PL97729B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL97729B2
PL97729B2 PL187434A PL18743476A PL97729B2 PL 97729 B2 PL97729 B2 PL 97729B2 PL 187434 A PL187434 A PL 187434A PL 18743476 A PL18743476 A PL 18743476A PL 97729 B2 PL97729 B2 PL 97729B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
spectrum
test object
hologram
photochemical
intensity distribution
Prior art date
Application number
PL187434A
Other languages
English (en)
Other versions
PL97729B1 (pl
Inventor
Halina Smolinska Barbara
Domanski Andrzej
Jannson Tomasz
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL18743476A priority Critical patent/PL97729B1/pl
Priority claimed from PL18743476A external-priority patent/PL97729B1/pl
Publication of PL97729B1 publication Critical patent/PL97729B1/pl
Publication of PL97729B2 publication Critical patent/PL97729B2/pl

Links

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotoche¬ micznych szczególnie dla badania przydatnosci materialów fotochemicznych przeznaczonych do celów mikrofo¬ tografii, mlkrospektrofotometrii oraz holografii.
Zdolnosc przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych dotyczy przenoszenia pola swietlnego zmodulowanego przestrzennie. Dotyczy ono odpowiedniego porównania pola swietlnego przeznaczonego do rejestracji na badanym materiale fotochemicznym z polem swietlnym odtworzonym z badanego materialu foto¬ chemicznego.
Powszechnie znane materialy fotochemiczne nie sa wstanie zarejestrowac dowolnie wysokich czestotli¬ wosci przestrzennych i dlatego w procesie odtwarzania pole swietlne odtwarzane z materialu fotochemicznego ma zawsze inna modulacje przestrzenna niz pole swietlne padajace na material fotochemiczny.
Dotychczas znane sposoby wyznaczania i polecane przez katalogi firmy Gevaert zdolnosci przenoszenia modulacji przestrzennych w materialach fotochemicznych polegaja na pomiarze wydajnosci dyfrakcyjnej szeregu interferogramów zapisanych przy kolejno wzrastajacym kacie miedzy falami interferujacymi.
Inny znany sposób podany przez A.Vander Lugta i R.H.Mitchela (Journal of the Optical of America 57, 1967 str. 372) opiera sie na pomiarze rozkladu natezenia fali odtworzonej z hologramu zródla punktowego.
Wedlug wynalazku sposób wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych polega na otrzymaniu w jednej ekspozycji hologramu periodycznego obiektu testowego, a nastepnie porównaniu -ozkladu natezenia widma Fouriera odtwarzania z tego hologramu z rozkladem natezenia widma samego perio¬ dycznego obiektu testowego. Stosowany periodyczny obiekt testowy ma widmo Fouriera dyskretne, a kazdy punkt tego widma odpowiada jednej wartosci czestotliwosci przestrzennej.
Otrzymany w sposobie wedlug wynalazku stosunek natezen punktów widma odtwarzanego z hologramu i odpowiednich punktów widma obiektu testowego daje dyskretny zbiór wartosci poszukiwanej zdolnosci przeno¬ szenia modulacji.*> 97 729 Porównanie natezen poszczególnych punktów widma Fouriera otrzymanego z odtworzenia hologramu z na¬ tezeniami poszczególnych punktów widma obiektu testowego daje informacje o tym, które czestotliwosci prze¬ strzenne zostaly zapisane na badanym materiale fotochemicznym z zachowaniem pelnej wiernosci czyli daly wierne przeniesienie modulacji, a które zostaly zapisane ze zmniejszonym lub zerowym kontrastem czyli daly malejace lub zeiowe przeniesienie modulacji.
Dla wyznaczenia zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych sposobem wedlug wynalazku najpierw wykonuje sie hologram periodycznego obiektu testowego na badanym materiale fotoche¬ micznym. Hologram taki wykonuje sie w typowym zestawie. Nastepnie porównuje sie rozklad natezenia widma Fouriera odtwarzania z hologramu z rozkladem natezenia widma periodycznego obiektu testowego. Porównania tego dokonuje sie albo przez bezposredni pomiar odpowiednich natezen fotopowielaczem lub czula dioda typu pin albo przez mikrodensytometryczne badanie zaczernienia detektora fotochemicznego o znanej charakterysty¬ ce. Widmo Fouriera obiektu testowego otrzymuje sie w typowym ukladzie optycznym.
Sposób wedlug wynalazku moze byc stosowany dla najwyzszych czestotliwosci przestrzennych osiagal¬ nych przy danej dlugosci fali.

Claims (2)

Z a s t rzezenia patentowe
1. Sposób wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji materialów fotochemicznych, znamien¬ ny t y m, ze otrzymuje sie w jednej ekspozycji hologram periodycznego obiektu testowego, po czym porównuje sie rozklad natezenia widma Fouriera odtworzenia z tego hologramu z rozkladem natezenia widma samego periodycznego obiektu testowego.
2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze stosuje sie obiekt testowy w postaci czarnobialego, dwuwymiarowego wzoru periodycznego, którego widmo Fouriera jest dyskretne, a kazdy punkt tego widma odpowiada jednej wartosci czestotliwosci przestrzennej. Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120418 Cena 45 zl
PL18743476A 1976-02-24 1976-02-24 Sposob wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych PL97729B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18743476A PL97729B1 (pl) 1976-02-24 1976-02-24 Sposob wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18743476A PL97729B1 (pl) 1976-02-24 1976-02-24 Sposob wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL97729B1 PL97729B1 (pl) 1978-03-30
PL97729B2 true PL97729B2 (pl) 1978-03-31

Family

ID=19975730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18743476A PL97729B1 (pl) 1976-02-24 1976-02-24 Sposob wyznaczania zdolnosci przenoszenia modulacji w materialach fotochemicznych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL97729B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Clark et al. A study of Brownian motion using light scattering
US3829219A (en) Shearing interferometer
JP3103761B2 (ja) 光励起を用いた半導体材料の応答分析の方法及び装置
Bräuchle et al. Holographic methods for the investigation of photochemical and photophysical properties of molecules
JPH0141929B2 (pl)
GB1439435A (en) Method of determining the modulation transfer function
CA1037306A (en) Frequency plane filters for an optical processor for synthetic aperture radar
PL97729B2 (pl)
Nishida et al. Improvement of nonuniformity of the reconstructed beam intensity from a multiple-exposure hologram
Slinger et al. Non linear recording in silver halide planar volume holograms
US3941482A (en) Method of testing alkali halide crystals with anisotropic centers
US3970358A (en) Coherent, quasi-monochromatic light source
US7649660B2 (en) High throughput holographic spectrometer using the multiplexed hologram
Zajtsev et al. Sidelobe suppression of spectral response in holographic optical filter
Ingalls Optical simulation of microwave antennas
Bányász et al. Nonlinear recording of amplitude holograms in agfa 8E75HD: comparison of two developers
Glagolevskii et al. The first measurements of stellar magnetic fields with the 6-meter telescope
Westergaard et al. PIV: comparison of three autocorrelation techniques
Bistricic et al. Experimental determination of the parameters affecting the Vander Lugt filtering procedure for non-destructive testing application
SU1670379A1 (ru) Способ контрол неоднородности прозрачных объектов
GB1433067A (en) Apparatus for evaluating holographically reconstructed wave fields with two frequencies
Chen The beam ratio in volume holography
Moharam et al. Novel technique for the characterization of photorefractive materials
RU1824594C (ru) Устройство оптического спектрального анализа двумерных сигналов
SU320731A1 (ru) Интерференционный способ определения спектрального состава излучения