RU1793449C - Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики - Google Patents
Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физикиInfo
- Publication number
- RU1793449C RU1793449C SU884467163A SU4467163A RU1793449C RU 1793449 C RU1793449 C RU 1793449C SU 884467163 A SU884467163 A SU 884467163A SU 4467163 A SU4467163 A SU 4467163A RU 1793449 C RU1793449 C RU 1793449C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- transparent
- electrodes
- processor
- light flux
- optoelectronic
- Prior art date
Links
Landscapes
- Holo Graphy (AREA)
Abstract
Предлагаемый оптоэлектронный процессор слоисто-пленочной структуры позвол ет решать уравнени математической физики. Вычислительный модуль содержит слоисто-пленочный процессор распределенной структуры, содержащий последовательно нанесенные на прозрачную подложку 4 прозрачные ленточные электроды 3 и фоторезисторные слои 1 и 2. Управл ющий блок вл етс блоком оптической пам ти, содержащим источник когерентного излучени и установленные на пути светового потока от этого источника излучени к фоторезисторным сло м 1 и 2 вычислительного модул дефлектор 6 с произвольной адресацией и матрицу 7 голограмм. Выводы 9 от ленточных прозрачных электродов вл ютс выходами устройства, а управл ющие входы 11 дефлектора вл ютс управл ющими входами. Ленточные прозрачные электроды имеют различную ширину , что позвол ет решать уравнени математической физики различных видов. Сами по себе ленточные электроды обеспечивают повышение точности решени за счет контрол задаваемых параметров. 2 з.п. ф-лы, 5 ил. ел с
Description
Изобретение относитс к вычислительной технике, а именно к оптоэлектронным процессорам распределенной структуры, и предназначено дл решени уравнений математической физики.
Известны оптоэлектронные процессоры распределенной слоисто-пленочной структуры, содержащие в качестве основного решающего элемента слой фоторезистор- ного материала. Слой фоторезисторного
-материала в этих устройствах представл ет собой моделирующую среду распределенной структуры, локальна проводимость которой управл етс посредством изменени освещенности рабочей поверхности фоторезисторного сло источником светового излучени . Недостатком известных устройств вл етс то, что дл индикации получаемых решений в фоторезисторном слое необходимы система электродов и устройство коммутировани этих электродов.
Наиболее близким по технической сущности к за вл емому устройству вл етс вычислительное устройство, в котором имеетс дополнительный фоторезисторный слой, имеющий иную спектральную чувствительность , чем основной решающий слой. Освещение дополнительного фоторезисторного сло производитс дополнительным источником светового излучени , Однако известное устройство позвол ет проводить регистрацию параметров моделируемого пол только в одной точке моделируемого пространства.
Целью изобретени вл етс повышение точности решени уравнений математической физики за счет контрол параметров моделирующей среды в различных точках моделируемого пространства и более точного их задани .
Цель достигаетс тем, что в оптоэлект- ронный процессор дл решени уравнений математической физики, содержащий оптически св занные первый и второй источники излучени , первый и второй формирователи светового потока, оптоэлектронный вычислительный модуль слоисто-пленочной структуры, состо щий из последовательно нанесенных на прозрачную основу прозрачного токопровод щего сло , первого и второго фоторезисторных слоев, сенсибилизированных к длинам волн соответствующих источников излучени и формирователей светового потока, установленных с внешних сторон соответствующих фоторезисторных слоев, причем электрические выводы электродов, распо-- ложенных на втором фоторезисторном слое, и электрический выход прозрачного токопровод щего сло вл ютс выходами
процессора, входы источника излучени и формировател светового потока вл ютс управл ющими входами процессора, прозрачный токопровод щий слой выполнен в
виде набора изолированных между собой ленточных прозрачных электродов, к каждому из которых подключены выводы, вл ющиес дополнительными выходами процессора, кроме того, набор ленточных
0 электродов содержит не менее двух групп разной ширины изолированных между собой прозрачных ленточных электродов и имеет выводы, которые образуют соответствующие группы дополнительных выходов
5 процессора.
Первый и второй формирователи светового потока выполнены каждый в виде оптически св занных детектора светового1 потока и матрицы голограмм.
0 На фиг, 1 представлена структурна схема оптоэлектронного процессора дл решени уравнений математической физики; на фиг. 2 - схема обработки выходной информации; на фиг. 3 и 4 - варианты оптического
5 сканировани ленточных электродов при регистрации результатов моделировани и задани функций источников; на фиг. 5 - топограммы получаемых решений.
