RU2085835C1
RU2085835C1 SU5008033A RU2085835C1 RU 2085835 C1 RU2085835 C1 RU 2085835C1 SU 5008033 A SU5008033 A SU 5008033A RU 2085835 C1 RU2085835 C1 RU 2085835C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
analyzer
hologram
waves
medium
interference pattern
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Алексеевич Александров
Леонид Викторович Танин
Original Assignee
Леонид Викторович Танин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Леонид Викторович Танин filed Critical Леонид Викторович Танин
Priority to SU5008033 priority Critical patent/RU2085835C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2085835C1 publication Critical patent/RU2085835C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)

Abstract

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактных исследований рельефа поверхности голографическими способами. Целью изобретения является повышение точности измерений за счет увеличения контраста интерференционных полос. Исследуемый объект помещают в иммерсионную камеру, освещают линейно поляризованной волной и осуществляют запись двух голограмм, изменяя состав среды в камере, причем при записи одной из голограмм используют оптически активную среду. Запись и восстановление голограмм осуществляют двумя пространственно разделенными и ортогонально поляризованными с помощью поляризатора и пластинки волнами. Поляризацию восстановленных волн сводят в одну плоскость с помощью анализатора, разворачивают анализатор вокруг оптической оси и фиксируют направление разворота, при котором контраст анализируемой интерференционной картины максимален, а направление рельефа определяют по направлению угла разворота анализатора. 2 ил.

Description

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактных исследований рельефа поверхности голографическими способами.
Известен голографический способ определения рельефа поверхности, включающий помещение объекта в камеру, содержащую поглощающую среду, освещение объекта двумя плоскими волнами с различными длинами, восстановление полученной голограммы, анализ полученной интерференционной картины на восстановленном изображении и определение высоты и направления рельефа поверхности по распределению интерференционных полос и значениям их интенсивности в максимумах и минимумах (заявка N 4680200/24-28, кл. G 01 B 9/023, решение о выдаче авт. св. от 21.09.89).
Однако данный способ достаточно сложен, ограничен по функциональным возможностям.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к заявляемому техническому решению является способ определения рельефа поверхности, заключающийся в том, что помещают объект в камеру, содержащую поглощающую среду, освещают плоской монохроматической волной, запысывают голограмму, изменяют состав поглощающей среды в камере и записывают вторую голограмму, восстанавливают полученные голограммы, осуществляют анализ интерференционной картины и по распределению интерференционных полос и значений их интенсивностей в максимумах и минимумах определяют высоту и направление рельефа (заявка N 4761018/28, кл. G 01 B 9/023, решение о выдаче авт. св. от 17.05.90).
Однако данный способ приводит к значительному снижению контраста интерференционных полос на более удаленных участках поверхности объекта.
Сущность изобретения заключается в том, что для повышения контраста интерференционных полос в голографическом способе определения рельефа поверхности объектов, заключающемся в том, что объект помещают в камеру, содержащую иммерсионную среду, освещают объект плоским монохроматическим излучением, записывают голограмму, изменяют состав среды в камере, записывают вторую голограмму, восстанавливают голограммы, осуществляют анализ интерференционной картины и определяют высоту и направление рельефа, отличием является то, что в качестве иммерсионной среды при записи одной из голограмм используют оптически активную среду, при освещении объекта излучение линейно поляризуют, запись и восстановление голограммы осуществляют с помощью излучения двух пространственно разделенных и ортогонально поляризованных волн, с помощью анализатора сводят поляризацию восстановленных волн в одну плоскость, разворачивают анализатор относительно оптической оси и фиксируют направление разворота, при котором контраст анализируемой интерференционной картины максимален, а направление рельефа определяют по направлению угла разворота анализатора.
Изобретение поясняется фиг.1 и фиг. 2 и осуществляется следующим образом.
Исследуемый объект помещают в камеру, содержащую оптически нейтральную среду, освещают плоской, линейно поляризованной монохроматической волной и записывают первую голограмму. Затем производят замену среды в камере на оптически активную и записывают вторую голограмму. К оптически активным средам относятся скипидар, никотин, растворы органических веществ и т.д. Для того, чтобы сохранить состояние поляризации объектных волн, запись и восстановление каждой голограммы осуществляют с помощью двух пространственно разделенных и ортогонально поляризованных волн (J.Opt. Soc. Am. 58, 1968. p. 701). Поляризацию восстановительных волн сводят в одну плоскость. Это можно сделать с помощью поляризатора, который в этом случае называют анализатором. Введем прямоугольную систему координат таким образом, чтобы ось ОУ совпадала с направлением колебаний электрического вектора первой волны, прошедшей через оптически нейтральную среду (фиг. 1). Тогда амплитуды волн, прошедших через анализатор А, можно записать следующим образом:
E1A=E1cosα, E2A=E2cos(θ-α), (1)
где θ угол разворота плоскости поляризации волны, прошедшей через оптически активную среду, относительно плоскости поляризации первой волны; a -угол разворота поляризатора относительно плоскости поляризации первой волны;
Figure 00000002
комплексные амплитуды;
Φ1(x,y,z), Φ2(x,y,z) фазы интерферирующих волн.
Распределение интенсивности в интерференционной картине, сформированной волнами (1), будет иметь вид:
Figure 00000003

