RU2083732C1 - Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута - Google Patents

Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута Download PDF

Info

Publication number
RU2083732C1
RU2083732C1 RU94014551A RU94014551A RU2083732C1 RU 2083732 C1 RU2083732 C1 RU 2083732C1 RU 94014551 A RU94014551 A RU 94014551A RU 94014551 A RU94014551 A RU 94014551A RU 2083732 C1 RU2083732 C1 RU 2083732C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
zone
crystals
microhomogeneous
growing
melting
Prior art date
Application number
RU94014551A
Other languages
English (en)
Other versions
RU94014551A (ru
Inventor
В.В. Марычев
Ю.Д. Беляков
Е.В. Марычева
В.Ю. Беляков
Original Assignee
Акционерное общество закрытого типа "БИМКОМ"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество закрытого типа "БИМКОМ" filed Critical Акционерное общество закрытого типа "БИМКОМ"
Priority to RU94014551A priority Critical patent/RU2083732C1/ru
Publication of RU94014551A publication Critical patent/RU94014551A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2083732C1 publication Critical patent/RU2083732C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)

Abstract

Изобретение относится к холодильной технике, может быть использовано в производстве полупроводниковых кристаллов, эффективных для достижения температур от +50oC до -50oC, применяемых в качестве рабочих элементов термоэлектрических микрохолодильников. Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута осуществляют зонной плавкой в горизонтальных лодочках при избыточном давлении защитной газовой среды, причем плавку проводят с избытком материала в зоне, соответствующего по составу материалу загрузки, вдоль которой затем перемещают этот избыток в направлении кристаллизации. 4 ил.

Description

Изобретение относится к холодильной технике, а более конкретно к производству полупроводниковых кристаллов, эффективных для достижения температур от +50oC до -50oC, применяемых в качестве рабочих элементов термоэлектрических микрохолодильников.
В настоящее время температурный уровень ±50oC с оптимумом ΔT=70° при окружающей температуре +27oC, обеспечиваемый однокаскадным термоэлектрическим микрохолодильником, достигается на кристаллах твердых растворов халькогенидов висмута и сурьмы. Кристаллы составов Bi2Se0,3Te2,7+MexГy и Bi1,5Sb0,5Te3+изб. Te получают направленной кристаллизацией, способствующей достижению оптимальных кинетических параметров: коэффициенту термоЭДС и электропроводности. В качестве методов направленной кристаллизации используются вытягивание из расплава, зонная плавка или варианты Бриджмена-Стокбаргера. Наибольшее распространение получила зонная плавка, осуществляемая в вакуумированных и герметических кварцевых ампулах. В зависимости от способа нагрева зоны изменяется диаметр перекристаллизуемых слитков. Резистивный нагрев оптимален для слитков диаметром 8 -12 мм, индукционный нагрев для 18 30 мм. Для обоих видов закономерны неоднородность свойств по сечению и длине кристаллов. Перераспределение компонентов и особенно легирующей примеси MexГy можно уменьшить заменой зонной плавки на зонное выравнивание, что вдвое снизит производительность процесса, не дав ощутимого повышения однородности кристаллов по сечению слитков. При зонной плавке в ампулах из кварца предопределяющими факторами являются аппаратурные особенности процесса, а именно несоответствие скоростей перемещения фронта кристаллизации и зонного нагревателя, влияние контейнера и способа нагрева на форму фронта кристаллизации, изменение объема и состава расплавленной зоны. Зонной плавкой, зонным выравниванием или кристаллизацией по Бриджмену-Стокбаргеру в кварцевых ампулах получить микрооднородные кристаллы, особенно с заданным распределением легирующей примеси, а тем более монокристаллы твердых растворов халькогенидов висмута и сурьмы крайне затруднительно. Монокристаллы этих материалов выращивают вытягиванием из расплава по Чохральскому, где имеются условия активно регулировать микрооднородность растущего кристалла за счет управления составом расплава, использовать ориентированные затравки, препятствующие спонтанному зарождению и росту нежелательных кристаллов, а также воздействовать на флуктуации фронта кристаллизации. Однако в производственных условиях метод Чохральского для халькогенидов висмута и сурьмы используется крайне редко ввиду применения сложной и дорогостоящей аппаратуры, а также необходимости ее обслуживания высококвалифицированным персоналом.
Известен также способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута, выбранный в качестве прототипа /1/. В известном способе объем расплавленной зоны в начале цикла увеличивают путем присоединения к ней объема расплава, находящегося в полости U-образной трубки или уменьшают за счет погружения в нее мешалки.
В известном способе выращивание микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута осуществляют зонной плавкой смеси компонентов в горизонтальной кварцевой лодочке с защитным слоем углерода на стенках при избыточном давлении инертного газа с использованием неоднократного перемещения зоны плавления в противоположных направлениях с уменьшением расстояния перемещения с обоих концов, что приводит к уравнению состава закристаллизованного материала по всей длине образующегося слитка /2/.
Недостатком указанного способа является низкая макро- и микрооднородность термоэлектрических кристаллов.
Технической задачей изобретения является повышение однородности термоэлектрических кристаллов.
Это достигается тем, что в способе выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута зонной плавкой в горизонтальных лодочках при избыточном давлении защитной газовой среды согласно изобретению зонную плавку проводят с избытком материала в зоне, соответствующего по составу материалу загрузки, вдоль которой затем перемешивают этот избыток в направлении кристаллизации.
Способ выращивания кристаллов Bi2Se0,3Te2,7 и Bi1,5Sb0,5Te3 иллюстрируется схемами, изображенными на фиг.1-4.
Зонную плавку (фиг.1 и 2) осуществляют на твердой загрузке прямоугольного сечения 1, находящейся в горизонтальном контейнере-лодочке 2. Расплавленная зона 3 создается нагревателем сопротивления0 4, размещенном внутри рабочей камеры, заполненной инертным газом. Для формирования избытка расплава в зоне используется питатель 5, вдоль которого перемещается загрузка. Питатель одновременно служит экраном, препятствующим испарению компонентов из твердой загрузки, и компенсирует потери тепла с поверхности контейнера. Масса избытка расплава задается объемом питателя, экранируемого крышкой 6(фиг.3,4). Избыток расплава должен не менее, чем в 2 раза превышать массу расплава в зоне твердой загрузки. Более высокие соотношения способствуют повышению однородности выращиваемых кристаллов. Питатель и зонный нагреватель неподвижны. Перемещение загрузки через избыточную зону расплава осуществляется перемещением контейнера. Для халькогенидов висмута и сурьмы наиболее предпочтительна одновременная зонная плавка нескольких загрузок небольших сечений (в среднем 10х10 мм), перекрываемых общей зоной, содержащей избыток расплава, и заданное содержание легирующей примеси для составов Bi2Se0,3Te2,7. Это обеспечивает дополнительное повышение однородности кристаллов, поскольку форма фронта кристаллизации претерпевает меньше измерения, чем для загрузки большего сечения.
Процесс зонной плавки твердых растворов Bi2Se0,3Te2,7 и Bi1,5Sb0,5Te3 производится в избыточной атмосфере аргона. Детали устройства, обеспечивающего кристаллизацию по предлагаемому способу, которые находились в контакте с расплавами, изготовлены были из графита. Крышка питателя была изготовлена из кварца и покрыта тонким слоем пиролитического графита, позволяющего визуально контролировать процесс. Горизонтальное расположение исходной загрузки позволило использовать ориентированные затравки, помещаемые в начальные участки контейнера. Были выращены профильные кристаллы сечением 1,4х1,4 мм и сечением 9,5х9,5 мм длиной 200 мм, которые отвечали стандартам на термоэлектрические материалы по термоэлектрической добротности, коэффициенту термоЭДС и электропроводности. Избыток расплава в питателе превышал расплав зоны по размерам, соответствующим твердой загрузке, в соотношении 2,2:1 для сечений 9,5х9,5 мм; для профилей сечением 1,4х1,4 мм это соотношение составляло 8,8:1.

