RU2029976C1 - Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects - Google Patents
Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects Download PDFInfo
- Publication number
- RU2029976C1 RU2029976C1 RU94016884A RU94016884A RU2029976C1 RU 2029976 C1 RU2029976 C1 RU 2029976C1 RU 94016884 A RU94016884 A RU 94016884A RU 94016884 A RU94016884 A RU 94016884A RU 2029976 C1 RU2029976 C1 RU 2029976C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- input
- micro
- output
- amplitude
- phase
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к оптике для исследования микрообъектов с линейным разрешением выше 100-50 нм, в частности, к оптической технологии для исследования микрообъектов со слабо выраженным визуальным контрастом, в медико-биологических исследованиях объектов прижизненной микроскопии, а также - динамических процессов и их функций корреляции. The invention relates to optics for the study of microobjects with a linear resolution higher than 100-50 nm, in particular, to optical technology for the study of microobjects with weakly pronounced visual contrast, in biomedical research of intravital microscopy objects, as well as dynamic processes and their correlation functions.
Известен способ визуализации с помощью оптического микроскопа, заключающийся в том, что строят два действительных изображения объекта, различающихся оптическими характеристиками - амплитудой, частотой, поляризацией, фазой, длительностью. Эти изображения сканируют с помощью электронных узлов микроскопа и усиливают. Разность видеосигналов, характеризующих различные изображения, используют для формирования видимого изображения (патент ФРГ N 2437984, 1976). A known method of visualization using an optical microscope, which consists in constructing two real images of the object, differing in optical characteristics - amplitude, frequency, polarization, phase, duration. These images are scanned using electronic components of the microscope and amplified. The difference of the video signals characterizing various images is used to form a visible image (German patent N 2437984, 1976).
Недостатком данного способа является сложность и невысокое линейное разрешение. The disadvantage of this method is the complexity and low linear resolution.
Из уровня техники наиболее близким является способ визуализации микроконтрастных объектов, при котором монохроматическим, поляризованным и когерентным излучением осуществляют засветку поля микрообъекта, отраженное излучение преобразуют электрически в соответствующие точки изображения (авт.св. СССР 1734066, 1992). From the prior art, the closest is a method for visualizing micro-contrast objects, in which monochromatic, polarized and coherent radiation illuminates the field of a micro-object, the reflected radiation is converted electrically to the corresponding image points (ed. St. USSR 1734066, 1992).
Из уровня техники наиболее близким является микроскоп, содержащий установленные на одной оптической оси лазер, модулятор, светоделитель, первый микрообъектив, а на второй - оптической оси, перпендикулярной первой, по одну из сторон от светоделителя - фотоприемник, соединенный с фазометрическим каналом, а также генератор модулирующих напряжений, соединенный с модулятором (авт.св. СССР N 1734066, 1992). The closest prior art is a microscope containing a laser, a modulator, a beam splitter, a first micro-lens mounted on one optical axis, and a optical axis perpendicular to the first, and a photodetector connected to a phase meter channel and a generator on one side of the beam splitter modulating voltages connected to a modulator (ed. St. USSR N 1734066, 1992).
Недостатком способа и устройства для его реализации является недостаточно высокое линейное разрешение, обусловленное ограничением размера пятна фокусировки, а также погрешностью при сканировании. The disadvantage of the method and device for its implementation is not a high linear resolution due to the limitation of the size of the focus spot, as well as the error during scanning.
Целью изобретения является повышение качества визуализации микроконтрастных объектов за счет увеличения линейного разрешения. The aim of the invention is to improve the quality of visualization of micro-contrast objects by increasing linear resolution.
