RU189629U1 - X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON - Google Patents
X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON Download PDFInfo
- Publication number
- RU189629U1 RU189629U1 RU2018147640U RU2018147640U RU189629U1 RU 189629 U1 RU189629 U1 RU 189629U1 RU 2018147640 U RU2018147640 U RU 2018147640U RU 2018147640 U RU2018147640 U RU 2018147640U RU 189629 U1 RU189629 U1 RU 189629U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- lens
- contrast microscope
- microscope according
- ray phase
- axicon
- Prior art date
Links
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 17
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 claims description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims 2
- 238000002135 phase contrast microscopy Methods 0.000 abstract description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 7
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Использование: для рентгеновской фазово-контрастной микроскопии. Сущность полезной модели заключается в том, что рентгеновский фазово-контрастный микроскоп содержит конденсорную линзу, объектив и рентгеновский детектор, отличающийся тем, что объектив выполнен с включением в его состав аксикона, при этом объектив расположен в фокусе конденсорной линзы на расстоянии L, место установки исследуемого образца расположено за конденсорной линзой на расстоянии Lперед объективом, превышающем фокусное расстояние F объектива, рентгеновский детектор при этом расположен за объективом на расстоянии. Технический результат: расширение арсенала технических средств. 17 з.п. ф-лы, 1 ил.Usage: for x-ray phase-contrast microscopy. The essence of the utility model is that the X-ray phase-contrast microscope contains a condenser lens, an objective lens and an X-ray detector, characterized in that the objective is made with an axicon included in it, the lens is located at the focus of the condenser lens at a distance L, the installation location the sample is located behind the condenser lens at a distance L in front of the lens that exceeds the focal length F of the lens, while the x-ray detector is located behind the lens at a distance. Technical result: expansion of the arsenal of technical means. 17 hp f-ly, 1 ill.
Description
Полезная модель относится к области рентгенотехники и может быть использована в рентгеновской фазово-контрастной микроскопии, и в частности, в области физики или медицины. The invention relates to the field of X-ray technology and can be used in X-ray phase-contrast microscopy, and in particular, in the field of physics or medicine.
В настоящее время традиционные методы рентгеновской радиографии, томографии и микроскопии широко используются в современных научных и прикладных исследованиях. Такие методы позволяют получить изображение внутренней структуры изучаемого образца с высоким пространственным разрешением. Формирование контраста изображений происходит за счет поглощения рентгеновских лучей различными участками объекта, что дает возможность явным образом зарегистрировать пространственное распределение коэффициента поглощения в образце. Такой принцип реализован, например, в публикации Lengeler B., Schroer C., TuÈmmler J., Benner B., Richwin M., Snigirev A., ...&Drakopoulos M. Imaging by parabolic refractive lenses in the hard X-ray range. Journal of Synchrotron Radiation, (1999). 6(6), 1153-1167.Currently, traditional methods of X-ray radiography, tomography and microscopy are widely used in modern scientific and applied research. Such methods allow to obtain an image of the internal structure of the studied sample with a high spatial resolution. The formation of the contrast of images occurs due to the absorption of X-rays by different parts of the object, which makes it possible to explicitly register the spatial distribution of the absorption coefficient in the sample. Such a principle is implemented, for example, in the publication by Lengeler B., Schroer C., TuÈmmler J., Benner B., Richwin M., Snigirev A., ... & Drakopoulos M. Imaging by parabolic refractive lenses in the hard X-ray range . Journal of Synchrotron Radiation, (1999). 6 (6), 1153-1167.
Недостатком технического решения является его неэффективность при исследовании слабо-поглощающих (фазовых) объектов, где из-за малого изменения коэффициента поглощения контраст получаемых изображений довольно слабый. The disadvantage of the technical solution is its inefficiency in the study of weakly absorbing (phase) objects, where, due to a small change in the absorption coefficient, the contrast of the obtained images is rather weak.
Известно устройство когерентного рентгеновского фазового микроскопа Цернике по патенту на изобретение США №US7787588 (опубликован 31.08.2010) в котором фазово-контрастное изображение формируется за счет интерференции между опорной волной, сдвинутой по фазе с помощью фазовой пластинки, и волной, рассеянной на образце. A Zernike coherent X-ray phase microscope device is known for US patent No. US7787588 (published 08/31/2010) in which a phase-contrast image is formed due to interference between the reference wave, shifted in phase using a phase plate, and a wave scattered on the sample.
