PL75524B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL75524B2
PL75524B2 PL15529572A PL15529572A PL75524B2 PL 75524 B2 PL75524 B2 PL 75524B2 PL 15529572 A PL15529572 A PL 15529572A PL 15529572 A PL15529572 A PL 15529572A PL 75524 B2 PL75524 B2 PL 75524B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
electrodes
radiation
mosaic
lamp
layer
Prior art date
Application number
PL15529572A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15529572A priority Critical patent/PL75524B2/pl
Publication of PL75524B2 publication Critical patent/PL75524B2/pl

Links

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

Pierwszenstwo: 11.05.1972 (P. 155 295) Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 28.04.1975 75524 KI. 21n7,3/14 MKP H04n 3/14 CZY IlLNIA Urzedu Pnl~n+?w1f-o.Polskiej Izfr Twórcy wynalazku: Teresa Rudowska, Grzegorz Rudowski Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Warszawska, Warsza¬ wa (Polska) Mozaikowa lampa analizujaca Przedmiotem wynalazku jest mozaikowa lampa analizujaca, pracujaca w zakresie widzialnym pod¬ czerwieni lub mikrofalowym, bez analizujacego strumienia elektronów, znajdujaca zastosowanie jako uklad analizy obrazu w kamerach telewizyj¬ nych, termografach i ukladach badajacych roz¬ klad promieniowania mikrofalowego.Znany jest uklad lampy analizujacej z mozaika skladajaca sie ze znacznej ilosci fotodiod, pola¬ czonych z ukladem elektronicznym w ten sposób, ze mozliwe jest przekazywanie informacji o po¬ ziomie oswietlenia poszczególnych fotodiod. Po¬ szczególne elementy mozaiki, które stanowia te fotodiody, polaczone sa z ukladem elektronicznym, co wymaga wykonania tylu polaczen ile jest foto¬ diod (ile punktów w obrazie) oraz dodatkowo, co najmniej jednej elektrody wspólnej.Dotychczas znane uklady mozaikowe daja obraz o znacznej ziarnistosci, co spowodowane jest skon¬ czonymi wymiarami poszczególnych fotoelementów, które nie moga byc zbyt male i polozone zbyt blisko siebie. Ponadto konstrukcja i technologia takiej mozaiki jest skomplikowana, bowiem wymaga po¬ laczenia wszystkich jej elementów w postaci foto¬ diod lub fotorezystorów z ukladem elektronicznym, a ponadto wszystkie fotoelementy musza byc jedna¬ kowe.Wytyczonym w tej sytuacji zadaniem jest usu¬ niecie wad i niedogodnosci znanych rozwiazan mozaikowych lamp analizujacych. 2 Cel ten zostal zrealizowany przez umieszczenie po obu stronach warstwy czulej na promienio¬ wanie, wykonanej z fotoczulego lub termoczulego materialu, jak na przyklad piroelektrycznego czy 5 fotoprzewodzacego i odpowiednich elektrod meta¬ lowych.Elektrody maja postac pasków usytuowanych w przyblizeniu równolegle wzgledem siebie, przy czym paski tych elektrod po jednej stronie warstwy 10 czulej na promieniowanie krzyzuja sie z kazda z elektrod paskowych po drugiej stronie tej warstwy.Zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest mozli¬ wosc otrzymywania bardzo gestej mozaiki prak¬ tycznie punktowych elementów foto lub termoczu- 15 lych w prosty technologicznie sposób. Ulatwia to konstrukcje ukladów optycznych, powodujac zwie¬ kszenie zdolnosci rozdzielczej. Inna zaleta opisy¬ wanego urzadzenia jest zredukowanie do minimum liczby koniecznych polaczen elektrycznych oraz lat- 20 wosc w zrealizowaniu polaczenia poszczególnych fotoelementów z ukladem elektronicznym. Ilosc ko¬ niecznych polaczen jest w najkorzystniejszym przy¬ padku równa sumie liczby elektrod.Przedmiot wynalazku jest blizej przedstawiony 25 na rysunku, na którym fig. 1 i fig. 2 przedsta¬ wiaja przykladowe wykonanie mozaikowej lampy analizujacej w dwóch przekrojach w plaszczyznach prostopadlych wzgledem siebie.Jak uwidoczniono na fig. 1 i na fig. 2, na pod- 30 lozu izolacyjnym 1 sa umieszczone nie przecinajace 75 52475 524 3 sie paskowe elektrody metalowe 2, równolegle usy¬ tuowane wzgledem siebie. Na podloze izolacyjne 1 z elektrodami 2 jest naniesiony material foto lub termoczuly 3, który posiada jednakowe wlasciwosci w kazdym miejscu. Material fotoczuly 3, na przy¬ klad piroelektryczny lub fotoprzewodzacy jest na¬ niesiony w taki sposób, aby bylo mozliwe dolaczenie do pasków elektrod odpowiednich przewodów la¬ czacych lampe z ukladem elektronicznym. Na po¬ wierzchnie materialu fotoczulego 3 jest nalozony uklad elektrod paskowych 2. Elektrody 2 sa na¬ niesione w taki sposób, aby krzyzowaly sie z ele¬ ktrodami 2 znajdujacymi sie na podlozu, korzyst¬ nie pod katem prostym. Przy zastosowaniu jako materialu termoczulego 3 takiej substancji, która nie absorbuje padajacego promieniowania, stosuje sie pokrywanie calej powierzchni mozaikowej lampy analizujacej, z wyjatkiem miejsc polaczen elektrod z ukladem elektronicznym izolacyjna warstwa 4 absorbujaca promieniowanie o zadanym zakresie widmowym. Natomiast w lampach, w których ma¬ terial fotoczuly 3 jest materialem absorbujacym promieniowanie, elektrody 2 powinny byc czesciowo przezroczyste w badanym zakresie promieniowania.Rozmieszczenie elektrod po obu stronach mate¬ rialu w sposób opisany wyzej powoduje, ze otrzy¬ muje sie uklad zlozony z pojedynczych detektorów promieniowania, które powstaja w obszarze, gdzie znajdujace sie po obu stronach warstwy 3 elek¬ trody 2 wzajemnie sie krzyzuja.Zasada dzialania mozaikowej lampy analizujacej bedacej przedmiotem wynalazku jest oparta na elektronicznej analizie zmian wlasciwosci elektry¬ cznych poszczególnych fragmentów materialu foto¬ czulego, które to zmiany sa wywolane padajacym na material fotoczuly promieniowaniem. Kazdy 10 15 20 25 element ukladu stanowi pojedynczy detektor pro¬ mieniowania, który jest kolejno przylaczany do wlasciwego ukladu elektronicznego. Zmiany wlasci¬ wosci elektrycznych (na przyklad rezystancji lub pojemnosci) danego elementu sa funkcja nateze¬ nia i rozkladu widmowego promieniowania jak w zwyklych detektorach promieniowania. Stosujac ko¬ lejna analize elementów otrzymuje sie ciag im¬ pulsów o róznej amplitudzie, które po odpowied¬ niej obróbce elektronicznej sa zazwyczaj stosowa¬ ne do regulacji intensywnosci swiecenia odpowia¬ dajacych im punktom na ekranie lampy obrazo¬ wej. Kolejne przelaczanie elementów jest realizo¬ wane przez odpowiedni uklad elektroniczny. Otrzy¬ many w ten sposób obraz jest odwzorowaniem roz¬ kladu promieniowania padajacego na mozaikowa lampe analizujaca. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Mozaikowa lampa analizujaca, posiadajaca warstwe czula na promieniowanie, wykonana z ma¬ terialu o wlasciwosciach piroelektrycznych lub foto- przewodzacych, po której obu stronach znajduja sie elektrody metalowe, znamienna tym, ze elektro¬ dy (2) maja postac pasków usytuowanych w przy¬ blizeniu równolegle wzgledem siebie, przy czym paski tych elektrod po jednej stronie warstwy czulej na promieniowanie (3), krzyzuja sie z kazda z elektrod paskowych po drugiej stronie tej wars¬ twy.
2. Mozaikowa lampa wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze jedna ze stron warstwy czulej na promie¬ niowanie (3) ze znajdujacymi sie na niej elektro¬ dami (2) jest pokryta warstwa absorbujaca (4) analizowane promieniowanie. fig.1 fig. 2 C Z Y I L L N IA Urzedu P-.Wi+ow^n hlskii] Izr Zaklady Typograficzne Lódz, zam. 21/75 — 110 egz. Cena 10 zl V PL PL
PL15529572A 1972-05-11 1972-05-11 PL75524B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15529572A PL75524B2 (pl) 1972-05-11 1972-05-11

