RU1830445C - Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей - Google Patents

Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

Info

Publication number
RU1830445C
RU1830445C SU904801002A SU4801002A RU1830445C RU 1830445 C RU1830445 C RU 1830445C SU 904801002 A SU904801002 A SU 904801002A SU 4801002 A SU4801002 A SU 4801002A RU 1830445 C RU1830445 C RU 1830445C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
radius
hologram
beams
holograms
homocentric
Prior art date
Application number
SU904801002A
Other languages
English (en)
Inventor
Анатолий Александрович Курибко
Николай Сысоевич Селезнев
Original Assignee
Производственное Объединение "Завод Арсенал" Им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Производственное Объединение "Завод Арсенал" Им.В.И.Ленина filed Critical Производственное Объединение "Завод Арсенал" Им.В.И.Ленина
Priority to SU904801002A priority Critical patent/RU1830445C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1830445C publication Critical patent/RU1830445C/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол. Цель изобретени  - повышение точности контрол . Образцовую пропускающую осевую синтезированную голограмму устанавливают перед контролируемой поверхностью и освещают соосным с ней когерентным колли- мированным пучком света. С помощью голограммы в ее симметричных пор дках дифракции в проход щем свете из коллими- рованного пучка формируют два направленных на контролируемую поверхность гомоцентрических пучка света с центрами, расположенными на расчетном рассто нии 2Р один от другого, и по муаровой картине, возникающей при совмещении на голограмме двух пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков от контролируемой поверхности, оп- редел ют величину. и знак отступлени  контролируемого радиуса от расчетного рассто ни  2Р между центрами гомоцентрических пучков, а также форму контролируемой поверхности. 1 ил. сл

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и предназначено дл  контрол  радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол.
Цель изобретени  - повышение точности .
Предлагаемый способ по сн етс  чертежом .
Располагают на общей подложке 1 соос- но первую и вторую пропускающие образцовые осевые синтезированные голограммы 2 и 3. устанавливают их перед контролируемой поверхностью 4, освещают коллимированным когерентным пучком 5 света, направл   его параллельно их общей
оси ОХ, формируют из пучка 5 эталонный пучок б отражением от эталонной поверхности 7, образуют из коллимированного пучка 5 в проход щем свете с помощью голограмм 2 и 3 в их отличных от нулевых пор дков дифракции, соответственно, первый и второй гомоцентрические пучки 8, 9 света, у которых центры 10, 11, соответственно, расположены на расчетном рассто нии Pa-Pi, один от другого на общей оси ОХ голограмм 2, 3 и, по меньшей мере, один из которых, например, 8 - сход щийс . Направл ют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направл ют на голограмму 2, с
00 W
о
4
сл
помощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимировэнный пучок 14 света.
Направл ют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направл ют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квэзиколлимирован- ный пучок 17 света. Совмещают с эталонным пучком 6 света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделител  18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставл ют их и по взаимному искривлению интерференционных полос суд т о величине и знаке отступлени  А контролируемого радиуса R от расчетного рассто ни  Pa-Pi между центрами 10, 11 пучков 8, 9, образованных голограммами в пр мом ходе лучей, т.е. определ ют Д R - (Ра - Pi).

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Интерференционный способ контрол  радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, заключающийс  в том, что освещают образцовую осевую синтезированную голограмму, расположенную на подножке, освещают контролируемую поверхность и суд т о несоответствии радиуса кривизны контролируемой поверхности параметру синтезированной голограммы, о т- .личающийс  тем, что, с целью повышени  точности, предварительно размещают на подложке соосно с первой образцовой осевой голограммой вторую пропускающую образцовую осевую синтезированную голограмму и устанавливают голограммы перед
    контролируемой поверхностью на одной
    оси, голограммы освещают коллимированным
    пучком когерентного излучени , параллельно
    их оси формируют из коллимированного пучка
    эталонный пучок, контролируемую поверхность освещают двум  гомоцентрическими пучками, соответствующими нулевым пор дкам дифракции соответственно первой и второй голограммы, центры которых расположены на расчетном рассто нии друг от друга на оси голограмм и по крайнем мере один из которых  вл етс  сход щимс , при сравнении радиуса кривизны с параметром синтезированной голограммы направл ют
    отраженные от контролируемой поверхности первый и второй гомоцентрические пучки на соответственно первую и вторую грлограммы, выдел ют за голограммами и в обратном ходе квазиколлимированные пучки,
    каждый из пучков совмещают с эталонным пучком до образовани  интерференционной картины, регистрируют одновременно две интеференционные картины и определ ют взаимное искривление дифференционных
    полос, а в качестве расчетного параметра, по которому суд т о знаке и величине отступлени  контролируемого радиуса, выбирают рассто ние между центрами первого и второго гомоцентрических пучков.
    5 ft
    % П з
    Ц 16
SU904801002A 1990-03-11 1990-03-11 Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей RU1830445C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904801002A RU1830445C (ru) 1990-03-11 1990-03-11 Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904801002A RU1830445C (ru) 1990-03-11 1990-03-11 Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1830445C true RU1830445C (ru) 1993-07-30

Family

ID=21501224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904801002A RU1830445C (ru) 1990-03-11 1990-03-11 Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1830445C (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 557621, кл. G 01 В 4/24, 1978. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7072042B2 (en) Apparatus for and method of measurement of aspheric surfaces using hologram and concave surface
US5737079A (en) System and method for interferometric measurement of aspheric surfaces utilizing test plate provided with computer-generated hologram
US4743117A (en) Device for optically measuring aspheric surface
CA2025887A1 (en) Optical gauging apparatus
US4620089A (en) Automatic optical focusing device
US4468122A (en) Interferometer for checking the shape of convex surfaces of optical components
JP3784415B2 (ja) 複合体光学素子を有する干渉計
US4696572A (en) Surface inspection apparatus
JPH10512674A (ja) 回折性光素子を使用するグレージング入射方式の面の干渉計測
JPS5764139A (en) Interferometer
JPS5818604B2 (ja) 厚さの測定方法
RU1830445C (ru) Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
US4606640A (en) Method and apparatus for optically testing cylindrical surfaces
US3642374A (en) Optical inspecting method
JPS63144206A (ja) 物体位置の測定方法
US4693604A (en) Interference method and interferometer for testing the surface precision of a parabolic mirror
EP0892909B1 (en) Diffraction management for grazing incidence interferometer
US4120590A (en) Method for measuring the thickness of transparent articles
SU1017923A1 (ru) Устройство дл контрол асферических поверхностей
RU1810750C (ru) Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей
HU195882B (en) Arrangement for interference examination of the flatness of technical surfaces
CN205448992U (zh) 同步移相检测透镜面形用的组合式偏振分光器检测装置
EP0137976A2 (en) Interferometric metrology of surface figures
JPS6365882B2 (ru)
JP3461566B2 (ja) 円錐形状測定用干渉計