Przedmiotem wynalazku jest sposób i urzadzenie dla okreslania wskazników niezawodnosci bloków funkcjonalnych aparatów telefonicznych. - Bloki funkcjonalne aparatu telefonicznego wchodzace w sklad obwodu rozmownego pracuja w sposób nastepujacy: przy polozonym mikrotelefonie aparatu telefonicznego centralnej baterii stale napiecie zasilania równa sie zero, a przy podniesionym- napiecie zasilania jest wieksze od zera. Wskazniki niezawodnosci takich bloków funkcjonalnych mozna otrzymac z wielokrotnych wlaczen i wylaczen napiecia zasilania. W sklad obwodu rozmownego wchodza nastepujace bloki funkcjonalne: mikrofon, sluchawka z elementami przeciwtrzaskowymi, uklad antylokalny z równowaznikiem linii. Najczesciej okreslanym wskaznikiem niezawodnosci jest intensywnosc uszkodzen.Stan techniki w odniesieniu do badan wskazników niezawodnosci bloków funkcjonalnych obwodu rozmownego aparatu telefonicznego zostanie przedstawiony na przykladzie badan mikrofonu, Istniejace normy branzowe dotycza mikrofonu weglowego. Wskaznikiem niezawodnosci jest liczba przelaczen napiecia, które mikrofon wytrzymuje bez uszkodzenia. Badanie polega na przykladaniu na mikrofon wymuszen stalo-napieciowych o czasie trwania 60-90 sekund, o dowolnej polaryzacji przy jednoczesnym obracaniu przestrzennym w 3 plaszczyznach. Czas badania wynosi kilka tysiecy godzin. Urzadzenie do badan niezawodnosci stosujace zasilacz napieciowy oraz woltomierze posiada mechanizm do wprawienia w ruch obrotowy badanych bloków. Próbka pomiarowa jest ograniczona do kilku sztuk mikrofonów. Niedogodnoscia tych badan jest dlugi czas ich trwania oraz mala ich reprezentatywnosc ze wzgledu na mala licznosc próbki.Urzadzenie do badan posiada skomplikowany uklad obrotowy, a badanie jest pracochlonne i energochlonne. • Sposób wedlug wynalazku umozliwia okreslenie wskazników niezawodnosci bloków funkcjonalnych aparatów telefonicznych w warunkach zasilania symulujacych warunki rzeczywiste i w znacznie skróconym czasie. Specyfike zasilania telefonicznego symuluje sie przy pomocy napiec zasilajacych o odpowiednich2 99 282 ksztaltach. Skrócenie czasu badan uzyskuje sie przez stosowanie przyspieszonych metod badan polegajacych na tym, ze wartosci mocy elektrycznej obciazajacej bloki funkcjonalne sa znacznie wyzsze i czestotliwosc przelaczania napiecia zasilajacego jest wyzsza od wartosci aplikacyjnych. Moc okreslona jest przez iloczyn pradu wplywajacego i napiecia panujacego na bloku. Bloki funkcjonalne obciazone wysokim poziomem mocy ulegaja szybszym uszkodzeniom, które wykrywane sa za pomoca pomiaru parametrów statycznych oraz sa kontrolowane przez pomiar parametrów dynamicznych. Czasy uszkodzen poszczególnych bloków rejestruje sie, a nastepnie oblicza sie z nich wskazniki niezawodnosci wykorzystujac pewne rozklady prawdopodobienstw. Wskazniki niezawodnosci okreslone na róznych wysokich poziomach obciazen ekstrapoluje sie od wysokich do niskich poziomów obciazen na odpowiedniej siatce funkcyjnej i odczytuje sie wartosci wskazników niezawodnosci dla aplikacyjnych obciazen.W poszczególnych badanych blokach' elementy wzorcowe sluzace do pomiarów pradów, korzystnie rezystywne, sa polaczone szeregowo z elementami o duzej impedancji okreslajacymi wartosci obciazen mocowych, korzystnie indukcyjnymi. Na zaciski elementów wzorcowych przylaczony jest woltomierz do pomiarów pradów za pomoca przelacznika. Woltomierz i oscyloskop do pomiaru napiecia wyjsciowego przylaczane sa do wyjsc poszczególnych bloków za pomoca dwóch innych przelaczników.Zaleta przedstawionego sposobu okreslania wskazników niezawodnosci jest co najmniej dziesieciokrotne skrócenie czasu badan, które odbywaja sie w warunkach symulujacych rzeczywiste warunki zasilania. Ze wzgledu na oszczednosc czasowa koszt badan jest znacznie nizszy od kosztów badan tradycyjnych. < « Sposób pozwala na okreslenie wskazników niezawodnosci na wysokim poziomie obciazen mocowych, co jest korzystne przy porównywaniu niezawodnosci tych samych bloków funkcjonalnych. Obliczenie wskazników niezawodnosci na niskim poziomie obciazen mocowych pozwala na porównywanie niezawodnosci róznych bloków funkcjonalnych. Ocena jakosci bloków funkcjonalnych jest bardzo szybka, co prowadzi do wyeliminowania uszkodzonych bloków przed ich zastosowaniem i zwiekszenia niezawodnosci sieci telefonicznych. » Zaleta urzadzenia jest mozliwosc badania dosyc licznej próbki bloków, poniewaz nie istnieja tu ograniczenia mechaniczne zwiazane zobraesniem, np. mikrofonów. Mozliwosc zasilania bloków napieciem o róznej wartosci i czestotliwosci zapewnia wlasciwe sprawdzanie ich jakosci i wykrywanie wad ukrytych. Pomiar parametrów bloków w czasie badania pozwala na okreslanie czasów ich uszkodzen.Wynalazek objasniony jest na przykladzie okreslenia intensywnosci uszkodzen mikrofonu przy pomocy urzadzenia, uwidocznionego w przykladzie wykonania, na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia jego schemat ideowy, fig. 2 «— funkcje uszkodzen trzech próbek losowych