Недостатком технического решения является то, что для получения интерферирующих пучков применяется специальная кольцевая подсветка образца, реализованная с использованием комбинации поглотителей пучка или кольцевого отверстия. Это требует много времени для регулировки и выравнивания соответствующей оптической схемы. Кроме того, конструкция фазовой пластинки, используемой в микроскопии Цернике, вычисляется только для определенной длины волны, так как предполагаемый фазовый сдвиг опорной волны должен быть равен половине периода. Кроме того, величина сдвига фазы определяется размерами исследуемого образца, и может быть отрегулирована только при помощи фазосдвигающих пластин различной толщины. При этом толщину фазовой пластины необходимо подбирать также при изменении энергии рентгеновского излучения. Более того, в некоторых случаях возникают дополнительные трудности, связанные с ограничениями изготовления таких фазовых пластинок.The disadvantage of the technical solution is that to obtain interfering beams, a special circular illumination of the sample is used, implemented using a combination of beam absorbers or an annular opening. It takes a long time to adjust and align the corresponding optical design. In addition, the design of the phase plate used in Zernike microscopy is calculated only for a certain wavelength, since the expected phase shift of the reference wave must be equal to half the period. In addition, the magnitude of the phase shift is determined by the size of the sample under study, and can be adjusted only with the help of phase-shifting plates of different thickness. In this case, the thickness of the phase plate must also be selected when the energy of x-rays changes. Moreover, in some cases there are additional difficulties associated with the limitations of manufacturing such phase plates.
Появление современных высококогерентных источников синхротронного излучения позволяет изучать слабо-поглощающие объекты при помощи фазово-контрастных методов исследования, использующих механизм формирования изображений, основанный на принципах когерентного взаимодействия рентгеновских лучей.The emergence of modern high-coherent sources of synchrotron radiation makes it possible to study weakly absorbing objects using phase-contrast methods of research using an imaging mechanism based on the principles of coherent interaction of x-rays.
Известно устройство когерентного рентгеновского фазового микроскопа по патенту на изобретение РФ №2426103 (опубликован 10.08.2011), в котором расходящееся рентгеновское излучение вводится в рентгеновскую линзу, представляющую собой фокон, состоящий из полых стеклянных микротрубок, диаметр которых на длине трубок, составляющих десятки сантиметров, непрерывно уменьшается на несколько порядков, что позволяет получить на выходе фокона диаметр рентгеновского пучка не более 10 микрон, при этом плотность мощности излучения может возрасти на 8 порядков. Часть сформированного фоконом рентгеновского пучка с помощью делительного кристалла направляется на рентгеновский волноводный спектрометр. Использование двух взаимно перпендикулярных щелей позволяет уменьшить размер пучка до сотен нанометров и получить пространственно когерентный рентгеновский пучок. Таким рентгеновским пучком облучается исследуемый микро- или нанообъект. При этом микро- или нанообъект дискретно вращается относительно оси, перпендикулярной рентгеновскому пучку, с помощью сканера. Если размеры объекта больше размера пучка, то при помощи сканера происходит смещение объекта перпендикулярно оси рентгеновского пучка. Для каждого пространственного положения исследуемого объекта интенсивность прошедшего и дифрагированного когерентного рентгеновского излучения детектируется с помощью матричного детектора. С помощью персонального компьютера из двумерных распределений интенсивности прошедшего рентгеновского характеристического излучения, полученного для набора дискретных углов поворота объекта, компьютерно реконструируется трехмерное изображение объекта, а вычисление фазовых задержек в объемной среде, линейно связанных с электронной плотностью и относительным показателем преломления, позволяет реконструировать распределение электронной плотности или относительного показателя преломления.A device is known for a coherent X-ray phase microscope according to the patent for invention of the Russian Federation No. 2426103 (published on 10.08.2011), in which divergent X-rays are introduced into an x-ray lens, which is a focon consisting of hollow glass microtubes whose diameter is tens of centimeters in length, continuously decreases by several orders of magnitude, which allows to obtain at the output of the focon an x-ray beam diameter of not more than 10 microns, while the radiation power density can increase by 8 orders of magnitude s. Part of the x-ray beam formed by the focal-beam is directed to the X-ray waveguide spectrometer by means of a dividing crystal. The use of two mutually perpendicular gaps allows one to reduce the beam size to hundreds of nanometers and obtain a spatially coherent X-ray beam. Such an X-ray beam irradiates the micro or nano object under study. In this case, the micro or nanoobject rotates discretely about an axis perpendicular to the x-ray beam, using a scanner. If the object is larger than the beam size, then using a scanner, the object is displaced perpendicular to the x-ray beam axis. For each spatial position of the object under study, the intensity of the transmitted and diffracted coherent X-ray radiation is detected using a matrix detector. Using a personal computer from a two-dimensional intensity distribution of the past X-ray characteristic radiation obtained for a set of discrete angles of rotation of an object, a three-dimensional image of an object is computer-reconstructed, and calculating phase delays in a volumetric environment linearly related to electron density and relative refractive index or relative refractive index.
