PL87701B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL87701B1
PL87701B1 PL16177173A PL16177173A PL87701B1 PL 87701 B1 PL87701 B1 PL 87701B1 PL 16177173 A PL16177173 A PL 16177173A PL 16177173 A PL16177173 A PL 16177173A PL 87701 B1 PL87701 B1 PL 87701B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
plates
support plates
interferometer
adjusting screws
support
Prior art date
Application number
PL16177173A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL16177173A priority Critical patent/PL87701B1/pl
Publication of PL87701B1 publication Critical patent/PL87701B1/pl

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

Opis patentowy opublikowano: 15.04.1977 87701 MKP GOlb 9/02 Int CL2 G01B 9/02 IczTritNTr Twórcy wynajazku: Jacek Appelt, Marek Sadowski, Stanislaw Ugnie w&P'' ' Uprawniony z patentu: Instytut Badan Jadrowych, Swierk — Otwock (Polska) Konstrukcja nosna interferometru optycznego i Wynalazek dotyczy konstrukcji nosnej interfe¬ rometru optycznego, zwlaszcza interferometru dwu- wiazkowego, sluzacego do pomiaru dlugosci drogi optycznej lub jej zmian zwiazanych np. ze zmia¬ nami parametrów badanego osrodka. Dzialanie in¬ terferometru dwuwiazkowego polega na nalozeniu na siebie dwóch uprzednio rozdzielonych mono¬ chromatycznych wiazek swietlnych, pochodzacych z jednego zródla swiatla, przy czym dlugosc drogi optycznej wiazki odniesienia jest niezmienna, a dlugosc drogi optycznej wiazki pomiarowej zalezy od mierzonej odleglosci lub od zmian parametrów badanego osrodka.Znana jest konstrukcja nosna interferometru optycznego skladajaca sie z ciezkiej podstawy, do której mocowane sa prostopadle plytki wsporcze sluzace do mocowania regulowanych opraw zwier¬ ciadel. W ukladach wymagajacych uzycia wiekszej ilosci zwierciadel, konieczne jest zastosowanie kilku plytek wsporczych rozmieszczonych na podstawie zgodnie z przyjetym schematem optycznym inter¬ ferometru.Zasadnicza wada znanych konstrukcji nosnych interferometrów jest to, ze dostateczna sztywnosc i odpornosc na drgania i wstrzasy mozna zapew¬ nic tylko przez zastosowanie grubych i ciezkich elementów. W znanych i stosowanych dotychczas konstrukcjach interferometrów kompensacja dlu¬ gosci dróg optycznych jest skomplikowana ze wzgledu na koniecznosc zapewnienia ruchu trans- lacyjnego opraw zwierciadel.Konstrukcja nosna interferometru wedlug wyna¬ lazku zawiera dwie ustawione równolegle plyty nosne oraz odpowiednia ilosc plytek wsporczych.Obie plytki nosne maja wybrania umozliwiajace wprowadzenie i przemieszczanie osrodka badanego w kierunku prostopadlym do osi wiazki pomiaro¬ wej. Plyty nosne polaczone sa sztywno poprzez umieszczone pomiedzy nimi pod katem prostym plytki wsporcze. W kazdej plytce wsporczej osa¬ dzone sa trzy sruby regulacyjne sluzace do prze- . suwu i regulacji pochylenia oprawek zwierciadel opartych na koncach tych srub i utrzymywanych przy pomocy sprezyn. Celem zwiekszenia dokla¬ dnosci ustawienia zwierciadla co najmniej dwie sruby regulacyjne polaczone sa poprzez dzwignie z innymi srubami korzystnie mikrometrycznymi.Konstrukcja nosna wedlug wynalazku jest szty¬ wna, lekka i zwarta, a jednoczesnie dzieki wybra- niom w obu plytach nosnych umozliwia prowa¬ dzenie pomiarów na obiektach o duzych wymiarach liniowych. Zwiekszona sztywnosc konstrukcji nos¬ nej zapobiega przenoszeniu sie drgan wywolanych czynnikami zewnetrznymi i ogranicza niepozadane zmiany w rozstawieniu zwierciadel interferometru.Konstrukcja wedlug wynalazku pozwala na za¬ stosowanie dowolnego ukladu optycznego inter¬ ferometru, dzieki mozliwosci umieszczenia dowo¬ lnej ilosci plytek wsporczych ze zwierciadlami po- 87 70187 701 miedzy plytami nosnymi. Umieszczone w plytkach wsporczych sruby regulacyjne umozliwiaja dokla¬ dne ustalenie pochylenia zwierciadel oraz kompen¬ sacje dróg optycznych rozdzielonych wiazek.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia szkielet konstrukcji nosnej interfero¬ metru,' a fig. 2 uklad regulacji polozenia oprawki zwierciadla.Szkielet konstrukcji nosnej interferometru sklada sie z dwu równolegle ustawionych plyt nosnych 1 polaczonych sztywno pod katem prostym z plyt¬ kami wsporczymi 2. W plytach nosnych 1 wykona¬ ne sa wybrania 3 umozliwiajace wprowadzenie badanego obiektu.^ plytkach wsporczych 2 znaj¬ duja sie ;^%z£ ^ regulacyjne 4 nie lezace na jednej prostej, ni koncach których oparte sa oprawki zwierciadel^! utrzymywane przy pomocy sprezyn- e: Do dwóohlsrub regulacyjnych 4 przy¬ mocowane sa w sposób rozlaczny dzwignie 7, prze¬ noszace ruch ustawczy ze srub regulacyjnych 8 korzystnie mikrometrycznych, umieszczonych w plytach nosnych 1. Dzwignie 7 przyciagane sa do plyt nosnych 1 za pomoca sprezyn 9. PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Konstrukcja nosna interferometru optycznego, zwlaszcza interferometru dwuwiazkowego wykona¬ na w postaci podstawy, do której zamocowane sa plytki wsporcze zwierciadel, znamienna tym, ze podstawe stanowia dwie równolegle -plyty nosne (1) polaczone sztywno pod katem prostym z ply¬ tkami wsporczymi (2) znajdujacymi sie pomiedzy tymi plytami, przy czym obie plyty nosne (1) ma¬ ja wybrania (3) umozliwiajace dostep do wiazki pomiarowej.
  2. 2. Konstrukcja wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze w plytkach wsporczych (2) umieszczone sa trzy sruby regulacyjne (4), na koncach których oparte sa oprawki zwierciadel (5) utrzymywane przy po¬ mocy sprezyn (6).
  3. 3. Konstrukcja wedlug zastrz. 2, znamienna tym, ze co najmniej dwie sruby regulacyjne (4) pola¬ czone sa za posrednictwem dzwigni (7) ze sruba¬ mi regulacyjnymi (8) osadzonymi w plytach nos¬ nych (1). Fig-187 701 PL
PL16177173A 1973-04-07 1973-04-07 PL87701B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16177173A PL87701B1 (pl) 1973-04-07 1973-04-07

