RU122177U1 - Большепольный сканирующий нанотвердомер - Google Patents

Большепольный сканирующий нанотвердомер Download PDF

Info

Publication number
RU122177U1
RU122177U1 RU2012106728/28U RU2012106728U RU122177U1 RU 122177 U1 RU122177 U1 RU 122177U1 RU 2012106728/28 U RU2012106728/28 U RU 2012106728/28U RU 2012106728 U RU2012106728 U RU 2012106728U RU 122177 U1 RU122177 U1 RU 122177U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
probe
moving
scanner
coordinate table
movement
Prior art date
Application number
RU2012106728/28U
Other languages
English (en)
Inventor
Кирилл Валерьевич Гоголинский
Вячеслав Викторович Мещеряков
Владимир Николаевич Решетов
Эдуард Владимирович Мелекесов
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью "Келеген"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью "Келеген" filed Critical Общество с ограниченной ответственностью "Келеген"
Priority to RU2012106728/28U priority Critical patent/RU122177U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU122177U1 publication Critical patent/RU122177U1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

1. Нанотвердомер, содержащий выполненный с возможностью перемещения по трем взаимно перпендикулярным осям сканер и установленный на устройстве для его перемещения зонд с наконечником, отличающийся тем, что содержит предметно-координатный стол, выполненный с возможностью его перемещения по двум взаимно перпендикулярным осям в горизонтальной плоскости, сканер установлен на устройстве для перемещения зонда, а зонд закреплен на сканере, при этом сканер установлен на устройстве для перемещения зонда с возможностью его перемещения относительно него по вертикали и по горизонтали по двум взаимно перпендикулярным осям, при этом направление одной из осей перемещения устройства для перемещения зонда перпендикулярно плоскости предметно-координатного стола, а другой совпадает с одной из осей перемещения предметно-координатного стола. ! 2. Нанотвердомер по п.1, отличающийся тем, что он содержит оптический микроскоп, закрепленный на устройстве для перемещения зонда.