Недостатком устройства является то, что фазово-контрастные изображения формируются на большом расстоянии от исследуемого объекта, а также высокая сложность устройства и требования к тонности изготовления его элементов.The disadvantage of the device is that the phase-contrast images are formed at a great distance from the object under study, as well as the high complexity of the device and the requirements for the tonality of the manufacture of its elements.
Технический результат, на получение которого направлена полезная модель, заключается в создании рентгеновского фазово-контрастного микроскопа с широким диапазоном энергий, не требующего использования специальной кольцевой подсветки и/или набора фазосдвигающих пластин различной толщины, и/или фокона, то есть расширяющего арсенал технических средств.The technical result, which is aimed at obtaining a utility model, is to create an X-ray phase-contrast microscope with a wide range of energies that do not require the use of a special ring illumination and / or a set of phase-shifting plates of different thickness and / or focon, that is, expanding the arsenal of technical means.
Технический результат достигается в устройстве, содержащем конденсорную линзу, объектив, выполненный с включением в его состав аксикона, а также рентгеновский детектор, при этом объектив расположен в фокусе конденсорной линзы, место установки исследуемого образца расположено за конденсорной линзой на расстоянии L1 перед объективом, превышающем фокусное расстояние F объектива, рентгеновский детектор при этом расположен за объективом на расстоянии 
Предпочтительно выполнение конденсорной линзы в виде преломляющей линзы.It is preferable to make a condenser lens in the form of a refractive lens.
В одном из вариантов конденсорная линза выполнена в виде составной из нескольких одиночных двумерных или одномерных цилиндрических линз.In one embodiment, the condenser lens is made as a composite of several single two-dimensional or one-dimensional cylindrical lenses.
Предпочтительно выполнение объектива содержащим составную преломляющую линзу, выполненную из одной или нескольких одиночных двумерных или одномерных цилиндрических линз.It is preferable to make the lens containing a composite refractive lens made of one or more single two-dimensional or one-dimensional cylindrical lenses.
Предпочтительно выполнение аксикона объектива в форме осесимметричной полости или нескольких осесимметричных полостей, выполненных в пластине рентгенопрозрачного материала.It is preferable to perform the axicon of the objective in the form of an axisymmetric cavity or several axisymmetric cavities made in the plate of the radiolucent material.
Предпочтительно выполнение аксикона из рентгенопрозрачных материалов, например, из бериллия Be, или алюминия Al, или кремния Si, или никеля Ni, или углерода C (например, алмаза), или из полимеров, таких как SU8, PMMA,ORMOCOMP.It is preferable to make an axicon from radiolucent materials, for example, from beryllium Be, or aluminum Al, or silicon Si, or nickel Ni, or carbon C (for example, diamond), or from polymers such as SU8, PMMA, ORMOCOMP.
Предпочтительно выполнение преломляющей поверхности аксикона (полости) в форме конуса с углом α в его вершине.Preferably, the axicon (cavity) refracting surface is in the form of a cone with an angle α at its apex.
