RU2012007C1 - Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method - Google Patents
Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012007C1 RU2012007C1 SU4946510A RU2012007C1 RU 2012007 C1 RU2012007 C1 RU 2012007C1 SU 4946510 A SU4946510 A SU 4946510A RU 2012007 C1 RU2012007 C1 RU 2012007C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- solar battery
- key
- sections
- analog
- digital converter
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000000368 destabilizing effect Effects 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000011022 operating instruction Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение при контроле исправности солнечных батарей (СБ) на стартовой позиции, когда невозможно раскрытие панелей и определение целостности групп солнечных элементов (СЭ) внешним осмотром, либо контроль по току освещенной СБ обычным способом. The invention relates to measuring technique and can find application in monitoring the serviceability of solar batteries (SB) at the starting position when it is impossible to open the panels and determine the integrity of the groups of solar cells (SE) by external inspection, or by monitoring the current illuminated by SB in the usual way.
Известны способ и устройство для контроля исправности СБ (Контрольно-измерительная установка КИУ 17Н697. Техническое описание и инструкция по эксплуатации ЖЦПИ411242.001ТО, 1990). A known method and device for monitoring the health of the SB (Instrumentation KIU 17N697. Technical description and operating instructions ZhTsPI411242.001TO, 1990).
Это устройство, принятое в качестве прототипа, содержит управляемый источник (регулятор-стабилизатор тока), в цепь нагрузки которого подключается контролируемая СБ, измеритель тока (шунт), два масштабирующих измерительных усилителя, два аналого-цифровых преобразователя (АЦП) соответственно тока и напряжения и электронный термометр, причем измеритель тока включен последовательно в цепь СБ между общей шиной и шиной для подключения СБ, другая потенциальная шина СБ подключается к управляемому источнику, выход измерителя тока присоединен к входу первого масштабирующего измерительного усилителя, вход второго масштабирующего измерительного усилителя присоединен к потенциальной шине для подключения СБ, выходы масштабирующих измерительных усилителей присоединены к входам АЦП соответственно тока и напряжения, а выходы АЦП и электронного термометра присоединены к шине данных специализированного вычислительного устройства (микропроцессора), определяющего по заданному допуску критериального параметра наличие дефектов в контролируемой панели СБ. This device, adopted as a prototype, contains a controlled source (current regulator-stabilizer), in the load circuit of which a controlled SB is connected, a current meter (shunt), two scaling measuring amplifiers, two analog-to-digital converters (ADCs) of current and voltage and an electronic thermometer, the current meter being connected in series to the SB circuit between the common bus and the bus for connecting the SB, another potential SB bus is connected to a controlled source, the output of the current meter is connected to the input of the first scaling measuring amplifier, the input of the second scaling measuring amplifier is connected to the potential bus for connecting the SB, the outputs of the scaling measuring amplifiers are connected to the ADC inputs of current and voltage, and the outputs of the ADC and electronic thermometer are connected to the data bus of a specialized computing device (microprocessor) that determines according to the specified tolerance of the criterion parameter, the presence of defects in the monitored SB panel.
Указанное устройство в процессе работы реализует способ контроля исправности СБ по ее прямой темновой вольт-амперной характеристике (ПТВАХ), заключающийся в измерении падения напряжения на исправной СБ в первом замере (на предприятии-изготовителе) при протекании по ней тока известной величины и сравнении этого значения с падением напряжения при таком же токе во втором замере на стартовой позиции, причем критериальным параметром (параметром, по которому определяется исправность СБ) служит разница указанных напряжений в первом и втором замерах. The specified device in the process of implementation implements a method of monitoring the health of the SB by its direct dark volt-ampere characteristic (PTVAC), which consists in measuring the voltage drop on the operational SB in the first measurement (at the manufacturer) when a current of known magnitude flows through it and comparing this value with a voltage drop at the same current in the second measurement at the starting position, and the criterion parameter (the parameter by which the health of the SB is determined) is the difference between the indicated voltages in the first and second amer.
