Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 01.06.1973 Opis patentowy opublikowano: 19.05.1975 76048 KI. 42k,45/03 MKP G01b7/02 CZYltLNIA1 Urzedu Pa4ento**qo hltUi| iMcwt* »l k'V'_ Twórcywynalazku:Romuald Bedzinski, Michal Kwiecien, Eugeniusz Stolarek Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Wroclawska,Wroclaw (Polska) Przyrzad tensometryczny Przedmiotem wynalazku jest przyrzad tensometryczny przeznaczony do pomiarów odksztalcen rzeczywis¬ tych w badanych próbkach.Znanymi przyrzadami sluzacymi do pomiaru odksztalcen rzeczywistych sa tensometry oporowe, optyczne i mechaniczne. Najbardziej zblizonym do przedmiotu wynalazku jest przyrzad tensometryczny do pomiaru wydluzen polimerów. Sklada sie on z dwóch ruchomych szczek, na których zjednej strony znajduje sie para zacisków nozowych, zas na drugim koncu szczek zamocowane sa dwie rolki oraz potencjometr. Na jednej z rolek znajduje sie ramie styku ruchomego potencjometru jednodrutowego.Zasadnicza wada tego przyrzadu jest brak mozliwosci pomiaru odksztalcen poprzecznych badanej próbki.Innym znanym przyrzadem tensometrycznym jest tensometr umozliwiajacy pomiar odksztalcen wzdluznych, poprzecznych oraz kata skrecenia. W przyrzadzie tym do pomiaru odksztalcen wykorzystuje sie elastyczne plytki, na których naklejone sa tensometry oporowe, Plytki te ulegaja zginaniu na skutek odksztalcen badanej próbki. Do pomiaru odksztalcen w róznych kierunkach wykorzystano rózne plytki.Wada tego przyrzadu jest brak mozliwosci pomiaru duzych wartosci odksztalcen rzeczywistych oraz koniecznosc czestego cechowania tensometru m.in. ze wzgledu na starzenie sie kleju.Celem wynalazku jest umozliwienie pomiaru wydluzen i przewezen materialów o duzej elastycznosci, zas zadaniem technicznym jest skonstruowanie przyrzadu tensometrycznego.Zadanie to zostalo rozwiazane przez opracowanie przyrzadu skladajacego sie z dwóch ruchomych szczek osadzonych na prowadnicach zapewniajacych równolegly przesuw tych szczek.W górnej czesci ruchomych szczek umieszczone sa nozowe zaciski przeznaczone do mocowania przyrzadu na badanej próbce. W dolnej czesci szczek znajduja sie rolki oraz potencjometr przeznaczony do pomiarów wzglednych wydluzen badanej próbki. Jedna z rolek osadzona jest na osi potencjometru. W srodkowej czesci ruchomych szczek znajduja sie cztery indukcyjne czujniki róznicowe rozmieszczone parami w dwóch prostopa¬ dlych kierunkach sluzace do pomiaru odksztalcen poprzecznych obciazonej próbki.Zasadnicze korzysci techniczne wynikajace ze stosowania przyrzadu wedlug wynalazku polegaja na tym, ze uzyskuje sie mozliwosc równoczesnego pomiaru odksztalcen podluznych i poprzecznych badanej próbki. Zasto-1 76 048 sowane w przyrzadzie czujniki umozliwiaja przeprowadzenie pomiarów w stosunkowo szerokim zakresie od¬ ksztalcen. Przyrzad umozliwia prowadzenie pomiarów wsposób ciagly z mozliwoscia rejestracji wyników badan co ma szczególne znaczenie w materialach o duzej elastycznosci.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedsta¬ wia przyrzad tensometryczny zamocowany na badanej próbce w widoku z boku, a fig. 2 przyrzad w przekroju poprzecznym.Przyrzad wedlug wynalazku sklada sie z dwóch ruchomych szczek 1 i 2, w których osadzone sa zaciski nozowe 3 sluzace do mocowania przyrzadu na badanej próbce. Prowadnice 4 i 5 zapewniaja równolegly przesuw ruchomych szczek 1 i 2 dociskanych do badanej próbki przez sprezyny 6. Rolki dociskowe 7 i 8 znajduja sie w dolnej czesci ruchomych szczek 1 i 2. Rolka 7 osadzona jest na osi potencjometru 9 sluzacego do pomiaru wydluzen próbki. Cztery róznicowe indukcyjne czujniki 10 mocowane przy pomocy uchwytów 11 do rucho¬ mych szczek 1 i 2, sluza do mierzenia przewezenia w dwóch prostopadlych kierunkach. Belki 12113 mocowane na prowadnicach 4 i 5 sluza do wywierania nacisku celem rozwarcia szczek ruchomych 1 i 2.Badana próbka wydluzajac sie wprawia w ruch obrotowy osadzona na osi potencjometru rolke, która powoduje przesuw ruchomego styku po drucie oporowym potencjometru. Poprzez pomiar zmiany opornosci lub napiecia rejestruje sie na odpowiednich przyrzadach wzgledny przyrost dlugosci próbki. Przewezajaca sie próbka powoduje wysuwanie iglic róznicowych czujników indukcyjnych, które pracuja parami w ukladzie mostka.Wielkosc przewezen odczytuje sie z charakterystyk róznicowych czujników indukcyjnych na podstawie wskazan miliamperomierza. PL PL