PL65291B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 29.IV.1972 65291 KI. 42 h, 38 MKP G 02 b 27/00 CZYTELNIA Twórca wynalazku: Kazimierz Bednarek Wlasciciel patentu: Instytut Lotnictwa, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru wielkosci obrazu Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru wielkosci obrazu polegajacy na zarejestrowaniu obrazu i jego rozdwojeniu.Znany sposób pomiaru wielkosci obrazu przez jego rozdwojenie polega na skierowaniu obrazu uzyskanego przez przeswietlenie diapozytywu lub przez odbicie od warstwy z utrwalonymi sladami czastek, na ruchome zwierciadlo umieszczone w ognisku ukladu optycznego. Obraz odbity od zwierciadla pada na ekran jako obraz podwójny pod warunkiem, ze szybkosc przebiegu zmian jest wieksza od zdolnosci nadazania za nim oka ludz¬ kiego. Sposób ten jest teoretycznie poprawny. Jed¬ nakze kazde urzadzenie oparte na tym sposobie musi byc wyposazone w zwierciadlo drgajace.Zwierciadlo drgajace wraz z jego napedem kom¬ plikuje urzadzenie konstrukcyjne i eksploatacyjne.Urzadzenie takie latwo ulega rozregulowaniu w czasie pracy, co jest przyczyna bledu pomiaru.Wymaga wiec czestego wzorcowania.Celem wynalazku jest opracowanie prostego spo¬ sobu pomiaru wielkosci obrazu.Sposób pomiaru wielkosci obrazu przez uprzednie zarejestrowanie obrazu i jego rozdwojenia polega wedlug wynalazku na tym, ze obraz rejestruje sie analogicznie na dwóch plytkach z zachowaniem kontrastu na krawedziach obrazu, po czym plytki umieszcza sie w strumieniu swiatla w plaszczyznie prostopadlej do osi tego strumienia, a nastepnie przesuwa sie je liniowo wzgledem siebie az do 10 25, 30 uzyskania dwóch stycznych obrazów, przy czym wielkosc obrazu stanowi iloraz wymiaru wzgled¬ nego przesuniecia plytek i powiekszenia obrazu.Opisany sposób umozliwia wykonanie prostego urzadzenia do pomiaru wielkosci obrazów, ich se¬ lekcji na okreslone grupy wymiarowe oraz zlicza¬ nia obrazów w poszczególnych grupach. Urzadzenie takie jest proste konstrukcyjnie i eksploatacyjnie; nie wymaga wzorcowania w czasie pomiaru. Moze byc obslugiwane nawet przez pracownika o niskich kwalifikacjach zawodowych. Jest ono przeznaczone zasadniczo do pomiarów wielkosci i ilosci kropel przy ocenie urzadzen rozpylajacych, jednakze mo¬ ze byc stosowane i w innych dziedzinach na przy¬ klad przy pomiarze i zliczaniu czastek pylu.Istota wynalazku jest blizej wyjasniona na przy¬ kladzie wykonania rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schematycznie urzadzenie do pomiaru wielkosci obrazu w przekroju wzdluz osi optycz¬ nej, fig. 2 — ekran z obrazem rzutowanym, a fig. 3 — urzadzenie do pomiaru i zliczania w widoku perspektywicznym.Urzadzenie sklada sie z ukladu optycznego 1 wraz ze zródlem swiatla 2. Stale wyposazenie urza¬ dzenia stanowia dwa analogiczne diapozytywy 3 usytuowane prostopadle do osi ukladu optyczne¬ go 1. Diapozytywy 3 sa umieszczone przesuwnie i moga byc przemieszczane wzdluz osi prostopadlej do osi ukladu optycznego 1. Wartosc