RU1830445C - Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей - Google Patents
Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностейInfo
- Publication number
- RU1830445C RU1830445C SU904801002A SU4801002A RU1830445C RU 1830445 C RU1830445 C RU 1830445C SU 904801002 A SU904801002 A SU 904801002A SU 4801002 A SU4801002 A SU 4801002A RU 1830445 C RU1830445 C RU 1830445C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radius
- hologram
- beams
- holograms
- homocentric
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол. Цель изобретени - повышение точности контрол . Образцовую пропускающую осевую синтезированную голограмму устанавливают перед контролируемой поверхностью и освещают соосным с ней когерентным колли- мированным пучком света. С помощью голограммы в ее симметричных пор дках дифракции в проход щем свете из коллими- рованного пучка формируют два направленных на контролируемую поверхность гомоцентрических пучка света с центрами, расположенными на расчетном рассто нии 2Р один от другого, и по муаровой картине, возникающей при совмещении на голограмме двух пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков света, полученных отражением гомоцентрических пучков от контролируемой поверхности, оп- редел ют величину. и знак отступлени контролируемого радиуса от расчетного рассто ни 2Р между центрами гомоцентрических пучков, а также форму контролируемой поверхности. 1 ил. сл
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, в частности пробных стекол.
Цель изобретени - повышение точности .
Предлагаемый способ по сн етс чертежом .
Располагают на общей подложке 1 соос- но первую и вторую пропускающие образцовые осевые синтезированные голограммы 2 и 3. устанавливают их перед контролируемой поверхностью 4, освещают коллимированным когерентным пучком 5 света, направл его параллельно их общей
оси ОХ, формируют из пучка 5 эталонный пучок б отражением от эталонной поверхности 7, образуют из коллимированного пучка 5 в проход щем свете с помощью голограмм 2 и 3 в их отличных от нулевых пор дков дифракции, соответственно, первый и второй гомоцентрические пучки 8, 9 света, у которых центры 10, 11, соответственно, расположены на расчетном рассто нии Pa-Pi, один от другого на общей оси ОХ голограмм 2, 3 и, по меньшей мере, один из которых, например, 8 - сход щийс . Направл ют пучок 8 света на поверхность 4 и полученный из него отражением от нее пучок 12 света с центром 11 направл ют на голограмму 2, с
00 W
о
4
сл
помощью которой преобразуют его в прошедшей сквозь голограмму 2 в обратном свете ходе лучей квазиколлимировэнный пучок 14 света.
Направл ют пучок 9 на поверхность 4 и получают из него отражением от поверхности 4 пучок 15 с центром 16 направл ют на голограмму 3, с помощью которой преобразуют его в прошедший сквозь голограмму 3 в обратном ходе лучей квэзиколлимирован- ный пучок 17 света. Совмещают с эталонным пучком 6 света оба пучка 14, 17 и регистрируют с помощью светоделител 18 и объектива 19 на экране 20 одновременно две интерференционные картины 21, 22 сопоставл ют их и по взаимному искривлению интерференционных полос суд т о величине и знаке отступлени А контролируемого радиуса R от расчетного рассто ни Pa-Pi между центрами 10, 11 пучков 8, 9, образованных голограммами в пр мом ходе лучей, т.е. определ ют Д R - (Ра - Pi).
Claims (1)
- Формула изобретени Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей, заключающийс в том, что освещают образцовую осевую синтезированную голограмму, расположенную на подножке, освещают контролируемую поверхность и суд т о несоответствии радиуса кривизны контролируемой поверхности параметру синтезированной голограммы, о т- .личающийс тем, что, с целью повышени точности, предварительно размещают на подложке соосно с первой образцовой осевой голограммой вторую пропускающую образцовую осевую синтезированную голограмму и устанавливают голограммы передконтролируемой поверхностью на однойоси, голограммы освещают коллимированнымпучком когерентного излучени , параллельноих оси формируют из коллимированного пучкаэталонный пучок, контролируемую поверхность освещают двум гомоцентрическими пучками, соответствующими нулевым пор дкам дифракции соответственно первой и второй голограммы, центры которых расположены на расчетном рассто нии друг от друга на оси голограмм и по крайнем мере один из которых вл етс сход щимс , при сравнении радиуса кривизны с параметром синтезированной голограммы направл ютотраженные от контролируемой поверхности первый и второй гомоцентрические пучки на соответственно первую и вторую грлограммы, выдел ют за голограммами и в обратном ходе квазиколлимированные пучки,каждый из пучков совмещают с эталонным пучком до образовани интерференционной картины, регистрируют одновременно две интеференционные картины и определ ют взаимное искривление дифференционныхполос, а в качестве расчетного параметра, по которому суд т о знаке и величине отступлени контролируемого радиуса, выбирают рассто ние между центрами первого и второго гомоцентрических пучков.5 ft% П зЦ 16
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904801002A RU1830445C (ru) | 1990-03-11 | 1990-03-11 | Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904801002A RU1830445C (ru) | 1990-03-11 | 1990-03-11 | Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1830445C true RU1830445C (ru) | 1993-07-30 |
Family
ID=21501224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904801002A RU1830445C (ru) | 1990-03-11 | 1990-03-11 | Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1830445C (ru) |
-
1990
- 1990-03-11 RU SU904801002A patent/RU1830445C/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 557621, кл. G 01 В 4/24, 1978. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7072042B2 (en) | Apparatus for and method of measurement of aspheric surfaces using hologram and concave surface | |
US5737079A (en) | System and method for interferometric measurement of aspheric surfaces utilizing test plate provided with computer-generated hologram | |
US4743117A (en) | Device for optically measuring aspheric surface | |
CA2025887A1 (en) | Optical gauging apparatus | |
US4620089A (en) | Automatic optical focusing device | |
US4468122A (en) | Interferometer for checking the shape of convex surfaces of optical components | |
JP3784415B2 (ja) | 複合体光学素子を有する干渉計 | |
US4696572A (en) | Surface inspection apparatus | |
JPH10512674A (ja) | 回折性光素子を使用するグレージング入射方式の面の干渉計測 | |
JPS5764139A (en) | Interferometer | |
JPS5818604B2 (ja) | 厚さの測定方法 | |
RU1830445C (ru) | Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей | |
US4606640A (en) | Method and apparatus for optically testing cylindrical surfaces | |
US3642374A (en) | Optical inspecting method | |
JPS63144206A (ja) | 物体位置の測定方法 | |
US4693604A (en) | Interference method and interferometer for testing the surface precision of a parabolic mirror | |
EP0892909B1 (en) | Diffraction management for grazing incidence interferometer | |
US4120590A (en) | Method for measuring the thickness of transparent articles | |
SU1017923A1 (ru) | Устройство дл контрол асферических поверхностей | |
RU1810750C (ru) | Интерференционный способ контрол радиуса кривизны оптических сферических поверхностей | |
HU195882B (en) | Arrangement for interference examination of the flatness of technical surfaces | |
CN205448992U (zh) | 同步移相检测透镜面形用的组合式偏振分光器检测装置 | |
EP0137976A2 (en) | Interferometric metrology of surface figures | |
JPS6365882B2 (ru) | ||
JP3461566B2 (ja) | 円錐形状測定用干渉計 |