RU2016149374A3 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- RU2016149374A3 RU2016149374A3 RU2016149374A RU2016149374A RU2016149374A3 RU 2016149374 A3 RU2016149374 A3 RU 2016149374A3 RU 2016149374 A RU2016149374 A RU 2016149374A RU 2016149374 A RU2016149374 A RU 2016149374A RU 2016149374 A3 RU2016149374 A3 RU 2016149374A3
- Authority
- RU
- Russia
Links
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016149374A RU2704390C2 (ru) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | Способ трехмерной реконструкции поверхности образца по изображениям, полученным в растровом электронном микроскопе |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016149374A RU2704390C2 (ru) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | Способ трехмерной реконструкции поверхности образца по изображениям, полученным в растровом электронном микроскопе |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2016149374A RU2016149374A (ru) | 2018-06-15 |
RU2016149374A3 true RU2016149374A3 (ru) | 2018-06-15 |
RU2704390C2 RU2704390C2 (ru) | 2019-10-28 |
Family
ID=62619397
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2016149374A RU2704390C2 (ru) | 2016-12-15 | 2016-12-15 | Способ трехмерной реконструкции поверхности образца по изображениям, полученным в растровом электронном микроскопе |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2704390C2 (ru) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2743231C1 (ru) * | 2020-08-17 | 2021-02-16 | Шлюмберже Текнолоджи Б.В. | Способ и система выравнивания изображений слоёв образца, полученных с помощью растрового электронного микроскопа с фокусированным ионным пучком |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5179280A (en) * | 1990-10-12 | 1993-01-12 | Chi & Associated Inc. | Computer control of the electron microscope sample stage |
US7164128B2 (en) * | 2003-11-25 | 2007-01-16 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method and apparatus for observing a specimen |
US8227752B1 (en) * | 2011-02-17 | 2012-07-24 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Method of operating a scanning electron microscope |
-
2016
- 2016-12-15 RU RU2016149374A patent/RU2704390C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2704390C2 (ru) | 2019-10-28 |
RU2016149374A (ru) | 2018-06-15 |
Similar Documents
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20181216 |