Таким образом, способ как последовательность операций, разнесенных по времени и месту осуществления, и устройство опираются на однозначное соответствие между световой ВАХ и ПТВАХ. Появившиеся на этапе транспортировки и установки на носитель локальные дефекты типа "обрыв" обнаруживаются при сопоставлении результатов двух замеров. Thus, the method as a sequence of operations spaced in time and place of implementation, and the device are based on a unique correspondence between the light CVC and PTVAC. Local defects of the “open” type that appeared during the transportation and installation on the media are detected when comparing the results of two measurements.
Для объективности оценки методических недостатков способа-прототипа и вытекающих из них недостатков схемотехнической реализации устройства приведен анализ установки КИУ17Н697, опирающийся на изображенные на фиг. 1 световые ВАХ и ПТВАХ для разных температур, поскольку они в первом и втором замерах неизбежно отличаются и являются дестабилизирующими факторами, непосредственно влияющими на достоверность оценки исправности СБ. Критерием исправности служит отклонение напряжения или тока от измеренной или вычисленной величины, если оно укладывается в допуск и если при этом другой параметр - ток или напряжение соответственно - точно определены и постоянны. Так как в устройстве-прототипе критериальным параметром является напряжение, то это и определяет сравнительно малую достоверность контроля. For objectivity in assessing the methodological disadvantages of the prototype method and the resulting disadvantages of the circuitry implementation of the device, an analysis of the KIU17N697 installation is given, based on the depicted in FIG. 1 light IVCs and PTVACs for different temperatures, since they inevitably differ in the first and second measurements and are destabilizing factors that directly affect the reliability of assessing the health of the SB. The criterion for serviceability is the deviation of the voltage or current from the measured or calculated value, if it falls within the tolerance and if another parameter - current or voltage, respectively - is precisely defined and constant. Since the voltage is the criterion parameter in the prototype device, this determines the relatively low reliability of the control.
На фиг. 1 в первом октанте изображены световые ВАХ: исправной панели - ВАХ1 и с локальными дефектами типа "обрыв" ВАХ2 для разных температур t1 o и t2 o, где t1 o - температура при первом измерении; t2 o - температура при втором измерении (на стартовой позиции). Дефекты приводят к уменьшению тока короткого замыкания на величину Δ Iсв(t1 o) и Δ Iсв(t2 o) соответственно. (На фиг. 1 Δ Iсв сильно увеличена - реальный допуск значительно меньше). Допустим, что t1 o > t2 o (именно этот случай обычно имеет место). В четвертом октанте изображены ПТВАХ1, причем ПТВАХ2 - дефектной панели - сдвинется вправо по оси абсцисс на некоторую величину ΔUт относительно ПТВАХ1 бездефектной панели, на которой при таком же темновом токе Iт падение напряжения отобразится величиной Uтв(t2 о). Из-за неизбежного отличия температур t1 o и t2 oнапряжение, с которым осуществляется сравнение, не измеряется непосредственно, а вычисляется Uтв(t2 o) по результатам первого измерения на исправной СБ при известных Iт и Uт(t1 o) по зависимости U = f(t) и t2 oи уже потом сравнивается с измеренной величиной Uт(t2 o). Для этого значения Iт и Uт(t1 о) записываются в постоянное запоминающее устройство (ПЗУ), которое транспортируется вместе с изделием на стартовую позицию.In FIG. 1, in the first octant, the light I – V characteristics are shown: of a functional panel — I – V characteristics 1 and with local defects of the “open” type of I – V characteristics 2 for different temperatures t 1 o and t 2 o , where t 1 o is the temperature during the first measurement; t 2 o - temperature in the second measurement (at the starting position). Defects lead to a decrease in short circuit current by Δ I sv (t 1 o ) and Δ I sv ( t 2 o ), respectively. (In Fig. 1, Δ I sv is greatly increased - the real tolerance is much less). Assume that t 1 o > t 2 o (this is precisely the case usually takes place). In the fourth octant, PTVAC 1 is shown, and PTVAC 2 - of the defective panel - will shift to the right along the abscissa axis by a certain value ΔU t relative to PTVAC 1 of the defect-free panel, on which, at the same dark current I t, the voltage drop is displayed by the value of U tv (t 2 о ) . Due to the inevitable difference in temperatures t 1 o and t 2 o, the voltage with which the comparison is carried out is not measured directly, but U tv (t 2 o ) is calculated according to the results of the first measurement on a working SB with known I t and U t (t 1 o ) according to the dependence U = f (t) and t 2 o and only then it is compared with the measured value of U t (t 2 o ). For this, the values of I t and U t (t 1 about ) are recorded in read-only memory (ROM), which is transported together with the product to the starting position.
