PL83720B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL83720B1
PL83720B1 PL16596973A PL16596973A PL83720B1 PL 83720 B1 PL83720 B1 PL 83720B1 PL 16596973 A PL16596973 A PL 16596973A PL 16596973 A PL16596973 A PL 16596973A PL 83720 B1 PL83720 B1 PL 83720B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
signal
probe
amplifier
meters
correction
Prior art date
Application number
PL16596973A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL16596973A priority Critical patent/PL83720B1/pl
Publication of PL83720B1 publication Critical patent/PL83720B1/pl

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad korekcji systematycznych okresowych uchybów izotopowych mierników zwlaszcza grubosciomierzy wyposazonych w scyntylacyjne sondy pomiarowe.Znane sa izotopowe mierniki zwlaszcza grubosciomierze w których do detekcji promieni jonizujacych uzywa sie sond scyntylacyjnych pracujacych w systemie sredniego pradu. Z reguly sondy .wyposazone sa w scyntylatory zawierajace jodek sodu aktywowany talem Na J —Tl, charakteryzujace sie duza wydajnoscia pradowa i umozliwiajace uzyskanie krótkich czasów pomiaru. < Wada tego typu sond sa systematyczne okresowe uchyby wystepujace przy szybkiej lub skokowej zmianie strumienia promieniowania jonizujacego padajacego na sonde w czasie pomiaru,, Uchyb: ten powoduje okresowa niestabilnosc mierników, co jest szczególnie uciazliwe przy pomiarach materialów majacych forme plyt, tasm lub innych przedmiotów wsuwanych kolejno w przestrzen pomiarowa. Powodem omawianego uchybu sa zjawiska fizyczne wystepujace w scyntylotorze polegajace na okresowym wyswiecaniu sie scyntylatorów po napromieniowaniu ich promieniowaniem jonizujacym. - Obserwacje mierników wskazuja, ze uchyb ten maleje w czasie, ma charakter zblizony dp wykladniczego, jest proporcjonalny do wielkosci skoku strumienia promieniowania i zalezny od czasu trwania poprzedniego stanu napromieniowania. Uchyb ten jest zwykle niesymetryczny to znaczy wiekszy przy maleniu strumienia, a mniejszy przy wzroscie strumienia promieniowania. Omawiany uchyb nie korygowany dotychczas zadna metoda powoduje nieuzytecznosc mierników z pradowymi sondami scyntylacyjnymi do pomiarów wymagajacych duzej dokladnosci. < Celem wynalazku jest wyeliminowanie systematycznego uchybu okresowego izotopowych mierników zwlaszcza grubosciomierzy, wywolanego wyswieceniem sie scyntylatorów w stosowanych sondach pomiarowych. < Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie ukladu korekcji systematycznych okresowych uchybów izotopowych mierników zwlaszcza grubosciomierzy wyposazonych w scyntylacyjne sondy pomiarowe pracujace w ukladzie pradowym i we wzmacniaczu sygnalu. < Uklad korekcji uchybu zawiera jeden lub kilka obwodów rózniczkujacych zlozonych z kondensatora i szeregowego opornika, wlaczonych w obwód dodatniego sprzezenia zwrotnego miedzy wejscie wzmacniacza sygnalu i punkt ukladu pomiarowego posiadajacy napiecie odpowiadajace rzeczywistym lub spodziewanym2 83 720 zmianom sygnalu sondy. Obwód'rózniczkujacy formuje sygnal korekcji dodawany do sygnalu sondy celem zrównowazenia uchybu powstalego w scynty!jtorze sondy. Obwód rózniczkujacy polaczony jest jednym koncem z wejsciem wzmacniacza sygnalu przez opornik sygnalowy, z punktem odniesienia ukladu pomiarowego przez opornik dzielacy i z dioda kierunkowa powodujaca asymetrie sygnalu korekcji. Drugi koniec obwodu rózniczkujacego polaczony jest w miernikach kompensacyjnych z wejsciem kompensacyjnym wzmacniacza sygnalu, w miernikach niekompensacyjnych z wyjsciem wzmacniacza sygnalu, wzglednie z innym punktem miernika posiadajacym napiecie odpowiadajace rzeczywistym lub spodziewanym zmianom sygnalu sondy.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku na którym fig. 1 przedstawia uproszczony schemat ukladu korekcji okresowego uchybu w mierniku pracujacym w ukladzie autokompensatora, a fig. 21— przyklad przebiegów czasowych sygnalów dla miernika przedstawionego na fig. 1.Na fig. 1«pokazano uklad asymetrycznej korekcji systematycznego uchybu okresowego w izotopowym mierniku wyposazonym w scyntylacyjna sonde pomiarowa 1, róznicowy wzmacniacz sygnalu 2 i autokompensator 3. Wyjscie sondy 1 polaczone jest z wejsciem sygnalowym 4 wzmacniacza 2. Wyjscie 5 wzmacniacza 2 polaczone jest z silnikiem 6 autokompensatora 3. SMnik 6 napedza potencjometr kompensacyjny 7 i wskaznik, 81 wyskalowany w jednostkach mierzonej wielkosci. Przelacznik 9 laczy w czasie pomiaru wejscie kompensacyjne 10 wzmacniacza 2 z suwakiem potencjometru 7, a w czasie cechowania miernika ze zródlem napiecia wzorcowego 11. Uklad korekcji wedlug wynalazku sklada sie z obwodu rózniczkujacego 12 zlozonego z kóndenaatpra* ii 3 i opornika szeregowego 14, opornika dzielacego 15 i diody kierunkowej 16. Obwód rózniczkujacy 12 polaczony jest jednym (concem z wejsciem kompensacyjnym 10, a drugim z wejsciem