PL88368B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL88368B1 PL88368B1 PL17286474A PL17286474A PL88368B1 PL 88368 B1 PL88368 B1 PL 88368B1 PL 17286474 A PL17286474 A PL 17286474A PL 17286474 A PL17286474 A PL 17286474A PL 88368 B1 PL88368 B1 PL 88368B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- neutron
- curvature
- spectrometer
- radius
- way
- Prior art date
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 8
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 4
- 241000446313 Lamella Species 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do zwiekszania swietinosci spektrometru neutronowego przy równoczesnym zachowaniu jego zdolnosci rozdzielczej, co ma szczególne znaczenie przy prowadzeniu badan w dziedzinie fizyki fazy skondensowanej z zastosowaniem neutronów termicznych, gdzie zachodzi koniecznosc maksymalnego wykorzystania wiazek neutronowych z reaktorów jadrowych.Znane jest urzadzenie do zwiekszania swietinosci typowego spektrometru neutronowego polegajace na zastosowaniu zakrzywionych cylindrycznie monochromatorów z grafitu pyrolitycznego ustawianych tak, ze os cylindra znajduje sie w plaszczyznie eksperymentu i umieszczonych badz w polozeniu monochromatora badz w polozeniu analizatora. Ze wzgledu na staly dla danego monochromatora grafitu promien krzywizny nadaje sie on do stosowania tylko w waskim zakresie parametrów eksperymentalnych. Pokrycie wystepujacego zwykle zakresu pomiarowego wymaga posiadania kompletu okolo 4*5 monochromatorów o róznych promieniach krzywizny, co przy wysokim koszcie jednostkowym jest rozwiazaniem bardzo kosztownym. Zastosowanie imnochromatorów grafitowych zakrzywionych cylindrycznie jest ograniczone w przypadku monochromatora spektrometru do energii neutronów wynoszac^najwyzaj 50 meV zas w ^rzypadk^anaiizatora do okolo 15 meV zaleznie od wymogów konkretne Urzadzenie wedlug wynalazku ma monokrysztaly o duzej zdolnosci odbijania neutronów, wykonane w ksztalcie waskich pasków o szerokosci 5 do 12 mm, ulozone w stosunku do siebie w taki sposób, by ich powierzchnie odbijajace tworzyly powierzchnie lamana, zblizona do wycinka powierzchni cylindrycznej o dowolnym promieniu krzywizny, przy czym poszczególne plytki monokrysztalów zwiazane sa z korpusem urzadzenia w sposób znany, umozliwiajacy zmiane promienia krzywizny.Urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia zatamowanie dowolnego materialu monokrystalicznego, uwlasz¬ cza monokrysztalów metali, dzieki ciemu uzytkuja sie znacznie wydajniejsze monochromatory w zakresie, w którym nie mozna stosowac grafitu pyrolitycznogo ze wzgledu na jego charakterystyki strukturalne.Zwiekszenie swietinosci spektrometru w wyniku zastosowania proponowanych urzadzen jest równowazne zwiekszeniu strumienia w reaktorze co jest przedsiewzieciem technicznie bardzo trudnym i kosztownym.2 88368 Zwiekszenie wydajnosci monochromatora I analizatora spektrometru trójbsiowego o 30% oznacza zwiekszenie swietlnosci spektrometru o wspólczynnik 1.84. Aby uzyskac taki wzrost przy uzyciu normalnych monochroma- torów nalezaloby zwiekszyc moc reaktora np. z 10 MW na 18.4 MW.' Mozliwosc uzyskania dowolnego promienia krzywizny powierzchni odbijajacej w urzadzeniu wedlug wynalazku pozwala na indywidualno dopasowanie jej do konkretnego ukladu geometrycznego kanalu ekspery¬ mentalnego reaktora jadrowego i spektrometru, a ponadto stwarza korzystne warunki do badania bardzo malych próbek.• Wynalazek zostanie blizej objasniony w przykladzie wykonania uwidocznionym na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat urzadzenia w widoku z boku, a fig. 2 - zespól monokrysztalów w widoku od przodu.Monokrysztaly 1 wykonane w ksztalcie waskich pasków o szerokosci 4 do 12 mm ulozone sa obok siebie na elastycznym podlozu, w taki sposób by ich powierzchnie odbijajace tworzyly powierzchnie lamana zblizona do wycinka powierzchni cylindrycznej. Monokrysztaly 1 umocowane sa w korpusie 2, który wraz z zespolem regulacyjnym 3 sluzacym do regulacji promienia krzywizny R spoczywa na podstawie 4 przymocowanej do stolika goniometru 5 sluzacego do zmiany nachylenia zespolu -plytek monokrysztalów 1 w plaszczyznie pionowej przechodzacej przez os pomiarowa urzadzenia. Regulacja krzywizny powierzchni odbijajacej o promie¬ niu R odbywa sie za pomoca zespolu regulacyjnego 3, otrzymujacego naped z zespolu napedowego 6 poprzez element obrotowy 7. PL
