Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 01.07.1974 Opis patentowy opublikowano: 25.11.1975 82417 KI. 21e,27/26 MKP G01r 27/26 CZYTELNIA Twórcywynalazku: Jan Leszczynski, Andrzej Moscicki, Andrzej Wysznacki Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Lódzka, Lódz (Polska) Uklad do pomiaru rezystancji szeregowej kondensatorów w obwodzie rezonansowym z automatycznym dostrajaniem sie obwodu do rezonansu Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru rezystancji szeregowej kondensatorów w obwodzie rezonansowym z automatycznym dostrajaniem sie obwodu do rezonansu.Pomiaru rezystancji szeregowej kondensatorów dokonuje sie dotychczas jedynie w skali laboratoryjnej za pomoca mostków do pomiaru pojemnosci i szeregowej rezystancji strat, za pomoca pomiaru stopnia nieliniowosci wprowadzonej do obwodu pomiarowego przez kondensator, a takze przez pomiar dobroci obwodu rezonansowe¬ go zawierajacego wzorcowy kondensator powietrzny, polaczony równolegle z kondensatorem badanym. Znane sa równiez automatycznie samokompensujace sie mostki do pomiaru pojemnosci i szeregowej rezystancji kondensa¬ torów, które ze wzgledu na niewielkie róznice rezystancji szeregowej kondensatorów, wynikajace z jakosci polaczenia: folia aluminiowa-wyprowadzenie, wplywajacej na dobroc kondensatorów nie sa przydatne do pomiaru ich rezystancji szeregowej w obwodzie rezonansowym.Wada dotychczas stosowanych ukladów pomiarowych jest zbyt wysoka wartosc napiecia pomiarowego, dochodzaca do kilku woltów. Napiecie to wplywajac na wlasnosci polaczen powoduje chwilowe zmniejszenie rezystancji szeregowej kondensatorów, a tym samym znieksztalcenie wyniku pomiaru. Stosowane dotychczas mostki daja wyniki pomiarów malo dokladne, przy czym charakteryzuja sie skomplikowana obsluga i dlugim czasem trwania pomiaru.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu do pomiaru rezystancji szeregowej kondensatorów w obwodzie rezonansowym z automatycznym dostrajaniem sie obwodu do rezonansu, zapewniajacego, w warunkach prze¬ myslowych szybkie i dokladne okreslenie rezystancji szeregowej kondensatorów przy malej wartosci napiecia.Zadanie techniczne wytyczone dla osiagniecia tego celu zostalo rozwiazane w ten sposób, ze w znanym ukladzie zlozonym z generatora napiecia sinusoidalnego polaczonego z obwodem pomiarowym za posred¬ nictwem ukladu sprzegajacego sterowanym sygnalem bledu przez uklad waraktorowy, do obydwu okladzin kondensatora badanego, umieszczonego w obwodzie pomiarowym dolaczone sa dwa identyczne wzmacniacze o duzej rezystancji wejsciowej, polaczone z dwoma ukladami detekcyjnymi sterujacymi uklad waraktorowy, Ponadto uklad sprzegajacy stanowi transformator powietrzny obnizajacy napiecie pomiarowe do wartosci nie powodujacej zmiany rezystancji polaczenia trwalego w kondensatorze badanym, miedzy okladzina z folii aluminiowej oraz wyprowadzeniami miedzianymi, przy czym pomiar odbywa sie zawsze w warunkach rezonansu.2 82 417 Zastosowanie w ukladzie wedlug wynalazku dwóch przeciwsobnie polaczonych ukladów detekcyjnych powoduje w przypadku róznicy czestotliwosci drgan generatora i czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiaro¬ wego pojawienie sie na wyjsciu ukladów detekcyjnych napiecia o odpowiedniej polaryzacji, które poprzez zmiane pojemnosci ukladu waraktorowego powoduje zmiane czestotliwosci drgan generatora tak, aby byla ona równa czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiarowego.W ukladzie wedlug wynalazku wyeliminowane zostaly wszystkie czynnosci zwiazane z kompensacja lub strojeniem ukladu pomiarowego, co powoduje, iz czas wykonywania pomiaru jest krótki. Zastosowanie ukladu wzmacniajacego i odcinajacego mierzone napiecie powoduje, iz uklad odznacza sie duza czuloscia pomiarowa, trudna do osiagniecia w dotychczas stosowanych przyrzadach. Ponadto uklad wedlug wynalazku umozliwia calkowite zautomatyzowanie procesu pomiarowego i wprowadzenie samoczynnej segregacji badanych kondensa¬ torów. Niewielka wartosc napiecia pomiarowego gwarantuje wykonanie pomiaru z uwzglednieniem aktualnych wlasnosci styków w kondensatorach.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat blokowy ukladu.Uklad wedlug wynalazku zawiera generator 1 napiecia sinusoidalnego o stalej amplitudzie, a czestotliwosci mogacej samoczynnie zmieniac sie tak, aby byla ona równa czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiarowego 2. Generator 1 zasila obwód pomiarowy 2 za posrednictwem ukladu sprzegajacego 3. Do ukladu pomiarowego 2, do którego zostaje wlaczony kondensator badany dolaczone sa dwa identyczne wzmacniacze 4a i 4b o duzej rezystancji wejsciowej oraz dwa uklady detekcyjne 5a i 5b, które polaczone z ukladem waraktorowym 6 , powoduja zmiane czestotliwosci generatora 1 tak, aby byla ona równa czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiarowego 2. Do obwodu pomiarowego 2 dolaczony zostaje poprzez uklad wzmacniajacy 7 i odcinajacy 8 uklad 9 rejestrujacy wartosc napiecia na kondensatorze badanym w momencie rezonansu.Dzialanie ukladu wedlug wynalazku jest nastepujace. W celu dokonania pomiaru dobroci kondensatora, badanego umieszcza sie go w obwodzie pomiarowym 2 bedacym równoleglym obwodem rezonansowym. Obwód ten zasilany jest z generatora 1 napiecia sinusoidalnego na drodze magnetycznej przy pomocy ukladu sprzegajacego 3. Zastosowanie takiego sposobu zasilania obwodu pomiarowego 2 pozwala na regulacje napiecia pomiarowego bez wplywu na prace generatora 1 napiecia sinusoidalnego. Jezeli czestotliwosc generowanego przebiegu jest rózna od czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiarowego 2 na wyjsciu ukladu detekcyjnego 5a i ukladu detekcyjnego 5b zalaczonych przeciwsobnie i zasilanych przez tak samo wlaczone dwa identyczne wzmacniacze 4a i 4b zasilane z obwodu pomiarowego 2, pojawia sie stala wartosc napiecia. Powoduje ono przez uklad waraktorowy 6 zmiane czestotliwosci generowanego przez generator 1 przebiegu tak, aby byla ona równa czestotliwosci rezonansowej obwodu pomiarowego 2. Pomiar polega na porównaniu wartosci napiecia wskazywa¬ nego przez uklad rejestrujacy 9 dolaczony do obwodu pomiarowego 2 przez uklad wzmacniajacy 7 i odcinajacy 8, w przypadku, gdy w obwodzie polmiarowym 2 znajduje sie kondensator wzorcowy oraz kondensator badany. PL PL