Claims (1)

  1. Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута зонной плавкой загрузки в горизонтальных лодочках при составе зоны, соответствующей составу материала загрузки и при избыточном давлении защитной газовой среды, отличающийся тем, что зонную плавку проводят с объемом расплава в зоне, превышающим объем расплава в сечении лодочки.
RU94014551A 1994-04-19 1994-04-19 Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута RU2083732C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94014551A RU2083732C1 (ru) 1994-04-19 1994-04-19 Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU94014551A RU2083732C1 (ru) 1994-04-19 1994-04-19 Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU94014551A RU94014551A (ru) 1996-04-27
RU2083732C1 true RU2083732C1 (ru) 1997-07-10

Family

ID=20154969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU94014551A RU2083732C1 (ru) 1994-04-19 1994-04-19 Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2083732C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD323Z (ru) * 2009-12-29 2011-08-31 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Термоэлектрический микропровод в стеклянной изоляции

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N 182889, кл. C 22 B 9/00, 1966. Патент Англии N 1013011, кл. B 1 S, 1965. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD323Z (ru) * 2009-12-29 2011-08-31 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Термоэлектрический микропровод в стеклянной изоляции

Also Published As

Publication number Publication date
RU94014551A (ru) 1996-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Szeles et al. Advances in the crystal growth of semi-insulating CdZnTe for radiation detector applications
US5087429A (en) Method and apparatus for manufacturing silicon single crystals
US3017446A (en) Preparation of material for thermocouples
Ainsworth Single crystal bismuth telluride
EP0244987B1 (en) A process for growing a multi-component crystal
Triboulet CdTe And CdTe: Hg alloys crystal growth using stoichiometric and off-stoichiometric zone passing techniques
US3370927A (en) Method of angularly pulling continuous dendritic crystals
US4303465A (en) Method of growing monocrystals of corundum from a melt
RU2083732C1 (ru) Способ выращивания микрооднородных кристаллов на основе теллурида висмута
US3025191A (en) Crystal-growing apparatus and methods
US3305485A (en) Method and device for the manufacture of a bar by segregation from a melt
US5047112A (en) Method for preparing homogeneous single crystal ternary III-V alloys
US4545848A (en) HCT Crystal growth method
JPH0557240B2 (ru)
JPH11268998A (ja) GaAs単結晶インゴットおよびその製造方法ならびにそれを用いたGaAs単結晶ウエハ
JPH0244798B2 (ru)
Gadkari The homogeneous and entire detached In0. 5Ga0. 5Sb alloy crystals grown by the slow freezing using novel VDS-process
Cabric et al. An apparatus for crystal growth in the undergraduate laboratory
Gadkari Study of the Ga Doped In (1− x) Ga x Sb (X= 0.10, 0.15, 0.25) Crystals’ the Compositional, Structural, Electrical, and the Microstructures Properties: Growth by the VDS-Process
Ciszek Synthesis and crystal growth of copper indium diselenide from the melt
Udayashankar et al. The influence of temperature gradient and lowering speed on the melt–solid interface shape of GaxIn1− xSb alloy crystals grown by vertical Bridgman technique
JP2003243732A (ja) 熱電材料、及び、熱電材料の製造方法並びに製造装置
CA2292853A1 (en) Process and apparatus for synthesizing and growing crystals
JP3513046B2 (ja) 単結晶の製造装置
JP4778150B2 (ja) ZnTe系化合物半導体単結晶の製造方法およびZnTe系化合物半導体単結晶