okreslone przy róznych poziomach obciazen, a fig. 3 *- sposób ekstrapolacji wartosci intensywnosci uszkodzen od wysokich do niskich poziomów obciazen mocowych. Fig. 2 "przedstawia funkcje uszkodzen dla trzech próbek o licznosci n-sztuk, które zostaly poddane badaniu na wysokim poziomie obciazenia (Tl otrzymano funkcje uszkodzen opisana rozkladem Weibulla o dystrybuancie: ' t6 F(t) = l-exp(--) Intensywnosc uszkodzen wyznaczamy z parametrów 6 i 6 tego rozkladu dla obranego czasu t: 6 c A= —1«- 0 dla trzech próbek. Wyznaczone wartosci intensywnosci uszkodzen As dla trzech róznych obciazen mocowych sluza do wyznaczenia aplikacyjnej intensywnosci uszkodzen Aa za posrednictwem ekstrapolacji (fig. 3) od wyso¬ kich do niskich poziomów obciazen, okreslonych temperatura wewnetrzna bloków T proporcjonalna do mocy elektrycznej na plaszczyznie: lgA = f(~) T Wyznaczona aplikacyjna intensywnosc uszkodzen jest wskaznikiem niezawodnosci pozwalajacym na porównywanie jej z innymi blokami funkcjonalnymi.Rozwiazanie uszkodzenia (fig. 3) zostanie przedstawione przykladowo dla mikrofonu, który sklada sie99 282 3 z ukladu scalonego wzmacniacza, wkladki,dynamicznej R3 dolaczonej do zacisków 2-4, oraz kondensatorów Cl iC2 dolaczonych odpowiednio do zacisków 3—7 ii—4 wzmacniacza. Do zacisków wyjsciowych 9-11 kazdego mikrofonu doprowadzone jest napiecie z generatora G przez elementy szeregowe Rl, korzystnie rezystory i R2, korzystnie dlawiki. Szeregowe elementy rezystywne Rl sa elementami wzorcowymi i sluza do pomiaru pradu plynacego przez poszczególne mikrofony za posrednictwem pomiaru spadku napiecia na tych elementach. Szeregowe elementy R2 maja takie wartosci w stosunku do rezystancji wyjsciowej ukladów scalonych, ze okreslaja, przy danej wartosci napiecia zasilajacego, wartosci pradu Iqq przeplywajacego przez zaciski wyjsciowe 9—11 mikrofonu. Zaciski rezystorów Ri 1 ...R^l polaczone sa z polem przelacznika PI, dzieki czemu umozliwiony jest pomiar wartosci pradu wyjsciowego ukladów od 1 do n, za pomoca dolaczenia woltomierza VI. Podobnie zaciski 9—11 ukladów scalonych polaczone sa odpowiednio z polami przelaczników P2a iP2b, dzieki czemu umozliwiona jest obserwacja ksztaltu i pomiar wartosci napiecia na zaciskach wyjsciowych kazdego z ukladów za pomoca oscyloskopu O i woltomierza V2. Dzieki dokonaniu pomiarów parametrów statycznych mozna bezposrednio podczas badania niezawodnosci stwierdzic ewentualne uszkodzenie elementu i dokladny czas jego wystapienia. • PLThe present invention relates to a method and device for determining reliability indicators of functional blocks of telephones. - The functional blocks of the telephone set, which are part of the talking circuit, operate in the following way: when the telephone set of the central battery handset is placed, the supply voltage is constantly zero, and when it is raised, the supply voltage is greater than zero. Reliability indicators for such functional blocks can be obtained from multiple switching on and off of the supply voltage. The talking circuit consists of the following functional blocks: microphone, handset with anti-crash elements, anti-local circuit with line balance. The most frequently defined reliability indicator is the failure intensity. The state of the art in relation to the testing of reliability indicators of functional blocks of a telephone telephone circuit will be presented on the example of a microphone test. Existing industry standards apply to a carbon microphone. Reliability is measured by the number of voltage switches the microphone can withstand without being damaged. The test consists in applying constant-voltage inputs with a duration of 60-90 seconds, of any polarity, with simultaneous spatial rotation in 3 planes on the microphone. The test time is several thousand hours. The device for reliability testing using a voltage supply and voltmeters has a mechanism to set the tested blocks in rotation. The measurement sample is limited to a few microphones. The inconvenience of these tests is their long duration and their low representativeness due to the small sample size. The test device has a complicated rotating system, and the test is labor-intensive and energy-consuming. The method according to the invention makes it possible to determine the reliability indicators of the functional blocks of telephone sets under power conditions simulating real conditions and in a significantly reduced time. The specificity of the telephone power supply is simulated using power supply voltages of the appropriate shapes. The shortening of the test time is achieved by using accelerated test methods in which the values of the electrical power loading the functional blocks are much higher and the frequency of switching the supply voltage is higher than the application values. The power is defined by the product of the incoming current and the voltage on the block. Functional blocks loaded with a high level of power fail faster, which are detected by measuring