Таким образом, основным недостатком известного способа является большая вероятность ложной оценки исправности СБ, вытекающая из высокой чувствительности ПТВАХ к температуре, требующая вычисления с высокой точностью Uт(t2 o) и обусловленная необходимостью прецизионной установки значения Iт, а реально выполнимое устройство - сложное и дорогостоящее.Thus, the main disadvantage of this method is the high probability of a false assessment of the health of the SB, resulting from the high sensitivity of the PTVAC to temperature, requiring calculation with high accuracy U t (t 2 o ) and due to the need for a precision setting of the value of I t , and a feasible device is complex and expensive.
В измерительной технике применяется дифференциальный метод, позволяющий выделить малый разностный сигнал и одновременно скомпенсировать влияние дестабилизирующих факторов - в нашем случае температуры. Применение дифференциального метода для контроля исправности СБ целесообразно, поскольку на современных космических аппаратах (КА) СБ состоит из нескольких однотипных секций. Сравнивая попарно критериальные параметры n-й и (n+1)-й секций при одновременном их подключении, можно полностью скомпенсировать влияние температуры. Однако устройство, реализующее дифференциальный метод, когда в качестве критериального параметра принята разность падений напряжений на n-й и (n+1)-й СБ, должно содержать два прецизионных управляемых стабилизатора, допуск на отличие токов которых должен быть заведомо меньше допуска на измерительную часть устройства. При сложности практического исполнения таких стабилизаторов достоверность контроля продолжает оставаться неудовлетворительной. In the measuring technique, a differential method is used, which makes it possible to isolate a small difference signal and at the same time compensate for the influence of destabilizing factors - in our case, temperature. The use of the differential method for monitoring the health of the SB is advisable, since on modern spacecraft (SC) the SB consists of several sections of the same type. By comparing the criterion parameters of the nth and (n + 1) -th sections in pairs while connecting them, you can completely compensate for the effect of temperature. However, a device that implements the differential method, when the difference in the voltage drops across the nth and (n + 1) SBs is taken as a criterion parameter, must contain two precision controlled stabilizers, the tolerance on the difference in currents of which must be obviously less than the tolerance on the measuring part devices. Given the complexity of the practical implementation of such stabilizers, the reliability of the control continues to be unsatisfactory.
Целью изобретения является повышение точности контроля исправности СБ за счет регистрации менее критичных к дестабилизирующим факторам параметров, а также за счет взаимной компенсации температурного дрейфа напряжений контролируемых панелей СБ. The aim of the invention is to improve the accuracy of monitoring the health of the SB due to the registration of parameters less critical to destabilizing factors, as well as due to the mutual compensation of the temperature drift of the voltage of the monitored SB panels.
Цель достигается тем, что в способе контроля исправности СБ по ПТВАХ, заключающемся в измерении критериального параметра на исправной СБ, последующем измерении этого же параметра на стартовой позиции и их сравнении, в качестве критериального параметра используют разность токов, протекающих по n-й и (n+1)-й секциям СБ при одновременном их подключении к общему источнику напряжения. The goal is achieved by the fact that in the method of monitoring the health of the SB by PTVAH, which consists in measuring the criterion parameter on a healthy SB, then measuring the same parameter at the starting position and comparing them, the difference in the currents flowing along the nth and (n +1) -th sections of the SB while simultaneously connecting them to a common voltage source.
Цель достигается также тем, что в устройство для контроля исправности солнечной батареи, содержащее специализированное вычислительное устройство, электронный термометр, аналого-цифровой преобразователь, масштабирующий усилитель, источник питания, измеритель тока, клемму для подключения солнечной батареи, введены второй измеритель тока, вторая и третья клеммы для подключения солнечной батареи, второй аналого-цифровой преобразователь, первые, второй и третий ключи, блок управления источником питания, конденсаторная батарея и два блока управления ключами. The goal is also achieved by the fact that in the device for monitoring the health of the solar battery, containing a specialized computing device, an electronic thermometer, an analog-to-digital converter, a scaling amplifier, a power source, a current meter, a terminal for connecting the solar battery, a second current meter, a second and a third are introduced terminals for connecting the solar battery, a second analog-to-digital converter, first, second and third keys, a power supply control unit, a capacitor bank and two blocks key management.
