RU1795270C - Способ определени деформаций поверхности изделий - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной; технике, предназначен дл  определени  малых смещений подвижной и неподвижной полуформ литьевой формы дру относительно друга. Целью изобретени   вл етс  повышение точности определени  деформаций. Размещают на поверхности издели  уголковый отражатель, направл ют пучок излучени  на одну из граней отражател , регистрируют характеристики излучени , отраженные от другой грани отражател , и суд т о деформаци х поверхности издели , на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направл ют пучок излучени  на одну из его граней и регистрируют характеристики излучени , отраженные от другой грани, о деформаци х поверхности издели  суд т по измеренным значени м смещений отражателей, а направление пучка излучени  и регистрацию характеристик отраженного излучени  производ т одновременно дл  обоих отражателей . 3 ил. ел

Description

Изобретение относитс .к измерительной технике, в частности к оптическим измерит л ьным устройствам их осуществл ющим, предназначенным дл  определени  малых смещений подвижной и неподвижной полуформ литьевой формы друг относительно друга во врем  ее работы, то есть во врем  холостого хода и во врем  заливки материала В форму.Известен способ определени  зазора между внутренними формообразующими поверхност ми деталей литьевых форм, заключающийс  в том, что в зазор ввод т вкла|дыш, смещают одну из поверхностей относительно другой. В качестве смещени  измер ют величину смещени  наружных поверхностей деталей, а величину зазора оп- редел ют разницей между размером

вкладыша и величиной смещени  наружных поверхностей деталей.

Недостатками этого способа  вл ютс  невозможность определени  зазора между формообразующими поверхност ми во врем  заливки материала в литьевую форму, то есть во врем  ее работы, а также мала  производительность измерений и невозможность непрерывного измерени  искомого зазора,

За прототип выбран способ определени  деформации поверхности издели , при котором на поверхности издели  выполн ют паз призматической формы со светоот- ражательными гран ми и по измерению характеристик отраженного от светоотра- жательной грани луча суд т о деформации поверхности издели . Недостатком этого способа  вл етс  низка  точность измереXI

ю с 

ю

4J

О

ни , т.к. здесь определ етс  только одна составл юща  вектора смещени  контролируемого объекта.

Целью изобретени   вл етс  устранение недостатка прототипа, то есть повышение точности определени  деформаций.

Поставленна  цель достигаетс  за счет того, что в известном способе определени  деформаций, поверхности изделий, заключающемс  в том, что размещают на поверхности издели  уголковый отражатель, направл ют пучок излучени  на одну из граней отражател , регистрируют характеристики излучени , отраженные от другой грани отражател  и суд т о деформаци х поверхности издели , на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направл ют пучок излучени  на одну из его граней и регистрируют характеристики излучени , отраженные от другой грани, о деформаци х поверхности издели  суд т по измеренным значени м смещений отражателей, а направление пучка излучени  и регистрацию характеристик отраженного излучени  производ т одновременно дл  обоих отражателей .

На фиг.1 показан вид на подвижную и неподвижную части литьевой формы; на фиг.2 показан разрез А-А на фиг.1; на фиг.З - разрез Б-Б на фиг.1.

Способ измерени  смещени  полуформ литьевой формы заключаетс  в том, что в подвижной полуформе 1, содержащей пуансон 2, центрирующие втулки 3, размещают ортогонально друг другу два уголковых отражател  - угловых зеркала 4 и 5. В неподвижной полуформе 6, содержащей центрирующие колонки 7, матрицу 8, литниковые каналы 9, напротив угловых зеркал 4 и 5 располагают 4 оптических канала 10,11, 12,13. Причем в каналах 10 и 12 размещают осветительные системы, а в каналах 11 и 13 - наблюдательные системы.

При смыкании полуформ 1 и 6 в ход лучей между осветительной и наблюдательной системой попадают зеркала 4 или 5. При смещении полуформ 1 относительно полуформ б (из-за силы т жести, или усилий при впрыске материала) пуансон 2 смещаетс  относительно матрицы 8, при этом происходит смещение зеркал 4 и 5 на величину Y и

X соответственно. Из-за того, что угол в зеркалах 90°, лучи выход щие из них, смещаютс  на величины 2Х и 2Y соответственно, что и фиксируют в наблюдательных системах, расположенных в каналах 11 и 13. То есть

мы получаем, что вектор смещени  неподвижной полуформы относительно подвижной полностью определ етс  величинами своих составл ющих. При этом способе определ етс  величина

FT- V4x2 + 4у2 - 2R

То есть при смещении полуформы на некоторую величину происходит смещение пучков, на удвоенное значение этой величины , Устройство, осуществл ющее этот способ , состоит из (фиг.2, 3) осветительной системы источника света 14, конденсатора 15, шкалы с риской 16, объектива 17, отклон ющей системы - углового зеркала 4 и 5, наблюдательной системы - объектива 18, шкалы с делени ми 19, объектива 20, плоского зеркала 21 и экрана 22 (фиг.1).

Устройство работает следующим образом .

При сомкнутых полуформах 1 и 6 лучи от источника света 14, освещают с помощью конденсатора 15, шкалу 16. Объектив 17 проецирует шкалу 16 в предметную плоскость объектива 18, при этом лучи - отражаютс  от углового зеркала 4 и 5. Объектив 18 строит изображение шкалы 16 в плоскости сетки с делени ми 19, а объектив 20 проецирует сетку 19 на экран 22.

Технико-экономическа  эффективность предлагаемого изобретени  заключаетс  в повышении точности измерени , котора  позволит точнее определить смещение полуформ, что в свою очередь увеличивает их ремонтоспособность, что дает экономию примерно 500 руб. на одну литьевую форму.

Claims (1)

1. Формула изобретени  Способ определени  деформаций поверхности изделий, заключающийс  в том, что размещают на поверхности издели  уголковый отражатель, направл ют пучок излучени  на одну из граней отражател , регистрируют характеристики излучени .

   отраженные от другой грани отражател , и суд т о деформаци х поверхности издели , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности определени  деформаций , на изделии размещают второй уголковый отражатель ортогонально по отношению к первому, направл ют пучок

   излучени  на одну из его граней и регистрируют характеристики излучени ,отраженные от другой грани, о деформаци х поверхности издели  суд т по измеренным значени м

   смещений отражателей, а направление пучка излучени  и регистрацию характеристик отраженного излучени  производ т одновременно дл  обоих отражателей.

   А-А