Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 02.01.1974 Opis patentowy opublikowano: 30.09.1975 78151 KI. 42c, 12 MKPGOlb 11/24 Twórca wynalazku: Daniel Pisarczyk Uprawniony z patentu tymczasowego: Wyzsza Szkola Inzynierska, Opole (Polska) Optyczny interpolator warstwie Przedmiotem wynalazku jest optyczny interpolator warstwie przeznaczony do takich prac inzynierskich jak tachimetria, niwelacja siatkowa, obliczanie mas ziemi, obliczanie objetosci hald i zwalów, gdzie interpolacja warstwie jest jedna z podstawowych i czesto wykonywanych czynnosci.Znane sa interpolatory mechaniczne wykorzystujace zasade proporcjonalnego podzialu odleglosci odcinka miedzy dwoma interpolowanymi punktami. Wadami interpolatorów mechanicznych jest to, ze umozliwiaja jedy¬ nie interpolacje warstwie, nie pozwalaja na równoczesne wyznaczanie punktów podzialu miedzy interpolo¬ wanymi punktami, oraz wymagaja wykreslania na mapie linii pomocniczych laczacych interpolowane punkty.Dodatkowa wada niektórych odmian interpolatorów mechanicznych jest to, ze wymagaja nakluwania map w interpolowanych punktach, co powoduje niszczenie map.Celem wynalazku jest umozliwienie równoczesnego wyznaczania punktów podzialu pomiedzy interpolowanymi punktami przy interpolowaniu warstwie, zas zagadnieniem technicznym jest skonstruowanie interpolatora warstwie umozliwiajacego osiagniecie tego celu.Zagadnienie to zostalo rozwiazane przez skonstruowanie optycznego interpolatora warstwie skladajacego sie z rzutnika, który w dolnej szerszej czesci zakonczony jest prowadnikiem wyposazonym w wymienna linijke z podzialka, a w górnej wezszej czesci ma osadzony przesuwnie oswietlacz wyposazony w oprawke z zarówka i filtr swiatla, przy czym rzutnik zamocowany jest w prowadniku, który z kolei osadzony jest przesuwnie w kolumnie zamocowanej w podstawie, natomiast os optyczna oswietlacza przechodzi przez punkt przeciecia^ linii jaka jest scieta krawedz podstawy ze wskaznikiem w postaci rysy nacietej na pochylonej plaszczyznie sciecia podstawy.Korzysci techniczne wynikajace ze stosowania optycznego interpolatora warstwie wedlug wynalazku to mozliwosc równoczesnego wyznaczania wszystkich punktów posrednich, mozliwosc wyinterpolowania kHku odcinków pizy jednym ustawieniu podstawy interpolatora, oraz wyeliminowanie koniecznosci wykreslania linii pomocniczych laczacych interpolowane punkty. Dalsze korzysci techniczne to mozliwosc pomiaru wysokosci punktu oraz mozliwosc pomiaru spadu lub wyznaczania zadanego spadu na mapie warstwicowej.2 78 151 Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedsta¬ wia optyczny interpolator warstwie w widoku z góry, fig. 2 — optyczny interpolator w przekroju wedlug linii A—A, z fig. 1, a fig. 3 — optyczny interpolator w widoku z przodu z czesciowym przekrojem wedlug linii B-B z fig. 1, zas fig. 4 - wymienna linijke z podzialka.Optyczny interpolator warstwie wedlug wynalazku sklada sie z podstawy 1 ze scieta podstawa, w której umocowana jest kolumna 2 w postaci rury. Na kolumnie 2 osadzony jest przesuwnie prowadnik 3, unierucha¬ miany za pomoca dociskowej sruby 4. Ponadto kolumna 2 w górnej czesci wyposazona jest w pojemnik 5 na baterie. Na drugim koncu prowadnika 3 umieszczony jest rzutnik 6, który w dolnej szerszej czesci zakonczony jest prowadnikiem 7 wyposazonym w wymienna linijke 8 z podzialka.W górnej wezszej czesci rzutnika 6 osadzony jest oswietlacz 9 wyposazony w oprawke 10 z 6V zarówka 11 oraz filtr swiatla 12, przy czym os optyczna oswietlacza 9 przechodzi przez punkt przeciecia sie linii jaka jest scieta krawedz podstawy 1 ze wskaznikiem 13 w postaci rysy nacietej na pochylonej plaszczyznie sciecia podstawy 1. Wykonana z przezroczystego tworzywa wymienna linijka 8 jest zaczerniona na