RU2003129C1 - Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамики - Google Patents
Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамикиInfo
- Publication number
- RU2003129C1 RU2003129C1 SU4827783A RU2003129C1 RU 2003129 C1 RU2003129 C1 RU 2003129C1 SU 4827783 A SU4827783 A SU 4827783A RU 2003129 C1 RU2003129 C1 RU 2003129C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- determination
- sample
- electric resistance
- temperature superconducting
- superconducting ceramics
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
контактный слой из золота или другого металла , в каждое отверстие в образце ввод т проволочный токоподвод, который припаивают к переходному контактному слою, так, что припой заполн ет отверстие с вставленным в него проволочным токоподводом. Таким образом, между последним и ВТСП керамикой обеспечиваетс надежный электрический контакт.
Предлагаемый способ реализуетс следующим образом (см. фиг. 1). Токоподводы из точек F и В подсоедин ют к вольтметру G, токоподводы из точек С и D подсоедин ют к регулировочному сопротивлению R и к источнику посто нного тока Е. На основе показаний вольтметра G и амперметра А можно определить сопротивление R на длине FB. По закону Ома R -т- где I показани амперметра А в амперах, Д1) - показани вольтметра G в вольтах.
Пример 1. Предлагаемый способ использован дл определени четырехзон- довым методом электросопротивлени образца ВТСП керамики состава УВааСизОт-х- По стандартной керамической технологии, основанной на твердофазном синтезе смеси порошков У20з, СиО и СаСОз при температуре 1223 К в атмосфере кислорода под давлением 1 атм, изготовлены таблетки диаметром 20 и толщиной 3 или 10 мм.
Рентгеноструктурный фазовый анализ материала таблеток, выполненный на Сг К а -излучении, показал, что все таблетки состо ли только из сверхпровод щей фазы УВа2СизОу-х с ромбической структурой. По данным металлографического анализа и измерений плотности суммарна пористость материала таблеток достигала 30%, причем была св зана с присутствием пор и трещин в структуре материала, особенно многочисленных на поверхности таблеток. Две из вышеуказанных таблеток толщиной 3 мм из ВТСП порошка использовали: одну дл изготовлени образца по схеме, приведенной на фиг. 2, другую - дл изготовлени образца дл измерений известным способом с поверхностным расположением электрических контактов. С помощью предлагаемого и известного способов измер ли температурную зависимость электросопротивлени ВТСП керамики в интервале 77-100 К. Предлагаемый способ позволил обнаружить воб- разце сверхпровод щий переход при температуре Тс 90К, ширина перехода составила ДТ 3 К. Полученные значени Тс и Л Т характерны дл с сверхпровод щей фазы УВааСизОт-х, что хорошо согласуетс с вышеприведенными результатами рентге- 5 неструктурного фазового анализа.
Примен известный способ с поверхностным расположением электрических контактов, сверхпровод щий переход в ВТСП керамике обнаружить не удалось вви0 ду отсутстви тока в измерительной цепи, протеканию которого преп тствовали многочисленные поры и трещины в структуре материала образца.
Пример 2. Две таблетки толщиной 10
5 мм из ВТСП керамики состава УВз2Сиз07-х, изготовленные и исследованные, как указано в примере 1 использовали: одну дл изготовлени образца по схеме, приведенной на фиг. 3, другую - дл изготовлени образца
0 дл измерений известным способом с поверхностным расположением электрических контактов. С помощью предлагаемого и известного способов измер ли четырех- зондовым методом температурную зависи5 мость электросопротивлени ВТСП керамики в интервале 77-100 К. Предлагаемый способ позволил обнаружить в образце сверхпровод щий переход при температуре Тс 90.5К, ширина которого составила А Т
0 4 К. Полученные значени Тс и Д Т характерны дл ВТСП фазы УВааСизОт-х, что хорошо согласуетс с вышеприведенными результатами рентгеноструктурного фазового анализа.
