RU1805445C

RU1805445C - Method of determination of diffractive efficiency of holograms

Info

Publication number: RU1805445C
Application number: SU894772656A
Authority: RU
Inventors: Николай Георгиевич КУВШИНСКИЙ; Олег Григорьевич Кочмала; Валерий Александрович Павлов; Екатерина Дмитриевна Сенченко
Original assignee: Киевский Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко
Priority date: 1989-12-22
Filing date: 1989-12-22
Publication date: 1993-03-30

Abstract

Сущность: дифракционную эффективность голограммы, зарегистрированной на термопластическом фотопроводнике, определ ют , измер интенсивность света нулевого пор дка дифракционной картины в начальный момент времени про влени и распределени интенсивности света в нулевом пор дке во врем про влени . Выдел ют из измеренных сигналов переменную составл ющую, котора пропорциональна искомой величине. 2 ил.SUBSTANCE: diffraction efficiency of a hologram recorded on a thermoplastic photoconductor is determined by measuring the light intensity of the zeroth order of the diffraction pattern at the initial time of development and the distribution of light intensity in the zeroth order during development. A variable component is extracted from the measured signals, which is proportional to the desired value. 2 ill.

Description

Изобретение относитс к голографии и может быть использовано при многократной регистрации рельефофазовых голограмм на пленках термопластических фотоприемников.The invention relates to holography and can be used for multiple recording of relief phase holograms on thermoplastic photodetector films.

Целью изобретени - увеличение оперативности определени дифракционной эффективности.The aim of the invention is to increase the efficiency of determining diffraction efficiency.

По определению дифракционна эф By definition, diffraction efficiency

IonIon

фективность rjefficiency rj

где I (t) интенсивность света в луче первого пор дка дифракции; 10п - интенсивность света в опорном луче. Если не учитывать незначительное посто нное поглощение света в носителе , интенсивность света в луче нулевого пор дка дифракции до начала развити деформаций поверхности пленки 1°0 10л. При про влении голограммы нагревом на поверхности пленки развиваетс регул рныйwhere I (t) is the light intensity in the beam of the first diffraction order; 10p - light intensity in the reference beam. If we neglect the insignificant constant absorption of light in the carrier, the light intensity in the zero-order diffraction beam before the onset of deformation of the film surface is 1 ° 10 l. When a hologram develops by heating, a regular

рельеф, на котором часть падающего света дифрагирует в первые и т.д. пор дки. С ростом интенсивности света в первом пор дке дифракции при развитии рельефа поверхности пленки соответственно падает штен- сивность света в недифрагирующем луче нулевого пор дка дифракции. Вклад интенсивности света лучей II, III и т.д. пор дков по сравнению с вкладом первого пор дка в изменение интенсивности света в луче нулевого пор дка пренебрежимо мал. Поэтому можно представить значение переменной составл ющей светового сигнала в луче нулевого пор дка l°(t) 2l (t). Исход из вышеизложенного, дифракционную эффективность определ ют по формулеrelief, on which part of the incident light diffracts in the first, etc. order. With an increase in light intensity in the first order of diffraction with the development of the surface relief of the film, the light stability in the non-diffracting beam of zero diffraction order accordingly decreases. Contribution of light intensity of rays II, III, etc. compared to the contribution of the first order to the change in the light intensity in a zero-order beam is negligible. Therefore, one can imagine the value of the variable component of the light signal in the zero-order beam l ° (t) 2l (t). Based on the foregoing, diffraction efficiency is determined by the formula

I ° (г) tj о t . Дл этого с помощью фотоприемоI ° (g) tj o t. To do this, using photodetector

2,02.0

0000

о елabout eating

NN

елate

ного устройства измер ют интенсивность света в нулевом пор дке дифракционной карувеличени оперативности определени при изменении условий регистрации, измер ют интенсивность света в нулевом пор дке дифракционной картины в начальный момент времени про влени и распределени интенсивности света в нулевом пор дке во врем про влени , выдел ют из них переменную составл ющую интенсивностиof a light device, measure the light intensity at zero order of diffraction and increase the detection efficiency when changing the registration conditions, measure the light intensity at zero order of the diffraction pattern at the initial time of development and distribution of light intensity at zero order during development, highlight of which a variable component of intensity

света и определ ют дифракционную эффективность rj по формулеlight and determine the diffraction efficiency rj by the formula

J/-l°(t)/2l°o, где t - врем про влени ,J / -l ° (t) / 2l ° o, where t is the development time,

|°0 - интенсивность света в начальный момент времени про влени ;| ° 0 is the light intensity at the initial time of development;

l°(t) - переменна составл юща интенсивности света во врем про влени .l ° (t) is a variable component of the light intensity during development.

ММMM

Фиг. /FIG. /

Э,вт/м1E, w / m1

0,10.1

0,050.05

Л-ZL-z

/ /

чхchh

//