PL81904B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: m Zgloszenie ogloszono: 10.04.1973 Opis patentowy opublikowano: 25.11.1975 81904 KI. 42e,2^ 42f,11/04 MKP* G01f 13/00 G01g 11/04 CZY i iT~lb Urzedu; F.- ¦..-¦: /go Pij,. r$i fi I l-.\i*Z\ Twórcywynalazku: Jerzy Kedzierski, Jerzy Mamczarek Uprawniony z patentu tymczasowego: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon", Warszawa (Polska) Uklad do korekcji liniowosci wskazan przy pomiarze masy przesuwajacego sie materialu, szczególnie warstw grubszych z wykorzystaniem promieniowania Przedmiotem wynalazku jest uklad do korekcji liniowos'ci wskazan przy pomiarze masy przesuwajacego sie materialu metoda rozproszeniowa z wykorzystaniem przenikliwego promieniowania szczególnie przy duzych grubos'ciach warstwy mierzonej. Uklad ten moze znalezc zastosowanie do korekcji liniowosci wskazan przy pomiarze masy szczególnie grubszych warstw materialów sypkich, ziarnistych i tym podobnych przesuwajacych sie na tasmociagu przy duzych zmianach grubos'ci warstwy mierzonej.Znane uklady zlozone z detektora mierzacego promieniowanie rozproszone w mierzonym materiale lezacego po jednej stronie materialu i zródla promieniowania lezacego po drugiej stronie materialu wysylajacego promieniowanie które przeswietla mierzony material i biegnac dalej omija detektor, nie moga byc stosowane przy wiekszych grubosciach mierzonego materialu, poniewaz przy wzroscie grubosci warstwy natezenie promieniowania rozproszonego rosnie proporcjonalnie do masy tylko przy malej grubosci warstwy, a przy grubosciach wiekszych, material lezacy dalej od zródla promieniowania znajduje sie w polu promieniowania o mniejszym natezefiiu i daje sygnal zbyt maly, nieproporcjonalny do masy.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu do korekcji liniowosci wskazan przy pomiarze metoda rozproszeniowa masy przesuwajacego sie materialu zwlaszcza warstw grubszych, z wykorzystaniem promienio¬ wania. ^ Istota ukladu wedlug wynalazku polega na zastosowaniu w znanym ukladzie zlozonym z detektora lezacego po jednej stronie mierzonego materialu i lezacego po drugiej stronie materialu zródla wysylajacego promieniowanie przeswietlajace mierzony material i omijajace detektor, dodatkowego zródla promieniowania po stronie detektora, którego promieniowanie nie naswietlajac detektora pada na mierzony material.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest na rysunku, na którym pokazany jest znany uklad zlozony z detektora 1 lezacego po jednej stronie mierzonego materialu 3 i zródla 4 lezacego po stronie przeciwnej wysylajacego promieniowanie przeswietlajace mierzony material 3 i omijajace detektor 1 oraz dodatkowe zródlo 2, którego promieniowanie nie dochodzi do detektora 1 i pada na mierzony material 3, w którym rozproszone, poddane jest detekcji w detektorze 1. Rozpraszanie promieniowania pochodzacego z dodatkowego zródla 2 jest tym bardziej efektywne, im wieksza jest grubosc warstwy materialu i w zwiazku z tym im blizej dodatkowego zródla 2 znajduje sie powierzchnia mierzonego materialu 3,2 81904 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do korekcji liniowosci wskazan przy pomiarze metoda rozproszeniowa masy przesuwajacego sie materialu szczególnie warstw grubszych z wykorzystaniem promieniowania, zawierajacy lezacy po jednej stronie mierzonego materialu detektor promieniowania i znajdujace sie po drugiej stronie materialu zródlo wysylajace promieniowanie przeswietlajace material i omijajace detektor, znamienny tym, ze po stronie detektora (1) znajduje sie dodatkowe zródlo (2) którego promieniowanie nie naswietlajac detektora (1) pada na mierzony material (3), w którym rozproszone pada czesciowo na detektor (1)/gdzie poddane jest detekcji, Prac. Poligraf. MV PRL. Zanu 3498/75 naklad 120 + 18 Cc;m 10 zl PL