RU2025736C1 - Temperature measuring method - Google Patents

Temperature measuring method Download PDF

Info

Publication number
RU2025736C1
RU2025736C1 SU4882533A RU2025736C1 RU 2025736 C1 RU2025736 C1 RU 2025736C1 SU 4882533 A SU4882533 A SU 4882533A RU 2025736 C1 RU2025736 C1 RU 2025736C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
measuring
magnetic field
contacts
voltage
temperature
Prior art date
Application number
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Тихонович Горбачук
Original Assignee
Киевский технологический институт легкой промышленности
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский технологический институт легкой промышленности filed Critical Киевский технологический институт легкой промышленности
Priority to SU4882533 priority Critical patent/RU2025736C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2025736C1 publication Critical patent/RU2025736C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

FIELD: measurement technology. SUBSTANCE: method of magnetic compensation involves passing a current through a sensitive member, placing measuring contacts on the sensitive member and relative orientation of the sensitive member and magnetic field such that an additional voltage occurring across the measuring contacts in magnetic field owing to magnetic resistance is compensated for by Hall-effect voltage occurring across the same contacts. EFFECT: enhanced accuracy and reliability. 4 dwg

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в преобразователях тепловых величин. The invention relates to measuring equipment and can be used in converters of thermal quantities.

Известен способ измерения температуры с помощью полупроводникового датчика температуры на основе пластически деформированной пленки германия на арсениде галлия, заключающийся в пропускании тока через чувствительный элемент и измерении падения напряжения на токовых контактах [1]. There is a method of measuring temperature using a semiconductor temperature sensor based on a plastically deformed germanium film on gallium arsenide, which consists in passing a current through a sensitive element and measuring the voltage drop across the current contacts [1].

Однако этот способ не обладает требуемой точностью при измерениях в магнитных полях из-за возникновения на измерительных контактах дополнительного изменения напряжения, связанного с эффектом магнитосопротивления. However, this method does not have the required accuracy when measuring in magnetic fields due to the occurrence of additional voltage changes at the measuring contacts associated with the magnetoresistance effect.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предложенному способу является способ, в котором используются размерные эффекты в полупроводниках, заключающийся в пропускании в произвольном направлении вдоль чувствительного элемента тока, ориентировании датчика так, чтобы толщина чувствительного элемента была перпендикулярна направлению вектора индукции магнитного поля, и последующем измерении величины напряжения на измерительных контактах [2]. The closest in technical essence and the achieved result to the proposed method is a method in which dimensional effects in semiconductors are used, which consists in passing in an arbitrary direction along the current sensing element, orienting the sensor so that the thickness of the sensitive element is perpendicular to the direction of the magnetic field induction vector, and subsequent measurement of the voltage across the measuring contacts [2].

Однако и этот способ не позволяет с высокой точностью проводить измерения в магнитных полях в связи с тем, что магнитосопротивление датчика сильно возрастает с увеличением магнитных полей и при понижении температуры, поэтому резко возрастает погрешность измерений. However, this method also does not allow high-precision measurements in magnetic fields due to the fact that the magnetoresistance of the sensor increases significantly with increasing magnetic fields and with decreasing temperature, so the measurement error sharply increases.

Целью изобретения является повышение точности измерения температуры в магнитном поле путем компенсации влияния магнитного поля на величину измеряемого напряжения. The aim of the invention is to improve the accuracy of measuring temperature in a magnetic field by compensating for the influence of a magnetic field on the magnitude of the measured voltage.

Цель достигается тем, что в способе, включающем ориентацию чувствительного элемента в виде прямоугольной пластины в магнитном поле, пропускание тока через чувствительный элемент вдоль его продольной оси и измерение падения напряжения на измерительных контактах, предварительно на измерительных контактах при заданной температуры определяют величины удельного сопротивления ρ, постоянной Холла
Rx = Vxd/I˙B, где Vx - напряжение, возникающее на измерительных контактах;
В - магнитная индукция;
d - толщина чувствительного элемента;
I - ток питания через чувствительный элемент, и магнитосопротивления
M = Δ ρ/ρ˙B, где Δ ρ- изменение удельного сопротивления при появлении магнитного поля, и при измерении напряжения измерительные контакты сдвигают на расстояние, равное
l = a˙Rx/ ρ˙M, где а - ширина чувствительного элемента.
The goal is achieved in that in a method that includes the orientation of the sensitive element in the form of a rectangular plate in a magnetic field, passing current through the sensitive element along its longitudinal axis and measuring the voltage drop across the measurement contacts, first determine the resistivity ρ at the measurement contacts at a given temperature, Hall constant
R x = V x d / I˙B, where V x is the voltage occurring at the measuring contacts;
B - magnetic induction;
d is the thickness of the sensing element;
I - supply current through the sensing element, and magnetoresistance
M = Δ ρ / ρ˙B, where Δ ρ is the change in resistivity when a magnetic field appears, and when measuring voltage, the measuring contacts are shifted by a distance equal to
l = a˙Rx / ρ˙M, where a is the width of the sensitive element.