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16177173A PL87701B1 (pl) 1973-04-07 1973-04-07

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL87701B1 true PL87701B1 (pl) 1976-07-31

Family

ID=19962167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL16177173A PL87701B1 (pl) 1973-04-07 1973-04-07

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL87701B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Bearden Absolute wave-lengths of the copper and chromium K-series
BRPI0914479B1 (pt) Gradiômetro de gravidade com pivôs de flexão por torção
US3090279A (en) Interferometer using a diffraction grating
US4538911A (en) Three-dimensional interferometric length-measuring apparatus
US3926523A (en) Optical system for angle measurement by interferometry
JP3590068B2 (ja) 干渉計
PL87701B1 (pl)
Mohanty et al. Speckle-shear interferometry with double dove prisms
Basile et al. Silicon lattice constant: limits in IMGC X-ray/optical interferometry
Okaji et al. High-resolution multifold path interferometers for dilatometric measurements
Brooks et al. Field Mach-Zehnder Interferometer for Heat-Transfer Studies
Qian et al. Advantages of in-situ LTP distortion profile test on high heat load mirrors and applications
US3674371A (en) Temperature compensation of a laser interferometer
JPH0452402B2 (pl)
Debenham et al. Determining gravitationl deformation of an optical flat by liquid surface interferometry
US3043182A (en) Interferometer for testing large surfaces
Adams et al. Dual plate speckle photography
SU389303A1 (ru) Ножевая опора
RU2655949C1 (ru) Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре
US3034397A (en) Parallel testing interferometer
Marchant et al. Determination of the flexural stiffness of thin plates from small deflection measurements using optical holography
Hart et al. White beam'synchrotron X-ray interferometry
Ciddor et al. Design and Performance of the 1-Metre Line-Standard Interferometer at the National Standards Laboratory, Sydney
Rau et al. Double-ended interferometer for measuring gauge blocks without wringing
SU1744445A1 (ru) Устройство дл определени упругих посто нных малопластичных металлов и сплавов