Поставленная цель достигается тем, что в способе визуализации микроконтрастных объектов, при котором монохроматическим, поляризованным и когерентным излучением осуществляют засветку поля микрообъекта, а отраженное излучение электрически преобразуют в соответствующие точки изображения, засветку поля микрообъекта осуществляют в фазометрическом и поляризационном режимах работы наноскопа, отраженное излучение преобразуют путем сканирования по X,Y координатам и положению фокусировки по Z координате в набоp от пространственных координат { x,y,z} фаз Ф электрических сигналов, которые электрически обрабатывают методом временных интервалов и амплитуды переменной составляющей γ электрического сигнала, которую обрабатывают методом синхронного детектирования, при этом в поляризационном режиме работы наноскопа по измеренным значениям определяют азимут поляризации ϑ (x,y,z) и анизотропию Δ(x,y,z) из системы уравнений:
Δ (x,y,z) = π -2Фэл(x,y,z).This goal is achieved by the fact that in the method of visualizing micro-contrast objects, in which monochromatic, polarized and coherent radiation, the field of the micro-object is illuminated, and the reflected radiation is electrically converted to the corresponding image points, the field of the micro-object is illuminated in the phase and polarization modes of the nanoscope, the reflected radiation is converted by scanning along the X, Y coordinates and the focus position along the Z coordinate in a set of spatial coordinates t {x, y, z} phases Φ of electric signals that are electrically processed by the method of time intervals and the amplitude of the variable component γ of the electric signal, which is processed by the synchronous detection method, and in the polarization mode of the nanoscope operation, the polarization azimuth ϑ (x, y, z) and anisotropy Δ (x, y, z) from the system of equations:
Δ (x, y, z) = π -2F e (x, y, z).
Ψ(x, y, z) = arcsin, где Фэл(x,y,z) - измеренный цифровой массив функции фазы поля микрообъекта;
γэл(x,y,z) - измеренный цифровой массив функции амплитуды поля микрообъекта.Ψ (x, y, z) = arcsin where Ф el (x, y, z) is the measured digital array of the phase function of the field of the micro-object;
γ el (x, y, z) is the measured digital array of the amplitude function of the field of the micro-object.
В интерференционном режиме измеряют величины амплитуды γинт и фазы Финт при фиксированных поляризациях засветки δi,а каждый элемент засвеченного поля микрообъекта интерпретируют показателем преломления n, физической высотой h, плоскими углами элемента α,β и определяют по формулам:
n(x,y) = f1[ ϑ(x,y), Δ(x,y), Финт(x,y, δi), γинт(x,y, δi)]
h(x,y) = f2[ϑ (x,y),Δ (x,y), Финт(х,y, δi), γинт(x,y, δi)]
α (x,y) = f3[ϑ (x,y), Δ(x,y),Финт(x,y, δi), γинт(x,y, δi)]
(2)
β (x,y) = f4[ϑ (x,y), Δ(x,y),Финт(x,y, δi), γинт(x,y, δi)]
где f1,...,f4 - функции соответствующих величин;
Финт- измеренный цифровой массив функции фазы поля микрообъекта;
γинт- измеренный цифровой массив функции амплитуды поля микрообъекта;
δi - фиксированные поляризации входного излучения засветки в соответствии с фиксированными значениями модулирующего напряжения U20,U21,...,U2i.In the interference mode, the values of the amplitude γ int and phase Ф int are measured for fixed illumination polarizations δ i , and each element of the illuminated field of the micro-object is interpreted as the refractive index n, physical height h, flat angles of the element α, β and determined by the formulas:
n (x, y) = f 1 [ϑ (x, y), Δ (x, y), Ф int (x, y, δ i ), γ int (x, y, δ i )]
h (x, y) = f 2 [ϑ (x, y), Δ (x, y), Ф int (x, y, δ i ), γ int (x, y, δ i )]
α (x, y) = f 3 [ϑ (x, y), Δ (x, y), Ф int (x, y, δ i ), γ int (x, y, δ i )]
(2)
β (x, y) = f 4 [ϑ (x, y), Δ (x, y), Ф int (x, y, δ i ), γ int (x, y, δ i )]
where f 1 , ..., f 4 are functions of the corresponding quantities;
F int - the measured digital array of the phase function of the field of the micro-object;
γ int - the measured digital array of the amplitude function of the field of the micro-object;
δ i - fixed polarization of the input radiation of the illumination in accordance with the fixed values of the modulating voltage U 20 , U 21 , ..., U 2i .
