Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 15.01.1975 75533 KI. 42b, 24 MKP G01b3/22 'czytelnia Urzedu Pcrtent/-w*go Polskiej flflcryposptl. t| Lu o*.oj Twórcawynalazku: Ryszard Gotz Uprawniony z patentu tymczasowego: Zaklady Przemyslu Metalowego „H. Cegielski" Przedsiebiorstwo Panstwowe, Poznan (Polska) Przyrzad do pomiaru zuzycia plytek wielokrawedziowych Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do pomiaru zuzycia na powierzchni przylozenia wielokrawedzio¬ wych plytek skrawajacych, przy czym zuzycie to mierzymy prostopadle do krawedzi skrawajacej. Zuzycie plytki skrawajacej w wyniku tepienia sie ostrza rzutuje na przebieg i parametry procesu obróbki, a granicznie wrecz warunkuje jego prowadzenie.Dotychczas mierzono wartosc starcia ostrza w plaszczyznie przylozenia z uwagi na wymiarowo wieksze wielkosci i latwiejsze okreslanie przy dotychczasowym braku odpowiednich przyrzadów do pomiaru zuzycia, uzywajac zastepczo do tego celu lup typu „Brinella". Z uwagi na swoja charakterystyke, lupa ta pozwalala na pomiar w zakresie od 0-8 mm, z dokladnoscia wzgledna 0,02 mm z uwagi na to, ze jej dzialka elementarna wynosi 0,1 mm.Brak odpowiedniego przyrzadu do pomiaru zuzycia plytek wielokrawedziowych uniemozliwial dokony¬ wanie pomiarów w sposób dokladny, w róznych okreslonych odstepach miedzy poszczególnymi punktami, w identycznych powtarzalnych miejscach po róznym czasie pracy plytki. Toz kolei uniemozliwialo dokladne okreslanie zaleznosci zuzycia w stosunku do czasu pracy plytki.Celem wynalazku jest opracowanie specjalnego urzadzenia do prostego, szybkiego i powtarzalnego okresla¬ nia w scisle wyznaczonych miejscach wielkosci zuzycia plytki wielokrawedziowej mierzonej na powierzchni przylozenia.Istota urzadzenia polega na suwliwym zamocowaniu w korpusie przyrzadu elementu ustalajacego plytke oraz elementu mocujacego przyrzad pomiarowy - korzystnie czujnik zebaty, przy czym w/w elementy mozna przemieszczac w plaszczyznach do siebie prostopadlych z mozliwoscia skokowego powtarzalnego przemieszcza¬ nia elementu z zamocowanym przyrzadem pomiarowym. Ponadto element mocujacy plytke posiada gniazdo, którego plaszczyzna podstawowa wykonana jest pod katem równym katowi przylozenia plytki. Samo mocowa¬ nie plytki do gniazda odbywa sie poprzez znany elastyczny czopik osadzony mimosrodowo w stosunku do otworu w plytce.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest przykladowo na rysunku na którym fig. 1 - przedstawia przyrzad w widoku z przodu, fig. 2 w widoku z góry, a fig. 3 w widoku z boku.2 75,533 Podstawa 1 posiada prowadnice 2 i 3 zorientowane wzgledem siebie pod katem prostym, przy czym w prowadnicy 2 usytuowany jest element 4 mocujacy czujnik zebaty 5, natomiast w prowadnicy 3 usytuowany jest element 6 ustalajacy mierzona plytke 7. W gwintowanym otworze elementu 6 osadzony jest wkret 8 zaopatrzony w sprezysty czopik. Zatyczka 9 ustala w okreslonych polozeniach element 4 z podstawa 1.Wyzej wymienione srodki techniczne umozliwiaja zamocowanie w elemencie 6 czujnika zebatego o dowol¬ nej dzialce elementarnej, przy czym element 4 mozna przemieszczac równolegle do podstawy 1 z tym, ze mozna jego przemieszczac równiez o scisle okreslone wielkosci ustalane zatyczka 9. W gniezdzie elementu 6 osadza sie mierzona plytke 7 poprzez regulowany docisk czopika wkretu 8, natomiast caly element 6 mozna przemieszczac w prowadnicach w dowolny znany sposób. Wyzej opisany przyrzad umozliwia proste, szybkie i powtarzalne mierzenie zuzycia plytek wielokrawedziowych na powierzchni przylozenia, nie wykluczajac mozliwosci pomia¬ rów w scisle okreslonych punktach. PL