PL99471B1 - Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych - Google Patents

Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych Download PDF

Info

Publication number
PL99471B1
PL99471B1 PL18114176A PL18114176A PL99471B1 PL 99471 B1 PL99471 B1 PL 99471B1 PL 18114176 A PL18114176 A PL 18114176A PL 18114176 A PL18114176 A PL 18114176A PL 99471 B1 PL99471 B1 PL 99471B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
ring
mirror
equipment
tangent
functions
Prior art date
Application number
PL18114176A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL18114176A priority Critical patent/PL99471B1/pl
Publication of PL99471B1 publication Critical patent/PL99471B1/pl

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresu funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych, co wykonuje sie przy graficznym rózniczkowaniu wykresów funkcji. Dotychczas do wyznaczania nachylenia stycznej do wykresów funkcji wykorzystano zwiercia¬ dlo plaskie, Zwierciadlo plaskie ustawione jest tak, ze odbicie obrazu funkcji i czesc wykresu przed zwiercia¬ dlem stanowia swe przedluzenie, wtedy linia przeciecia plaszczyzny rysunku i zwierciadla jest normalna do wykresu funkcji. Dalsze postepowanie w celu wyznaczenia tangensa kata nachylenia stycznej a polega na wykre¬ sleniu linii prostej prostopadlej do normalnej i bedacej styczna do wykresu a nastepnie wyznaczeniu wspólrzednych 2 punktów Xi —x0yy1 — y0 na stycznej i obliczeniu stosunku tga = yi -yo Xi — X0 Wyzej opisany sposób postepowania polegajacy na wykreslaniu linii i wyznaczania wspólrzednych obarczo¬ ny jest pewnym bledem i w sumie blad rózniczkowania jest dosc duzy, siegajacy do kilkunastu procent poza oczywista pracochlonnoscia. Wykreslanie linii normalnej i stycznej na wykresie funkcji praktycznie nie pozwala ponadto na powtarzanie operacji rózniczkowania. Brak jest przyrzadu pozwalajacego na dokladniejsze i szybkie wyznaczenie nachylenia stycznej do wykresów funkcji otrzymywanych z urzadzen rejestrujacych.Istota przyrzadu^wedlug wynalazku polega na wyposazeniu go w plyte z materialu przezroczystego z na¬ niesionym na nia prostokatnym ukladem wspólrzednych równolegle do których jest naniesiona podzialka wyskalowana korzystnie w wartosciach tangensa kata nachylenia. Na przecieciu wspólrzednych znajduje sie otwór cylindryczny, w którym obsadzony jest obrotowo pierscien, na którego wewnetrznej powierzchni wzdluz jego srednicy zamocowane jest na stale zwierciadlo plaskie z nacieciem pokrywajacym sie ze srodkiem pier¬ scienia, a do powierzchni zewnetrznej pierscienia umocowana jest wskazówka z naniesiona rysa prostopadla do plaszczyzny zwierciadla, przy czym przedluzenie rysy przechodzi przez srodek pierscienia.y 2 99471 Wzór uzytkowy zostal przedstawiony na rysunku na którym fig. 1 przedstawia plyte z podzialka, fig. 2 — wskazówke ze zwierciadlem, a fig. 3 — ustawienie przyrzadu przy pomiarze.Przyrzad sklada sie z plyty z podzialka oraz pierscienia ze zwierciadlem 3 i przymocowana do pierscienia wskazówka 4. Na plycie naniesiony jest prostokatny uklad wspólrzednych a, b. W narozniku plyty znajduje sie okragly otwór 1, którego srodek lezy na przecieciu sie wspólrzednych a i b. Na plycie naniesiona jest równiez podzialka. Podzialka ta moze byc na liniach a', a", a"', i bl równoleglych odpowiednio do wspólrzednych a i b, badz tez na odcinku okregu c o srodku lezacym w punkcie przeciecia wspólrzednych a i b. Podzialka na liniach a1, a11, a111 i b1 moze byc w jednostkach dlugosci lub, co jest wygodniejsze pozwalajaca na odczytanie tangensa kata nachylenia prostej przechodzacej przez punkt przeciecia ukladu wspólrzednych a b i punkt na podzialce.Podzialka na okregu c jest wykonana w stopniach kata nachylenia prostej przechodzacej przez punkt przeciecia wspólrzednej a i b oraz punkt na okregu c. Plyta jest wykonana z materialu przezroczystego.W otworze 1 umieszczony jest pierscien 2 dopasowany tak, aby mógl sie w tym otworze 1 obracac. Do wewnetrznej powierzchni pierscienia 2 w specjalnych rowkach zamocowane jest zwierciadlo 3 w ten sposób, aby jego powierzchnia odbijajaca pokrywala sie ze srednica pierscienia 2. Zwierciadlo 3 jest wykonane z polerowanej plytki metalowej. Do pierscienia 2 przymocowana jest wskazówka 4, której rysa 5 jest prostopadla do po¬ wierzchni lustra i jej przedluzenie przechodzi przez srodek pierscienia 2. Na zwierciadle 3 przy krawedzi przyle¬ gajacej do plaszczyzny wykresu wykonane jest wyciecie 6 pokrywajace sie ze srodkiem pierscienia 2. Wskazówka 4 wykonana jest z materialu przezroczystego.Chcac znalezc pochodna funkcji Y = f(x) w punkcie x1? y! przyrzad ustawiamy tak, aby naciecie 6 na zwierciadle 3 znajdowalo sie w tym punkcie a wspólrzedne a i b na plycie z podzialka byly równolegle do wspólrzednych x i y na wykresie funkcji. Nastepnie obracajac pierscieniem 2 tak ustawiamy zwierciadlo 3, aby obraz i czesc wykresu przed zwierciadlem 3 stanowily swe przedluzenie. Wówczas rysa 5 pokazuje na podzialce badz bezposrednio tangens kata nachylenia badz wartosci wspólrzednych pozwalajacych obliczyc wartosc tan¬ gensa kata nachylenia. Dla zmniejszenia bledu wyznaczania pochodnej celowe jest wykonanie pomiarów w tych samych punktach obracajac przyrzad o 180°. Równiez pomiary sa dokladniejsze o ile przy ustawieniu zwiercia¬ dla 3 wykonujacy pomiar patrzy na nie pod katem zblizonym do prostego. Blad bezwlgedny odczytu kata nachylenia stycznej wynosi od 30' do 1°30' w zaleznosci od wprawy i dokladnosci wykonania wykresu funkcji rózniczkowej.Blad wzgledny wyznaczania pochodnej jest najmniejszy gdy kat nachylenia wykresu funkcji wzgledem osi x jest zblizony do 45°. Dlatego tez nalezy dobierac tak podzialki na osiach x i y przy wykonywaniu wykresu funkcji y = f(x), aby o ile to mozliwe kat nachylenia byl bliski 45°. Wykres funkcji y = f(x) najlepiej jest wykonywac na papierze milimetrowym gdyz wówczas jest duzo latwiej ustawic przyrzad tak, aby wspólrzedne a i b oraz xi y byly do siebie odpowiednio równolegle. Wyznaczony bezposrednio z pomiaru tangens kata nachyle¬ nia stycznej przelicza sie na pochodna przez przemnozenie stosunku ilosci jednostek wartosci y przypadajacych na jedna jednostke dlugosci wspólrzednej y do ilosci jednostek wartosci x przypadajacych na jednostke dlugosci wspólrzednej x. [ 1 % \°U cVo \0,L \o Yoj.\-C.t \ ! T I 6 i J r4 r3 . r2 ' 0 ^ /v-^. y /?£ 299 471 x, Fiy 5 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL

