RU2015133934A - Способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (otdr) - Google Patents

Способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (otdr) Download PDF

Info

Publication number
RU2015133934A
RU2015133934A RU2015133934A RU2015133934A RU2015133934A RU 2015133934 A RU2015133934 A RU 2015133934A RU 2015133934 A RU2015133934 A RU 2015133934A RU 2015133934 A RU2015133934 A RU 2015133934A RU 2015133934 A RU2015133934 A RU 2015133934A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
segment
configuration
losses
test
time domain
Prior art date
Application number
RU2015133934A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2628767C2 (ru
Inventor
Сяоцзин ЦЗИНЬ
Дэчжи ЧЗАН
Original Assignee
ЗетТиИ Корпорейшн
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ЗетТиИ Корпорейшн filed Critical ЗетТиИ Корпорейшн
Publication of RU2015133934A publication Critical patent/RU2015133934A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2628767C2 publication Critical patent/RU2628767C2/ru

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/077—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using a supervisory or additional signal
    • H04B10/0771—Fault location on the transmission path
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/077—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using a supervisory or additional signal
    • H04B10/0773—Network aspects, e.g. central monitoring of transmission parameters
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
    • H04Q11/0062—Network aspects
    • H04Q11/0067—Provisions for optical access or distribution networks, e.g. Gigabit Ethernet Passive Optical Network (GE-PON), ATM-based Passive Optical Network (A-PON), PON-Ring
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
    • H04Q11/0062—Network aspects
    • H04Q2011/0079—Operation or maintenance aspects
    • H04Q2011/0083—Testing; Monitoring

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Claims (58)

1. Способ конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающий:
получение, системой администрирования оптоволоконной сети (FMS), соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования, возвращенным оптическим временным рефлектометром; и
конфигурирование, системой администрирования оптоволоконной сети, набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих тестов с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:
длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.
3. Способ по п. 2, отличающийся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:
набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.
5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно потерям в магистральном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.
6. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте;
согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.
7. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, типового набора параметров тестирования, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:
согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в сети ODN;
согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и
согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение и конфигурирование времени тестирования.
8. Способ по п. 1, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией способ также включает:
коррекцию, системой FMS, необходимого набора параметров тестирования в соответствии с одним или более параметрами измерений, поддерживаемыми в текущий момент оптическим временным рефлектометром; и
конфигурирование, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.
9. Способ по любому из пп. 1-8, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR, способ также включает:
прием, системой FMS, результатов тестирования от оптического временного рефлектометра; и
инициирование выполнения, системой FMS, шага повторного получения соответствующей информации согласно результатам тестирования, и повторного конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
10. Устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающее:
компонент получения, сконфигурированный для получения соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования с использованием оптического временного рефлектометра; и
компонент конфигурирования, сконфигурированный для конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.
11. Устройство по п. 10, отличающееся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:
длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.
12. Устройство по п. 11, отличающееся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:
набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.
13. Устройство по п. 12, отличающееся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.
14. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
первый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно потерям в магистральном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
первый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
второй элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента; и
третий элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно потерям в магистральном сегменте.
15. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
второй элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;
третий элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине оконечного сегмента; и
шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в отказавшем оконечном сегменте.
16. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:
четвертый элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в сети ODN согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;
пятый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;
седьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;
восьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента; и
девятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в сети ODN.
17. Устройство по любому из пп. 10-16, включающее также компонент коррекции, сконфигурированный для коррекции необходимого набора параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент оптическим временным рефлектометром;
при этом компонент конфигурирования сконфигурирован также для конфигурирования скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.
RU2015133934A 2013-02-06 2013-08-30 Способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (otdr) RU2628767C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310047541.5 2013-02-06
CN201310047541.5A CN103973362A (zh) 2013-02-06 2013-02-06 设置otdr测试参数集的方法及装置
PCT/CN2013/082683 WO2014121602A1 (zh) 2013-02-06 2013-08-30 设置otdr测试参数集的方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2015133934A true RU2015133934A (ru) 2017-03-14
RU2628767C2 RU2628767C2 (ru) 2017-08-22

Family

ID=51242450

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015133934A RU2628767C2 (ru) 2013-02-06 2013-08-30 Способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (otdr)

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9973271B2 (ru)
EP (1) EP2955861A4 (ru)
KR (1) KR20150115817A (ru)
CN (1) CN103973362A (ru)
GB (1) GB2526216A (ru)
HK (1) HK1217829A1 (ru)
RU (1) RU2628767C2 (ru)
WO (1) WO2014121602A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107465451A (zh) * 2016-06-02 2017-12-12 中兴通讯股份有限公司 一种光时域反射仪的健康库更新方法及装置
US11181440B2 (en) 2018-10-11 2021-11-23 Exfo Inc. OTDR method targeting identified event
CN109547099B (zh) * 2018-11-22 2021-04-06 桂林聚联科技有限公司 一种用于光缆监测中的otdr模块自适应脉宽探测的方法
US11271641B1 (en) 2019-01-15 2022-03-08 Exfo Inc. OTDR method for end-to-end optical fiber link characterization