Оптоэлектронный процессор (фиг, 1) со0 держит оптоэлектронный вычислительный модуль слоисто-пленочной структуры, содержащийфоторезисторные слои 1 и 2, име- .ющие различную спектральную чувствительность, набор прозрачных лен5 точных электродов 3, прозрачную подложку 4, два управл ющих оптических модул , каждый из которых содержит источник 5 когерентного излучени , дефлектор б светового потока с произвольной адресацией и
0 матрицу 7 голограмм, устройство 8 проецировани оптических изображений. К прозрачным ленточным электродам подключены выводы 9, вл ющиес выходами устройства. Выходами устройства вл 5 ютс выводы 10 электродов, нанесенных на фоторезисторный слой 1. Управл ющие входы 11 дефлекторов вл ютс входами устройства .
Источники 5 когерентного излучени
0 имеют различные спектральные характеристики излучени , соответствующие спектральные характеристики имеют и освещаемые ими фоторезисторные слои 1 и 2. Различные спектральные характеристики
5 излучателей выбраны дл того, чтобы исключить взаимное вли ние каждого из источников излучени на соответствующий фоторезисторный слой. Управл ющий оптический блок, содержащий источник 5 коге- рентного излучени , дефлектор б, матрицу 7
голограмм, представл ет собой блок посто нной оптической пам ти с системой оптического сканировани , блоки такого типа вл ютс частью оптоэлектронных процессоров . При этом матрица 7 голограмм, расположенна со стороны фоторезисторного сло 1, содержит набор голограмм - масок в виде теневых картин, а в матрице голограмм , расположенной со стороны прозрач- ной подложки, содержитс набор голограмм - масок в виде картин из свет щихс точек и в виде теневых картин. Кар- тины в виде свет щихс точек высвечиваютс в случае оптического сканировани ленточных электродов при измере- нии моделируемых параметров в фоторёзисторном слое 1, а теневые картины - в случае задани функций распределенных источников в фоторёзисторном слое 2. Удельна проводимость фоторезисторного сло 2 должна быть значительно меньше удельной проводимости фоторезисторного сло 1. чтобы исключить возможное шунтирование последнего.
На фиг. 2 показана схема соединени ленточных прозрачных электродов 3 оптоэ- лектронного процессора через выводы 9 с измерительным устройством. В качестве последнего может быть применен многоканальный самопишущий прибор, многолучевой осциллограф либо многоканальный аналого-цифровой преобразователь . Блок R. при включенном переключателе режимов в положение К - контроль оказываетс включенным между двум соседними ленточными электродами, при этом по вл етс возможность измер ть локальную проводимость в решающем фоторёзисторном слое 1 между двум точками оптического сканировани , кажда из которых приходитс на один из ленточных электродов . Получаема при этом картина распределени локальной проводимости моделирующей среды складываетс из набора зависимостей, сн тых одновременно по каждой пространственной оси, совпадающей с направлением ленточных электро-, дов. Блок V при включенном переключателе режимов в положение Р - решение оказываетс подключенным к ленточному электроду и позвол ет измер ть величину моделируемого потенциала либо задавать функцию источника в фоторёзисторном слое 1. При одновременном оптическом сканировании ленточных электродов можно получить картину распределени моделируемых функций в виде набора непрерывных функций по пространственной оси, совпадающей с направлением ленточных электродов , и дискретных функций в
перпендикул рном направлении. При оптическом сканировании ленточных электродов под углом к оси ленточных электродов можно получить топограмму моделируемых
функций (фиг. 5).
Посредством ленточных электродов можно осуществл ть и измерение, и задание функций источников в фоторезистор- ном слое 1, поэтому не об зательно наличие
электродов, подключенных к этому слою.
Работает устройство следующим образом .
В зависимости от геометрии и условий решаемой задачи производитс подбор голограмм в матрице 7, расположенной со стьроны фоторезисторного сло 1. В матрице 7 голограмм, расположенной со стороны прозрачной подложки, подбор голограмм определ етс услови ми задани функций
источников и пор дком измерени моделируемых потенциалов. Подбор оптической прозрачности голограмм производитс на основе условий подоби , которые получаютс из сравнени уравнений, описывающих
моделируемую систему:
.А((Х У)- Пх.у). . (1) и уравнений, описывающих распределение потенциалов Ui в фоторёзисторном слое 1 оптоэлектронного процессора:
(x1,y1) +
+ Fy7p1377 U1 (X1 У1 р° Uo (X1 У1) (2)
Задава масштабные соотношени
. (3)
из уравнений (1) и (2) можно получить усло- ви подоби следующего вида:
m in р Кх -f ; ро mf.(4)
5
0
5
В соответствии с услови ми решаемой задачи на управл ющие входы 11 дефлектора от внешнего управл ющего устройства, например ЦВМ, заноситс сигнал, который записываетс в регистр адреса позиции дефлектора 6, в соответствии с которым осуществл етс отклонение светового луча от источника 5 на соответствующую голограмму матрицы 7, и высвечиваема при этом тенева картина проектируетс на рабочую поверхность фоторезисторного сло 1, измен при этом локальную проводимость этого сло в соответствии с услови ми решаемой задачи.
