PL87701B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL87701B1 PL87701B1 PL16177173A PL16177173A PL87701B1 PL 87701 B1 PL87701 B1 PL 87701B1 PL 16177173 A PL16177173 A PL 16177173A PL 16177173 A PL16177173 A PL 16177173A PL 87701 B1 PL87701 B1 PL 87701B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- plates
- support plates
- interferometer
- adjusting screws
- support
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Description
Opis patentowy opublikowano: 15.04.1977 87701 MKP GOlb 9/02 Int CL2 G01B 9/02 IczTritNTr Twórcy wynajazku: Jacek Appelt, Marek Sadowski, Stanislaw Ugnie w&P'' ' Uprawniony z patentu: Instytut Badan Jadrowych, Swierk — Otwock (Polska) Konstrukcja nosna interferometru optycznego i Wynalazek dotyczy konstrukcji nosnej interfe¬ rometru optycznego, zwlaszcza interferometru dwu- wiazkowego, sluzacego do pomiaru dlugosci drogi optycznej lub jej zmian zwiazanych np. ze zmia¬ nami parametrów badanego osrodka. Dzialanie in¬ terferometru dwuwiazkowego polega na nalozeniu na siebie dwóch uprzednio rozdzielonych mono¬ chromatycznych wiazek swietlnych, pochodzacych z jednego zródla swiatla, przy czym dlugosc drogi optycznej wiazki odniesienia jest niezmienna, a dlugosc drogi optycznej wiazki pomiarowej zalezy od mierzonej odleglosci lub od zmian parametrów badanego osrodka.Znana jest konstrukcja nosna interferometru optycznego skladajaca sie z ciezkiej podstawy, do której mocowane sa prostopadle plytki wsporcze sluzace do mocowania regulowanych opraw zwier¬ ciadel. W ukladach wymagajacych uzycia wiekszej ilosci zwierciadel, konieczne jest zastosowanie kilku plytek wsporczych rozmieszczonych na podstawie zgodnie z przyjetym schematem optycznym inter¬ ferometru.Zasadnicza wada znanych konstrukcji nosnych interferometrów jest to, ze dostateczna sztywnosc i odpornosc na drgania i wstrzasy mozna zapew¬ nic tylko przez zastosowanie grubych i ciezkich elementów. W znanych i stosowanych dotychczas konstrukcjach interferometrów kompensacja dlu¬ gosci dróg optycznych jest skomplikowana ze wzgledu na koniecznosc zapewnienia ruchu trans- lacyjnego opraw zwierciadel.Konstrukcja nosna interferometru wedlug wyna¬ lazku zawiera dwie ustawione równolegle plyty nosne oraz odpowiednia ilosc plytek wsporczych.Obie plytki nosne maja wybrania umozliwiajace wprowadzenie i przemieszczanie osrodka badanego w kierunku prostopadlym do osi wiazki pomiaro¬ wej. Plyty nosne polaczone sa sztywno poprzez umieszczone pomiedzy nimi pod katem prostym plytki wsporcze. W kazdej plytce wsporczej osa¬ dzone sa trzy sruby regulacyjne sluzace do prze- . suwu i regulacji pochylenia oprawek zwierciadel opartych na koncach tych srub i utrzymywanych przy pomocy sprezyn. Celem zwiekszenia dokla¬ dnosci ustawienia zwierciadla co najmniej dwie sruby regulacyjne polaczone sa poprzez dzwignie z innymi srubami korzystnie mikrometrycznymi.Konstrukcja nosna wedlug wynalazku jest szty¬ wna, lekka i zwarta, a jednoczesnie dzieki wybra- niom w obu plytach nosnych umozliwia prowa¬ dzenie pomiarów na obiektach o duzych wymiarach liniowych. Zwiekszona sztywnosc konstrukcji nos¬ nej zapobiega przenoszeniu sie drgan wywolanych czynnikami zewnetrznymi i ogranicza niepozadane zmiany w rozstawieniu zwierciadel interferometru.Konstrukcja wedlug wynalazku pozwala na za¬ stosowanie dowolnego ukladu optycznego inter¬ ferometru, dzieki mozliwosci umieszczenia dowo¬ lnej ilosci plytek wsporczych ze zwierciadlami po- 87 70187 701 miedzy plytami nosnymi. Umieszczone w plytkach wsporczych sruby regulacyjne umozliwiaja dokla¬ dne ustalenie pochylenia zwierciadel oraz kompen¬ sacje dróg optycznych rozdzielonych wiazek.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia szkielet konstrukcji nosnej interfero¬ metru,' a fig. 2 uklad regulacji polozenia oprawki zwierciadla.Szkielet konstrukcji nosnej interferometru sklada sie z dwu równolegle ustawionych plyt nosnych 1 polaczonych sztywno pod katem prostym z plyt¬ kami wsporczymi 2. W plytach nosnych 1 wykona¬ ne sa wybrania 3 umozliwiajace wprowadzenie badanego obiektu.^ plytkach wsporczych 2 znaj¬ duja sie ;^%z£ ^ regulacyjne 4 nie lezace na jednej prostej, ni koncach których oparte sa oprawki zwierciadel^! utrzymywane przy pomocy sprezyn- e: Do dwóohlsrub regulacyjnych 4 przy¬ mocowane sa w sposób rozlaczny dzwignie 7, prze¬ noszace ruch ustawczy ze srub regulacyjnych 8 korzystnie mikrometrycznych, umieszczonych w plytach nosnych 1. Dzwignie 7 przyciagane sa do plyt nosnych 1 za pomoca sprezyn 9. PL