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6396573B1 (en) * 2000-02-17 2002-05-28 Fitel U.S.A. Corp. System and method for optically testing broadcasting systems
ITTO20020168A1 (it) * 2002-02-28 2003-08-28 Telecom Italia Lab Spa Procedimento per il controllo automatico di fibre ottiche in reti ad albero.
US7010728B2 (en) * 2002-07-08 2006-03-07 Tektronix, Inc. Data file search by example
US6989893B1 (en) * 2004-07-23 2006-01-24 At&T Corp. Application of statistical inference to optical time domain reflectometer data
RU2407169C1 (ru) * 2006-10-20 2010-12-20 Электроникс Энд Телекоммьюникейшнз Рисерч Инститьют Устройство и способ для терминала оптической линии (olt) и модуля оптической сети (onu) в не зависимых от длины волны пассивных оптических сетях с мультиплексированием с разделением по длине волны
CN102047092B (zh) * 2008-06-02 2013-01-30 住友电气工业株式会社 光线路监视装置及光线路监视系统
CN101447832B (zh) * 2008-12-17 2012-05-23 安徽电力通信有限责任公司 一种测量超长距离光缆线路性能参数的方法
GB0823688D0 (en) * 2008-12-31 2009-02-04 Tyco Electronics Raychem Nv Unidirectional absolute optical attenuation measurement with OTDR
CN102986150B (zh) * 2010-05-27 2017-02-15 爱斯福公司 多采集otdr方法及装置
CN101917226B (zh) * 2010-08-23 2016-03-02 中兴通讯股份有限公司 一种在无源光网络中进行光纤故障诊断的方法及光线路终端
CN101924590B (zh) * 2010-08-25 2016-04-13 中兴通讯股份有限公司 无源光网络光纤故障的检测系统和方法
US8724102B2 (en) * 2010-12-22 2014-05-13 Telefonaktièbolaget LM Ericsson (publ) Optical time domain reflectometry (OTDR) trace analysis in PON systems
US8655167B1 (en) * 2011-01-05 2014-02-18 Google Inc. Fiber diagnosis system for point-to-point optical access networks
US9212969B2 (en) * 2011-02-07 2015-12-15 Piotr Anatolij Levin Optical time domain reflectometer user interface
CN102761363B (zh) * 2011-04-27 2016-03-30 华为海洋网络有限公司 一种光时域反射仪信号检测方法及装置
AU2011370891B2 (en) * 2011-06-16 2015-07-23 Huawei Technologies Co., Ltd. Method and device for optical power control
CN103890557B (zh) * 2011-08-24 2017-09-22 瑞典爱立信有限公司 使用otdr测量的pon监管
US9231696B2 (en) * 2011-08-24 2016-01-05 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Methods and apparatuses for supervision of optical networks
CN102577179B (zh) * 2011-12-31 2015-09-30 华为技术有限公司 光时域反射仪及其获取测试信号的方法
US8693866B1 (en) * 2012-01-20 2014-04-08 Google Inc. Fiber diagnosis system for WDM optical access networks
CN102739306B (zh) * 2012-06-11 2015-07-01 烽火通信科技股份有限公司 无源光网络中光链路自动测试的方法
KR20140093515A (ko) * 2013-01-18 2014-07-28 한국전자통신연구원 광 링크 장애 감시장치 및 그 방법
US10367713B2 (en) * 2015-10-15 2019-07-30 Fluke Corporation Cloud based system and method for managing testing configurations for cable test devices

Also Published As

Publication number Publication date
CN103973362A (zh) 2014-08-06
HK1217829A1 (zh) 2017-01-20
GB201514376D0 (en) 2015-09-30
KR20150115817A (ko) 2015-10-14
WO2014121602A1 (zh) 2014-08-14
GB2526216A (en) 2015-11-18
RU2628767C2 (ru) 2017-08-22
EP2955861A1 (en) 2015-12-16
US20150381270A1 (en) 2015-12-31
EP2955861A4 (en) 2016-03-23
US9973271B2 (en) 2018-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2011147030A8 (en) Multiple-acquisition otdr method and device
MY166677A (en) Fault detection method and device for optical distribution network, and optical network system
US9184833B2 (en) Optical fiber testing using OTDR instrument
US8687957B2 (en) Method and apparatus for deriving parameters of optical paths in optical networks using two-wavelength OTDR and a wavelength-dependent reflective element
RU2015133934A (ru) Способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (otdr)
WO2007009113A3 (en) Using sets of otdr receive fibers with different lengths of marker events to verify optical fiber connectivity
WO2014027293A3 (en) Estimations of equivalent inner diameter of arterioles
EP2711752A3 (en) Optical fiber grating tracker and method for detecting optical fiber line fault
US10637571B2 (en) Wavelength identification and analysis sensor
CN104144013A (zh) Pon网络故障诊断方法、装置和系统
CN104378156B (zh) 一种对光缆故障点精确定位的方法
CN104081177B (zh) 光时域反射仪映射方法
CO2019007715A2 (es) Sistemas, métodos y dispositivos para la detección automática de señal con extracción temporal de funciones dentro de un espectro
WO2011100306A3 (en) Determination of physical connectivity status of devices based on electrical measurement
WO2012103838A3 (zh) 光纤测试方法、装置和无源光网络系统
MX2019011878A (es) Dispositivos y métodos de reflectometría para detectar defectos de tubería.
EP3894783A4 (en) PROBE SYSTEMS FOR OPTICAL SCANNING OF A DEVICE UNDER TEST AND METHODS OF OPERATING THE PROBE SYSTEMS
MX2011007766A (es) Reflectometro optico en el dominio del tiempo cuadruple.
EP2782269A4 (en) CIRCUIT FOR MODULATING AN OPTICAL TIME-RATE REFLECTOMETER TEST SIGNAL, AND SYSTEM AND DEVICE FOR A PASSIVE OPTICAL NETWORK
Herrera et al. Ultra-high-resolution tunable PC-OTDR for PON monitoring in avionics
ES2609015T3 (es) Procedimiento para la prueba funcional de una unidad receptora PS15 de un aparato de mando de automóvil y unidad receptora PS15 correspondiente
JP2016518745A5 (ru)
DK3561441T3 (da) Gevindapparat til test af gevind
WO2009144648A3 (en) System and method for performing a ruggedness measurement test on a device under test
CN104579460A (zh) FTTx无源光网络集中测量的方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20200831