В одном из вариантов преломляющая поверхность аксикона (полость) выполнена в форме параболического конуса, описываемую выражением в цилиндрической системе координат:In one embodiment, the axicon refracting surface (cavity) is made in the shape of a parabolic cone, described by an expression in a cylindrical coordinate system:
где ось z направлена вдоль оптической оси, r радиальная координата, R радиус кривизны параболической составляющей аксикона, а α угол в вершине его конусной составляющей.where the z axis is directed along the optical axis, r is the radial coordinate, R is the radius of curvature of the parabolic component of the axicon, and α is the angle at the apex of its conical component.
В составе объектива аксикон может быть расположен, как перед составной преломляющей линзой, так и после нее. As part of the lens axicon can be located both before the composite refractive lens, and after it.
В одном из вариантов исполнения устройства аксикон в объективе расположен между отдельными линзами составной преломляющей линзы. In one of the embodiments of the device, the axicon in the lens is located between the individual lenses of the composite refractive lens.
В одном из вариантов исполнения устройства аксикон в объективе выполнен составным из нескольких аксиконов. In one of the embodiments of the device, the axicon in the lens is made of a composite of several axicons.
В одном из вариантов исполнения устройства объектив может быть выполнен только из аксиконов, в случае использования в нем, по крайней мере одного параболического аксикона.In one of the embodiments of the device, the lens can only be made of axicones, in the case of using at least one parabolic axicon.
Предпочтительно выбирать расстояние L1 не более 2F для получения увеличенных изображений исследуемого образца.It is preferable to choose the distance L 1 not more than 2F to obtain enlarged images of the sample under study.
Предпочтительно размещение образца как можно ближе к конденсорной линзе для его эффективного освещения.It is preferable to place the sample as close as possible to the condenser lens for effective illumination.
Предпочтительно параметры конденсорной линзы и объектива выбирать так, чтобы суммарное расстояние L0 +L2 не превышало продольный размер устройства.Preferably, the parameters of the condenser lens and the lens are chosen so that the total distance L 0 + L 2 does not exceed the longitudinal size of the device.
Предпочтительно использовать конический аксикон с одной преломляющей поверхностью и с углом при вершине, определяемым параметром D равным:It is preferable to use a conical axicon with one refractive surface and a vertex angle defined by the parameter D equal to:
который в несколько раз должен превышать пространственное разрешение детектора, δ декремент показателя преломления материала, из которого изготовлены оптические элементы, входящие в состав объектива.which is several times greater than the spatial resolution of the detector, δ is the decrement of the refractive index of the material from which the optical elements that make up the lens are made.
Предпочтительно использовать рентгеновский детектор с как можно меньшим размером пикселя.It is preferable to use an x-ray detector with the smallest pixel size.
Проходя через объектив, рассеянный на образце пучок испытывает фазовый сдвиг своего волнового фронта, имеющий линейный характер в радиальном направлении, обусловленный конической формой преломляющей поверхности аксикона, входящего в состав объектива. Таким образом, фазовый сдвиг волнового фронта плавно изменяется от центра пучка к его краям, при этом максимальный сдвиг может достигать нескольких периодов, в зависимости от параметров используемого аксикона. На расстоянии L2 опорный пучок и пучок, рассеянный на образце и сдвинутый по фазе, интерферируют, формируя фазово-контрастное изображение внутренней структуры образца.Passing through the lens scattered on the sample, the beam undergoes a phase shift of its wave front, which is linear in the radial direction, due to the conical shape of the axicon refracting surface, which is part of the lens. Thus, the phase shift of the wave front smoothly changes from the center of the beam to its edges, and the maximum shift can reach several periods, depending on the parameters of the axicon used. At a distance of L 2, the reference beam and the beam scattered on the sample and shifted in phase interfere, forming a phase-contrast image of the internal structure of the sample.
В полезной модели аксикон обеспечивает плавный фазовый сдвиг волны, рассеянной изучаемым образцом, что всегда приводит к созданию условий конструктивной интерференции опорного и рассеянного пучка, формирующей контраст получаемого изображения. Кроме того, аксикон может работать в широком диапазоне энергий от 10 до 200 кэВ.In the utility model, axicon provides a smooth phase shift of the wave scattered by the sample under study, which always leads to the creation of conditions for constructive interference of the reference and scattered beam, which forms the contrast of the resulting image. In addition, axicon can operate in a wide energy range from 10 to 200 keV.