Claims (2)
1. Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do zwiekszania swictlnosci spektrometru neutronowego, w którym wykorzystuje sie zjawisko sprezystego spójnego odbicia wiazek neutronowych od monokryszt? lów, znamienne tym, ze monokrysz¬ taly (1) p duzej zdolnosci odbijania neutronów wykonane sa w ksztalcie waskich pasków, ulozonych w stosunku do siebie w taki sposób, by ich powierzchnie odbijajace tworzyly powierzchnie lamana, zblizona do wycinka powierzchni cylindrycznej, przy czym poszczególne plytki monokrysztalów (1) polaczone sa z korpusem (2 urzadzenia w sposób umozliwiajacy zmiane promienia krzywizny (R). L L L Fig.
2. Prac. Poligraf. UP PRL Nhklad 120 + 18 egz. PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL17286474A PL88368B1 (pl) | 1974-07-18 | 1974-07-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL17286474A PL88368B1 (pl) | 1974-07-18 | 1974-07-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL88368B1 true PL88368B1 (pl) | 1976-08-31 |
Family
ID=19968304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL17286474A PL88368B1 (pl) | 1974-07-18 | 1974-07-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL88368B1 (pl) |
-
1974
- 1974-07-18 PL PL17286474A patent/PL88368B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Sparks Jr et al. | Sagittal focusing of synchrotron x-radiation with curved crystals | |
| Bonse et al. | Moiré patterns of atomic planes obtained by X-ray interferometry | |
| Kelly et al. | The characterization of dislocation loops in neutron irradiated zirconium | |
| Runow | Study of the α to β Transformation in Boron | |
| Hart et al. | The influence of X-ray polarization on the visibility of pendellösung fringes in X-ray diffraction topographs | |
| Lang et al. | X-ray topographic studies of dislocations in iron-silicon alloy single crystals | |
| Schober | Observation of misfit dislocation arrays in high angle (110) twist grain boundaries in gold | |
| Bastie et al. | γ-ray-diffraction study of an incommensurate phase: Application to quartz | |
| PL88368B1 (pl) | ||
| Camattari et al. | Highly reproducible quasi-mosaic crystals as optical components for a Laue lens | |
| Armitage et al. | Effect of activation by calcium on the X-ray diffraction pattern from insect flight muscle | |
| Das et al. | Design, fabrication and testing of elliptical crystal bender for the EXAFS beam-line at INDUS-II synchrotron source | |
| Moore | Synchrotron x-ray topography | |
| Steinberger et al. | Microscopic structure studies of ZnS crystals using synchrotron radiation | |
| Berman et al. | Performance of water jet cooled silicon monochromators on a multipole wiggler beam line at NSLS | |
| Knapp et al. | High resolution monochromator systems using thermal gradient induced variable Bragg spacing | |
| Schildkamp | Design of a tunable and focusing single crystal monochromator for powerful X-ray sources | |
| Robert et al. | Topographic studies of growth defects using synchrotron radiation | |
| Freund et al. | Recent diamond single-crystal x-ray optics developments at the European Synchrotron Radiation Facility | |
| Bovet et al. | A point focusing graphite spectrometer for low energy X-rays | |
| Kuo et al. | Versatile double‐crystal topography camera | |
| White et al. | Crystallographic data for an N-benzyl-N-methylcamphidinium iodide | |
| Henrikson et al. | A two meter curved-crystal spectrometer with improved efficiency for use at LAMPF | |
| Shiozaki | X-ray extinction rules and radiation damage effect in Rochelle salt | |
| Stevenson et al. | Determination of inelastic critical scattering at a first order phase transition in the CDW structure of 1T TaS2 using Mössbauer diffraction |