Поставленная цель достигается также тем, что в оптическом поляризационном наноскопе, содержащем установленные на одной оптической оси лазер, модулятор, светоделитель, первый микрообъектив, а на второй оптической оси, перпендикулярной первой, по одну из сторон светоделителя - фотоприемник, соединенный с фазометрическим каналом, а также генератор модулирующих напряжений, соединенный с модулятором, введены установленные на первой оптической оси между лазером и электрооптическим модулятором, конденсор, между светоделителем и первым микрообъективом - шторка, а за упомянутым микрообъективом - зеркало с пьезоэлектрическим модулятором, а на второй оптической оси по одну из сторон от светоделителя - второй микрообъектив, установленный с возможностью перемещения вдоль упомянутой оси, а по другую - соответственно анализатор, окуляр и сканирующий фотоэлектронный умножитель (ФЭУ) с расположенным вне его рабочей зоны, но в поле его засветки, упомянутым фотоприемником, а также второй идентичный первому фазометрический канал, амплитудный канал, блок управления шторкой, блок системы автофокусировки второго микрообъектива, блок программного управления, соединенный через шину обмена с микро-ЭВМ, причем выход фотоэлектронного умножителя соединен соответственно через амплитудный и второй фазометрический каналы с первым и вторым информационными входами блока программного управления, третий вход которого - с выходом первого фазометрического канала, первый, второй, третий и четвертый управляющие выходы блока программного управления соединены соответственно со входом управления генератора модулирующих напряжений, со входом управления блока системы автофокусировки, со входом блока управления шторкой и входом управления сканированием фотоэлектронного умножителя, второй выход генератора модулирующих напряжений соединен со вторыми входами управления первого, второго фазометрических каналов и вторым входом управления амплитудного канала, третий его выход - со входом управления пьезоэлектрическим модулятором, при этом первый и второй фазометрические каналы включают в себя первую дифференциальную схему, управляющий вход которой соединен с информационным входом первого синхронного фильтра, а выход - через первую схему выделения фронта импульса с первым входом формирования импульса, а выход первого синхронного фильтра через последовательно соединенные усилитель-ограничитель, делитель частоты на два, вторую схему выделения фронта импульса - со вторым входом схемы формирования импульса, выход которой через схему совпадения соединен со входом выходного счетчика, а схема совпадения через второй вход - с генератором импульсов, а амплитудный канал включает в себя вторую дифференциальную схему, выход которой через последовательно соединенные третью схему выделения фронта импульса, второй синхронный фильтр с информационным входом и фильтр нижних частот соединен со входом выходного аналого-цифрового преобразователя. На чертеже изображено устройство для реализации предлагаемого способа, где на фиг. 1 изображена блок-схема устройства; на фиг.2 - блок-схема первого и второго фазометрических каналов; на фиг.3 - блок-схема амплитудного канала; на фиг. 4 - схема расположения фотоприемника относительно фотоэлектронного умножителя; на фиг.5 - диаграммы сигналов для блок-схемы фиг.1, 2, 3. The goal is also achieved by the fact that in an optical polarizing nanoscope containing a laser, a modulator, a beam splitter, a first micro lens, and on a second optical axis perpendicular to the first, a photodetector connected to a phase meter channel on one side of the beam splitter, and also a modulating voltage generator connected to the modulator, introduced a condenser installed on the first optical axis between the laser and the electro-optical modulator, between the beam splitter and the first micro the lens is a shutter, and behind the mentioned micro-lens there is a mirror with a piezoelectric modulator, and on the second optical axis, on one side of the beam splitter, there is a second micro-lens mounted with the possibility of movement along the said axis, and on the other, respectively, an analyzer, an eyepiece and a scanning photoelectron multiplier ( PMT) with a photodetector located outside its working area, but in its field of illumination, as well as a second phase-identical channel, amplitude channel, shutter control unit, system unit focusing of the second micro-lens, a program control unit connected via an exchange bus with a microcomputer, the output of the photoelectronic multiplier being connected respectively through the amplitude and second phase-measuring channels to the first and second information inputs of the program-control unit, the third input of which is the output of the first phase-measuring channel, the first , the second, third and fourth control outputs of the program control unit are connected respectively to the control input of the modulating voltage generator, with the control unit input of the autofocus system, with the input of the shutter control unit and the scan control input of the photomultiplier tube, the second output of the modulating voltage generator is connected to the second control inputs of the first, second phase-measuring channels and the second control input of the amplitude channel, its third output is with the control input of the piezoelectric modulator, the first and second phase-measuring channels include a first differential circuit, the control input of which is connected to information the input of the first synchronous filter, and the output through the first circuit of the front of the pulse with the first input of the pulse formation, and the output of the first synchronous filter through the serially connected amplifier-limiter, the frequency divider by two, the second circuit of the front of the pulse with the second input of the pulse formation circuit the output of which through the coincidence circuit is connected to the input of the output counter, and the coincidence circuit through the second input is connected to the pulse generator, and the amplitude channel includes a second differential a circuit whose output is connected in series through a third pulse edge extraction circuit, a second synchronous filter with an information input, and a low-pass filter is connected to the input of the output analog-to-digital converter. The drawing shows a device for implementing the proposed method, where in FIG. 1 shows a block diagram of a device; figure 2 is a block diagram of the first and second phaseometric channels; figure 3 is a block diagram of an amplitude channel; in FIG. 4 is a location diagram of a photodetector relative to a photoelectronic multiplier; figure 5 - signal diagrams for the block diagram of figure 1, 2, 3.