Предложенный способ контроля, при котором оценка исправности СБ производится по разности токов, как сравнительно мало критичных к температуре параметров, при одновременном подключении секций к общему источнику напряжения, позволяет за счет высокой чувствительности обеспечить требуемую точность контроля. The proposed monitoring method, in which the health of the SB is assessed by the difference of currents, as relatively few parameters critical to temperature, while sections are connected to a common voltage source, allows for the required control accuracy due to high sensitivity.
На фиг. 1 изображено семейство световых и соответствующих им темновых ВАХ для разных температур, поясняющее способ; на фиг. 2 - блок-схема устройства, реализующего этот способ. In FIG. 1 shows a family of light and corresponding dark I – V characteristics for different temperatures, illustrating the method; in FIG. 2 is a block diagram of a device that implements this method.
Для двух однотипных панелей СБ с напряжением холостого хода Uxx(t1 o) световой ВАХ1(t1 o) исправной панели на фиг. 1 в октанте I соответствует ПТВАХ1(t1 o) в октанте IV, а панели с дефектами типа "обрыв", приводящими к снижению (Iкз(t1 o) на величину ΔIсв(t1 o) световой ВАХ2(t1 o) - соответствует ПТВАХ2(t1 o). Как видно из графиков, дефекты приводят к сдвигу ПТВАХ вправо на сравнительно малую величину ΔU по сравнению со снижением светового тока на величину Δ Iсв. Поскольку ПТВАХ как исправных, так и панелей с дефектами всегда выходят из начала координат, то участок кривой, используемый для выявления дефектов СБ по ПТВАХ, соответствует световой ВАХ, где напряжение U ≈ Uххсв. Крутизна ПТВАХ на этом участке и определяет чувствительность контроля S[A/B] = Δ I/ Δ U предложенного способа, в отличие от Δ U/Δ I - в случае прототипа.For two of the same type of SB panels with an open circuit voltage U xx (t 1 o ) of the light current-voltage characteristic 1 (t 1 o ) of a working panel in FIG. 1 in octant I corresponds PTVAH 1 (t 1 o) in octant IV, a panel with defects such as "open", leading to a decrease (I ks (t 1 o) by an amount ΔI communication (t 1 o) light CVC 2 (t 1 o ) - corresponds to PTVAH 2 (t 1 o ). As can be seen from the graphs, defects lead to a PTVAH shift to the right by a relatively small value ΔU compared to a decrease in light current by Δ I sv . Since the PTVAH of both serviceable and panels with defects always come from the origin, then the portion of the curve used to identify SB defects by PTVAC corresponds to the light CVC, where the voltage U ≈ U ххсв . The steepness of the PTVAC in this section determines the sensitivity of the control S [A / B] = Δ I / Δ U of the proposed method, in contrast to Δ U / Δ I in the case of the prototype.
Если температура при втором измерении -t2 o меньше, чем при первом -t1 o, то характеристики сдвинутся по оси абсцисс вправо на одну и ту же величину у исправной и дефектной панелей, чем полностью компенсируется влияние температуры, а разница за счет дефектов типа "обрыв" сохраняется неизменной. Этому соответствуют ПТВАХ1(t2 o) исправной панели и ПТВАХ2(t2 o) - дефектной. При параллельном подключении исправной и дефектной панелей к источнику напряжения с U = Uc (сопротивление измерителей тока - шунтов - по сравнению с внутренним сопротивлением СБ пренебрежимо мало и одинаково), по ним потекут темновые токи: (I1т - по исправной и I2т - по дефектной.If the temperature in the second measurement -t 2 o is lower than in the first measurement -t 1 o , then the characteristics will shift to the right by the same abscissa by the same value in the serviceable and defective panels, which completely compensates for the effect of temperature, and the difference due to defects like the "cliff" remains unchanged. This corresponds to PTVAH 1 (t 2 o ) of the serviceable panel and PTVAH 2 (t 2 o ) - defective. When the intact and defective panels are connected in parallel to a voltage source with U = U c (the resistance of current meters - shunts is negligible and the same as compared to the internal resistance of the SB), dark currents flow through them: (I 1t - normal and I 2t - by defective.