На фиг. 1 представлено схематическое изображение датчика температуры, изготовленного на основе объемного германия; на фиг.2 - то же, на основе пленок германия на арсениде галлия; на фиг.3 показана взаимная ориентация тока, магнитного поля, направления движения носителей заряда, расположения контактов при осуществлении способа измерения температуры в магнитном поле для случая положительного магнитосопротивления для полупроводника n-типа проводимости; на фиг.4 - то же, для полупроводника р-типа проводимости. In FIG. 1 is a schematic illustration of a temperature sensor made on the basis of volumetric germanium; figure 2 is the same, based on films of germanium on gallium arsenide; figure 3 shows the relative orientation of the current, magnetic field, the direction of motion of the charge carriers, the location of the contacts when implementing the method of measuring temperature in a magnetic field for the case of positive magnetoresistance for an n-type semiconductor; figure 4 is the same for a p-type semiconductor.

Для изготовления чувствительного элемента датчика температуры использованы пленки германия с удельным сопротивлением при 300 К, равным 6˙10-4 Ом˙м. Ширина пленки а = 1˙10-3 м, толщина d = 5˙10-6 м.For the manufacture of the temperature sensor sensitive element, germanium films with a specific resistance at 300 K equal to 6˙10 -4 Ohm˙m were used. The film width a = 1˙10 -3 m, the thickness d = 5 d10 -6 m.

Для компенсации влияния магнитного поля на величину измеряемого напряжения (пропорционального температуре) в области температур жидкого гелия датчик с чувствительным элементом 1 в виде прямоугольной пластины ориентируется в магнитном поле В при Т = 4,2 К так, чтобы силовые линии поля были перпендикулярны граням, определяющим толщину пластины, и вдоль ее продольной оси пропускается ток. На измерительных контактах 3, расположенных на гранях, определяющих ширину пластины, измеряется возникающее в магнитном поле Холловское напряжение Vх и рассчитывается постоянная Холла Rx = Vxd/I˙B, которая составила величину Rx = 0,37˙10-4 м3/Кл. Величина магнитосопротивления М = Δ ρ/ρ˙В измерялась на токовых контактах 2 и составила величину М = 0,5˙10-2 Т-1, измеренное удельное сопротивление при Т = 4,2 К равно 1,1˙10-2 Ом˙м. Затем измерительные контакты сдвигают и устанавливают на расстоянии между ними вдоль граней
l =

Figure 00000001
=
Figure 00000002
= 0,73·10-3м
Для измерения температуры проводится градуировка датчика, т.е. измеряется зависимость напряжения на измерительных контактах 3 от температуры при отсутствии магнитного поля и строится график или составляется таблица. Из табличных данных для изготовленного датчика напряжение на измерительных контактах при Т = 4,2 К равно 150,3 мВ. После ориентации датчика в магнитном поле B = 8 Т и погружении его в жидкий гелий (Т = 4,2 К) напряжение на измерительных контактах оказалось равным 150,4 мВ. Исходя из чувствительности датчика к температуре, которая определена из градуировочных данных и равна 8%/К, посчитана погрешность в определении температуры ΔТ = 0,006 К.To compensate for the influence of the magnetic field on the measured voltage (proportional to temperature) in the temperature range of liquid helium, a sensor with a sensitive element 1 in the form of a rectangular plate is oriented in a magnetic field B at T = 4.2 K so that the field lines are perpendicular to the faces defining the thickness of the plate, and a current is passed along its longitudinal axis. At the measuring contacts 3 located on the faces determining the plate width, the Hall voltage V x occurring in the magnetic field is measured and the Hall constant R x = V x d / I˙B is calculated, which amounted to R x = 0.37˙10 -4 m 3 / C The magnitude of the magnetoresistance M = Δ ρ / ρ˙В was measured at current contacts 2 and amounted to M = 0.5˙10 -2 T -1 , the measured resistivity at T = 4.2 K is 1.1˙10 -2 Ohm Um Then the measuring contacts are shifted and set at a distance between them along the faces
l =
Figure 00000001
=
Figure 00000002
= 0.73 · 10 -3 m
To measure the temperature, the sensor is calibrated, i.e. the dependence of the voltage at the measuring contacts 3 on temperature in the absence of a magnetic field is measured and a graph is built or a table is made. From the tabular data for the manufactured sensor, the voltage at the measuring contacts at T = 4.2 K is 150.3 mV. After the sensor was oriented in a magnetic field B = 8 T and immersed in liquid helium (T = 4.2 K), the voltage at the measuring contacts turned out to be 150.4 mV. Based on the sensitivity of the sensor to temperature, which is determined from calibration data and is equal to 8% / K, the error in determining the temperature ΔТ = 0.006 K was calculated.