Контраст (или видность) интерференционных полос равен
Figure 00000004

Следует отметить, что угол θ=θ(x,y) так как различные участки освещающей волны проходят различный путь в оптически активной среде в зависимости от рельефа поверхности исследуемого объекта. При этом, чем дальше удалены анализируемые точки объекта, тем больше величина угла θ а следовательно, при a=0 тем ниже контраст (3) интерференционных полос. Таким образом, величина контраста интерференционных полос, как и в прототипе, позволяет определять направление рельефа. Однако в прототипе при этом точность определения высоты рельефа в областях с низким контрастом значительно понижается. Заявляемый способ позволяет избежать этого.
Развернем анализатор на такой угол, чтобы для анализируемого участка интерференционной картины выполнялось соотношение
Figure 00000005

В этом случае контраст равен
Figure 00000006

то есть не зависит от величины угла θ= и является максимально возможным для данных амплитуд a1 и a2. В том случае, если a1 a2, то К 1.
Следовательно, добившись на анализируемом участке интерференционной картины максимального контраста интерференционных полос путем поворота анализатора, можно измерить соответствующий угол поворота a и определить из (4) угол поворота плоскости поляризации волны q.
Изменение угла разворота анализатора Da(x2, y2) при переходе от исходной точки 1 с координатами x1, y1 к анализируемой точке 2 с координатами x2, y2 можно связать с высотой рельефа Δz(x2, y2) в точке 2 относительно точки 1 с помощью следующего выражения:
Figure 00000007

где n показатель преломления оптически активной среды;
gg угол между направлением освещения и направлением наблюдения;
g постоянная вращения и с- концентрация оптически активной среды.
При выводе (6) величина Δz считалась положительной в том случае, если анализируемая точка поверхности более приближена к наблюдателю, чем исходная. Как видно из (6), угол Δα несет информацию как о величине высоты, так и о направлении рельефа поверхности. Поскольку величина высоты рельефа определяется по интерференционной картине, выражение (6) используют для определения направления рельефа. Разворот анализатора по часовой стрелке считается положительным. Знак в (6) зависит от того, какое направление вращения плоскости поляризации осуществляет используемая оптически активная среда, правое или левое. Если среда "правая" то в (6) необходимо поставить знак "минус", а если среда "левая", то "плюс". Пусть, например среда "правая", а анализатор для получения максимального контраста в окрестности анализируемой точки необходимо развернуть против часовой стрелки, тогда Da<0 и из (6) Δz>0 то есть анализируемая точка более удалена от наблюдателя, чем исходная.
Таким образом, определение высоты рельефа по интерференционной картине для всей поверхности объекта осуществляется при максимальном контрасте интерференционных полос, а направление рельефа определяется по направлению поворота плоскости, в которую сводят поляризации восстановленных волн, участвующих в формировании интерференционной картины.
В качестве примера рассмотрим реализацию заявляемого способа с помощью устройства, принципиальная схема которого представлена на фиг. 2. Устройство содержит источник 1 монохроматического излучения, телескопическую систему 2, поляризатор 3, светоделители 4, 5, зеркало 6, пластинку
Figure 00000008
7, голограмму 8, анализатор 9, камеру с иммерсионной средой 10, с помещенным в нее исследуемым объектом А.
Сначала камеру 10 с объектом А заполняют оптически нейтральной средой. Освещают исследуемый объект А плоской, линейно поляризованной монохроматической волной, сформированной с помощью источника 1 монохроматического излучения, телескопической системы 2 и поляризатора 3. Отраженную от объекта волну записывают на голограмму 8 с помощью двух ортогонально поляризованных и пространственно разделенных волн, сформированных с помощью светоделителя 4 и зеркала 6. Разворот плоскости поляризации одной из записывающих волн на 90o осуществляют с помощью пластинки
Figure 00000009
7, которую устанавливают так, чтобы ее главное сечение образовывало угол 45o с плоскостью поляризации падающей волны. После этого заменяют оптически нейтральную среду в камере 10 на оптически активную и осуществляют запись второй голограммы на ту же фотопластинку. Восстанавливают полученные голограммы теми же двумя волнами, при помощи которых они были записаны. Поляризацию восстановленных волн сводят в одну плоскость с помощью анализатора 9. Путем разворотов анализатора 9 добиваются максимального контраста интерференционных полос в каждом анализируемом участке интерференционной картины, а направление рельефа определяют по направлению поворота анализатора 9.
Таким образом, заявляемый способ, позволяя определить направление рельефа, обеспечивает при этом высокую точность определения высоты рельефа для всей исследуемой поверхности объекта за счет получения максимального контраста интерференционных полос для каждого анализируемого участка интерференционной картины.

