RU2012148218A - METHOD OF CONTROL TESTS FOR A GAMMA-PERCENT RESOURCE OF NON-RESTORABLE RADIO ELECTRONIC DEVICES WITH AN EXTENTIONAL LAW OF TIME DISTRIBUTION BEFORE FAILURE - Google Patents

METHOD OF CONTROL TESTS FOR A GAMMA-PERCENT RESOURCE OF NON-RESTORABLE RADIO ELECTRONIC DEVICES WITH AN EXTENTIONAL LAW OF TIME DISTRIBUTION BEFORE FAILURE Download PDF

Info

Publication number
RU2012148218A
RU2012148218A RU2012148218/28A RU2012148218A RU2012148218A RU 2012148218 A RU2012148218 A RU 2012148218A RU 2012148218/28 A RU2012148218/28 A RU 2012148218/28A RU 2012148218 A RU2012148218 A RU 2012148218A RU 2012148218 A RU2012148218 A RU 2012148218A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
electronic devices
failure
gamma
test
resource
Prior art date
Application number
RU2012148218/28A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2517948C1 (en
Inventor
Андрей Дмитриевич Вельт
Владимир Дмитриевич Митрохин
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов" filed Critical Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов"
Priority to RU2012148218/28A priority Critical patent/RU2517948C1/en
Publication of RU2012148218A publication Critical patent/RU2012148218A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2517948C1 publication Critical patent/RU2517948C1/en

Links

Landscapes

  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Abstract

Способ контрольных испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых радиоэлектронных устройств с экспоненциальным законом распределения времени до отказа, согласно которому испытания проводят одноступенчатом методом с ограниченной продолжительностью испытания и сводят к контролю вероятности ненаступления предельного состояния за заданное время, в качестве предельного состояния принимают отказ радиоэлектронного устройства, выбирают предельную продолжительность tиспытания и заданное значение гамма-процентного ресурса, рассчитывают вероятность Рненаступления отказа за время, равное гамма-процентному ресурсу, выбирают или рассчитывают приемочное Ри браковочное Рзначения вероятности ненаступления отказа, в зависимости от Р, Р, риска изготовителя и риска потребителя определяют количество nрадиоэлектронных устройств, необходимое для проведения испытаний, и приемочное число Сотказов, в процессе испытаний отказавшие радиоэлектронные устройства не заменяют, по окончании испытаний определяют отказавшие радиоэлектронные устройства, отличающийся тем, что число nувеличивают в m раз, где m - целое положительное число большее единицы, полученное таким образом количество радиоэлектронных устройств разделяют на одинаковые группы по m радиоэлектронных устройств, tпринимают равным уменьшенному в m раз заданному значению гамма-процентного ресурса, из отказавших радиоэлектронных устройств отбирают по одному из каждой группы, имеющей отказавшие радиоэлектронные устройства, при этом, если общее число отобранных таким образом радиоэлектронных устройств меньше или равно С, то результаты испытаний сч�The control test method for the gamma percentage resource of non-recoverable electronic devices with an exponential distribution of time to failure, according to which the tests are carried out by a single-stage method with a limited duration of the test and reduce the probability of non-occurrence of the limit state for a given time, take the failure of the electronic device as the limit state, the limiting duration of the test and the set value of the gamma-percent resource are selected, calculate the probability of failure occurrence for a time equal to the gamma-percent resource; select or calculate acceptance Р reject; The probability of failure failure, depending on Р, Р, manufacturer's risk and consumer risk, determine the number of radio electronic devices required for testing and the acceptance number of Sotkaz , during the test, failed electronic devices are not replaced, at the end of the tests, the failed electronic devices are determined, characterized in that the number n is increased by a factor of m, where m is a positive integer greater than one, the number of electronic devices thus obtained is divided into identical groups of m electronic devices, t is taken to be the gamma percentage resource set to a value reduced by m times, one by one taken from the failed electronic devices from each group that has failed electronic devices, in this case, if the total number of electronic devices selected in this way is less than or equal to C, then the test results

Claims (1)