Наноскоп для визуализации микроконтрастных объектов, реализующий предлагаемый способ, содержит установленные на одной оптической оси лазер 1, конденсор 2, электрооптический модулятор 3, светоделитель 4, шторку 5, первый микрообъектив 6 и зеркало 7 с пьезоэлектрическим модулятором 8, а на второй оптической оси, перпендикулярной первой, по одну сторону от светоделителя - второй микрообъектив 9, установленный с возможностью перемещения вдоль упомянутой оси, а по другую - анализатор 10, окуляр 11 и сканирующий фотоэлектронный умножитель 12 с фотоприемником 13, расположенным вне его рабочей зоны, но в поле его засветки, а также первый 14 и второй 15 идентичные фазометрические каналы, амплитудный канал 16, генератор модулирующих напряжений 17, блок управления шторкой 18, блок системы автофокусировки 19 второго микрообъектива 9, блок программного управления 20, через шину обмена 21 соединенный с микро-ЭВМ 22, причем выход фотоэлектронного умножителя 12 соединен соответственно через амплитудный 16, второй 15 фазометрический каналы с первым и вторым информационными входами блока программного управления 20, третий вход которого через первый 14 фазометрический канал - с выходом фотоприемника 13, первый, второй, третий и четвертый управляющие выходы блока программного управления 20 соединены соответственно со входом управления генератора модулирующих напряжений 17, со входом управления блока системы автофокусировки 19, со входом блока управления шторкой 18 и входом управления сканированием фотоэлектронного умножителя 12, первый выход генератора модулирующих напряжений 17 соединен со входом управления электрооптическим модулятором 3, второй его выход - со вторыми входами управления фазометрических 14, 15 и амплитудного 16 каналов, третий его выход - со входом управления пьезоэлектрическим модулятором 8, при этом первый и второй идентичные фазометрические каналы включают в себя первую дифференцирующую схему 23, управляющий вход которой соединен с информационным входом первого 24 синхронного фильтра, а выход - через первую 25 схему выделения фронта импульса с первым входом формирования импульса 26, а выход первого 24 синхронного фильтра через последовательно соединенные усилитель-ограничитель 27, делитель частоты на два 28, вторую схему 29 выделения фронта импульса - со вторым входом схемы формирования импульса 26, выход которой через схему совпадения 30 соединен со входом выходного счетчика 31, а схема совпадения 30 через второй вход - с генератором импульсов 32, а амплитудный канал 16 включает в себя вторую 33 входную дифференцирующую схему, выход которой через последовательно соединенные третью 34 схему выделения фронта импульса, второй 35 синхронный фильтр с информационным входом и фильтр нижних частот 36 соединен со входом выходного аналого-цифрового преобразователя 37. A nanoscope for visualizing micro-contrast objects that implements the proposed method comprises a
Предлагаемый способ реализуется следующим образом. В предложенном способе визуализации получают эффект сверхразрешения в дальней зоне дифракции благодаря предложенной схеме построения наноскопа. Сверхразрешение предполагает следующие требования: источники вторичного излучения должны быть когеpентными, монохроматическими, иметь различные поляризации и фазы. В этом случае функции суммарного поля, то есть азимут поляризации ϑ (x,y, z), анизотропия Δ (x,y,z), фаза Ф(x,y,z) и амплитуда переменной составляющей (видности модуляции) γ (x,y,z) изменяются вдоль всего поля и возможна идентификация точек поля с различными функциями ϑ, Δ, Ф,γ. The proposed method is implemented as follows. In the proposed imaging method, the effect of superresolution in the far diffraction zone is obtained due to the proposed nanoscope construction scheme. Superresolution implies the following requirements: sources of secondary radiation must be coherent, monochromatic, have different polarizations and phases. In this case, the functions of the total field, i.e., the polarization azimuth ϑ (x, y, z), anisotropy Δ (x, y, z), phase Φ (x, y, z) and the amplitude of the variable component (visibility of modulation) γ (x , y, z) vary along the entire field and identification of field points with various functions ϑ, Δ, Ф, γ is possible.