calej powierzchni za zyjatkiem krótkich poprzecznych kresek stanowiacych dzialki, oznaczen cyfrowych, oraz dlugiej kreski pod¬ luznej.Interpolage warstwie za pomoca optycznego interpolatora wedlug wynalazku przeprowadza sie nastepu¬ jaco. Optyczny interpolator ustawia sie na mapie w ten sposób, aby scieta krawedz podstawy i pokrywala sie z punktami miedzy którymi bedzie przeprowadzana interpolacja, przy czym jeden z tych punktów powinien pokrywac sie z rysa 13. Po wlaczeniu oswietlenia na mapie odwzoruje sie kolorowy obraz wymiennej linijki 8.Nastepnie linijke 8 przesuwa sie w prowadniku 7 w ten sposób, aby przy punkcie pokrywajacym sie z rysa 13 byl na obrazie podzialki wymiennej linijki 8 odczyt równy rzednej tego punktu. Przesuwajac rzutnik 6 wzdluz kolumny 2 doprowadza sie do tego, aby przy drugim punkcie znalazl sie na obrazie podzialki linijki 8 odczyt równy rzednej drugiego punktu. Nastawienie obrazu podzialki linijki 8 na odczyt równy wysokosci drugiego punktu uzyskuje sie równiez przez przesuwanie oswietlacza 9. Podczas tego nastawiania obrazu podzialki linijki 8 odczyt przy pierwszym punkcie nie ulega zmianie, gdyz punkt ten lezy na osi optycznej interpolatora. Po ustawieniu obrazu podzialki linijki 8 na odczyt rzednej drugiego punktu posrednie kreski tej podzialki wyznaczaja przebieg interpolowanych warstwie o odpowiednio obranym cieciu warstwicowym. Dzieki temu warstwice te mozna natychmiast wykreslic lub zaznaczyc tylko punkty przez które warstwice takie przejda. Po wykonaniu interpolacji pomiedzy pierwszym i drugim punktem rzutnik 6 obraca sie wokól jego osi obrotu w ten sposób, aby obraz podzialki linijki 8 pokryl sie z nastepnym punktem, co pozwala wyinterpolowac warstwice pomiedzy tym punktem a punktem pierwszym. W identyczny sposób, nie zmieniajac polozenia interpolatora, a tym samym nie nastawiajac ponownie wysokosci w punkcie pierwszym, mozna wyinterpolowac warstwice miedzy punktem pierwszym a poszczególnymi dalszymi punktami.Pomiar wysokosci punktu na mapie warstwicowej za pomoca optycznego interpolatora wedlug wynalazku przeprowadza sie nastepujaco. Ryse 13 ustawia sie na najblizsza warstwice o mniejszej wysokosci. Nastepnie scieta krawedz podstawy 1 ustawia sie tak, aby przystawala ona do mierzonego punktu a zarazem byla prostopadla do kierunku obu warstwie/Przesuwajac rzutnik 6 lub oswietlacz 9 doprowadza sie do pokrywania kreski obrazu podzialki linijki 8 odpowiadajacej pojedynczej lub wielokrotnej wartosci ciecia warstwicowego z nastepna warstwica, po czym z odwzorowanego na mapie obrazu podzialki odczytuje sie szukana wysokosc punktu.Pomiar pochylenia na mapie za pomoca optycznego interpolatora wedlug wynalazku przeprowadza sie nastepujaco. Do prowadnika 7 zaklada sie linijke 8 o podzialce ze zmienna dzialka zalezna od odleglosci miedzy zarówka 11 a linijka 8, oraz od odleglosci miedzy zarówka 11 a obrazem linijki 8 na mapie. Rzutnik 6 i oswietlacz 9 ustawia sie na stale w polozeniach zaleznych od skali mapy i ciecia warstwie. Nastepnie ustawia sie ryse 13 przy warstwicy i skierowuje scieta krawedz podstawy 1 w kierunku mierzonego pochylenia. Punkt przeciecia nastepnej warstwicy z obrazem podzialki linijki 8 na mapie okresla mierzone pochylenie.Wyznaczanie zadanego pochylenia na mapie warstwicowej za pomoca optycznego interpolatora wedlug wynalazku jest nastepujace. Do prowadnika 7 interpolatora zaklada sie linijke 8 o podzialce ze zmienna dzialka.Rzutnik 6 i oswietlacz 9 ustawia sief na stale w polozeniach zaleznych od skali mapy i ciecia warstwie, po czym ryse 13 ustawia sie na pierwsza warstwice. Nastepnie caly interpolator skreca sie tak dlugo, az nastepna warstwica przetnie sie z wartoscia zadanego pochylenia z obrazem podzialki linijki 8. PL PL