Способ контрольных испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых радиоэлектронных устройств с экспоненциальным законом распределения времени до отказа, согласно которому испытания проводят одноступенчатом методом с ограниченной продолжительностью испытания и сводят к контролю вероятности ненаступления предельного состояния за заданное время, в качестве предельного состояния принимают отказ радиоэлектронного устройства, выбирают предельную продолжительность tиp испытания и заданное значение гамма-процентного ресурса, рассчитывают вероятность Рр ненаступления отказа за время, равное гамма-процентному ресурсу, выбирают или рассчитывают приемочное Рαр и браковочное Рβр значения вероятности ненаступления отказа, в зависимости от Рαр, Рβр, риска изготовителя и риска потребителя определяют количество nр радиоэлектронных устройств, необходимое для проведения испытаний, и приемочное число Ср отказов, в процессе испытаний отказавшие радиоэлектронные устройства не заменяют, по окончании испытаний определяют отказавшие радиоэлектронные устройства, отличающийся тем, что число nр увеличивают в m раз, где m - целое положительное число большее единицы, полученное таким образом количество радиоэлектронных устройств разделяют на одинаковые группы по m радиоэлектронных устройств, tиp принимают равным уменьшенному в m раз заданному значению гамма-процентного ресурса, из отказавших радиоэлектронных устройств отбирают по одному из каждой группы, имеющей отказавшие радиоэлектронные устройства, при этом, если общее число отобранных таким образом радиоэлектронных устройств меньше или равно Ср, то результаты испытаний считают положительными, в противном случае - отрицательными. The control test method for the gamma percentage resource of non-recoverable electronic devices with an exponential distribution of time to failure, according to which the tests are carried out by a single-stage method with a limited duration of the test and reduce the probability of non-occurrence of the limit state for a given time, take the failure of the electronic device as the limit state, the limiting duration t and p of the test and the set value of the gamma percent resource a, calculate the probability P r of failure failure for a time equal to the gamma percentage resource, select or calculate acceptance Р αр and reject P βр values of the probability of failure to fail, depending on Р αр , Р βр , manufacturer's risk and consumer risk, determine the quantity n r electronic devices required for testing, and acceptance number С p failures; during the test, failed electronic devices are not replaced; at the end of the tests, failed electronic devices are determined, characterized in that the number n p is increased by m times, where m is a positive integer greater than one, the number of electronic devices thus obtained is divided into identical groups of m electronic devices, t and p are taken to be equal to the specified value of the gamma percentage resource reduced by m times from failed electronic devices are selected one from each group having the failed radio electronic apparatus, wherein, if the total number thus selected electronic devices is less than or equal to C , The test is considered positive, otherwise - negative.
RU2012148218/28A 2012-11-14 2012-11-14 Method of gamma-percentile life validation tests for non-recoverable radioelectronic devices under exponential law of failure probability distribution RU2517948C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012148218/28A RU2517948C1 (en) 2012-11-14 2012-11-14 Method of gamma-percentile life validation tests for non-recoverable radioelectronic devices under exponential law of failure probability distribution

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012148218/28A RU2517948C1 (en) 2012-11-14 2012-11-14 Method of gamma-percentile life validation tests for non-recoverable radioelectronic devices under exponential law of failure probability distribution

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012148218A true RU2012148218A (en) 2014-05-20
RU2517948C1 RU2517948C1 (en) 2014-06-10

Family

ID=50695528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012148218/28A RU2517948C1 (en) 2012-11-14 2012-11-14 Method of gamma-percentile life validation tests for non-recoverable radioelectronic devices under exponential law of failure probability distribution

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2517948C1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2660748C1 (en) * 2017-06-23 2018-07-09 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт точных приборов" Method of inspection tests on the gamma-percentile life of non-recoverable radioelectronic devices
RU2745037C1 (en) * 2020-02-19 2021-03-18 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский автомобильно-дорожный государственный технический университет (МАДИ)" Method for automatic control of performance stability of vehicles, agricultural and road machines

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2168735C2 (en) * 1999-04-05 2001-06-10 РНИИ "Электронстандарт" Procedure of selection of electron articles by stability and reliability
US7194366B2 (en) * 2001-10-19 2007-03-20 Auburn University System and method for estimating reliability of components for testing and quality optimization
WO2009072204A1 (en) * 2007-12-06 2009-06-11 Japan Electric Meters Inspection Corporation Life estimating method and device of electronic weighting instrument
RU2444741C1 (en) * 2010-07-20 2012-03-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "ОРИОН" Method of testing device reliability

Also Published As

Publication number Publication date
RU2517948C1 (en) 2014-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CY1123629T1 (en) METHODS AND APPARATUS FOR A DISTRIBUTED DATABASE OVER A NETWORK
IN2015CH05184A (en)
EP3007310A3 (en) Power-storage-system control method and power-storage-system control apparatus
EA201291142A1 (en) MACHINES, SYSTEMS, COMPUTER IMPLEMENTED METHODS AND COMPUTER SOFTWARE PRODUCTS FOR TESTING AND CERTIFICATION OF OIL AND GAS EQUIPMENT
TR201904122T4 (en) Fatigue test.
MX2018004367A (en) Battery test system for predicting battery test results.
GB2538670A (en) A method, system and computer program for scanning a plurality of storage regions within memory for specified quantity of results
GB201207326D0 (en) Preemptive memory repair based on multi-symbol, multi-scrub cycle analysis
JP2016510498A5 (en)
EP2857974A3 (en) Testing framework for policy-based workflows
MX2020004853A (en) Battery test report system and method.
JP2016023968A5 (en)
US20180081775A1 (en) Test unit and test method for efficient testing during long idle periods
MX2015001410A (en) Clustering method, apparatus, and terminal device.
EP4269896A3 (en) Systems for and methods of automatically scheduling and executing in situ tests on electrical and mechanical systems
WO2014155050A3 (en) Method and apparatus for testing electronic systems
EP3379537A3 (en) Semiconductor device
JP2013158599A5 (en)
RU2013147170A (en) CONTROL DEVICE AND AUTHENTICATION METHOD
IN2012DE00756A (en)
CN109858097A (en) A kind of spacecraft single machine test assessment methods of sampling
RU2012148218A (en) METHOD OF CONTROL TESTS FOR A GAMMA-PERCENT RESOURCE OF NON-RESTORABLE RADIO ELECTRONIC DEVICES WITH AN EXTENTIONAL LAW OF TIME DISTRIBUTION BEFORE FAILURE
EP2957883A3 (en) Method for prognostics of an aircraft structure based on structural testing
EP2757360A3 (en) Aircraft Health Assessment System
GB201303159D0 (en) Scalability breakpoint calculator for a software product