На фиг.1 приведена оптическая схема рентгеновского фазово-контрастного микроскопа с использованием объектива содержащего аксикон. 1 – конденсорная линза, 2 – изучаемый объект, объектив из составной преломляющей линзы 3 и аксикона 4, 5 – рентгеновский детектор.Figure 1 shows the optical scheme of an X-ray phase-contrast microscope using an objective lens containing an axicon. 1 — condenser lens, 2 — object under study, objective lens from a composite
Полезная модель реализуется в следующем устройстве.The utility model is implemented in the following device.
Рентгеновский фазово-контрастный микроскоп содержит конденсорную линзу 1, позиционирующее устройство для закрепления образца 2, объектив, выполненный из составной преломляющей линзы 3 и аксикона 4, и рентгеновский детектор 5, при этом объектив расположен в фокусе конденсорной линзы, исследуемый образец расположен за конденсорной линзой 1 на расстоянии L1 перед составной преломляющей линзой 3, превышающем фокусное расстояние F объектива, рентгеновский детектор 5 при этом расположен за объективом на расстоянии 
В рентгеновском фазово-контрастном микроскопе с использованием объектива на основе комбинации составной преломляющей линзы и аксикона реализуется возможность получения контрастных изображений внутренней структуры объектов, в том числе и фазовых. Контраст получаемых изображений обусловлен не только поглощением присущим традиционной схеме микроскопии, но и дополнительным механизмом формирования контраста, основанным на эффекте интерференции рентгеновского пучка рассеянного на структуре образца, и опорного пучка прошедшего через объект без искажения.In the X-ray phase-contrast microscope using an objective based on a combination of a composite refractive lens and axicon, it is possible to obtain contrast images of the internal structure of objects, including phase ones. The contrast of the obtained images is caused not only by the absorption of the traditional microscopy pattern inherent in it, but also by the additional mechanism of contrast formation, based on the interference effect of the X-ray beam scattered on the sample structure, and the reference beam passing through the object without distortion.
Устройство работает следующим образом:The device works as follows:
Конденсорная линза (1) фокусирует лучи генерируемые источником рентгеновского излучения в центре объектива (3-4) расположенного на расстоянии L0 от нее, формируя опорный пучок, проходящий через объектив без искажений. При этом часть пучка рассеивается, проходя через изучаемый образец (2) расположенный на расстоянии L1 от объектива. Проходя через объектив, рассеянный на образце пучок испытывает фазовый сдвиг его волнового фронта, имеющий линейный характер в радиальном направлении, обусловленный конической формой преломляющей поверхности аксикона, входящего в состав объектива. Таким образом, фазовый сдвиг волнового фронта плавно изменяется от центра пучка к его краям, при этом максимальный сдвиг может достигать нескольких периодов, в зависимости от параметров используемого аксикона. На расстоянии L2 опорный пучок и пучок, рассеянный на образце и сдвинутый по фазе, интерферируют, формируя фазово-контрастное изображение внутренней структуры образца.The condenser lens (1) focuses the rays generated by the x-ray source in the center of the lens (3-4) located at a distance L 0 from it, forming a reference beam passing through the lens without distortion. In this part of the beam is scattered, passing through the sample under study (2) located at a distance of L 1 from the lens. Passing through the lens scattered on the sample, the beam undergoes a phase shift of its wavefront, which is linear in the radial direction, due to the conical shape of the axicon refracting surface, which is part of the lens. Thus, the phase shift of the wave front smoothly changes from the center of the beam to its edges, and the maximum shift can reach several periods, depending on the parameters of the axicon used. At a distance of L 2, the reference beam and the beam scattered on the sample and shifted in phase interfere, forming a phase-contrast image of the internal structure of the sample.
Таким образом, в устройстве реализуется заявленный технический результат в виде создания рентгеновского фазово-контрастного микроскопа с широким диапазоном энергий, не требующего использования специальной кольцевой подсветки и/или набора фазосдвигающих пластин различной толщины, и/или фокона, то есть расширяющего арсенал технических средств.Thus, the device realizes the claimed technical result in the form of creating an X-ray phase-contrast microscope with a wide range of energies, which does not require the use of a special ring illumination and / or a set of phase-shifting plates of different thickness, and / or focon, that is, expanding the arsenal of technical means.