Δ Iт практически не зависит от точности установки токов I1т и I2т, что и определяет некритичность метода к значению напряжения, до которого заряжается конденсаторная батарея - Uc(t). Достаточная точность установки Uc ± 3-5% , и она не используется в процессе вычисления для определения величины критериального параметра.Δ I t practically does not depend on the accuracy of setting currents I 1t and I 2t , which determines the non-criticality of the method to the voltage value to which the capacitor bank is charged - U c (t). Sufficient installation accuracy U c ± 3-5%, and it is not used in the calculation process to determine the value of the criterial parameter.
Устройство работает следующим образом. В режиме "Запись" перед первым измерением в оперативное запоминающее устройство (ОЗУ) микропроцессора 1 (МП) вводятся значения Nпос - количество последовательно соединенных СЭ в батарее, ток короткого замыкания при стандартной освещенности и тип СЭ - кремниевые или арсенид-галлиевые. Встроенный электронный термометр 2 измеряет температуру окружающей среды t1 o, которая также записывается в ОЗУ. По этим значениям МП1 вычисляет Uт(t1 o) и величину емкости, которая определяется из условия, что при разряде темновым током Iт = Iкз его уменьшение за время преобразования АЦП не превысит величину младшего разряда. После этих вычислений МП1 через блок 3 управления конденсаторной батареей набирает из конденсаторов 4 первыми ключами 5 требуемую емкость, которая заряжается до напряжения Uc(to) от источника питания 6 через второй ключ 7 (его исходное состояние изображено на фиг. 2). По мере заряда конденсаторов напряжение Uc увеличивается и при достижении вычисленного значения Uc = Uc(to) коды, соответствующие вычисленному МП напряжению, и на выходе АЦП 8 напряжения совпадают и через блок управления 9 источник 6 выключается. МП1 через блок 10 переключает ключ 7, в результате чего заряженная конденсаторная батарея оказывается нагруженной затененными СБ 11 и 12, соединенными параллельно. Сигнал, пропорциональный разности токов с выходов измерителей 13 и 14 тока, поступает на прямой и инверсный входы масштабирующего усилителя и АЦП 15 тока (на фиг. 2 они объединены) и записывается во внешнее постоянное запоминающее устройство ПЗУ 16. За время одного разряда конденсаторов регистpиpуется 4-6 значений Δ I и используется для статистической обработки с целью повышения достоверности контроля.The device operates as follows. In the "Record" mode, before the first measurement, the values of N pos are entered into the random access memory (RAM) of microprocessor 1 (MP) - the number of solar cells connected in series, the short-circuit current at standard illumination and the type of solar cells are silicon or gallium arsenide. The built-in
Третий ключ 17 и балластный резистор Rδ предназначены для разряда конденсаторов после измерений.The third key 17 and the ballast resistor R δ are designed to discharge capacitors after measurements.
