PL74445B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: 18.12.1971 (P. 152261) Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 30.04.1975 74445 KL. 42c,10/03 MKP GOlc 11/00 Twórca wynalazku: Czeslaw Lipianin Uprawniony z patentu tymczasowego: Warszawskie Przedsiebiorstwo Geodezyjne, Warszawa (Polska) Sposób orientacji zdjecia fotogrametrycznego zwlaszcza zdjec terrofotogrametrycznych Przedmiotem wynalazku jest sposób orientacji zdjecia fotogrametrycznego, zwlaszcza zdjec terro¬ fotogrametrycznych.Dotychczas orientacje zdjecia fotogrametrycznego naziemnego wyznaczaly wzgledem linii, pionu li- belle, kamery wzglednie poslugiwano sie zawieszo¬ nymi pionami sznurowymi przy rektyfikacji instru¬ mentu. W przypadku uwzglednienia wskazan libell pomiary byly niedokladne o bledzie rzedu 30" od¬ powiadajace dokladnosci samych libell, ponadto w momencie fotografowania zwykle istnialy linie zród¬ la bledów jak np. nie przyleganie kliszy do ramki tlowej. Natomiast dokladnosc przy stosowaniu pio¬ nów sznurowych uzalezniona byla zwykle od wa¬ runków atmosferycznych.Celem wynalazku jest sposób wyznaczania orien¬ tacji zdjecia bez powyzszych wad.Cel ten zostal osiagniety przez wyznaczenie jed¬ nej lub kilku linii poziomych miedzy obiektywem a fotografowanym obiektem równoleglych do pla¬ szczyzny kliszy odfotografowujacych sie na zdjeciu fotogrametrycznym, przy czym wysokosc tych linii poziomych okreslona jest wzgledem obiektywu ka¬ mery przy zdjeciach monokularnych lub stereosko¬ powych.Przedmiot wynalazku zostal blizej objasniony na przykladowym wykonaniu pomiaru odchylen od pionu obiektów wysokosciowych przemyslowych i mieszkalnych. 10 30 Po nacelowaniiu kamery na obiekt bedacy przed¬ miotem pomiaru na przedpolu, to jest pomiedzy ka¬ mera a obiektywem, wyznacza sie jedna lub wiecej linii równoleglych do plaszczyzny kliszy. Na kon¬ cach tych linii ustawia sie znaki np. tarcze z kol¬ kami doprowadzajac srodki do polozenia wzdluz li¬ nii poziomej przy pomocy dowolnego niwelatora.Z tego samego stanowiska okresla sie niwelatorem polozenie wysokosciowe obiektywu wzgledem MnL poziomych. Nastepnie mierzy sie odleglosci od obie¬ ktywu do linii poziomych oraz odleglosci miedzy znakami wzdluz tych lindi.Po obróbce fotolaboratoryjnej klisz uklada sie je na przyrzad pomiarowy tak, aby odfotografowane znaki linii poziomych byly równolegle do jednej z osi wspólrzednych. Wzdluz drugiej prostopadlej osi wspólrzednych odczytuje sie odchylenie od pio¬ nu lub poziomu. Pomierzone odleglosci od obiekty¬ wu do linii poziomych i odleglosci miedzy znakami oraz niwelacja obiektywu wraz z pomiarem tych elementów na zdjeciu pozwala okreslic katy skretu i nachylenia zdjecia, a zatem precyzyjnego pomiaru odksztalcen obiektu. Przy wykonywaniu zdjec ste¬ reoskopowych niwelacje i pomiar wzgledem obiek¬ tywu wykonuje sie analogicznie dla jednego lub dwóch stanowisk kamery pomiarowej.Wyzej wymieniona konstrukcja geometryczna be¬ daca przedmiotem zgloszenia moze byc wyznaczo¬ na w terenie z dala od obiektu jednokrotnie niebez¬ piecznego dla personelu dokonujacego pomiar. 7444574445 3 4 PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe nytn obiektem, równoleglych do plaszczyzny kliszy, odfotografiowujacych sie na zdjeciu fotogrametrycz- Sposób orientacji zdjecia fotogrametrycznego, nym przy ^^^ tych linii poziomych zwlaszcza zdjec terrofotogrametrycznych, znamien- dkxe&aiaL jeat ^giedem obiektywu kamery prz-, ny tym, ze wyznacza sie w terenie jedna lub kilka , zdjeciach monokulaoiych lub stereoskopowych, linii poziomych miedzy obiektywem a fotografowa- Druk. Techn. Bytom z. 5113 — 110 egz. Cena 10 zl PL PL