В предложенном способе используют два режима работы наноскопа: поляризационный и интерференционный режимы измерений. Это связано с тем, что каждый элемент засвеченного лазером 1 поля микрообъекта монохроматическим, поляризационным и когерентным излучением интерпретируется показателем преломления n, физической высотой h, плоскими углами элемента α,β и определяется по формулам (2). In the proposed method, two nanoscope operating modes are used: polarization and interference measurement modes. This is due to the fact that each element of the microobject field illuminated by
По полученным с помощью наноскопа (фиг.1) массивам данных решают систему уравнений (2) в следующей последовательности, что является одним из возможных решений с применением законов: Снеллиуса в приближении действительных показателей преломления сред, формализма векторов Джонса для описания состояния поляризации, законов Френеля для коэффициентов отражений s- и p-поляризаций, некоторых уравнений эллипсометрии:
1.Using the data arrays obtained using the nanoscope (Fig. 1), the system of equations (2) is solved in the following sequence, which is one of the possible solutions using the laws: Snellius in the approximation of real refractive indices of media, formalism of Jones vectors to describe the state of polarization, Fresnel laws for reflection coefficients of s- and p-polarizations, some ellipsometry equations:
1.
α (x,y) = f3[ γинт(x,y, δi)]
f3: α(x,y) = arctg ,
(Функция f3 в явном виде), где начальные поляризации засветки δo и обеспечивают взаимно перпендикулярные р и s 2 поляризации.α (x, y) = f 3 [γ int (x, y, δ i )]
f 3 : α (x, y) = arctg ,
(Function f 3 explicitly), where the initial polarization of the illumination δ o and provide mutually perpendicular p and
2. 2.
β (x.y) = f4[ϑ (x,y), Δ(x,y), γинт(x,y, δi)]
f4: =
sin2β(x,y) + ,
(Функция f4 в неявном виде) где ρ (x,y) = tgϑ (x,y)exp{iΔ (x,y)}
начальные поляризации засветки δo и обеспечивают взаимно перпендикулярные р и s поляризации.β (xy) = f 4 [ϑ (x, y), Δ (x, y), γ int (x, y, δ i )]
f 4 : =
sin 2 β (x, y) + ,
(The function f 4 is implicit) where ρ (x, y) = tgϑ (x, y) exp {iΔ (x, y)}
the initial polarization of the illumination is δ o and provide mutually perpendicular to the p and s polarizations.
3. 3.
n(x,y) = f1[ ϑ(x,y), Δ (x,y), γинт(x,y, δi)]
f1: n(x,y) = n0sinβ(x,y)1 + tgβ(x,y) ,
(Функция f1 в явном виде) где ρ (x,y) = tgϑ (x,y)exp{iΔ (x,y)}
no - показатель преломления внешней среды (для воздуха no = 1),
β - определяется функцией f4.n (x, y) = f 1 [ϑ (x, y), Δ (x, y), γ int (x, y, δ i )]
f 1 : n (x, y) = n 0 sinβ (x, y) 1 + tgβ (x, y) ,
(The function f 1 is explicit) where ρ (x, y) = tgϑ (x, y) exp {iΔ (x, y)}
n o - refractive index of the external environment (for air n o = 1),
β - is determined by the function f 4 .
4. 4.
h(x,y) = f2 ϑ[ (x,y), Δ(x,y), Финт(x,y, δi), γинт(x,y, δi)]
f2: h(x,y) = ,
(Функция f2 в явном виде) где l = 1 - ,
λ - длина волны засветки,
NA - числовая апертура оптической системы,
n - показатель преломления, определяется функцией f1.h (x, y) = f 2 ϑ [(x, y), Δ (x, y), Ф int (x, y, δ i ), γ int (x, y, δ i )]
f 2 : h (x, y) = ,
(Function f 2 explicitly) where l = 1 - ,
λ is the wavelength of exposure
NA is the numerical aperture of the optical system,
n is the refractive index, determined by the function f 1 .