Claims (1)

  1. Zastrzezenie patentowe • Przyrzad do bezposredniego wyznaczania kata nachylenia stycznej do wykresu funkcji, otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych zawierajacy zwierciadlo plaskie, znamienny tym, ze posiada plyte z materialu przezroczystego z naniesionym prostokatnym ukladem wspólrzednych równolegle do których jest wykonana podzialka wyskalowana korzystnie w tangensach kata nachylenia, przy czym na przecieciu wspólrzednych znajduje sie otwór cylindryczny (1) z umieszczonym obrotowo pierscieniem (2), do którego wewnetrznej powierzchni wzdluz srednicy zamocowane jest na stale zwierciadlo plaskie (3) z nacieciem (6) pokrywajacym sie ze srodkiem pierscienia (2) a do powierzchni zewnetrznej pierscienia (2) umocowana jest wskazówka (4) prostopadla do plaszczyzny zwierciadla (3) z rysa (5), przy czym przedluzenie rysy (5) przecho¬ dzi przez srodek pierscienia (2).99 471 0 * a J -i " i i 1 Z 3 ,..^l....l.. ..... i..-. l^L* a' ¦ *j ° r35 -23 riC 1. -/5 * 5 6 ...|...^.... 0 a" L*0 b 7 9 9 10 \ Ó' i-*C I r9 1 r ' 1 * PL
PL18114176A 1976-06-11 1976-06-11 Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych PL99471B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18114176A PL99471B1 (pl) 1976-06-11 1976-06-11 Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18114176A PL99471B1 (pl) 1976-06-11 1976-06-11 Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL99471B1 true PL99471B1 (pl) 1978-07-31

Family

ID=19972505

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18114176A PL99471B1 (pl) 1976-06-11 1976-06-11 Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL99471B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
IL50094A (en) Device for angle measurement of space planes
GB2165946A (en) Measuring straightness and flatness
PL99471B1 (pl) Przyrzad do bezposredniego wyznaczania nachylenia stycznej do wykresow funkcji otrzymywanych zwlaszcza z urzadzen rejestrujacych
US4575943A (en) Right angle measuring apparatus
GB1570248A (en) Apparatus for sensing the position of a turntable member and measuring devices such as viscometers comprising such apparatus
US2595109A (en) Pitch finder for levels
US3173211A (en) Bisecting device
Jessop LXIV. On cornu's method of determining the elastic constants of glass
US3814903A (en) Automatic sine-cosine trigonometer
JPS5796203A (en) Contactless displacement detector employing optical fiber
US2814122A (en) Dry film thickness gage
CN218628010U (zh) 一种新型测量尺板
US2813346A (en) Sine square
SU416559A1 (pl)
SU1756754A1 (ru) Измерительный угольник
SU868318A1 (ru) Устройство дл измерени неперпендикул рности торца к оси отверсти
US2413424A (en) Lumber grain slope-measuring instrument
US5606414A (en) Interferometric ship's heading reference system
SU754200A1 (ru) Способ поверки толщиномеров неметаллических покрытий
US4712308A (en) Measurement method and apparatus
SU1237897A1 (ru) Способ определени эксцентрисистета двух поверхностей детали
RU1792522C (ru) Устройство дл измерени геометрических параметров
SU570320A1 (ru) Позиционно-чувствительное пироэлектрическоеуСТРОйСТВО
Kodate et al. Measurement of mechanical deformation of dielectric fibres by a light scattering method
Semplak 0.63 μ Scatter Measurements from Teflon* and Various Metallic Surfaces