Задаетс режим работы контроль, при котором между ленточными электрп лми включен измеритель локальной пройодимости - блок R, а от внешнего управл ющего устройства в регистр адреса позиции дефлектора производитс последовательна засылка сигналов по заданной программе, в результате чего производитс изменение положени дефлектора, привод щее к отклонению светового луча на соответствующую голограмму с высвечиванием картины свет щихс точек, кажда из которых проектируетс на ленточный электрод и произво- -дит, таким образом, оптическое сканирование ленточного электрода. Оптическа прозрачность голограмм подбираетс таким образом, чтобы поток светового излучени от источника излучени полностью поглощалс в фоторезисторном слое 2 и не проходил к границе раздела слоев 1 и 2. Выполнение этого услови необходимо дл исключени вли ни оптических управл ющих сигналов на проводимость другого фоторезисторного сло . Фоторезисторные слои должны иметь один и тот же тип проводимости и тип свободных носителей. Оптическое сканирование под углом к направлению ленточных электродов и одновременна регистраци локальной проводимости , например, на многолучевом осциллографе позвол ют получать топо- грэммы локальной проводимости на экране такого регистрирующего устройства (фиг. 5).
При решении уравнений математической физики (1) без источников задаетс режим решени Р - решение, при котором электроды 3 подключены к измерительному блоку Vp (фиг. 2) и производитс оптическое сканирование ленточных прозрачных электродов и расположенных под ним зон фоторезисторного сло 2, В последних в точке падени светового луча образуетс канал повышенной проводимости, который вл етс своеобразным оптически управл емым контактом дл сн ти модулирующих потенциалов в фоторезисторном слое.
При решении уравнений математической физики (1) с источниками следует примен ть оптоэлектронный процессор с чередующимс набором узких и широких ленточных электродов. При этом возможны различные варианты уравнени (1). два из таких вариантов приведены на схемах фиг. 3 и 4. Схема на фиг. 3 предназначена дл решени уравнени (1) с дискретными источниками:
AK(x.v) + fyKl(x,y}
f(x.-y)
(5)
где f(x. у)- функци дискретных источников , заданна в точках с дискретными координатами х и у.
Одна из дискретных координат совпадает с координатой узкого ленточного электрода , а друга дискретна координата может быть задана произвольно, узкие ленточные электроды подключены к блокам опорных потенциалов V0n, а широкие ленточные электроды подключены к измерительным блокам Vp. При поступлении на управл ющий вход 11 дефлектора 6, распо0 ложенного со стороны прозрачной подложки 4, соответствующего управл ющего сигнала высвечиваетс картина свет щихс точек: посредством одних, падающих на узкие ленточные электроды, задаютс коорди5 наты и значени функций дискретных источников, посредством других, падающих на широкие ленточные электроды, задаютс координаты измерени моделируемых потенциалов . Схема на фиг. А предназначена
0 дл решени уравнени (1) с распределенными источниками, но при этом измер ютс моделируемые функции р(х. у), распределенные по координате х, совпадающей с направлением ленточных электродов, и ди5 скретные в направлении координаты у. Измерение этих функций осуществл етс точечным оптическим сканированием узких ленточных электродов, а функции распределенных источников задаютс проектирова0 нием теневой картины на широкие ленточные электроды, при этом погрешность задани функций распределенных ис- точников тем меньше, чем больше соотношение линейных поперечных разме5 ров широких и узких ленточных электродов. В зависимости от услови решаемой задачи производитс смена голограмм и мен етс освещенность решающего фоторезисторного сло 1 и локальна осве0 щенность зон вспомогательного фоторезисторного сло 2, при этом обеспечиваетс селективное оптическое сканирование ленточных электродов, что позвол ет одновременно измер ть распределение локальной
5 проводимости в решающем фоторезисторном слое при подготовке к решению, обес- . печива тем самым повышение точности задани параметров моделируемой среды, и одновременно увеличить скорость рёше0 ни за счет одновременной регистрации мо- делируемых параметров в нескольких точках решающего сло .