5 Примен известный способ, как и в примере 1, сверхпровод щий переход в ВТСП керамике обнаружить не удалось ввиду отсутстви тока в измерительной цепи. Таким образом, предлагаемый способ
0 обеспечивает, по сравнению с известным, повышенную надежность измерени электросопротивлени образцов из ВТСП керамики , содержащей поверхностные и объемные дефекты и непровод щие фазы,
5 которые преп тствуют прохождению тока через образец. Тем самым предлагаемый способ позвол ет использовать метод измерени электросопротивлени дл обнаружени сверхпровод щего состо ни
0 материала и определ ть критические параметры такого состо ни в материале с многочисленными дефектами типа пор, трещин и частицами непровод щих фаз.
5 (56) Appl. Phys Leu. 1988, v. 52, Kb 12, p. 1014-1016.
Claims (1)
- Формула изобретенинапр жени на образце и определение ис- СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРО- комой величины по формуле R от- СОПРОТИВЛЕНИЯ ВЫСОКОТЕМПЕРА-ТУРНОЙСВЕРХПРОВОДЯЩЕЙ личающийс тем, что измерение силы токаКЕРАМИКИ, включающий измерение силы 5 и падение напр жени осуществл ют в те- тока через образец, измерение падени ле °°РазцаФиг.1Фиг.1Фс/г.З
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4827783 RU2003129C1 (ru) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамики |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4827783 RU2003129C1 (ru) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамики |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2003129C1 true RU2003129C1 (ru) | 1993-11-15 |
Family
ID=21515597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4827783 RU2003129C1 (ru) | 1990-05-22 | 1990-05-22 | Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамики |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2003129C1 (ru) |
-
1990
- 1990-05-22 RU SU4827783 patent/RU2003129C1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Brixner | X-ray study and electrical properties of system BaxSr (1− x) MoO3 | |
O'Neill | Systems Fe-O and Cu-O; thermodynamic data for the equilibria Fe-“FeO,” Fe-Fe3O4,“FeO”-Fe3O4, Fe3O4-Fe2O3, Cu-Cu2O, and Cu2O-CuO from emf measurements | |
Kudo et al. | Electrochemical Behavior of the Perovskite‐Type Nd1− x Sr x CoO3 in an Aqueous Alkaline Solution | |
Holt et al. | Electrical conductivity and defect structure of Cr2O3. I. High temperatures (>∼ 1000 C) | |
US3347767A (en) | Device for monitoring oxygen content of gases | |
GB1575766A (en) | Oxygen sensors | |
Muccillo et al. | Impedance spectroscopy of Mg-partially stabilized zirconia and cubic phase decomposition | |
RU2003129C1 (ru) | Способ определени электросопротивлени высокотемпературной сверхпровод щей керамики | |
Abram et al. | Electrode-contact spreading resistance phenomena in doped-lanthanum gallate ceramics | |
Jang et al. | Electrical conduction in aluminum nitride | |
TW554167B (en) | Infrared thermographic screening technique for semiconductor-based chemical sensors | |
Walling et al. | New method for measuring electrical conductivities of solids in a diamond anvil cell | |
Steudel et al. | Miniaturized solid state electrochemical CO2 sensors | |
Elschner et al. | Oxygenation control of YBa2Cu3O6+ z polycrystalline samples via in situ determination of electric conductivity | |
Norton | A simple instrument for determining superconducting transition temperatures | |
GB2186090A (en) | Gas sensor | |
JPH0256976A (ja) | 液面レベルセンサおよびその製造方法 | |
Vanderbemden et al. | Magnetic flux penetration and creep in BSSCO-2223 composite ceramics | |
Ngoc et al. | Investigations on the mixed conductivity of copper tantalate | |
Kontoulis et al. | Fabrication and conductivity of a new compound Ca2Cr2O5 | |
Calzona et al. | A new technique to obtain a fast thermocouple sensor for thermal diffusivity measurements in an extended temperature range | |
Zhang et al. | Oxygen nonstoichiometry in high-Tc superconductor HoBa2Cu3O6+ x and application of coulometric tritration | |
JP2868920B2 (ja) | 溶融金属中の酸素濃度測定用素子 | |
Prester et al. | Low resistance state up to 210 K in a mixed compound Y-Ba-Cu-O | |
US5166131A (en) | Methods for processing superconducting materials |