sygnalowym 4 przez opornik sygnalowy 17 oraz z opornikiem dzielacym 15 i dioda kierunkowa 16. Drugi koniec diody kierunkowej 16 laczy sie z dzielnikiem sygnalu kompensujacego 18 wlaczonym na wejscie kompensacyjne 10 wzmacniacza 2. ¦ Na fig. 2 wykres A przedstawia przykladowy przebieg zmian wielkosci mierzonej np. grubosci. Wykres B przedstawia sygnal otrzymywany z sondy *,' odpowiadajacy wskazaniom miernika bez ukladu korekcji uchybu wedlug wynalazku. Wykres C przedstawia ksztalt asymetrycznego sygnalu korekcji dodawanego do sygnalu sondy 1. Wykres D przedstawia wskazania miernika wyposazonego w uklad korekcji.Dzialanie ukladu korekcji systematycznego okresowego uchybu jest nastepujace. Promieniowanie odpowiadajace wielkosci mierzonej A wywoluje na wyjsciu sondy pomiarowej 1 sygnal B znieksztalcony przez scyntylator. Do sygnalu B sondy 1 dodawany jest odpowiednio uformowany sygnal korekcji C. W efekcie tego dodania wskazania D miernika sa zgodne z przebiegiem zmian wielkosci mierzonej A.Obwód rózniczkujacy 12 przekazuje z potencjometru 7 wzglednie ze zródla napiecia wzorcowego 11 sygnal proporcjonalny do sygnalu B sondy 1 na wejscia sygnalowe 4 przez opornik sygnalowy 17 co stanowi dodatnie sprzezenie zwrotne. « Obwód 12 rózniczkuje przekazywany sygnal ze stala czasowa zalezna od opornika szeregowego 14 i kondensatora 13, dobrana do charakteru uchybu okresowego. Opornik dzielacy 15 lacznie z opornikiem szeregowym 14 ustala amplitude sygnalu korekcji C. Dioda kierunkowa 16 bocznikuje czesc sygnalu dajac dla dodatnich i ujemnych zmian asymetryczny sygnal korekcji C. W miernikach nie posiadajacych kompensatora 3 obwód rózniczkujacy 12 jest zasilany z wyjscia 5 wzmacniacza sygnalu 2 wzglednie z innego punktu ukladu pomiarowego w którym wystepuje napiecie proporcjonalne do rzeczywistych lub spodziewanych zmian sygnalu sondy 1. « W wiekszosci przypadków zadawalajace wyniki daje uproszczony uklad korekcji uchybów okresowych wyposazony w obwód rózniczkujacy 12 bez diody kierunkowej 16 i bez dzielnika sygnalu kompensacyjnego 18.Zalety zastosowania ukladu korekcji uchybów wedlug wynalazku polegaja na kilkakrotnym zwiekszeniu dokladnosci wskazan izotopowych mierników wyposazonych w scyntylacyjne sondy pomiarowe, szczególnie przy pomiarach szybko zmieniajacych sie wielkosc. Uklad korekcji umozliwia przeprowadzenie dokladnych pomiarów przy uzyciu sond scyntylacyjnych z szybkoscia nieosiagalna dla innych typów detektorów.Przykladem szczególnie korzystnego zastosowania ukladu korekcji sa izotopowe grubosciomierze blach goracych, grubosciomierze blach i tasm walcowanych na zimno, mierniki gramatury plyt wiórowych i mierniki poziomu oleju w cewkach zaplonowych, w których ustalanie sie wskazan po wsunieciu mierzonego materialu trwa czesto ulamki sekund. < Wysoka dokladnosc pomiaru rzedu 0,5% uzyskana dzieki wprowadzeniu ukladu korekcji uchybów pozwala na wykorzystanie mierników do szybkich pomiarów, sterowania automatyczna regulacja maszyn produkcyjnych oraz do segregacji mierzonych wyrobów.Zastosowanie ukladu korekcji pozwala na budowe mierników ze zródlami izotopowymi o znacznie mniejszej aktywnosci w porównaniu z miernikami z detektorami innych typów o zblizonych parametrach, co znacznie zmniejsza niebezpieczenstwo napromieniowania obslugi.83 720 3 PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. „ Uklad korekcji systematycznych okresowych uchybów izotopowych mierników, zwlaszcza grubosciomierzy wyposazonych w scyntylacyjne sondy pomiarowe pracujace w ukladzie pradowym oraz we wzmacniaczu sygnalu wzmacniajacy sygnal otrzymywany z sondy pomiarowej, znamienny tym, ze zawiera obwód rózniczkujacy (12) zlozony z kondensatora (13) i opornika szeregowego (14) wlaczony w petle dodatniego sprzezenia zwrotnego miedzy wejscie (4) wzmacniacza sygnalu (2) i punkt ukladu pomiarowego posiadajacy napiecie odpowiadajace zmianom sygnalu sondy (1), przy czym obwód rózniczkujacy (12) formuje sygnal korekcji (C) dodawany do sygnalu (B) sondy (1) celem zrównowazenia uchybu powstalego w scyntylatorze sondy (1).
  2. 2. Uklad wedlug zastrz. 1; znamienny tym, ze obwód rózniczkujacy (12) polaczony jest jednym koncem z wejsciem (4) wzmacniacza sygnalu (2) przez opornik sygnalowy (17), z punktem odniesienia ukladu pomiarowego przez opornik dzielacy (15) i z dioda kierunkowa (16) powodujaca asymetrie sygnalu korekcji (C), a drugim koncem polaczony jest w miernikach kompensacyjnych z wejsciem kompensacyjnym (10) wzmacniacza (2), a w miernikach niekompensacyjnych z wyjsciem (5) wzmacniacza (2) jak równiez z innymi punktami ukladu pomiarowego posiadajacymi napiecia odpowiadajace zmianom sygnalu sondy (1). / ^rtzr M l A __t t G HTL ? c V--" _N^. \ D fig. 2 PL
PL16596973A 1973-10-19 1973-10-19 PL83720B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16596973A PL83720B1 (pl) 1973-10-19 1973-10-19