Description

Полезная модель относится к области сканирующей зондовой микроскопии и нанотвердометрии - технике контроля физико-механических свойств материалов и предназначена для исследования поверхности рельефа, измерения механических свойств объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.
Известны атомно-силовые микроскопы, служащие для исследования рельефа поверхности путем сканирования. Известны нанотвердомеры, используемые для измерения механических свойств путем индентирования алмазным зондом. Известны устройства, представляющие собой сканирующие нанотвердомеры, позволяющие производить сканирование и индентирование поверхности одним зондом.
Сканирующие нанотвердомеры, как правило, содержат предметно-координатный стол с возможностью перемещения в 2-х взаимно перпендикулярных направлениях, на который устанавливается трехкоординатный позиционер (сканер), содержащий платформу, расположенную на пьезоэлектрических приводах и емкостные датчики перемещения. При этом зонд с наконечником устанавливают над 3-х координатным позиционером на механизм перемещения, обеспечивающий перемещение зонда в направлении, перпендикулярном плоскости предметно-координатного стола (Agilent Nanoindentor G200 http://www.homc.agilent.com/asilent/product.ispx?nid= -34000.0.00&1c=rus&cc=RU). Кроме того над предметно-координатным столом располагают оптический микроскоп для визуального контроля поверхности исследуемого образца.
Недостатком данного известного устройства является невозможность исследования образцов большого размера и массы, поскольку для исследования доступна ограниченная область поверхности образца. Кроме того, необходимость перемещения исследуемой области образца между зондом с наконечником и осью оптического микроскопа уменьшает размеры области поверхности образца, доступной для исследования оптическим и зондовым методом при фиксированных диапазонах перемещения предметно-координатного стола. Простое увеличение размеров и диапазонов перемещения предметно-координатного стола требует увеличения размеров конструкции всего прибора, что снижает ее жесткость и уменьшает стойкость к вибрациям и термодрейфам. Кроме того, необходимость перемещения исследуемой области образца между зондом с наконечником и осью оптического микроскопа уменьшает размеры области поверхности образца, доступной для исследования оптическим и зондовым методом при фиксированных диапазонах перемещения предметно-координатного стола.
Наиболее близким к заявленному является сканирующий нанотвердомер, содержащий зонд с индентором, установленный на устройстве для перемещения зонда относительно исследуемого объекта, а также трехкоординатный сканер, содержащий платформу, расположенную на пьезоэлектрических приводах, и емкостные датчики перемещения (RU, №96428.U1, 18.03.2010).
Конструкция устройства не позволяет исследовать образцы большого размера и массы в силу конструктивных особенностей, связанных с ограниченными габаритами и нагрузочной способностью пьезопривода платформы трехкоординатного сканера.
До сих пор актуальной остается задача измерения образцов большого размера и, в частности, кремниевых пластин размером 150 мм и более, а также крупногабаритных деталей без их разрушения.
Техническим результатом предложенной полезной модели является устранение указанных недостатков за счет расширения функциональных возможностей устройства за счет возможности исследования образцов большого размера, большой исследуемой площади и веса для исследования рельефа поверхности и измерения механических свойств на субмикронном и нонометровом масштабе без увеличения размеров устройства.
Устройство также позволит обеспечивать для этих образцов контроль исследуемой поверхности с помощью оптического микроскопа.
Указанный технический результат достигается за счет того, что нанотвердомер, содержащий выполненный с возможностью перемещения по трем взаимно перпендикулярным осям сканер и установленный на устройстве для его перемещения зонд с наконечником, содержит предметно-координатный стол, выполненный с возможностью его перемещения по двум взаимно перпендикулярным осям в горизонтальной плоскости, сканер установлен на устройстве для перемещения зонда, а зонд закреплен на сканере, при этом сканер установлен на устройстве для перемещения зонда с возможностью его перемещения относительно него по вертикали и по горизонтали по двум взаимно-перпендикулярным осям, при этом направление одной из осей перемещения устройства для перемещения зонда перпендикулярно плоскости предметно-координатного стола, а другой совпадает с одной из осей перемещения предметно-координатного стола.
Кроме того, он содержит оптический микроскоп, закрепленный на устройстве для перемещения зонда оптический микроскоп.
Предложенная полезная модель поясняется чертежом.
На фиг.1 представлен большепольный сканирующий нанотвердомер, общий вид.
Большепольный сканирующий нанотвердомер содержит зонд 1 с наконечником, сканер 2, устройство 3 для перемещения зонда, предметно-координатный стол 4 для установки на нем исследуемого образца 5 и оптический микроскоп 6. Зонд 1 с наконечником расположен над предметно-координатным столом 4.
Предметно-координатный стол 4 выполнен с возможностью его перемещения по двум взаимно перпендикулярным осям Х и Y в горизонтальной плоскости
