Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 31.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 75108 KI. 42b,11 MKP G01b 15/02 Twórcywynalazku: Zbigniew Kuzmicki, Andrzej Nowak Uprawniony z patentu tymczasowego: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon", Zaklad Doswiadczalny, Warszawa (Polska) Izotopowy miernik grubosci lub gramatury zwlaszcza tafli szklanej Przedmiotem wynalazku jest izotopowy miernik grubosci lub gramatury zwlaszcza tafli szklanej, przezna¬ czony do mierzenia i automatycznej regulacji grubosci tafli w czasie jej produkcji na wyciagowych maszynach szklarskich.Znane dotychczas izotopowe mierniki przeznaczone do pomiarów grubosci plyt, blach, tasm, tafli szklanej itp. posiadaja glowice pomiarowe stacjonarne lub ruchome, pracujace jako uklady trawersujace do pomiaru przekroju poprzecznego mierzonego materialu.Mierniki te wymagaja okresowej korekcji wskazan dla wyeliminowania róznego rodzaju bledów powstaja¬ cych w ukladzie pomiarowym, jak np. blad powstaly w wyniku naturalnego spadku aktywnosci zródla, starze¬ nie sie detektorów, zmiany odleglosci zródlo-material mierzony-detektor itp. Korekcja wskazan w tych ukladach moze byc dokonywana tylko w okresie braku materialu w przestrzeni pomiarowej lub po wycofaniu glowicy pomiarowej poza mierzony material. W przypadku zastosowania miernika do pomiarów grubosci tafli szklanej wyciaganej na maszynie szklarskiej w sposób ciagly, zachodzi koniecznosc wycofywania glowicy poza mierzony material, czesto o dosc znacznej szerokosci, dochodzacej nawet do kilku metrów. Budowa tego typu ukladów mechanicznych jest klopotliwa, a wystepujace w praktyce bardzo ciezkie warunki pracy, a przede wszystkim wysoka temperatura powoduja to, ze uklady te nie spelniaja swego zadania i sa klopotliwe w eksplo¬ atacji.Celem wynalazku jest wyeliminowanie dotychczasowych wad i niedogodnosci przez opracowanie takiego ukladu pomiarowego miernika, który pozwalalby dokonywac okresowej korekcji wskazan w dowolnym czasie, przy obecnosci materialu w przestrzeni pomiarowej, bez potrzeby wycofywania glowicy pomiarowej poza mie¬ rzony material.Miernik wedlug wynalazku posiada ruchoma przeslone wprowadzana okresowo w przestrzen pomiarowa i pochlaniajaca w czasie korekcji glówna wiazke promieniowania. Z przeslona ta zwiazane jest na stale pomocni¬ cze zródlo radioizotopowe oraz kolimator kierujacy wiazka promieniowania z pomocniczego zródla na detektor.Miernik wyposazony jest takze w uklad zegarowy sterujacy miechanizmem wykonawczym ruchomej przeslony z pomocniczym zródlem promieniowania i zalaczajacy przez wylacznik znany uklad automatycznej korekcji wskazan.2 75 108 Zaleta miernika wedlug wynalazku jest wyeliminowanie klopotliwych w eksploatacji mechanicznych ukla¬ dów przesuwajacych glowice pomiarowa w polozenie cechowania oraz wieksza dokladnosc i stabilnosc miernika, szczególnie przy dlugotrwalej, nieprzerwanej pracy.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku przedstawiajacym schemat ogólny miernika. W czasie pomiaru promieniowanie emitowane przez radioizotopowe zródlo pomiarowe 1, osla¬ bione przez mierzony material 2 przenika do detektora 3 powodujac powstanie sygnalu zaleznego od gramatury materialu 2. Sygnal ten steruje po wzmocnieniu wskaznik 4 wyskalowany wjednostkach gramatury lub grubosci pracujacy w ukladzie autokompensatora i dajacy wysterowanie automatycznej regulacji grubosci.W czasie okresowej korekcji wskazan, koniecznej ze wzgledu na wymagana dlugookresowa stabilnosc wska¬ zan miernika, pomiedzy zródlo pomiarowe 1 a detektor 3 wprowadzona jest ruchoma przeslona 5 odcinajaca od detektora 3 pomiarowa wiazke promieniowania. Z ruchoma przeslona 5 zwiazane jest mechanicznie pomocnicze radioizotopowe zródlo 6.W celu uniezaleznienia korekcji od niedokladnosci ustawienia pomocniczego zródla 6 w stosunku do dete¬ ktora 3, wiazka promieniowania poprzez kolimator 7 kierowana jest jedynie na srodkowa czesc powierzchni czynnej detektora 3. Daje to w efekcie niezaleznosc strumienia promieniowania padajacego na detektor 3 zarów¬ no od odleglosci jak i poprzecznych przemieszczen pomocniczego zródla 6. Sygnal pomiarowy z,detektora 3 porównywany jest w ukladzie automatycznej korekcji 8 z napieciem zródla wzorcowego 9.W przypadku róznicy napiec uklad automatycznej korekcji 8 przeregulowuje przy uzyciu silnika elektrycz¬ nego opornik zmieniajac tym samym wspólczynnik wzmocnienia detektora 3 az do zrównania sygnalu z detekto¬ ra 3 z napieciem ze zródla wzorcowego9. .¦ _ Okresowe wlaczenie ukladu automatycznej korekcji wskazan 8 odbywa sie przez wylacznik 10 na sygnal wysylany z ukladu zegarowego 11. Sygnal ten uruchamia równiez mechanizm wykonawczy 12 ruchomej prze¬ slony 5 wprowadzajac ja do przestrzeni pomiarowej miernika.Na inny sygnal z ukladu zegarowego 11 nastepuje wycofanie ruchomej przeslony 5 z przestrzeni pomiaro- - wej oraz odlaczenie poprzez wylacznik 10 ukladu automatycznej korekcji wskazan 8 miernika. Uklad zegarowy 11 umozliwia automatyczne uruchomienie ukladu cechowania wedlug zadanego programu lub po odlaczeniu tego programu - uruchomienie ukladu cechowania na sygnal wprowadzony recznie. PL