Решение упомянутых уравнений представляют собой изображения физических величин h(x, y), n(x,y), α (x,y), β (x,y) с поочередным выводом на дисплей (не показан) осуществляется по специальной программе с помощью микро-ЭВМ 22. Сбор массивов для решения уравнений (1), (2), производится блоком программного управления 20 (БПУ) по командам с микро-ЭВМ. БПУ 20 осуществляет также переключение между поляризационным и интерференционным режимами измерения в оптической схеме наноскопа, построенного по принципу интерферометра с возможностью перекрытия одного из его оптических плеч (элементов 6, 7, 8) с помощью управляемой БПУ 20 шторки 5 с механизмом управления 18. Кроме того, БПУ управляет подачей модулирующего напряжения на соответствующий модулятор (в зависимости от режима), формирует сигналы сканирования по координатам x и y для ФЭУ 12, осуществляет управление схемой автофокусировки 19. При этом используемые режимы реализуются в следующей последовательности. The solutions to the above equations are images of physical quantities h (x, y), n (x, y), α (x, y), β (x, y) with alternate display (not shown) is carried out according to a special program using micro-computers 22. The collection of arrays for solving equations (1), (2) is performed by the program control unit 20 (BPU) by commands from the micro-computers. The
Сначала задают поляризационный режим измерения для определения азимута поляризации ϑ (x,y,x) и анизотропии Δ (x,y,z) из системы уравнений (1). Для этого шторка 5 перекрывает с помощью механизма управления 18 по команде с БПУ 20 элементы 6 и 7 интерферометра. Генератор модулирующих напряжений 17 подает (с выхода 1) периодическое модулирующее напряжение (см. фиг.5, эпюра А1) на электрооптический модулятор 3, использующий эффект управления двулучепреломлением электрическим полем, в котором производят изменение поляризации проходящего излучения лазера по закону модуляции. First, a polarization measurement mode is set to determine the polarization azimuth ϑ (x, y, x) and the anisotropy Δ (x, y, z) from the system of equations (1). To do this, the
Конденсор 2 формирует размер пятна засветки в плоскости микрообъекта. The
Далее засветку фокусируют микрообъективом 9 на поверхности исследуемого объекта, после отражения от которого, пройдя через светоделитель 4, излучение попадает на анализатор 10, преобразующий изменения поляризации в соответствующие по закону формулы (1) изменения комплексной амплитуды. Next, the illumination is focused by a micro-lens 9 on the surface of the studied object, after reflection from which, passing through the
Гомаль (окуляр) 11 формирует размер пятна засветки в плоскости ФЭУ 12. Сканирующий ФЭУ 12 преобразует оптический сигнал в электрический для каждой точки поля засветки. Фотоприемник 13 осуществляет аналогичное преобразование для одной фиксированной точки поля. Сигнал со сканирующего ФЭУ 12 (фиг.5, эпюра Г) поступает на вход 1 фазометра 15. На вход 2 этого фазометра подается синфазный сигнал с выхода 2 генератора 17. Фазометр 15 измеряет разность фаз двух входных сигналов методом временного интервала (ВИ). The gomal (eyepiece) 11 forms the size of the exposure spot in the plane of the
Применение синхронного фильтра 24 входного сигнала позволяет значительно повысить отношение сигнал/шум (тепловые шумы ФЭУ) на входе фазометра и достигнуть предела разрешения в 1,5-2 мрад. Механизм синхронной фильтрации основывается на эффекте запоминания фазы входного колебания в резонансном колебательном контуре при совпадении частоты входного сигнала с частотой резонанса контура. При этом процессы подключения (отключения) контура к источнику сигнала, динамического изменения добротности и сброса начальной фазы синхронизированы с опорным сигналом генератора модулятора (вход 2 фазометра). The use of a
Дифференцирующая схема 23 совместно с формирователем импульсов 25 формируют из опорного сигнала (со входа 2) импульс начала ВИ, а усилитель-ограничитель 27, делитель частоты на 2 (28) и формирователь импульсов 29 - соответственно импульс окончания ВИ. Формирование ВИ происходит в блоке 26 (эпюра И), затем ВИ заполняется счетными импульсами (эпюра К) генератора 32 в схеме совпадения 30. Счетчик 31 преобразует выделенное число импульсов (эпюра Л) в двоичный код, пропорциональный количеству импульсов, а следовательно и измеряемой разности фаз. Этот код поступает с выхода блока 15 на БПУ (20). The differentiating
Сигнал с выхода фотоприемника 13 (имеет аналогичную форму фиг.5, эпюра Г) поступает на вход 1 второго фазометра 14, который работает аналогично блоку 15 и реализует дифференциальный метод уменьшения уровня вибрационного шума. Вычитание кодов, формируемых блоками 14 и 15 реализуется программой БПУ и запоминается в оперативной памяти БПУ (не показана). Затем БПУ переводит ФЭУ 12 в следующую точку поля. После формирования массив Фэл(x,y) передают в микро-ЭВМ 22, которая строит на дисплее изображение функции Фэл(x, y) и вычисляет Δ (x,y).The signal from the output of the photodetector 13 (has a similar shape in FIG. 5, plot D) is fed to the
Процедура автофокусирования осуществляется путем программно управляемого микроперемещения объектива 9 параллельно оптической оси для сканирования по оси z. Послойная фокусировка необходима для получения более объективной информации при значениях h(x,y) превышающих глубину резкости объектива 9. The autofocus procedure is carried out by software-controlled micro-movement of the lens 9 parallel to the optical axis for scanning along the z axis. Layered focusing is necessary to obtain more objective information at values h (x, y) exceeding the depth of field of the lens 9.