Claims (1)

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ, включающий ориентацию чувствительного элемента в виде прямоугольной пластины в магнитном поле, пропускание тока через чувствительный элемент вдоль его продольной оси и измерение падения напряжения на измерительных контактах, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения температуры в магнитном поле путем компенсации влияния магнитного поля на величину измеряемого напряжения, предварительно на измерительных контактах при заданной температуре определяют величины удельного сопротивления ρ , постоянной Холла
Rx = Uxd / J˙B ,
где Ux - напряжение, возникающее на измерительных контактах;
B - магнитная индукция;
d - толщина чувствительного элемента;
J - ток питания через чувствительный элемент,
и магнитосопротивления
M = Δρ / ρ˙B ,
где Δρ - изменение удельного сопротивления при появлении магнитного поля,
и при измерении напряжения измерительные контакты сдвигают на расстояние, равное
l = a˙Rx / ρ˙M ,
где a - ширина чувствительного элемента.
METHOD OF TEMPERATURE MEASUREMENT, including the orientation of a sensitive element in the form of a rectangular plate in a magnetic field, passing current through a sensitive element along its longitudinal axis and measuring the voltage drop across the measuring contacts, characterized in that, in order to improve the accuracy of measuring temperature in a magnetic field by compensating for the effect the magnetic field by the value of the measured voltage, previously on the measuring contacts at a given temperature determine the value of resistivity ρ Hall constant
R x = U x d / J˙B,
where U x is the voltage occurring at the measuring contacts;
B - magnetic induction;
d is the thickness of the sensing element;
J is the supply current through the sensing element,
and magnetoresistance
M = Δρ / ρ˙B,
where Δρ is the change in resistivity with the appearance of a magnetic field,
and when measuring voltage, the measuring contacts are shifted by a distance equal to
l = a˙R x / ρ˙M,
where a is the width of the sensing element.
SU4882533 1990-11-16 1990-11-16 Temperature measuring method RU2025736C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4882533 RU2025736C1 (en) 1990-11-16 1990-11-16 Temperature measuring method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4882533 RU2025736C1 (en) 1990-11-16 1990-11-16 Temperature measuring method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2025736C1 true RU2025736C1 (en) 1994-12-30

Family

ID=21545265

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4882533 RU2025736C1 (en) 1990-11-16 1990-11-16 Temperature measuring method

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2025736C1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2804424C1 (en) * 2022-10-06 2023-09-29 Акционерное Общество "Минимакс-94" Temperature measuring device

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР N 887945, кл. G 01K 7/24, 1989. *
2. Авторское свидетельство СССР N 1118872, кл. G 01K 7/22, 1982. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2804424C1 (en) * 2022-10-06 2023-09-29 Акционерное Общество "Минимакс-94" Temperature measuring device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1459038B1 (en) System and method for using magneto-resistive sensors as dual purpose sensors
US10761120B2 (en) Current sensor system
US5247278A (en) Magnetic field sensing device
US7474093B2 (en) Magnetic field sensor apparatus
US7619407B2 (en) Gear tooth sensor with single magnetoresistive bridge
EP2847564B1 (en) Method and device for sensing isotropic stress and providing a compensation for the piezo-hall effect
US8519703B2 (en) Magnetic sensor device and method of determining resistance values
US10288698B2 (en) Magnetic field sensor having alignment error correction
US10557726B2 (en) Systems and methods for reducing angle error for magnetic field angle sensors
JPH06235759A (en) Magnetization switching type closed-loop magnetomer
CN112083211A (en) Current sensor
US5068606A (en) Two wire modulated output current circuit for use with a magnetoresistive bridge speed/position sensor
US11175353B2 (en) Position sensor with compensation for magnet movement and related position sensing method
EP3273203B1 (en) Displacement detection device
RU2025736C1 (en) Temperature measuring method
US20020163332A1 (en) Methods for eliminating error sources of magnetic sensors used for the measurement of coating thickness
US6483301B2 (en) Method for compensating mechanical stresses in measuring the magnetic field strength by hall sensors
US2959733A (en) Hall effect magnetometer
Mitin et al. Dual function sensors for concurrent measurement of temperature and magnetic field in cryogenic applications
Filippov et al. Measurement of helium temperatures by TVO-sensors under magnetic fields
JPS63158422A (en) Liquid helium level measuring instrument
KR20230079974A (en) Driving method for thin film magneto resistance sensor
Popovic et al. Three-axis teslameter with integrated hall probe free from the planar hall effect
US20220308130A1 (en) Electrical offset compensating in a magnetoresistance bridge
SU892383A1 (en) Device for measuring constant magnetic fields