PL94090B1 - - Google Patents

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób okreslania zawartosci metali w rudach oraz w procesach ich wzbogacania.¦ -f Znany sposób okreslania zawartosci metali w rudach opisany przez C.L.' lievisa, H.A.' Nall a, J.W.' Anderson'a W.N.. Timm'a (CJa) Bulletin, April, 1968, 513-516, polega na dzialaniu na badana próbke rudy promieniowaniem X pochodzacym z lampy rentgenowskiej duzej mocy. rzedu kilku KW i nastepnym pomiarze wzbudzonego promieniowania fluorescencyjnego charakterystycznego dla danych pierwiastków. Ostateczny wynik otrzymuje siejorzez porównanie uzyskanych rezultatów z wzorcami. ' Wade opisanego sposobu stanowi zmiana emisji lampy rentgenowskiej w czasie, co powoduje koniecznosc czestej kalibracji, a duzy pobór mocy wymaga chlodzenia lampy. Zlozona konstrukcja aparatury podraza sposób analizy i stwarza koniecznosc zatrudnienia wysokokwalifikowanych pracowników. < Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze na próbke badanej rudy kieruje sie wiazke prom.en.owan.aX lub gamma o energii od 4 do 150 KeV emitowanego przez izotopy promieniotwórcze o aktywnosci od 0,1 do 500 mCi i okresie polowicznego rozpadu nie wiekszym niz 500 lat, wzglednie promieniowame X lampy rentgenowskiej o mocy od 1 do 10 W. Wzbudzone promieniowanie mierzy sie za pomoca spektrometru pólprzewodnikowego, korzystnie krzemowego lub germanowego. < Zaleta sposobu wedlug wynalazku Jest stala lub dajaca sie przewidz.ec em.s,a prom.en.owan.a X lub gamma ze zródla izotopu promieniotwórczego. Umozliwiona zostala równoczesnie anahza k,lku p.erw.astków i sledzenie toku analizy, na przyklad wizualnie. Wyeliminowanie generatora wysokiego nap.ec«, . lampy e^tg owskTe duS micy. ja^równiez niewielkie gabaryty stosowanego urzadzenia upraszcza*.sposób anahzy.Przyklad). Oznaczanie procentowej zawartosci miedzi, olow.u . zelaza w rudz.e m.edz.. • g slszkow nej rudy umieszcza sie w naczyniu z dnem z cienkiej folii plast.kowej. Naczyn.e z próbka umieszcza sTe na glowicy pomiarowej spektrometru a nastepnie na próbke kieruje sie wiazke prom.en.owan.a X oTedn energ i 6.23 KeV pochodzacego ze zródla »«Pu o aktywnosci 100 mCU Prom.en.owan,e wzbudzone2 94 090 mierzy sie za pomoca detektora pólprzewodnikowego Si/Li. Z«uzyskanego widma zarejestrowanego przy pomocy wielokanalowego analizatora oblicza sie intensywnosc f luorescencji miedzi, olowiu i zelaza. W celu okreslenia procentowej zawartosci oznaczanych pierwiastków porównuje sie intensywnosc fluorescencji z krzywymi kalibracyjnymi sporzadzonymi dla wzorców. • Przyklad II. Oznaczanie procentowej zawartosci miedzi, olowiu i zelaza w nadawie flotacyjnej.Badany material przepompowuje sie w obiegu zamknietym. Przewód, przez który przechodzi nadawa zawiera okienko z folii plastikowej, poprzez które wzbudza sie promieniowanie fluorescencyjne w badanej próbce za pomoca promieniowania X o sredniej energii 17,00 KeV pochodzacego ze zródla 244Cm o aktywnosci. 50 mCi. Dalszy tok postepowania jest analogiczny jak w przykladzie I. < Przyklad III. Oznaczanie miedzi, zelaza i olowiu w odpadach poflotacyjnych.Odpady poflotacyjne przepompowuje sie w obiegu zamknietym. Przewód, przez który przechodzi badany material zaopatrzony jest w okienko z folii plastikowej, poprzez które wzbudza sie promieniowanie fluorescencyjne w badanym materiale za pomoca promieniowania X lampy rentgenowskiej o mocy 2 W. Dalszy tok postepowania jak w przykladzie I i II. < Przyklad IV.Oznaczanie procentowej zawartosci miedzi, olowiu i zelaza w rudzie miedzi.Na 15 g sproszkowanej rudy kieruje sie wiazke promieniowania X o sredniej energii 33,4 KeV pochodzacego ze zródla24* Am o aktywnosci 500 mCi, a nastepnie postepuje sie analogicznie jak w poprzednio podanych przykladach. < PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób okreslania zawartosci metali w rudach oraz w procesach ich wzbogacania, w którym na rude w stanie sproszkowanym lub w postaci zawiesiny w wodzie kieruje sie wiazke promieniowania X a nastepnie mierzy sie wzbudzone promieniowanie fluorescencyjne charakterystyczne dla oznaczanych pierwiastków i porównuje sie uzyskane wyniki z wzorcami, znamienny tym, ze stosuje sie promieniowanie X lub gamma o energii od 4 do 150 KeV emitowane przez izotopy promieniotwórcze o aktywnosci od 0,1 do 500 mCi i okresie polowicznego rozpadu nie wiekszym niz 500 lat, wzglednie promieniowanie X lampy rentgenowskiej o mocy od 1 do 10 W a wzbudzone promieniowanie mierzy sie za pomoca spektrometru pólprzewodnikowego, korzystnie krzemowego lub germanowego. < Prac. Poligraf. UP PRL naklad 120+1B Cena 45 zl PL