В интерференционном режиме измерения механизм управления 18 открывает шторку 5 и второе плечо интерферометра (элементы 6-8). Генератор модулирующих напряжений 17 подает (с выхода 3) периодическое модулирующее напряжение (см. фиг.5, эпюра А2) на модулятор 8, который осуществляет микроперемещения зеркала 7 и изменяет длину оптического пути отраженной световой волны. Одновременно на электрооптический модулятор 3 подается постоянное напряжение, вызывающее статическое изменение начальной поляризации излучения (фиг.5, эпюра А3) для решения системы уравнений (2). После отражения от зеркала 7 опорный пучок поступает через светоделитель 4 на общее плечо 10-11-12-13 интерферометра, где в плоскости фотоприемников 12 и 13 происходит интерференция пучков. Анализатор 10 выделяет состояние поляризации для решения системы уравнений (2). Измерение фаз и обработка кодов производятся аналогично поляризационному режиму, с той разницей что в результате формируется массив Финт(x,y,z), а микро-ЭВМ строит на дисплее функции Финт(x,y, δi) для различных значений начальной поляризации δi.In the interference measurement mode, the
Измерение амплитуды производится в блоке 16 (фиг.1). Измеряемый сигнал подается на вход 1 блока, на вход 2 поступает опорный сигнал с генератора 17. Измерение производится методом синхронного детектирования. Дифференцирующая схема 33 выполняет функцию аналогичную 23. Схема 34 формирует импульсы управления усилителя 35 (эпюра М). На выходе усилителя 35 формируется функция абсолютного значения от входной функции Г (эпюра Н). Интегратор со сбросом 36 и аналого-цифровой преобразователь (АЦП) 37 формируют код, передаваемый на БПУ. Дальнейшая обработка кода амплитуды осуществляется аналогично сбору данных кода фаз. Далее после решения уравнений (2) на дисплей поочередно выводятся изображения величин h(x,y), n(x,y), α (x,y), β (x,y). The amplitude measurement is performed in block 16 (figure 1). The measured signal is fed to the
Claims (3)
Δ(x,y,z) = π-2Φэл(x,y,z),
где Ф э л(x,y,z) - измереннный цифровой массив функции фазы поля микрообъекта;
γэл(x,y,z) - измеренный цифровой массив функции амплитуды поля микрообъекта,
в интерференционном режиме измеряют величины амплитуды γ и фазы Фи н т при фиксированных поляризациях засветки di а каждый элемент засвеченного поля микрообъекта интерпретируют показателем преломления n, физической высотой h, плоскими углами элемента α, b и определяют по формулам
где f1 ....f4 - функции соответствующих величин,
Фи н т - измеренный цифровой массив функции амплитуды поля микрообъекта,
γинт - измеренный цифровой массив функции амплитуды поля микрообъекта,
δi - фиксированные поляризации входного излучения засветки в соответствии с фиксированными значениями модулирующего напряжения U2 0, U2 1, ... U2 i.1. A method for visualizing micro-contrast objects, in which the field of a microobject is illuminated by monochromatic, polarized and coherent radiation, and the reflected radiation is electrically converted to the corresponding image points, characterized in that the field of the microobject is illuminated in the interference and polarization modes of the nanoscope, the reflected radiation is converted by scanning along x, y coordinates and focus position along z coordinate into a set of changes from spatial coordinates {x, y, z } phases "Ф" of electrical signals that are electrically processed by the method of time intervals, and the amplitude of the variable component γ - an electrical signal, which is processed by the method of synchronous detection, while in the polarization mode of the nanoscope, the azimuth of polarization j {x, y, z is determined from the measured values ) and anisotropy Δ (x, y, z) from the system of equations
Δ (x, y, z) = π-2Φ e (x, y, z),
where f e l (x, y, z) is the measured digital array of the phase function of the field of the micro-object;
γ el (x, y, z) is the measured digital array of the amplitude function of the field of the micro-object,