Кроме того, устройство позвол ет довольно простым аппаратным способом в не5 сколько раз более низким по стоимости, чем программный способ представлени графической информации на дисплее с применением ЭВМ, получать топогрэммы параметров моделируемой среды и моделируемой функции.
Claims (3)
- Формула изобретени 1. Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики, содержащий первый и второй источники излучени , оптически св занные соответственно через первый и второй формирователи светового потока с оптоэ- лектронным вычислительным модулем слоисто-пленочной структуры, состо щим из последовательно нанесенных на прозрачную основу прозрачного токопровод щего сло и первого и второго фоторезисторных слоев, сенсибилизированных к длинам волн источников излучени , установленных с внешних сторон соответствующих фоторезисторных слоев, выводы электродов, расположенных на втором фоторезисторном и прозрачном токопровод щем сло х, вл ютс выходами процессора, управл ющие входы источников излучени , и формирователей светового потока вл ютс управл ющими входами процессора, отличающийс тем, что, с целью повышениточности решени и расширени класса решаемых задач, прозрачный токопровод - щий слой выполнен в виде набора изолированных между собой ленточных прозрачных электродов, электрические выводы которых вл ютс дополнительными выходами процессора.
- 2. Оптоэлектронный процессор по п. 1. отличающийс тем, что прозрачный токопровод щий слой выполнен в виде набора из п групп (п 2) изолированных между собой прозрачных ленточных электродов различной ширины, электрические выводы которых образуют соответствующие группы дополнительных выходов процессора.
- 3. Оптоэлектронный процессор по п. 1, отличающийс тем, что первый и второй формирователи светового потока выполнены каждый q виде оптически св занных дефлектора светового потока и матрицы голограмм;ФигJT±:ЗЗтВНЫ VP PSJT± ±JLJL±фиг. 5JLфие.Ь
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884467163A RU1793449C (ru) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884467163A RU1793449C (ru) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1793449C true RU1793449C (ru) | 1993-02-07 |
Family
ID=21392567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884467163A RU1793449C (ru) | 1988-07-29 | 1988-07-29 | Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1793449C (ru) |
-
1988
- 1988-07-29 RU SU884467163A patent/RU1793449C/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 375653, кл. G 06 G 7/44, 1972. Авторское свидетельство СССР № 383067. кл. G 06 G 7/44, 1972. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3712740A (en) | Method for the automatic alignment of two articles to be brought into register with one another | |
US3491236A (en) | Electron beam fabrication of microelectronic circuit patterns | |
US4806776A (en) | Electrical illumination and detecting apparatus | |
US3759618A (en) | Methods of and apparatus for effecting optical measurement and analysis | |
EP0212992B1 (en) | Method for measuring a three-dimensional position of an object | |
US3578979A (en) | Electrical signal generating apparatus having a scale grid | |
US3420609A (en) | Photometer for comparing scattered with transmitted light | |
US4750834A (en) | Interferometer including stationary, electrically alterable optical masking device | |
US4252442A (en) | Adjusting method and apparatus for positioning planar components | |
US4110762A (en) | Drawing machines especially for integrated circuit masks | |
JPH0719825A (ja) | 基板検査装置 | |
RU1793449C (ru) | Оптоэлектронный процессор дл решени уравнений математической физики | |
US3540791A (en) | Simplified multiple image generation | |
US3366794A (en) | Scanning apparatus for aiding in the determination of point co-ordinates of paths of charged particles as recorded on photographic film | |
US3904869A (en) | Focus detecting apparatus | |
US3298015A (en) | Automatic data plotter | |
US3503689A (en) | Microdensitometer | |
US2917969A (en) | Light meter | |
US4365256A (en) | Method for accurate control of a light beam in phototypesetting and other applications | |
US3552856A (en) | Technique for analyzing deformation in a test specimen | |
KR920002920B1 (ko) | 레이저에 의한 선재의 칫수 측정방법 및 장치 | |
US3553470A (en) | Apparatus for generating an approximation to a sine wave including a reading head with two spaced areas for scanning an optical grating | |
US3955095A (en) | Method and apparatus for determining the average size of apertures in an apertured member | |
US4221487A (en) | System for testing a pattern recorded on a plate | |
US3192393A (en) | Optical phase sensitive incremental encoder |