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15529572A PL75524B2 (pl) 1972-05-11 1972-05-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL75524B2 true PL75524B2 (pl) 1974-12-31

Family

ID=19958520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15529572A PL75524B2 (pl) 1972-05-11 1972-05-11

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL75524B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1193765A (en) Imaging x-ray spectrometer
US3808435A (en) Infra-red quantum differential detector system
DE69032785T2 (de) Strahlungsdetektormatrix mit strahlungsempfindlichen brücken
US4874939A (en) Method and apparatus for detecting position/variance of input light using linear and quadratic outputs
US5530249A (en) Electrode configuration and signal subtraction technique for single polarity charge carrier sensing in ionization detectors
US4146332A (en) Spectrometer with electronic readout
EP0309631B1 (en) Method and apparatus for detecting position/variance of input light
US6201242B1 (en) Bandgap radiation detector
US3727057A (en) Infrared detector device with a mosaic of oppositely-poled adjacent elements
JPH11512244A (ja) プログラム化可能なオフセット電流を有する光検知装置
US6114697A (en) Bandgap radiation detector
US3107302A (en) Two color background elimination detector
PL75524B2 (pl)
US2953688A (en) Radiant energy detector and magnetic space filter for use therein
Schuetz et al. Studies of millimeter-wave phenomenology for helicopter brownout mitigation
JPH0627852B2 (ja) 放射線検出器
US3118061A (en) Radiation detector for heat responsive direction finders
US2916630A (en) Electroluminescent device
Moore et al. Low cost thermal imaging for power systems applications using a conventional CCD camera
US5148030A (en) Radiation image detecting apparatus using address coded signals
JPH06165049A (ja) 固体撮像装置
Doughty Ultra-violet sensitive camera tubes incorporating the SEC principle
CN119563125B (zh) 具有突出的集成电路芯片的侧入射图像传感器
JPS6328078A (ja) 記憶光伝導体画像センサ
US20230411433A1 (en) Imaging systems with image sensors having multiple radiation detectors