Сканер 2 установлен на устройстве 3 для перемещения зонда 1, а зонд 1 закреплен на сканере 2, при этом сканер 2 установлен на устройстве 3 для перемещения зонда 1 с возможностью его перемещения относительно него по вертикали и по горизонтали по двум взаимно-перпендикулярным осям.
Устройство 3 для перемещения зонда выполнено с возможностью его перемещения по вертикальной оси Z и по горизонтальной оси X' во взаимно перпендикулярных направлениях, причем направление оси Z перпендикулярно плоскости предметно-координатного стола (XY), а оси X' совпадает с одной из осей перемещения предметно-координатного стола (X).
Перемещение предметно-координатного стола 4 и устройства 3 перемещения зонда 1 по каждой из осей происходит с помощью винтовых передач, причем вращение винтов винтовых передач осуществляется с помощью шаговых двигателей
Оптический микроскоп 6 закреплен на устройстве 3 для перемещения зонда 1 так, чтобы точка контакта наконечника зонда 1 и точка пересечения оптической оси микроскопа 6 с поверхностью образца 5 лежали на одной прямой, параллельной осям Х и X'.
Сканирование и индентирование поверхности образца 5 осуществляется зондом 1 с помощью сканера 2. Взаимное перемещение зонда 1, оптического микроскопа 6 и образца 5 осуществляется путем перемещения предметно-координатного стола 4 по 2-м горизонтальным осям Х и Y и устройства 3 для перемещения зонда по оси Z, и оси X'.
Устройство работает следующим образом.
Измеряемый образец 5 закрепляют на предметно-координатном столе 4. Устройство для перемещения 3 зонда обеспечивает взаимное перемещение зонда 1 с наконечником, закрепленного на трехкоординатном сканере 2 и оптического микроскопа 6 по оси X' в центр поля перемещения предметно-координатного стола 4, а также подвод зонда 1 к поверхности образца 5 и фокусировку оптического микроскопа 6. Предметно-координатный стол 4 обеспечивает перемещение образца 5 так, чтобы исследуемая область поверхности находилась в точке контакта острия зонда 1 или оптической оси микроскопа 6.
С помощью устройства 3 для перемещения зонда помещают микроскоп 6 над центром предметно-координатного стола 4 и фокусируют на поверхности образца 5. С помощью предметно-координатного стола 4 перемещают образец 5 так, чтобы область поверхности, подлежащая исследованию, попала в поле зрения оптического микроскопа 6. Перемещая образец 5 предметно-координатным столом 4 и наблюдая с помощью оптического микроскопа 6, выбирают область для измерений. Затем с помощью устройства 3 для перемещения зонда перемещают зонд 1 по оси X' и затем по оси Z до контакта наконечника зонда 1 с поверхностью образца в выбранной области. Производят сканирование и индентирование поверхности трехкоординатным сканером 2.
Закрепление зонда на трехкоординатном сканере с возможностью независимого перемещения по 3-м взаимно перпендикулярным осям позволяет исследовать поверхности объектов практически неограниченного размера и массы, т.к. они не лимитируются техническими параметрами сканера.
Поле, доступное для исследований, значительно увеличивается за счет того, что оптический микроскоп 6 и зонд 1 могут помещаться устройством 3 для перемещения зонда 1 в центр поля предметно-координатного стола 4, при этом для исследований становится доступна поверхность в пределах всего диапазона перемещения предметно-координатного стола 4. Таким образом, для исследования, например, кремниевых пластин диаметром 150 мм одновременно зондовым и оптическим методом достаточно использовать 2-х координатный предметный стол с диапазоном перемещений 150×150 мм.
Выполнение предметно-координатного стола с возможностью перемещения во взаимно перпендикулярных направлениях в горизонтальной плоскости, устройства для перемещения зонда, выполненного с возможностью перемещения по вертикали и по горизонтали во взаимно перпендикулярных направлениях, а также закрепление зонда на трехкоординатном сканере, который, в свою очередь, закреплен на устройстве для перемещения зонда, позволяет проводить измерение более массивных и габаритных образцов, а также обеспечивать исследование большей площади поверхности образцов.
Возможность перемещения предметно-координатного стола и устройства для перемещения зонда, закрепленного на сканере, по двум параллельным осям позволяет реализовать относительное перемещение зонда и образца путем перемещения их навстречу друг другу, увеличив тем самым площадь, доступную для исследования, не увеличивая габариты предметно-координатного стола. В случае наличия оптического микроскопа две параллельные независимые оси перемещения позволяют позиционировать микроскоп и зонд, закрепленный на сканере, независимо от движения предметно-координатного стола, помещая их попеременно над заданной исследуемой областью поверхности. Это позволяет исследовать поверхность по всему полю перемещения предметно-координатного стола.
Полезная модель позволит расширить функциональные возможности устройства за счет возможности исследования образцов большого размера, большой исследуемой площади и веса для исследования рельефа поверхности и измерения механических свойств на субмикронном и нанометровом масштабе без значительного увеличения размеров устройства.
Устройство также позволит обеспечивать для этих образцов контроль исследуемой поверхности с помощью оптического микроскопа.