Claims (1)

  1. Голографический способ определения рельефа поверхности объекта, заключающийся в том, что объект помещают в камеру, содержащую иммерсионную среду, освещают объект монохроматическим излучением, записывают голограмму, изменяют состав среды в камере, записывают вторую голограмму, восстанавливают голограммы, осуществляют анализ интерференционной картины и определяют высоту и направление рельефа, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, в качестве иммерсионной среды при записи одной из голограмм используют оптически активную среду, при освещении объекта излучение линейно поляризуют, запись и восстановление голограмм осуществляют с помощью излучения двух пространственно разделенных и ортогонально поляризованных волн, с помощью анализатора сводят поляризацию восстановительных волн в одну плоскость, разворачивают анализатор относительно оптической оси, фиксируют направление угла разворота, при котором контраст анализируемой интерференционной картины максимален, а направление рельефа определяют по направлению угла разворота анализатора.
SU5008033 1991-07-02 1991-07-02 Голографический способ определения рельефа поверхности объекта RU2085835C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5008033 RU2085835C1 (ru) 1991-07-02 1991-07-02 Голографический способ определения рельефа поверхности объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5008033 RU2085835C1 (ru) 1991-07-02 1991-07-02 Голографический способ определения рельефа поверхности объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2085835C1 true RU2085835C1 (ru) 1997-07-27

Family

ID=21588217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5008033 RU2085835C1 (ru) 1991-07-02 1991-07-02 Голографический способ определения рельефа поверхности объекта

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2085835C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104534980A (zh) * 2015-02-04 2015-04-22 程灏波 一种反射型无透镜数字全息测量装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N 1629749, кл. G 0 B 9/023, 1991. Авторское свидетельство СССР N 1696852, кл. G 01 B 9/02, 1991. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104534980A (zh) * 2015-02-04 2015-04-22 程灏波 一种反射型无透镜数字全息测量装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9164479B2 (en) Systems and methods of dual-plane digital holographic microscopy
Kafri et al. The physics of moiré metrology
Sirohi Introduction to optical metrology
CN107014784B (zh) 一种散射介质矢量透射矩阵的测量装置和方法
Bühl et al. Digital synthesis of multiple off-axis holograms with overlapping Fourier spectra
Kaufmann Automatic fringe analysis procedures in speckle metrology
US6433876B1 (en) Multiple wavelength or multiple shear distance quantitative differential interference contrast microscopy
RU2085835C1 (ru) Голографический способ определения рельефа поверхности объекта
Sirohi A Course of Experiments with He-Ne Lasers
Islas et al. Development of a dynamic interferometer using recycled components based on polarization phase shifting techniques
CN1039745C (zh) 实时一步双波长全息干涉检测装置
US3620589A (en) Interferometry of transparent objects
US4347000A (en) Interferometric system
Quan et al. Application of the holographic carrier fringe and FFT technique for deformation measurement
JP3233723B2 (ja) 位相パターン差判別装置
Valera et al. Strain and vibration analysis by fibre based speckle shearing interferometry
Ja Real-time non-destructive testing of phase objects using four-wave mixing with photorefractive BGO crystals
WO2005049840A2 (en) Process and apparatus for measuring the three-dimensional shape of an object
RU2071047C1 (ru) Голографический способ определения оптических характеристик прозрачных объектов
RU2090838C1 (ru) Голографический способ определения рельефа поверхности
Claus et al. Ptychography: A novel phase retrieval technique, advantages and its application
Schedin Digital holographic interferometry
Singh et al. Polarization interferometric digital holographic microscope for quantitative phase imaging and coherent noise reduction
RU2085838C1 (ru) Способ определения рельефа объекта
Sakakura Holographic fast gradient light interference microscopy (HF-GLIM)