PL99416B1 - Dwupasmowy tensometr elastooptyczny - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest dwupasmowy tensometr elastooptyczny do pomiaru malych odksztalcen elementów w przemysle maszynowym, budownictwie i górnictwie.Znane z literatury G. Oppel, F. Zandman, J. Javornicy oraz z polskiego opisu patentowego nr 50221 jednoosiowe tensometry elastooptyczne rózniace sie ksztaltem, budowa i sposobem klejenia stanowia pojedyncze pasmo materialu czulego optycznie z wstepnie zamrozonym obrazem izochrom. Miara odksztalcenia badanego elementu równego odksztalceniu naklejonego nan tensometru elastooptycznego jest wielkosc przesuniecia izochromy pomiarowej wzgledem jej pierwotnego polozenia w stanie nieobciazonym. Niedogodnoscia wynikaja¬ ca ze stosowania jednopasmo wy eh tensometrów elastooptycznych jest male przesuniecie zamrozonych izochrom wystepujace przy pomiarach stosunkowo malych odksztalcen. Na skutek duzego bledu w okreslaniu malego przesuniecia izochrom wzrasta blad pomiaru.Istota wynalazku polega na tym, ze dwupasmowy tensometr elastooptyczny stanowia dwa pasma czulego optycznie materialu z tak zamrozonymi wstepnie i 'ochromami, iz odksztalcenie badanego elementu z naklejo¬ nym nan tensometrem powoduje przesuniecie sie izochrom w przeciwnych do siebie kierunkach. Miara odksztalcenia badanego elementu jest odleglosc miedzy polówkami izochromy pomiarowej na obu pasmach.W przypadku jednakowych odksztalcen za pomoca jednopasmowego i dwupasmowego tensometru elastooptycz¬ nego posiadajacych jednakowe stale tensometryczne, odleglosc miedzy polówkami izochromy pomiarowej dwupasmowego tensometru elastooptycznego, a przesunieciem izochromy pomiarowej jednopasmowego tenso¬ metru elastooptycznego jest dwukrotnie wieksza. ¦ Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedsta¬ wia tensometr w przekroju podluznym, fig. 2 — tensometr w widoku z góry z zamrozonym obrazem izochrom przed obciazeniem, a fig. 3 — ten sam tensometr po obciazeniu.Tensometr wedlug wynalazku sklada sie z dwóch pasm 1 wykonanych z materialu optycznie czulego z zamrozonym obrazem izochrom. Pasma 1 sa przyklejone klejem na bazie epoksydowej zywicy 2 do podkladek w ten sposób, ze miedzy ich dluzszymi krawedziami istnieje szczelina. Podkladki 3 wykonane sa z tego samego2 99 416 czulego optycznie materialu co pasma 1. Dolna strona pasm 1 pokryta jest odblaskowa warstwa 4, która stanowi cienkf powloka napylonego aluminium. Nad pasmami do podkladek 3 przyklejone sa polaryzacyjne filtry 5.Tensometr iest przyklejany do badanego elementu 6 równiez klejem. • SemeTwupasmowego tensometru elastooptycznego wzdluz jego osi powoduje przeslecie polówek iz^rPl««owej w przeciwnych kierunkach o jednakowa wartosd. Wielko- odksztalcenia badanego ZneZ okS aoczyn stalej elastooptycznej tensometru i odleglosci miedzy polówkami izochromy pomiaro- wej. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Dwupasmowy tensometr elastooptyczny zwlaszcza do pomiaru malych odksztalcen ^znamienny t y m,fc sLowTgo dwa ustawione równolegle pasma (1) z materialu optycznie czulego, w których zamrozony ie^bL izochrom w postaci równo oddalonych od siebie prazków, przy czym pasma (1) sa przyklejone do £££k ®Topostrrprostokatnych plytek ustawionych prostopadle do osi podluznej tensometru, wykona- ^ tego sime^o materialu, U zemiedzy pasmami (1) znajduje sie szczelina, natomiast pasma (1) sa obrócone w swej plaszczyznie wzgledem siebie okat 180°C, co powoduje, ze suma zamrozonych naprezen w dowolnym przekroju poprzecznym tensometru jest równa zeru. Fig. 1 Fig.2 ^ v=7 Fig.3 Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+18 Cena 45 zl PL