static parameters and controlled by measuring dynamic parameters. The failure times of individual blocks are recorded and then the reliability indicators are calculated from them using certain probability distributions. The reliability indicators determined at various high load levels are extrapolated from high to low load levels on the appropriate functional grid and the values of the reliability indicators for the application loads are read. In individual tested blocks, the standard elements used for current measurements, preferably resistive, are connected in series with the elements with high impedance determining the values of power loads, preferably inductive loads. A voltmeter for measuring currents with a switch is connected to the terminals of the reference elements. The voltmeter and oscilloscope for measuring the output voltage are connected to the outputs of individual blocks by means of two other switches. The advantage of the presented method of determining reliability indicators is at least tenfold shortening of the test time, which takes place in conditions simulating real power supply conditions. Due to the time saving, the cost of research is much lower than that of traditional research. <«The method allows to determine reliability indicators at a high level of power loads, which is advantageous when comparing the reliability of the same functional blocks. Calculation of the reliability indices at a low level of power loads allows for the comparison of the reliability of different functional blocks. The evaluation of the quality of the functional blocks is very quick, which leads to the elimination of bad blocks before their application and the increased reliability of telephone networks. »The advantage of the device is the ability to test a fairly large sample of blocks, because there are no mechanical limitations related to illumination, eg of microphones. The possibility of supplying the blocks with voltages of different values and frequencies ensures their proper quality checking and detection of hidden defects. Measurement of the parameters of the blocks during the test allows for the determination of their failure times. The invention is explained on the basis of the example of determining the intensity of microphone damage using the device shown in the example, in the drawing, where Fig. 1 shows its schematic diagram, Fig. 2 - functions damage of three random samples determined at different levels of loads, and Fig. 3 * - the method of extrapolating the value of failure intensity from high to low levels of power loads. Fig. 2 "shows the failure functions for three n-specimens that were tested at a high level of load (Tl, the failure function was obtained as described by the Weibull distribution with the distribution: 't6 F (t) = l-exp (-). We determine the failure rates from parameters 6 and 6 of this distribution for the selected time t: 6 c A = -1 «- 0 for three samples The determined values of the failure intensity As for three different power loads are used to determine the application failure intensity Aa by extrapolation (Fig. 3) from high to low levels of loads, determined by the internal temperature of T blocks proportional to the electric power on the plane: lgA = f (~) T The determined application failure intensity is an indicator of reliability that allows it to be compared with other functional blocks. 3) will be presented, for example, for a microphone that consists of 99 282 3 with an integrated circuit of an amplifier, cartridge, dynamic R 3 connected to terminals 2-4, and capacitors C1 andC2 connected to terminals 3–7 and and– 4 of the amplifier, respectively. The voltage from the generator G is applied to the output terminals 9-11 of each microphone through series elements R1, preferably resistors and R2, preferably chokes. The series resistive elements Rl are standard elements and are used to measure the current flowing through the individual microphones by measuring the voltage drop across these elements. The series elements R2 have such values in relation to the output resistance of the integrated circuits that they determine, for a given value of the supply voltage, the values of the current Iqq flowing through the output terminals 9-11 of the microphone. The terminals of the resistors Ri 1 ... R ^ l are connected to the PI switch field, thanks to which it is possible to measure the value of the output current of the systems from 1 to n by connecting a voltmeter VI. Similarly, the terminals 9-11 of the integrated circuits are connected respectively with the fields of switches P2a and iP2b, thanks to which it is possible to observe the shape and to measure the voltage value at the output terminals of each of the circuits using an oscilloscope O and a voltmeter V2. Thanks to the measurement of static parameters, it is possible to directly determine the possible damage to the element and the exact time of its occurrence during the reliability test. • PL