После сравнения, например, панелей 1 и 2 и записи их критериальных параметров в ПЗУ 16 сравнивают аналогичным образом панели 2 и 3 и т. д. После измерений всех панелей и записи параметров в ПЗУ его отстыковывают от устройства и транспортируют вместе с изделием. After comparing, for example,
В режиме контроля на стартовой позиции ПЗУ 16 подключают к аналогичному устройству, и весь алгоритм работы повторяется автоматически с той лишь разницей, что МП1 осуществляет сравнение записанных в ПЗУ данных со значениями контрольных замеров и, в зависимости от допустимого отклонения критериального параметра Δ I, определяет исправность СБ непосредственно перед запуском КА. In the monitoring mode at the starting position, the
Применение предложенного способа и устройства для его осуществления позволяет по сравнению с известными повысить контроль исправности СБ по ПТВАХ, когда раскрытие панелей и внешний осмотр затруднительны. При этом в случае исправной СБ можно обойтись без трудоемкой и длительной операции по замене дефектных (разбитых) групп СЭ, либо провести ремонт СБ, получившей повреждение на этапе транспортировки, и обеспечить тем самым соответствие ее характеристик заданным. The application of the proposed method and device for its implementation allows, in comparison with the known ones, to increase the control of the health of the SB by PTVAH, when the opening of the panels and external inspection are difficult. In this case, in the case of a working SB, you can do without a time-consuming and lengthy operation to replace defective (broken) groups of solar cells, or repair the SB that received damage during the transportation phase, and thereby ensure that its characteristics meet the specified ones.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU4946510 RU2012007C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU4946510 RU2012007C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2012007C1 true RU2012007C1 (en) | 1994-04-30 |
Family
ID=21579816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU4946510 RU2012007C1 (en) | 1991-06-17 | 1991-06-17 | Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2012007C1 (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5669987A (en) * | 1994-04-13 | 1997-09-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Abnormality detection method, abnormality detection apparatus, and solar cell power generating system using the same |
| RU2357264C1 (en) * | 2008-01-09 | 2009-05-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева" (СибГАУ) | Device for recording characteristics of solar batteries |
| RU2394247C1 (en) * | 2009-04-28 | 2010-07-10 | Закрытое акционерное общество "Связь инжиниринг" | Device for controlling first stage of electronic non-dissipating load |
| RU2422842C1 (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева" (СибГАУ) | Device to record solar battery performances |
| RU2476958C2 (en) * | 2011-03-17 | 2013-02-27 | Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" | Method of determining voltage-current characteristics of solar cells on solar radiation simulator |
-
1991
- 1991-06-17 RU SU4946510 patent/RU2012007C1/en active
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5669987A (en) * | 1994-04-13 | 1997-09-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Abnormality detection method, abnormality detection apparatus, and solar cell power generating system using the same |
| RU2357264C1 (en) * | 2008-01-09 | 2009-05-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева" (СибГАУ) | Device for recording characteristics of solar batteries |
| RU2394247C1 (en) * | 2009-04-28 | 2010-07-10 | Закрытое акционерное общество "Связь инжиниринг" | Device for controlling first stage of electronic non-dissipating load |
| RU2422842C1 (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М.Ф. Решетнева" (СибГАУ) | Device to record solar battery performances |
| RU2476958C2 (en) * | 2011-03-17 | 2013-02-27 | Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ" | Method of determining voltage-current characteristics of solar cells on solar radiation simulator |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5757192A (en) | Method and apparatus for detecting a bad cell in a storage battery | |
| US12467981B2 (en) | Methods and systems for managing multi-cell batteries | |
| US6556019B2 (en) | Electronic battery tester | |
| US6456045B1 (en) | Integrated conductance and load test based electronic battery tester | |
| US6477024B1 (en) | Fault determination apparatus and fault determination method for a battery set | |
| US6262589B1 (en) | TFT array inspection method and device | |
| US6392414B2 (en) | Electronic battery tester | |
| KR100880717B1 (en) | Method and apparatus for detecting state of charge of secondary battery based on neural network operation | |
| EP2741093A1 (en) | Ground fault detection device, ground fault detection method, solar energy system, and ground fault detection program | |
| US6922058B2 (en) | Method for determining the internal impedance of a battery cell in a string of serially connected battery cells | |
| EP0811850A2 (en) | High resolution supply current test system | |
| US6323668B1 (en) | IC testing device | |
| WO1997017829B1 (en) | Variable voltage component tester | |
| JP2002204537A (en) | Battery assembly device | |
| RU2012007C1 (en) | Method for test of operating order of solar battery having n sections which are made of equal units, and device for implementation of said method | |
| US3997834A (en) | State-of-charge indicator for zinc-mercuric oxide primary cells | |
| US5448173A (en) | Triple-probe plasma measuring apparatus for correcting space potential errors | |
| US4985672A (en) | Test equipment for a low current IC | |
| US7332913B2 (en) | Method and apparatus for determining to which battery cell in a string of battery cells a test instrument is connected | |
| US5166625A (en) | Automatic device for measuring the noise level of electronic components | |
| KR20240066007A (en) | Battery inspection apparatus and battery inspection method | |
| US3619584A (en) | Computer problem setup testing system | |
| JPS60625B2 (en) | Storage battery performance determination method and device | |
| SU1767589A1 (en) | Method for determining chemical current source electric conductivity | |
| US20260009860A1 (en) | Estimation of the Degradation of Batteries in Electric Vehicles |