wzglednego przesuniecia diapozytywów mierzy sie za pomoca 6529165291 sruby mikrometrycznej 4. Urzadzenie jest wypo¬ sazone w ekran 5, na którym przykladowo sa po¬ kazane trzy rozdwojone obrazy kropel 6, 7 i 8.Urzadzenie do rozdwajania obrazu polaczone jest z urzadzeniem rejestrujacym 9, skladajacym sie 5 z kilku oddzielnych liczników 10, które sa wlaczone do pracy za pomoca wlaczników 11. Urzadzenie rejestrujace 9 jest polaczone za pomoca przewodu elektrycznego 12 z olówkiem 13, bedacym nadajni¬ kiem impulsów elektrycznych. !0 Pomiar i zliczanie obrazów czastek polega na skresleniu olówkiem 13 wyodrebnionej grupy wy¬ miarowej obrazów rzutowanych na ekran 5. Wy¬ odrebnienie realizuje sie przez rozdwojenie za po¬ moca rozsuniecia blizniaczych obrazów na okreslo- 15 na odleglosc. Przy odleglosci rozsuniecia mniejszej o okreslony odcinek od wymiaru obrazu najwiek¬ szego sposród zbioru, wszystkie obrazy o wymia¬ rach zawartych miedzy wymiarem najwiekszego obrazu i odlegloscia rozsuniecia pokrywaja sie 20 czesciowo obrzezami. Te wlasnie obrazy zostaja skreslone oraz zarejestrowane przez licznik przy¬ porzadkowany pierwszej grupie wymiarowej.Przykladowo z obrazów uwidocznionych na fig. 2 lub 3 zostanie skreslony obraz kropli 6 i ewentu- 25 alnie obraz 7, w zaleznosci jak jest ustalona gra¬ nica wymiarowa pierwszej grupy wymiarowej. Na¬ stepnie przez zblizenie rozdwojonych obrazów o okreslony odcinek wyodrebnia sie kolejna grupe wymiarowa. Skreslajac nowo otrzymane, pokrywa- 30 jace sie czesciowo obrzezami obrazy, zlicza sie na innym liczniku 10 obrazy drugiej grupy wymiarowej. Postepujac kolejno w opisany sposób, dzieli sie caly zbiór obrazów na grupy o okreslonej wartosci i liczbie obrazów. Rozdwojenie obrazów dokonuje sie przez przesuniecie jednego z diapozy¬ tywów 3, na którym utrwalone sa obrazy czastek.Do rozsuwania diapozytywów 3 i pomiaru odleg¬ losci rozsuniecia sluzy sruba mikrometryczna 4.Uklad optyczny 1 daje dodatkowe powiekszenie obrazów. Liczbe skreslen rejestruje sie w ten spo¬ sób, ze kazdemu skresleniu towarzyszy zwarcie sty¬ ków olówka 13, bedacego wraz z licznikiem 10 ele¬ mentami obwodu elektrycznego. Wymiar czastki jest ilorazem wymiaru zmierzonego obrazu za po¬ moca sruby mikrometrycznej 4 i jego powiekszenia na diapozytywie. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób pomiaru wielkosci obrazu polegajacy na zarejestrowaniu obrazu oraz jego rozdwojeniu, zna¬ mienny tym, ze obraz rejestruje sie analogicznie na dwóch plytkach z zachowaniem kontrastu na krawedziach obrazu, po czym plytki umieszcza sie w strumieniu swiatla w plaszczyznie prostopadlej: do osi tego strumienia, a nastepnie przesuwa sie je liniowo wzgledem siebie az do uzyskania dwóch stycznych obrazów, przy czym wielkosc obrazu sta¬ nowi iloraz wymiaru wzglednego przesuniecia plytek i powiekszenia obrazu.KI. 42 h,38 65291 MKP G 02 b 27/00 Fis-iKI. 42 h, 38 65291 MKP G 02 b 27/00 @H?1k1 g(@)( p@j[ p@)|/j PZG w Pab., zam. 207-72, nakl. 205 egz. Cena zl 10,— PL PL