in an interference mode measured value for the amplitude and γ phase n F and at a fixed exposure polarizations d i and each element of the illuminated field microentity interpret refractive index n, the physical height h, planar element angles α, b and defined by the formula
where f 1 .... f 4 are functions of the corresponding quantities,
F and N t - the measured digital array of the amplitude function of the field of the micro-object,
γ int - the measured digital array of the amplitude function of the field of the micro-object,
δ i - fixed polarization of the input radiation of the illumination in accordance with the fixed values of the modulating voltage U 2 0 , U 2 1 , ... U 2 i .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94016884A RU2029976C1 (en) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU94016884A RU2029976C1 (en) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2029976C1 true RU2029976C1 (en) | 1995-02-27 |
Family
ID=20155625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU94016884A RU2029976C1 (en) | 1994-05-23 | 1994-05-23 | Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2029976C1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002056083A1 (en) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Vladimir Andreevich Andreev | Method for measuring the microrelief of an object and optical characteristics of near-surface layer, modulation interference microscope for carrying out said method |
-
1994
- 1994-05-23 RU RU94016884A patent/RU2029976C1/en active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
1. Патент ФРГ N 2437984, кл. G 02B 21/00, 1976. * |
2. Авторское свидетельство СССР N 1734066, кл. G02B 21/00, 1992. * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002056083A1 (en) * | 2001-01-15 | 2002-07-18 | Vladimir Andreevich Andreev | Method for measuring the microrelief of an object and optical characteristics of near-surface layer, modulation interference microscope for carrying out said method |
US7221458B2 (en) * | 2001-01-15 | 2007-05-22 | Andreev Vladimir A | Method for measuring the microrelief of an object and optical characteristics of near-surface layer, modulation interference microscope for carrying out said method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5305092A (en) | Apparatus for obtaining three-dimensional volume data of an object | |
JPS6365922B2 (en) | ||
EP1571414A2 (en) | Apparatus and methods for surface contour measurement | |
CA2319898C (en) | Position encoding optical device and method | |
US4963724A (en) | Apparatus for producing an optical image contrast | |
US6316764B2 (en) | Autoalignment and autofocus mechanism for coupling light between an optical fiber and a physical specimen | |
CA2919985A1 (en) | Aperture scanning fourier ptychographic imaging | |
KR20060011938A (en) | Interferometric confocal microscopy incorporating a pinhole array beam-splitter | |
CN102519573A (en) | Remote non-contact vibration measuring device | |
US6064473A (en) | Particle measuring apparatus and its calibration method | |
US7518101B2 (en) | Scanning microscope for optically measuring an object | |
RU2029976C1 (en) | Method and optic polarization nanoscope for visualization of microcontrast objects | |
CN106933070B (en) | A kind of focusing and leveling system and its focusing and leveling method | |
US4110042A (en) | Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one focal plane of an image | |
WO2017028896A1 (en) | Method and apparatus for deriving a topograpy of an object surface | |
CN115937080A (en) | Hexagonal lattice illumination super-resolution microscopic system and image reconstruction method | |
KR20180121586A (en) | Electromagnetic field imaging device | |
US3989378A (en) | Method for no-contact measurement | |
RU2649045C2 (en) | Multichannel confocal microscope | |
JP3513817B2 (en) | Displacement gauge | |
KR101071063B1 (en) | Method for obtaining object image using confocal microscope | |
JP2004212622A (en) | Confocal microscope | |
RU2712789C1 (en) | Fiber-glass confocal scanning microscope | |
RU2157963C1 (en) | Method for monitoring article border position and device which implements said method | |
JPH06323810A (en) | Multiprobe displacement measuring apparatus |