Claims (22)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2018147640U RU189629U1 (en) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2018147640U RU189629U1 (en) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU189629U1 true RU189629U1 (en) | 2019-05-29 |
Family
ID=66792596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2018147640U RU189629U1 (en) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU189629U1 (en) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1632450A (en) * | 2005-01-10 | 2005-06-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | X-ray speckle device and application thereof in micro-displacement measurement |
| RU2282228C1 (en) * | 2005-06-14 | 2006-08-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method for suppression of laser speckles in optical scanning displays and device for its realization (modifications) |
| JP2009109387A (en) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Fujitsu Ltd | Sample analysis apparatus and method |
| RU2426103C1 (en) * | 2010-02-24 | 2011-08-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method of coherent x-ray phase microscopy |
-
2018
- 2018-12-29 RU RU2018147640U patent/RU189629U1/en active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1632450A (en) * | 2005-01-10 | 2005-06-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | X-ray speckle device and application thereof in micro-displacement measurement |
| RU2282228C1 (en) * | 2005-06-14 | 2006-08-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method for suppression of laser speckles in optical scanning displays and device for its realization (modifications) |
| JP2009109387A (en) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Fujitsu Ltd | Sample analysis apparatus and method |
| RU2426103C1 (en) * | 2010-02-24 | 2011-08-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method of coherent x-ray phase microscopy |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Петраков А.П., Авто диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук, Рентгеновские методы дифракции, рефлектометрии и фазового контраста в исследовании приповерхностных слоев, Сыктывкар, 2005. * |
| Петраков А.П., Автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук, Рентгеновские методы дифракции, рефлектометрии и фазового контраста в исследовании приповерхностных слоев, Сыктывкар, 2005. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Winarski et al. | A hard X-ray nanoprobe beamline for nanoscale microscopy | |
| Withers | X-ray nanotomography | |
| AU2006257026B2 (en) | Interferometer for quantative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source | |
| CN103377746B (en) | Realize the method for microscopic system super-resolution imaging | |
| Lengeler et al. | Parabolic refractive X-ray lenses | |
| US8699663B2 (en) | X-ray image photographing method and X-ray image photographing apparatus | |
| Yashiro et al. | Hard-X-Ray Phase-Difference Microscopy Using a Fresnel Zone Plate<? format?> and a Transmission Grating | |
| JP2015033588A (en) | Differential phase contrast x-ray imaging system and components therefor | |
| Schroer et al. | PtyNAMi: Ptychographic Nano-Analytical Microscope at PETRA III: interferometrically tracking positions for 3D x-ray scanning microscopy using a ball-lens retroreflector | |
| Van Inneman et al. | Lobster eye x-ray optics | |
| RU189629U1 (en) | X-RAY PHASE-CONTRAST MICROSCOPE WITH LENS, CONTAINING AXICON | |
| Fluerasu et al. | Analysis of the optical design of the NSLS-II coherent hard x-ray beamline | |
| Schroer et al. | Magnified hard x-ray microtomography: toward tomography with submicron resolution | |
| US6765197B2 (en) | Methods of imaging, focusing and conditioning neutrons | |
| Wali et al. | Low-dose and fast grating-based x-ray phase-contrast imaging | |
| Suzuki et al. | Development of large-field high-resolution hard x-ray imaging microscopy and microtomography with Fresnel zone plate objective | |
| Schroer et al. | Parabolic compound refractive lenses for hard x rays | |
| Cremer Jr | Advances in Imaging and Electron Physics: Part A | |
| Dehlinger et al. | 3D nanoscale imaging of biological samples with laboratory-based soft X-ray sources | |
| MacDonald et al. | Polycapillary optics for medical applications | |
| CN111024735A (en) | X-ray phase sensitivity resolution board | |
| Wachulak et al. | Fresnel zone plate telescope for condenser alignment in water-window microscope | |
| Rau et al. | Imaging of micro-and nano-structures with hard X-rays | |
| Cremer Jr | Introduction to Neutron and X-ray Optics | |
| JP2005265840A (en) | Analyzer |