Claims (3)
- Zastrzezenia patentowe 1. Konstrukcja nosna interferometru optycznego, zwlaszcza interferometru dwuwiazkowego wykona¬ na w postaci podstawy, do której zamocowane sa plytki wsporcze zwierciadel, znamienna tym, ze podstawe stanowia dwie równolegle -plyty nosne (1) polaczone sztywno pod katem prostym z ply¬ tkami wsporczymi (2) znajdujacymi sie pomiedzy tymi plytami, przy czym obie plyty nosne (1) ma¬ ja wybrania (3) umozliwiajace dostep do wiazki pomiarowej.
- 2. Konstrukcja wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze w plytkach wsporczych (2) umieszczone sa trzy sruby regulacyjne (4), na koncach których oparte sa oprawki zwierciadel (5) utrzymywane przy po¬ mocy sprezyn (6).
- 3. Konstrukcja wedlug zastrz. 2, znamienna tym, ze co najmniej dwie sruby regulacyjne (4) pola¬ czone sa za posrednictwem dzwigni (7) ze sruba¬ mi regulacyjnymi (8) osadzonymi w plytach nos¬ nych (1). Fig-187 701 PL
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16177173A PL87701B1 (pl) | 1973-04-07 | 1973-04-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL16177173A PL87701B1 (pl) | 1973-04-07 | 1973-04-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL87701B1 true PL87701B1 (pl) | 1976-07-31 |
Family
ID=19962167
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL16177173A PL87701B1 (pl) | 1973-04-07 | 1973-04-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL87701B1 (pl) |
-
1973
- 1973-04-07 PL PL16177173A patent/PL87701B1/pl unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bearden | Absolute wave-lengths of the copper and chromium K-series | |
| BRPI0914479B1 (pt) | Gradiômetro de gravidade com pivôs de flexão por torção | |
| US3090279A (en) | Interferometer using a diffraction grating | |
| US4538911A (en) | Three-dimensional interferometric length-measuring apparatus | |
| US3926523A (en) | Optical system for angle measurement by interferometry | |
| JP3590068B2 (ja) | 干渉計 | |
| PL87701B1 (pl) | ||
| Mohanty et al. | Speckle-shear interferometry with double dove prisms | |
| Basile et al. | Silicon lattice constant: limits in IMGC X-ray/optical interferometry | |
| Okaji et al. | High-resolution multifold path interferometers for dilatometric measurements | |
| Brooks et al. | Field Mach-Zehnder Interferometer for Heat-Transfer Studies | |
| Qian et al. | Advantages of in-situ LTP distortion profile test on high heat load mirrors and applications | |
| US3674371A (en) | Temperature compensation of a laser interferometer | |
| JPH0452402B2 (pl) | ||
| Debenham et al. | Determining gravitationl deformation of an optical flat by liquid surface interferometry | |
| US3043182A (en) | Interferometer for testing large surfaces | |
| Adams et al. | Dual plate speckle photography | |
| SU389303A1 (ru) | Ножевая опора | |
| RU2655949C1 (ru) | Устройство для определения упругих постоянных малопластичных металлов и сплавов при повышенной температуре | |
| US3034397A (en) | Parallel testing interferometer | |
| Marchant et al. | Determination of the flexural stiffness of thin plates from small deflection measurements using optical holography | |
| Hart et al. | White beam'synchrotron X-ray interferometry | |
| Ciddor et al. | Design and Performance of the 1-Metre Line-Standard Interferometer at the National Standards Laboratory, Sydney | |
| Rau et al. | Double-ended interferometer for measuring gauge blocks without wringing | |
| SU1744445A1 (ru) | Устройство дл определени упругих посто нных малопластичных металлов и сплавов |