RU2012150821A - Способ автоматизированного ультразвукового контроля изделий из полимерных композиционных материалов формы тел вращения - Google Patents

Abstract

1. Способ ультразвукового контроля изделия, включающий взаимное перемещение передающего и приемного ультразвуковых преобразователей относительно изделия, пропускание ультразвуковых волн через изделие и обнаружение внутренних дефектов в материале изделия путем анализа искажений ультразвукового сигнала, прошедшего через изделие, которое одновременно посредством сканирующей системы перемещают относительно ультразвуковых преобразователей, отличающийся тем, что- перед проведением ультразвукового контроля измеряют размеры минимального для данного изделия дефекта типа нарушения сплошности материала следующим образом:- изделие в области предположительного расположения дефектной области разрезают на равные образцы,- на торцах образцов измеряют раскрытие δ выходящих на торцы дефектов с шагом Δd заведомо меньшим, чем размеры минимального дефекта,- производят послойную препарацию образцов,- после препарации измеряют площадь участков дефектов, принадлежащих соответствующему раскрытию δ,- рассчитывают зависимость,где S(δ) - величина площади дефекта, имеющей раскрытие (δ),S- общая площадь исследуемых дефектов,- строят экспериментальную зависимость плотности площади дефектов от величины раскрытия,- на основании построенных экспериментальных зависимостей с учетом коридора доверительного интервала, рассчитанного с заданной вероятностью с учетом неравноточности проводимых измерений определяют площадь или характерный размер dи раскрытие δминимального дефекта для изделия,далее определяют шаг сканирования ΔYповерхности изделия, при котором обеспечивается необходимая погрешность измерения минимального д�

Claims (5)

1. Способ ультразвукового контроля изделия, включающий взаимное перемещение передающего и приемного ультразвуковых преобразователей относительно изделия, пропускание ультразвуковых волн через изделие и обнаружение внутренних дефектов в материале изделия путем анализа искажений ультразвукового сигнала, прошедшего через изделие, которое одновременно посредством сканирующей системы перемещают относительно ультразвуковых преобразователей, отличающийся тем, что

- перед проведением ультразвукового контроля измеряют размеры минимального для данного изделия дефекта типа нарушения сплошности материала следующим образом:

- изделие в области предположительного расположения дефектной области разрезают на равные образцы,

- на торцах образцов измеряют раскрытие δ выходящих на торцы дефектов с шагом Δd заведомо меньшим, чем размеры минимального дефекта,

- производят послойную препарацию образцов,

- после препарации измеряют площадь участков дефектов, принадлежащих соответствующему раскрытию δ,

- рассчитывают зависимость

$$F(\delta )=\frac{S(\delta )}{S_0}$$

,

где S(δ) - величина площади дефекта, имеющей раскрытие (δ),

S₀ - общая площадь исследуемых дефектов,

- строят экспериментальную зависимость плотности площади дефектов от величины раскрытия

$$F_{отн}={\displaystyle \underset{0}{\overset{\delta }{\int }}\frac{S(\delta )}{S_0}}d\delta$$

,

- на основании построенных экспериментальных зависимостей с учетом коридора доверительного интервала, рассчитанного с заданной вероятностью с учетом неравноточности проводимых измерений определяют площадь или характерный размер d_min и раскрытие δ_min минимального дефекта для изделия,

далее определяют шаг сканирования ΔY_min поверхности изделия, при котором обеспечивается необходимая погрешность измерения минимального дефекта:

ΔY_min=d_min/N,

где N - количество отсчетов датчика координат, приходящиеся на минимальный дефект для обеспечения необходимой погрешности измерения его характеристик, а перемещение изделия относительно преобразователей проводят с этим шагом.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в процессе проведения контроля используют два датчика - штатный датчик координат и высокоточный датчик координат, при этом при обнаружении дефекта переключают вход ЭВМ с выхода штатного датчика координат на выход высокоточного датчика координат.

3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что при завершении обнаружения дефекта осуществляют обратное переключение входа ЭВМ с выхода высокоточного датчика координат на выход штатного датчика координат.

4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что измерения проводят с помощью микроскопа, например, микроскопа марки МБП-2.

5. Способ по п. 1, отличающийся тем, что коридор доверительного интервала, рассчитывают с заданной вероятностью, равной 0,97.