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16596973A PL83720B1 (pl) 1973-10-19 1973-10-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL83720B1 true PL83720B1 (pl) 1976-01-31

Family

ID=19964504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL16596973A PL83720B1 (pl) 1973-10-19 1973-10-19

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL83720B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2790945A (en) Measuring system
US2508370A (en) Electronic indicating circuit
US4143549A (en) Temperature measuring system
US3729632A (en) Penetrating radiation gauge
US3332153A (en) Temperature compensating system
US2830265A (en) Electronic resistance-change meter
US2965847A (en) Measuring system
PL83720B1 (pl)
US3180985A (en) Standardization of radiation-absorption type density gages
US3249860A (en) Device for measuring the thickness of material
GB1427751A (en) Non-contacting gauging methods and apparatus
US3867687A (en) Servo gain control of liquid conductivity meter
US2516520A (en) Vacuum tube voltmeter
US2588702A (en) Measuring instrument responsive to capacity variations
US3427540A (en) Electrostatic voltmeter having various sized input electrodes to provide plural ranges
US3529162A (en) Absorption curve matching circuit in nucleonic measuring system
JPS6248280B2 (pl)
US2681435A (en) Meter circuit for error indication devices
SU419819A1 (ru) Устройство для измерения магнитной индукции
US3832542A (en) Wide range radiation gage having a controlled-gain photodetector for determining a material property
US3231814A (en) Apparatus for measuring and recording capacitance characteristics
SU302975A1 (ru) Радиоизотопный толщиномер
US3235732A (en) Radiation thickness gauge including a feedback readout circuit
SU396637A1 (ru) Измеритель сопротивления
SU129340A1 (ru) Прибор дл автоматического бесконтактного измерени толщины листовых материалов