Claims (2)

1. Нанотвердомер, содержащий выполненный с возможностью перемещения по трем взаимно перпендикулярным осям сканер и установленный на устройстве для его перемещения зонд с наконечником, отличающийся тем, что содержит предметно-координатный стол, выполненный с возможностью его перемещения по двум взаимно перпендикулярным осям в горизонтальной плоскости, сканер установлен на устройстве для перемещения зонда, а зонд закреплен на сканере, при этом сканер установлен на устройстве для перемещения зонда с возможностью его перемещения относительно него по вертикали и по горизонтали по двум взаимно перпендикулярным осям, при этом направление одной из осей перемещения устройства для перемещения зонда перпендикулярно плоскости предметно-координатного стола, а другой совпадает с одной из осей перемещения предметно-координатного стола.
2. Нанотвердомер по п.1, отличающийся тем, что он содержит оптический микроскоп, закрепленный на устройстве для перемещения зонда.
Figure 00000001
RU2012106728/28U 2012-02-24 2012-02-24 Большепольный сканирующий нанотвердомер RU122177U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012106728/28U RU122177U1 (ru) 2012-02-24 2012-02-24 Большепольный сканирующий нанотвердомер

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012106728/28U RU122177U1 (ru) 2012-02-24 2012-02-24 Большепольный сканирующий нанотвердомер

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU122177U1 true RU122177U1 (ru) 2012-11-20

Family

ID=47323618

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012106728/28U RU122177U1 (ru) 2012-02-24 2012-02-24 Большепольный сканирующий нанотвердомер

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU122177U1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103308404A (zh) * 2013-06-14 2013-09-18 吉林大学 基于可调式拉伸-弯曲预载荷的原位纳米压痕测试仪
RU2721020C1 (ru) * 2019-12-10 2020-05-15 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" Динамический наноиндентор

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103308404A (zh) * 2013-06-14 2013-09-18 吉林大学 基于可调式拉伸-弯曲预载荷的原位纳米压痕测试仪
RU2721020C1 (ru) * 2019-12-10 2020-05-15 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" Динамический наноиндентор

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Dai et al. Metrological large range scanning probe microscope
CN101592573B (zh) 基于激光共聚焦显微镜的拉压及疲劳加载实验机
CN104502202B (zh) 服役温度下材料双轴静动态性能在线测试平台
US20180024035A1 (en) Apparatus for In-Line Testing and Surface Analysis on a Mechanical Property Tester
CN103471905B (zh) 用于扫描显微环境的单轴双向微力学测量装置及测量方法
CN203405372U (zh) 柔性铰链式原位纳米压痕刻划材料力学性能测试平台
JP2002533718A (ja) ナノトモグラフィ(断層撮影装置及び方法)
CN104049111A (zh) 基于双探针原子力显微镜的纳米卡尺及采用该纳米卡尺测量微纳米结构关键尺寸的方法
CN103760916B (zh) 一种多移动平台微纳米尺度移动、样品操作装置
CN206300855U (zh) 弯曲疲劳测试仪器及测试系统
JP2015515021A (ja) 顕微鏡対物レンズ機械検査機器
CN104865410B (zh) 一种基于静电控制扭摆的导体表面电势测量仪
RU122177U1 (ru) Большепольный сканирующий нанотвердомер
CN101915858B (zh) 反馈控制扭摆弱力扫描探测仪
Fu et al. Long‐range scanning for scanning tunneling microscopy
WO2011032819A1 (en) System for mechanical characterization of materials and biological samples in the sub-millinewton force range
Manske et al. A multi-sensor approach for complex and large-area applications in micro and nanometrology
CN102707094B (zh) 一种三扫描器原子力显微扫描检测装置
Iyer et al. Cyclic deformation of microcantilevers using in-situ micromanipulation
Alexandris et al. Interfacial shear rheology of glassy polymers at liquid interfaces
KR100956894B1 (ko) 고정도 광학 측정장치
CN108572106A (zh) 用于微纳样品的原位复合加载与测量装置
RU2307339C2 (ru) Способ измерения чистоты поверхности подложек
De Chiffre et al. Surface topography characterization using an atomic force microscope mounted on a coordinate measuring machine
CN217359955U (zh) 一种多功能原子力显微镜样品固定器

Legal Events

Date Code Title Description
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20140225